JPS5875915A - Schmitt trigger circuit - Google Patents

Schmitt trigger circuit

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Publication number
JPS5875915A
JPS5875915A JP56175283A JP17528381A JPS5875915A JP S5875915 A JPS5875915 A JP S5875915A JP 56175283 A JP56175283 A JP 56175283A JP 17528381 A JP17528381 A JP 17528381A JP S5875915 A JPS5875915 A JP S5875915A
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JP
Japan
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mos
transistor
inverter
inverters
channel
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Pending
Application number
JP56175283A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Ban
博行 伴
Mitsuharu Kato
光治 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
NipponDenso Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS5875915A publication Critical patent/JPS5875915A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • H03K3/0377Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger

Abstract

PURPOSE:To obtain hysteresis width by performing selective channel doping for gates of inverters applied with an input signal. CONSTITUTION:An input signal is supplied to inverters 11 and 12 in parallel. Those inverters 11 and 12 have C-MOS structure obtained by connecting a P- MOS transistor (TR) and an N-MOSTR in series. For the gate of TRs constituting the inverter 11, channel doping is carried out. Therefore, the inverters 11 and 12 have difference input and output voltage transfer characteristics. Owing to the difference in characteristics, hysteresis width is obtained. Therefore, the gate size of each TR is unchanged, so the chip area is unchanged and reduction in size is realized.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、ノイズ等を有する電圧波形の波形整形用あ
るいは安定なマルチバイブレータ回路構成用等に用いら
れるC−MOSによるシュミット・トリガ回路に関する
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a C-MOS Schmitt trigger circuit used for shaping voltage waveforms having noise or the like or for configuring a stable multivibrator circuit.

C−MOSによってシュミット・トリが回路を構成する
場合、入力信号を1対のインバータに供給すると共に、
この1対のインバータ出力を論理出力するように構成す
るものである。この場合、上記1対のインバータの入出
力電圧伝達特性を、それぞれ第1図および第2図に示す
ように設定し、第3図に示すようなヒステリシス幅を有
するシュミット・トリガ回路が構成されるようにするも
のである。ここで、他の回路部分の入出力電圧伝達特性
はμ■Dilとし、負側電源電圧をVB8(=OV)、
正側電源電圧をVDDとする。
When a Schmitt-Tori circuit is constructed using C-MOS, an input signal is supplied to a pair of inverters, and
The outputs of this pair of inverters are configured to provide a logical output. In this case, the input/output voltage transfer characteristics of the pair of inverters are set as shown in FIGS. 1 and 2, respectively, and a Schmitt trigger circuit having a hysteresis width as shown in FIG. 3 is constructed. It is intended to do so. Here, the input/output voltage transfer characteristics of other circuit parts are μ■Dil, and the negative side power supply voltage is VB8 (=OV),
Let the positive side power supply voltage be VDD.

上記シュミット・トリガ回路を構成するインバータは、
通常P−MO8)ランノスタとN−MOS )ランジス
タとを、電源■DDとvssとの間にm列に接続し、こ
の両トランジスタのr−)に入力信号を供給すると共に
、その相互接続部から出力信号を取り出すように構成す
る。
The inverter that makes up the above Schmitt trigger circuit is
Normally, P-MO8) Rannostar and N-MOS) transistors are connected in m columns between the power supplies ■DD and vss, and an input signal is supplied to r-) of both transistors, and from the interconnection part. Configure to extract an output signal.

