JPH0350216B2 - - Google Patents

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JPH0350216B2
JPH0350216B2 JP16185881A JP16185881A JPH0350216B2 JP H0350216 B2 JPH0350216 B2 JP H0350216B2 JP 16185881 A JP16185881 A JP 16185881A JP 16185881 A JP16185881 A JP 16185881A JP H0350216 B2 JPH0350216 B2 JP H0350216B2
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JPS5862547A (ja
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Kazuo Mikasa
Kenji Hagino
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Omron Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/93Detection standards; Calibrating baseline adjustment, drift correction

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、シート物等の被検査面を撮像装置
により光電的に走査して欠点を検出する装置に関
する。
例えば第1図に示すように、撮像装置1と光源
2との間に紙やフイルム等のシート状の被検査物
3を配し、透過光式に被検査物3を走査し、ピン
ホール4の如き欠点を検出する場合、基本的に次
のような信号処理を行なう。
上記撮像素子1がCCD(電荷結合素子)等の半
導体イメージセンサを用いて構成される場合、そ
の映像信号は第2図に例示するように高周波パル
スの形で出力される。この波形図は一走査分の映
像信号VSを示しており、Eな被検査物3の正常
部分の明かるさに対応した地合レベルであり、こ
の地合レベルEには周知のように種々の要因によ
り低周波数の変動が現れる。また、nは被検査物
3のピンホール4に対応する欠点信号で、ピンホ
ール4を通して強い光が撮像装置1に入射するた
め、欠点信号nは地合レベルEより高レベルのパ
ルス状の信号となる。
この欠点信号nを弁別するために映像信号VS
を適宜なしきい値で2値化する訳だが、浮動2値
化として良く知られているように映像信号VSを
適宜に積分するとともに適宜にレベルシフトする
ことにより、映像信号VS中の地合レベルEの変
動に迫従するしきい値信号SHを作り、これで2
値化を行なつている。第3図はしきい値信号SH
を得る回路の要部である上記積分回路の具体例で
ある。この回路において、映像信号VSがダイオ
ードDのカソード側に印加され、映像信号VSの
瞬時電圧がコンデンサCの充電電圧Vc(この回路
の出力電圧である)以上のとき、ダイオードDお
よび抵抗R1を通してコンデンサCへ充電電流が
流れ、映像信号VSの順次電圧が電圧Vc以下のと
き、コンデンサCから抵抗R2に放電電流が流れ
る。ここで抵抗R1およびR2を適宜に選んで、
コンデンサCに対する充電経路の時定数を比較的
小さく、放電経路の時定数を比較的大きく設定す
る。出力電圧Vcは第2図に示すように地合レベ
ルEの低周波数の変動に迫従し、かつパルス状の
欠点信号nには余り応答しない波形となる。この
信号Vcを適宜に増幅したり、あるいは一定電圧
を加算することによりレベルシフトし、地合レベ
ルEより僅かに大きいしきい値信号SHが得られ
るのである。
以上が欠点弁別の基本である。ところで、撮像
装置1の出力には周知のように各走査の間で映像
信号がなくなる期間(帰線期間に相当するもの
で、ここではブランク期間と称す)が含まれる。
このブランク期間において上記積分回路のコンデ
ンサCの充電電荷が放電するため、積分出力Vc
は徐々に低下し、しきい値信号SHも低下する。
このブランク期間でのしきい値の低下による誤弁
別を防ぐ目的で、従来は、ブランク期間ではしき
い値信号SHのレベルを保持する回路や、一定電
圧を積分回路の出力に加えてその一定電圧に保持
する回路が一般的に採用されているが、その効果
は以下に説明するように充分でない。
