JPS5877612A - 座標測定方法 - Google Patents
座標測定方法Info
- Publication number
- JPS5877612A JPS5877612A JP17606781A JP17606781A JPS5877612A JP S5877612 A JPS5877612 A JP S5877612A JP 17606781 A JP17606781 A JP 17606781A JP 17606781 A JP17606781 A JP 17606781A JP S5877612 A JPS5877612 A JP S5877612A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- measured
- measurement
- curved surface
- coordinates
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本゛発明は座標測定方法、特に被欄定−に対してプロー
ブを当接させａ当接点座標から被一定物の形状等を測定
可能な座Ｉｌｌ測定方法の改良に蘭するものである。
ブを当接させａ当接点座標から被一定物の形状等を測定
可能な座Ｉｌｌ測定方法の改良に蘭するものである。
複雑な被一定吻の外形を測定するために３次元測定機な
どＫよる座標測定が周知であシ種々の稽密欄定に広範曲
に用いられている。
どＫよる座標測定が周知であシ種々の稽密欄定に広範曲
に用いられている。
第１図にはこの種の３次元一定機が示されておシ、測定
機本体は固定ペース１０Ｋｉｌ付ゆられた載物台１２と
固定ペース１０に対してＸＹｚの３次元方向に移動可能
なプローブ１４を有し、被測定物１６に対してプシープ
１４を手動ある。いはモータ態動によ〉移動させ、所望
の測定点にてグローブ１４を被測定物１６の外面に当接
させ、該当接点での座標を電気的に検出する。
機本体は固定ペース１０Ｋｉｌ付ゆられた載物台１２と
固定ペース１０に対してＸＹｚの３次元方向に移動可能
なプローブ１４を有し、被測定物１６に対してプシープ
１４を手動ある。いはモータ態動によ〉移動させ、所望
の測定点にてグローブ１４を被測定物１６の外面に当接
させ、該当接点での座標を電気的に検出する。
前記プローブ１４のｘＹｚ方向への移動を行うため、同
定ペース１８に＃ｉｘ移動体１８、Ｙ移動体２０及び２
移動体２２が設けられておシ、手動によ〕プローブ１４
をスムーズに所望の位置に移動する仁とができ、ある帆
は各移動体にモータ駆動機構を組込む仁とによシ、操作
者の遠隔操作によってプ四−プ１４を所望の位置に移動
することができる。そして、各移動体にはエンコーダが
組込まれ、各軸方向への移動量を正確に検出することが
できる。
定ペース１８に＃ｉｘ移動体１８、Ｙ移動体２０及び２
移動体２２が設けられておシ、手動によ〕プローブ１４
をスムーズに所望の位置に移動する仁とができ、ある帆
は各移動体にモータ駆動機構を組込む仁とによシ、操作
者の遠隔操作によってプ四−プ１４を所望の位置に移動
することができる。そして、各移動体にはエンコーダが
組込まれ、各軸方向への移動量を正確に検出することが
できる。
前記グローブ１４は通常の場合タッチグローブなどから
＄Ｆ）、被測定物１６の外面に接、触した時に電気的な
タッチ信号を出力し、この時の各軸位健を処通回路によ
って読堆らせることができる。
＄Ｆ）、被測定物１６の外面に接、触した時に電気的な
タッチ信号を出力し、この時の各軸位健を処通回路によ
って読堆らせることができる。
座標測定機社！イクｑ：Ｉンビ↓−夕と連動し、第１図
にシーて、コンビエータ２４及びキーボード２６が本体
近傍に設置され、キーボード２６０指令によって所望の
測長モードあるいはプローブ１４のサイズ情報などがコ
ンピュータ２４に人力さ枳これらの入力情報に基づ−て
コンピュータ２４社プローブ１４及び各移動体１８．２
０，２２０エンコーダからの検出信号に基づいて被測定
物１６の外形を演算記憶し、所望の外形形状データを出
力することができる。
にシーて、コンビエータ２４及びキーボード２６が本体
近傍に設置され、キーボード２６０指令によって所望の
測長モードあるいはプローブ１４のサイズ情報などがコ
ンピュータ２４に人力さ枳これらの入力情報に基づ−て
コンピュータ２４社プローブ１４及び各移動体１８．２
０，２２０エンコーダからの検出信号に基づいて被測定