第4図はブランク期間BLにてしきい値信号SH
のレベルを保持する方式における映像信号VSと
しきい値信号SHの関係を示し、また第5図はブ
ランク期間BLにて一定電圧V1を積分回路の出
力に加え一定電圧V1に保持する方式における映
像信号VSとしきい値信号SHの関係を示す。な
お、両図における映像信号VSは上記のように高
周波パルスで出力される信号の包絡線で表されて
いる。
第4図aに示した例は映像信号VSの地合レベ
ルが各走査の冒頭部分で比較的高く、走査終了部
分で比較的低くなるような一定の傾向を持つ傾き
を示している場合の例であり、逆に第4図bの例
は映像信号VSの地合レベルが走査冒頭部分で比
較的低く、走査終了部分で比較的高い場合の例で
ある。ここで、ブランク期間BLでしきい値信号
SHを保持するようにした場合、第4図aの例で
は映像信号VSの冒頭部分で欠点がないにも拘わ
らず欠点弁別信号を出力してしまい、逆に第4図
bの例では、映像信号VSの冒頭部分に比較的小
さな欠点信号があつてもこれが検出されないとい
つた問題を生ずる。
また、第5図に示すようにブランク期間BLに
一定電圧を積分周力に加えて一定電圧V1に保持
する方式では、周図aのように被検査物、光源等
の変化により映像信号VSの全体的なレベルが変
化した場合、ブランク期間BLにて積分回路の出
力に加え得る一定電圧V1を変えないと、走査冒
頭部分の欠点を検出できないという問題点があ
る。また同図bに示すようにブランク期間BLが
短くなつた場合、積分回路が一定電圧V1まで充
電できず、走査冒頭部分で誤つた欠点弁別をして
しまうという問題点もあつた。
この問題を解決するために、従来の他の方式と
して、走査冒頭部分の映像信号レベルを、包絡線
信号を作るための第1の積分回路とは別の第2の
積分回路にて保持し、これによつて保持されたレ
ベルを各走査間のブランク期間にて第1の積分回
路側に移すようにした方式がある。この方式の動
作波形を第6図に示している。この方式の問題点
としては次のように点があげられる。第6図に例
示した波形におて、第2走査の冒頭部分にレベル
の大きな欠点nが存在すると、上記第2の積分回
路にその大きなレベルが保持され、次の第3走査
の開始時に第2の積分回路の記憶レベルが上記第
1の積分回路に移されて欠点弁別が開始される訳
であるから、その第3走査の映像信号中に先のレ
ベルの大きな欠点がなくなつていて、代りに走査
冒頭部分にレベルの小さな欠点nが存在する場
合、しきい値信号SHがこの走査冒頭部分で映像
信号VSの地合レベルより大きく上昇しているた
め、この微少な欠点信号が検出できなくなる。
この発明は上述した従来の問題点に鑑みなされ
たものであり、その目的は、映像信号の各走査間
のブランク期間に全く影響されず映像信号の走査
冒頭部分の地合レベル変動を追従記憶し、かつそ
の記憶したレベルを基に包絡線信号を作り、その
信号からしきい値信号を発生し、その結果誤弁別
の少い高精度な欠点検出が行なえるようにした欠
点検出装置を提供することにある。
以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
第7図はこの発明に係る欠点検出装置の一実施
例を示すブロツク図であり、第8図および第9図
はこの欠点検出装置の各部の信号波形を示す。
CCDイメージセンサ等からなる撮像素子5は駆
動回路12からの制御信号を受けて動作し、例え
ば第1図に示した態様で被検査物3上を光電的に
繰り返し走査する。
撮像素子5から出力されて増幅器6で増幅され
た映像信号VSは、欠点弁別用比較器16におい
て後述のようにして得られるしきい値信号SHと
レベル比較され、これにより2値化された弁別信
号OUTが出力される。この発明に係る欠点検出
装置は、アツプダウンカウンタ11と、このカウ
ンタ11のデジタル計数出力を記憶するためのメ
モリ17と、上記カウンタ11のデジタル計数出
力をアナログ信号に変換するD/A変換器14
と、このD/A変換器14の出力信号bと上記映
像信号VSのレベル比較をする比較器7と、上記
撮像素子5による走査期間中に上記カウンタ11
を上記比較器7の出力に応じてVS>bのときは
所定速度でアツプカウントさせるとともに、VS
<bのときは所定速度でダウンカウントさせるア
ツプダウン制御手段と、上記撮像手段の走査信号
に周期して複数m回毎の走査時にその走査直後の
上記カウンタ11の出力を上記メモリ17に記憶
させる記憶タイミング制御手段と、上記撮像手段
の走査信号に同期して各走査間のブランク期間中
の上記メモリ17の記憶データを上記カウンタ1
1にプリセツトさせるプリセツトタイミング制御
手段とを備え、上記D/A変換器14の出力信号
bを増幅器15によつて適宜に増幅して上記しき
い値信号SHを得るようにしている。
実施例について詳述すると、タイミング回路1
3からは、駆動回路12にて作られる撮像素子5
の走査クロツク信号と同期した2相のクロツク信
号T1,T2が出力される。第8図に示すよう
に、クロツク信号T2は映像信号VS中に含まれ
ている各絵素パルスの立ち下がり直後に発生する
極めて幅の狭いパルス信号であり、またクロツク
信号T1は、クロツク信号T2より極く僅かに遅
れて発生するやはり幅の狭いパルス信号である。
クロツク信号T1,T2は撮像素子5の走査が行
われている期間にのみ発生し、各走査間のブラン
ク期間BLでは発生しない。
また、撮像素子5によりm回の走査毎にその走
査開始直後にタイミング回路13か書き込みパル
スTWが出力される。また、撮像素子5による各
走査の終了直後にタイミング回路13からプリセ
ツトパルスTPが出力されるように構成されてい
る。走査開始直後のパルス信号TWは上記メモリ
17に対して書込みパルス信号として印加され、
走査終了後のパルス信号TPは上記カウンタ11
にプリセツト信号として印加される。
映像信号VSとD/A変換器14の出力信号b
とをレベル比較する比較器7の出力信号cがフリ
ツプフロツプ8のセツト入力側に印加され、上記
クロツク信号T1がこのフリツプフロツプ8のリ
セツト入力側に印加される。これにより、映像信
号VS中のある絵素パルスのレベルが信号bのレ
ベルより大きい場合、第8図cに示すように比較
器7からパルス信号が生じ、この信号によつてフ
リツプフロツプ8がセツトされる。逆に映像信号
VS中のある絵素パルスのレベルが信号bより低
い場合、比較器7の出力信号cはLレベルのまま
で、フリツプフロツプ8はクロツク信号T1によ
つてリセツトされたままとなる。フリツプフロツ
プ8のセツト出力Qはアンドゲート9に印加さ
れ、リセツト出力はアンドゲート10に入力さ
れる。2つのアンドケート9,10にはタイミン
グ回路13からの上記クロツク信号T2が入力さ
れる。そして、アンドゲート9の出力信号がカウ
ンタ11のアツプカウント入力となり、アンドゲ
ート10の出力信号がカウンタ11のダウンカウ
ンタ入力となる。
上記の構成において、映像信号VS中の各絵素
パルスのレベルD/A変換器14の出力信号bよ
り大きいと、そのような絵素パルスが発生する度
にフリツプフロツプ8がセツトされ、その度にア
ンドゲート9からパルス信号UPが出力され、そ
の度にカウンタ11か1づつアツプカウントされ
る。そのため、カウンタ11の出力をアナログ変
換してなる信号bのレベルも増加していく。
上記とは逆に映像信号VS中の絵素パルスのレ
ベルが信号bより低い場合、フリツプフロツプ8
がリセツトされたままとなり、その状態でクロツ
ク信号T2が発生するため、このようなレベルの
低い絵素パルスが発生する度にアンドゲート10
からパルス信号DWが出力され、その度にカウン
タ11が1づつダウンカウントされる。その結
果、カウンタ11の出力をアナログ変換してなる
信号bのレベルも減少する。
上記のようにして、映像信号VSのレベルが信
号bより大きければ信号bのレベルが増加させら
れ、逆に信号bより映像信号VSのレベルが小さ
ければ信号bのレベルが減少させられる。この結
果、D/A変換器14の出力信号bは映像信号
VSの包絡線信号に略等しくなる。
また、撮像素子5によるm走査毎にその走査開
始直後にタイミング回路13から書込みパルス
TWが出力され、これによつてその時点のカウン
ト11のデジタル計数出力がメモリ17に記憶さ
れる。また、撮像素子5による各走査の終了直後
にタイミング回路13からプリセツトパルスTP
が出力され、これによつてメモリ17に記憶され
ているデータがカウンタ11にプリセツトされ、
次に走査時にこのプリセツトされたデータを初期
値とし、上述したような包絡線信号を作る回路動
作が行われる。
上記のようにしメモリ17に記憶されたレベル
を基準にして、映像信号レベルの変動に迫従した
包絡線信号の作成動作が行われる。その結果、第
9図に示すように、映像信号VSの地合レベルが
走査開始から走査終了に向けて一定の傾きを有し
ている場合a,bであつても、従来のように走査
冒頭部分にてしきい値信号SHが映像信号VSにク
ロスしたりあるいは逆に大きく掛離れたりして誤