物１６の外形を演算記憶し、所望の外形形状データを出
力することができる。
以上のような座標測定機を用いて測定作業を行なうため
には、従来複雑な手順指示を行なゎな１れｄならず、そ
の操作が煩雑であるという問題があっ九すなわち、第２
図のような形状の被測定物１６の面１００．２００を測
定する際には、正し一操作手願をキーボード２６からコ
ンピュータ２４へ指示し、またプローブ１４による測定
も正しい手順によル行なわな妙ればならない。
には、従来複雑な手順指示を行なゎな１れｄならず、そ
の操作が煩雑であるという問題があっ九すなわち、第２
図のような形状の被測定物１６の面１００．２００を測
定する際には、正し一操作手願をキーボード２６からコ
ンピュータ２４へ指示し、またプローブ１４による測定
も正しい手順によル行なわな妙ればならない。
すなわち、まず、測定者は、被測定物１６の１００゜２
００から一方が、曲面であシ他方が平面である仁とを確
認し、両者が交叉することから、これらを連続して測定
することをｍｊｉａ！Ｌ、このような形状から定まる測
定手順に基づいたモード選択をキーボード°２６からコ
ンピュータ２４に行なう。
００から一方が、曲面であシ他方が平面である仁とを確
認し、両者が交叉することから、これらを連続して測定
することをｍｊｉａ！Ｌ、このような形状から定まる測
定手順に基づいたモード選択をキーボード°２６からコ
ンピュータ２４に行なう。
次に１作業者は曲面１００に対しては該曲ｒｋｉを関数
化するために３点の信号を必要とし、また平面２００に
対しては２点の信号を必要とすることを確認し、ま九そ
れぞれの信号に対してプローブ１４の測定子直径を補正
することを予め考慮して測定を開始しなければならな旨
。
化するために３点の信号を必要とし、また平面２００に
対しては２点の信号を必要とすることを確認し、ま九そ
れぞれの信号に対してプローブ１４の測定子直径を補正
することを予め考慮して測定を開始しなければならな旨
。
実際の測定は第２図の１．２．３で示される曲面１００
の測定そしてこれに続麿て平面２００に対する２点の測
定４．５を継続して行ない、また必要に応じてこれらの
間に１０−プ直径補正のためのダミー測定が追加される
。
の測定そしてこれに続麿て平面２００に対する２点の測
定４．５を継続して行ない、また必要に応じてこれらの
間に１０−プ直径補正のためのダミー測定が追加される
。
以上のようにして求められた各測定悄＠はコンビ瓢−夕
２４によって処理され、予め与えられて１九曲面１００
及び平面２００の測定指示情味とこれらの測定情報とが
組み合わされて所望の座標を演算することができる。
２４によって処理され、予め与えられて１九曲面１００
及び平面２００の測定指示情味とこれらの測定情報とが
組み合わされて所望の座標を演算することができる。
以上のように、従来方法によれば、測定手順の指示及び
これに対応した順序の測定作業を正しく行なわなゆれば
ならず、これら手順を蒙まりた場合には、被測定物１６
の形状とは全く異なる剣定値が出力されてしまうとｈう
問題があシ、熟練した作業者による煩雑な測定作業が必
要であるという欠点があった。
これに対応した順序の測定作業を正しく行なわなゆれば
ならず、これら手順を蒙まりた場合には、被測定物１６
の形状とは全く異なる剣定値が出力されてしまうとｈう
問題があシ、熟練した作業者による煩雑な測定作業が必
要であるという欠点があった。
本発明は上記従来のｌｌｌ１ｓに鑑みなされたものであ
シ、その目的は、測定手順の指示及び測に順序を考慮す
ることなく、測定情報自体によって轟該欄定点の識別、
特に測定点が曲面か平面かを識別して各測定ｆ＃報を容
易に組み合わせ演算することのできる操作性に勝れた座
標測定方法を提供することにるる。
シ、その目的は、測定手順の指示及び測に順序を考慮す
ることなく、測定情報自体によって轟該欄定点の識別、
特に測定点が曲面か平面かを識別して各測定ｆ＃報を容
易に組み合わせ演算することのできる操作性に勝れた座
標測定方法を提供することにるる。
本発明は、通常の被＃ｌ定物はその外面が雌とんどの場
合円と直線との組み合わせからなることに着目し、各測
定点が円にあるか直線にるるかを識別するのみで、複数
の測定情報を正しく選別してこれらの組み合わせから所
望の外形状を描出できることに着目したものであり、こ
れＫよって測定操作を著しく簡素化し、また全自動の測
定か可能となる。
合円と直線との組み合わせからなることに着目し、各測