弁別や弁別もれを生じてしまうことがなくなる。
周図cのように映像信号VSのレベルが大きく変
化した場合でも、同様にしきい値信号SHがこれ
に迫従し、誤弁別を生じることがない。また、メ
モリ17へのデジタルデータの書込みおよびその
デジタルデータのカウンタ11へのプリセツトは
瞬時にして行われるので、周図dに示したように
ブランク期間BLが極端に短くなつても何等問題
は生じない。
この発明の装置においては、上述したように、
走査開始直後のカウンタ11の出力をメモリ17
に記憶させる記憶タイミング制御手段の動作を、
撮像素子5の走査信号に周期して複数m回の走査
毎に行なうようにしている。これに対し、上記記
憶タイミング制御手段の動作を各走査毎に行なつ
た場合、メモリ17の記憶レベルが映像信号VS
の冒頭部レベルに敏感に反応し過ぎ、第6図に説
明した従来方式のように、映像信号VSの冒頭部
にレベルの大きな欠点信号が存在すると、メモリ
17の記憶レベルがこれに応答して高くなつてし
まい、その大きなレベルの欠点信号がなくなつた
直後において誤弁別を生じてしまうという問題が
ある。それに対し、本願装置のように、記憶タイ
ミング制御手段の走査を複数m回の走査毎に行な
うようにすると、映像信号VSの冒頭部レベルの
変動がハイカツトフイルタを通した形でメモリ1
7の記憶レベルに反映する事となり、比較的に高
周波成分である欠点信号のレベル変化にメモリ1
7の記憶レベルが影響を受け難しなり、その結果
先に説明した第6図のごとき護弁別を生ずるとい
う問題が防止できるのである。
上述のように、記憶タイミング制御手段の動作
周期mは上記ハイカツトフイルタの特性を決定づ
ける要因である。すなわち、mを大きくするほど
映像信号VSの冒頭部レベルの変動のうちの低い
周波数成分しかメモリ17の記憶レベルとして反
映しなくなる。
従つて、記憶タイミング制御手段の動作周期m
を幾つにするかは、映像信号VS中に現れる欠点
信号がどの程度の周波数成分であるかによつて決
まる事となる。そして、映像信号VS中に現れる
欠点信号の周波数成分は、被検査物3の撮像素子
に対する送り速度によつて変化する。従つて、被
検査物3の送り速度が変化するような場合、その
送り速度を第7図に示した速度検出部18でもつ
て検出し、その検出速度に応じて上記動先周期m
を比例的に変化させるようにすると、被検査物3
の送り速度の変動に影響されない安定した弁別基
準でもつて正確な欠点弁別を行なえるようにな
る。
第10図に上記速度検出器18の出力信号SP
1の周期に基づいて上記書込タイミング制御手段
の動作を行なわせる書込パルスTWを得るための
回路ブロツクとその各部の動作波形を示してい
る。同図において、速度検出器18の出力信号
SP1は被検査物3の速度に比例した周期の方形
波信号で、この信号はDフリツプフロツプ19の
T入力に印加され、このフリツプフロツプ19は
信号SP1の立ち上がりでもつてセツトされる。
またパルス信号T3は駆動回路12から得られる
撮影素子5の走査と同期した信号で、各走査毎に
その走査開始直後に発生する幅の小さいパルスで
ある。このパルス信号T3とフリツプフロツプ1
9のQ出力とがアンドゲート20に入力され、フ
リツプフロツプ19がセツトされているときにパ
ルス信号T3がアンドゲート20を通過して書込
パルスTWとなる。アンドゲート20の出力パル
スは遅延回路21で僅かに遅延されてフリツプフ
ロツプ19のR入力に印加され、これをリセツト
する。従つて、速度検出器18の出力信号SP1
が立ち上がつてから最初に発生したパルス信号T
3が一発のみアンドゲート20を通過し、フリツ
プフロツプ19がリセツトされる。このようにし
て、速度検出器18の出力に比例的に変化する周
期の書込パルスTWが得られるのである。
なお、上記の実施例では映像信号VSの地合レ
ベルEよりレベルが大きくなる欠点信号の弁別に
ついて説明したが、地合レベルEよりレベルが下
がる欠点信号の弁別についても上記と同様である
ことは言うまでもない。
以上詳細に説明したように、この発明に係る欠
点検出装置にあつては、コンデンサを含む積分回
路によつて映像信号の地合レベル変動に迫従した
包絡線信号を得るのではなくて、アツプダウンカ
ウンタによつてデジタル的に映像信号の地合レベ
ル信号に迫従したデータを得、これをD/A変換
して包絡線信号を得るようにし、かつ、複数回の
走査毎にその走査開始直後のカウンタの出力をメ
モリに記憶し、その記憶データを走査終了後のブ