定点が円にあるか直線にるるかを識別するのみで、複数
の測定情報を正しく選別してこれらの組み合わせから所
望の外形状を描出できることに着目したものであり、こ
れＫよって測定操作を著しく簡素化し、また全自動の測
定か可能となる。
上記目的を達成するために１本発明は、プローブを少な
くとも２軸方向に移動して被測定物に当接し、＃当接点
における座標を測定する座＋Ｓ測定方法にお込て、プロ
ーブ当接点が曲面か平面かを識別する仁とＫより、複数
の測定情報を正しく組み合わせて被測定物の外形を描出
可能であることを特徴とする。
くとも２軸方向に移動して被測定物に当接し、＃当接点
における座標を測定する座＋Ｓ測定方法にお込て、プロ
ーブ当接点が曲面か平面かを識別する仁とＫより、複数
の測定情報を正しく組み合わせて被測定物の外形を描出
可能であることを特徴とする。
以下図面に基づいて本発明の好−Ａ々実施例を説明する
。
。
第３図には本発明に係る座ＩＩＩ測定方法が適用された
３次元ＩＭｍｍ定様の好適な実施例が示されている。グ
ローブ１４の移動座標は前記移動体１８．２Ｇ、２２に
それぞれ組み込まれたＸエンコーダ３ ＱＳＹｘンｗ−
７３２、Ｚｘンコ−／３４によって検出され、これがグ
ローブ位置演算回路３６に供給され、３次元のグローブ
位置が求められる。
３次元ＩＭｍｍ定様の好適な実施例が示されている。グ
ローブ１４の移動座標は前記移動体１８．２Ｇ、２２に
それぞれ組み込まれたＸエンコーダ３ ＱＳＹｘンｗ−
７３２、Ｚｘンコ−／３４によって検出され、これがグ
ローブ位置演算回路３６に供給され、３次元のグローブ
位置が求められる。
一方、ブロー・プ１４にはタッチセンサ３８が設けられ
、プルーブ１４が被測定物１６に当接した時にタッチ信
号１００が出力され、このタッチ信号１００が座標読取
回路４０に供給され、このタッチ信号１００の出力時に
お妙るプローブ位置が座標読取回路４０によってプロー
ブ位置演算回路３６の出力を配憶することによシ取シ込
まれる。
、プルーブ１４が被測定物１６に当接した時にタッチ信
号１００が出力され、このタッチ信号１００が座標読取
回路４０に供給され、このタッチ信号１００の出力時に
お妙るプローブ位置が座標読取回路４０によってプロー
ブ位置演算回路３６の出力を配憶することによシ取シ込
まれる。
一方、本発明におｈて特徴的なことは、前記プローブ１
４に被測定物１６との当接面が曲面か平面かを識別する
ための面センサ４２が設けられていることであシ、この
面センサ４２によってプローブ１４の被測定物１６との
当接面が判別され、この曲面或込は平面検出信号が座標
演算回路４４へ供給される。従って、座標演算回路４４
は座標読取回路４０の座標信号を曲面と平面とに識別し
て記憶し、これらから所望の形状を演算することが可能
となる。
４に被測定物１６との当接面が曲面か平面かを識別する
ための面センサ４２が設けられていることであシ、この
面センサ４２によってプローブ１４の被測定物１６との
当接面が判別され、この曲面或込は平面検出信号が座標
演算回路４４へ供給される。従って、座標演算回路４４
は座標読取回路４０の座標信号を曲面と平面とに識別し
て記憶し、これらから所望の形状を演算することが可能
となる。
以上のように、本＠明によれば、プローブ１４の各当接
点における座標信号を曲面と平面とに識別して記憶する
ことが可能となシ、この結果、従来のような詳細な測定
指示を行な−或すは正し−手順で測定を行なわなくとも
、測定され九複数の座標信号を全測定完了後に正しく組
み合わせて所望の被測定物１６の１形状を正しく描出す
ることが可能となる。
点における座標信号を曲面と平面とに識別して記憶する
ことが可能となシ、この結果、従来のような詳細な測定
指示を行な−或すは正し−手順で測定を行なわなくとも
、測定され九複数の座標信号を全測定完了後に正しく組
み合わせて所望の被測定物１６の１形状を正しく描出す
ることが可能となる。
すなわち、この種の座標測定におｈては、曲面に対して
３１ｍまた平面に対しては２個の測定が行なわれ、この
基礎的壜約束と、当該当接点が曲面か平面かの識別信号
とを組み合わせることによシ、複数の測定情報を正しく
組み合わせて外形を測定することが可能となる。
３１ｍまた平面に対しては２個の測定が行なわれ、この
基礎的壜約束と、当該当接点が曲面か平面かの識別信号
とを組み合わせることによシ、複数の測定情報を正しく
組み合わせて外形を測定することが可能となる。
前記正しい測定情報の組み合わせを行なうため、通常の
場合には、各測定点の順番が情報として取シ込まれ、た
とえば、第２図のような曲面１００に対しては３個の連
続した曲面信号が用いられ、また平面２００に対しては
２−の連続した平向信号が用いられる。従って、通常の
測定に際しては、これら−向と平面とを混合して測定す
ることはなく、曲面に対しては正しく連続した３個そし
て平面に対しては正しく連続した２１１の測定が行なわ
れるので、これらの順序と、測定個数そして各測定情報
の一面か平面かの識別によシ連続した複数の測定情報を
正しく外形信号として取シ込むことが可能となる。
場合には、各測定点の順番が情報として取シ込まれ、た
とえば、第２図のような曲面１００に対しては３個の連
続した曲面信号が用いられ、また平面２００に対しては
２−の連続した平向信号が用いられる。従って、通常の
測定に際しては、これら−向と平面とを混合して測定す
ることはなく、曲面に対しては正しく連続した３個そし
て平面に対しては正しく連続した２１１の測定が行なわ
れるので、これらの順序と、測定個数そして各測定情報
の一面か平面かの識別によシ連続した複数の測定情報を
正しく外形信号として取シ込むことが可能となる。
さらに、各当接点における測定信号の方向性を情報とし
て取シ込むことによシさらに詳細な外形描出が可能とな
シ、このような方向性は、各測定点の直前におゆる座標
を取シ込むことによシブロープの方向性を判別すること
ができ、このような直前の信号が従来捨てられていた座
標位置を取シ込む仁とによシ行なわれ、なんら操作者に
新たな負担を強いることはない。
て取シ込むことによシさらに詳細な外形描出が可能とな
シ、このような方向性は、各測定点の直前におゆる座標
を取シ込むことによシブロープの方向性を判別すること
ができ、このような直前の信号が従来捨てられていた座
標位置を取シ込む仁とによシ行なわれ、なんら操作者に
新たな負担を強いることはない。
前記プローブ１４の被測定物１６への当接点を曲面或い
は平面として識別する面センサ４０には、プローブ１４
に設けられた補助センナから形成することが好適でわυ
、該補助センナとしては、プローブ１４の測定子の両＠
に配置された補助測定子を含み、測定面が平向である場
合には主接触子と補助接触子とが１＋！は同時に検出信
号を出力し、また曲面の場合には主接触子または補助接
触子の込ずれか一方のみが先に接触信号を出力すること
により１曲面と平面との識別を行なうことができる。ま
た、面センサ４２としてはさらにレーザ光線を利用した
光フアイバ型検出器などとすることも可能である。
は平面として識別する面センサ４０には、プローブ１４
に設けられた補助センナから形成することが好適でわυ
、該補助センナとしては、プローブ１４の測定子の両＠
に配置された補助測定子を含み、測定面が平向である場
合には主接触子と補助接触子とが１＋！は同時に検出信
号を出力し、また曲面の場合には主接触子または補助接
触子の込ずれか一方のみが先に接触信号を出力すること
により１曲面と平面との識別を行なうことができる。ま
た、面センサ４２としてはさらにレーザ光線を利用した
光フアイバ型検出器などとすることも可能である。
以上説明したように１本発明によれば、プローブによる
１１６！測定物の当接面が曲面であるか平面であるかを
識別し、これに基づいて座標信号を処理できるため、従
来のような複雑な手順指示を必要とすることがなく、極
めて簡便な操作子１１ｉによって所望の座標測定を行な
うことができ、また全自動ｏｍｉａｉｍ定作用を可能に
するなど広範囲の利用に供する座標測定方法を提供する
ことができる。
１１６！測定物の当接面が曲面であるか平面であるかを
識別し、これに基づいて座標信号を処理できるため、従
来のような複雑な手順指示を必要とすることがなく、極
めて簡便な操作子１１ｉによって所望の座標測定を行な
うことができ、また全自動ｏｍｉａｉｍ定作用を可能に
するなど広範囲の利用に供する座標測定方法を提供する
ことができる。
鯖１図は従来の一般的な座標測定装置を示す概略構成図
、 第２図は第１図の座標測定機による測定方法の説明図、 ＃！３図は本発明に係る座標測定方法が適用された３次
元座標測定機の好適な実施例を示・す概略構成図である
。 １４−・・プルーブ、 １６・・・被測定物、 ３６・・・プローブ位置演算回路、 ４０−・座標読取回路、 ４２・・・面センサ、 ４４・・・座標演算回路。 代理人 弁理士 吉 １） 研 第１図