ランク期間にて上記カウンタにプリセツトするよ
うにしているので、種々の要因によつて生ずる映
像信号の低周波数のレベル変動に全く影響され
ず、極めて高精度な欠点弁別が行なれるようにな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は欠点検出装置の概要の説明図、第2図
は映像信号の波形例を示す図、第3図は従来のし
きい値信号を得るための回路の要部を示す図、第
4図、第5図および第6図は従来の問題点を示す
波形図、第7図は本発明による欠点検出装置の一
実施例のブロツク図、第8図および第9図は第7
図に示す本発明の装置の各部の波形を示す図、第
10図は速度検出器18の出力周期に比例したメ
モリ17の書込パルスTWを発生する回路および
その各部の波形をしめす図である。 5……撮像素子、7……比較器、11……アツ
プダウンカウンタ、14……D/A変換器、16
……欠点弁別用比較器、17……メモリ、18…
…速度検出器、VS……映像信号、SH……しきい
値信号、OUT……欠点弁別信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 検査対象物の被検査面を撮像手段により光電
    的に走査し、そして得られる映像信号と適宜なし
    きい値信号とを欠点弁別用比較器にてレベル比較
    することにより、上記検査対象物の被検査面の欠
    点を検出する装置であつて、 アツプダウンカウンタと、 このカウンタのデジタル計数出力を記憶するた
    めのメモリと、 上記カウンタのデジタル計数出力をアナログ信
    号に変換するD/A変換器と、 このD/A変換器の出力信号bを適宜に増幅ま
    たは減衰またはレベルシフトすることによつて上
    記しきい値信号を得るとともに、上記出力信号b
    と上記映像信号aとレベル比較をする比較器と、 上記撮像手段の走査期間中に上記カウンタを上
    記比較器の出力に応じて、上記映像信号aのレベ
    ルが上記D/A変換器の出力信号bよりも高いと
    きはアツプカウントさせるとともに、映像信号a
    のレベルがD/A変換器の出力信号bよりも低い
    ときはダウンカウントさせるアツプダウン制御手
    段と、 上記撮像手段の走査信号に同期して複数回ごと
    の走査時にその走査直後の上記カウンタの出力を
    上記メモリに記憶させる記憶タイミング制御手段
    と、 上記撮像手段の走査信号に同期して各走査間の
    ブランク期間中に上記メモリの記憶データを上記
    カウンタにプリセツトさせるプリセツトタイミン
    グ制御手段と、 を備えていることを特徴とする欠点検出装置。 2 上記記憶タイミング制御手段の動作周期を、
    上記被検査物の上記撮影手段に対する送り速度に
    比例して変化させるように構成したことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の欠点検出装置。
JP16185881A 1981-10-09 1981-10-09 欠点検出装置 Granted JPS5862547A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16185881A JPS5862547A (ja) 1981-10-09 1981-10-09 欠点検出装置

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JP16185881A JPS5862547A (ja) 1981-10-09 1981-10-09 欠点検出装置

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Publication Number Publication Date
JPS5862547A JPS5862547A (ja) 1983-04-14
JPH0350216B2 true JPH0350216B2 (ja) 1991-08-01

Family

ID=15743289

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16185881A Granted JPS5862547A (ja) 1981-10-09 1981-10-09 欠点検出装置

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