、 第２図は第１図の座標測定機による測定方法の説明図、 ＃！３図は本発明に係る座標測定方法が適用された３次
元座標測定機の好適な実施例を示・す概略構成図である
。 １４−・・プルーブ、 １６・・・被測定物、 ３６・・・プローブ位置演算回路、 ４０−・座標読取回路、 ４２・・・面センサ、 ４４・・・座標演算回路。 代理人 弁理士 吉 １） 研 第１図
Claims (1)
- （１） プセープを少なくとも２軸方向に移動して被
測定物に当接し、該轟接点にお妙る座標を測定する座標
測定方法において、プ田−ブ尚接点が曲面か平面かを識
別することによシ、複数の測定情報を正しく組み合わせ
て被調定物の外形を描出可能であることを特徴とする座
標測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17606781A JPS5877612A (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 座標測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17606781A JPS5877612A (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 座標測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5877612A true JPS5877612A (ja) | 1983-05-11 |
Family
ID=16007132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17606781A Pending JPS5877612A (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 座標測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5877612A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5434803A (en) * | 1992-03-26 | 1995-07-18 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Coordinate measuring machine and method of measuring therein |
| US6012863A (en) * | 1995-04-22 | 2000-01-11 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
-
1981
- 1981-11-02 JP JP17606781A patent/JPS5877612A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5434803A (en) * | 1992-03-26 | 1995-07-18 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Coordinate measuring machine and method of measuring therein |
| US6012863A (en) * | 1995-04-22 | 2000-01-11 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
| US6022160A (en) * | 1995-09-14 | 2000-02-08 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
| US6315479B1 (en) | 1995-09-14 | 2001-11-13 | Nonogawa Shoji, Ltd. | Case of stick-type cosmetic preparation and replaceable cartridge of stick-type cosmetic preparation used therefor |
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