通常、C−MO8回路によってインバータを構成する場
合には、パターン設計ルールにより多少のずれはあるが
、電源電圧間(vDD−■88)のμの入ンパータの入
出力電圧伝達特性をそれぞれ第1図および第2図に示し
たようにするためには、一方のインバータを構成するP
−MOS )ランゾスタのチャンネル幅を、同じ(N−
MOS )ランジスタのチャンネル幅より大きく設定し
、他方のインバータを構成するP−MOS )ランジス
タおよびN−MOS )ランジスタのチャンネル幅の関
係を、上記とは逆の状態に設定する。すなわち、インバ
ータを構成するP−MOS )ランジスタとN−MOS
 )ランジスタのチャンネル幅を異ならせることにより
、特に一方のトランジスタのチャンネル幅を他方のトラ
ンジスタのチャンネル幅より意識的に太きく構成するも
のであり、このため必然的にパターンサイズが犬きくな
る。また、第1図および第2図の入出力電f]二伝達特
性で定する第3図に示したヒステリシス幅は、1対のイ
ンバータそれぞれのパターンサイズの比率で決定、され
るようになる。このため、安定したヒステリシス幅を得
るには、この半導体装置を製造するための複雑な計算や
工程パラメータのコントロールを必要とするようになる
Normally, when configuring an inverter using a C-MO8 circuit, the input and output voltage transfer characteristics of the input inverter of μ between the power supply voltages (vDD-■88) are set as the first In order to do as shown in Figures and Figure 2, P
-MOS) Set the Lanzostar channel width to the same (N-
The channel width of the P-MOS) transistor and the N-MOS) transistor constituting the other inverter are set to be larger than the channel width of the MOS) transistor, and the relationship between the channel widths of the P-MOS) transistor and the N-MOS) transistor constituting the other inverter is set to be opposite to the above. In other words, P-MOS transistors and N-MOS transistors that constitute the inverter
) By making the channel widths of the transistors different, the channel width of one transistor is intentionally made wider than the channel width of the other transistor, which inevitably results in a larger pattern size. Further, the hysteresis width shown in FIG. 3, which is determined by the input/output voltage f]2 transfer characteristics in FIGS. 1 and 2, is determined by the ratio of the pattern sizes of each of a pair of inverters. Therefore, in order to obtain a stable hysteresis width, complicated calculations and control of process parameters are required to manufacture this semiconductor device.

この発明は上記のような点に鑑みなされたもので、イン
バータを構成するP−MOS )ランジスタおよヒN−
MO8)ランジスタのチャンネル幅を異ならせることな
く、それぞれの入出力電圧伝達特性を設定し、ヒステリ
シス幅を得ることができるようにするものであり、特に
パターンサイズを大きくすることがなく、効果的に集権
化がはかれるようにするシュミット・トリガ回路を提供
しようとするものである。
This invention was made in view of the above-mentioned points.
MO8) It is possible to set the input and output voltage transfer characteristics of each transistor and obtain the hysteresis width without changing the channel width of the transistor, and it is possible to obtain the hysteresis width effectively without increasing the pattern size. The present invention attempts to provide a Schmitt trigger circuit that facilitates centralization.

すなわち、この発明に係るシュミット・トリガ回路は、
入力信号が並列的に供給される第1および第2のインバ
ータをそれぞれ構成するP−MOS トランジスタおよ
びN−MOS )ランジスタのゲートに対して選択的に
チャンネル・ドープを実施し、P−MOS )ランジス
タあるいはN−MOSトランジスタ、さらにはこの両ト
ランジスタのスレッシホールド電圧を変化させ、ヒステ
リシス幅を得るようにするものである。
That is, the Schmitt trigger circuit according to the present invention is
Channel doping is selectively performed on the gates of P-MOS transistors and N-MOS transistors constituting the first and second inverters to which input signals are supplied in parallel, and Alternatively, the threshold voltage of the N-MOS transistor or both of these transistors may be changed to obtain a hysteresis width.

以下図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。第
4図はその構成を示すもので、入力信号■、は第1およ
び第2のインバータ1ノ。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 4 shows its configuration, where input signals 1 and 2 are input to the first and second inverters 1 and 1, respectively.

12に対して並列的に供給し、第2のインバータ12か
らの出力信号はさらにインバータ13で反転する。そし
て、インバータ11および13からの出力信号は、それ
ぞれナンド回路14゜15に供給すると共に、ナンド回
路14からの出力信号はナンド回路15に、またナンド
回路15の出力信号はナンド回路14にそれぞれ結合す
るようにしてフリップフロップを構成し、ナンド回路1
4から出力信号■。UTを取り出すようにするものであ
る。
12 in parallel, and the output signal from the second inverter 12 is further inverted by an inverter 13. The output signals from the inverters 11 and 13 are respectively supplied to NAND circuits 14 and 15, the output signal from the NAND circuit 14 is coupled to the NAND circuit 15, and the output signal from the NAND circuit 15 is coupled to the NAND circuit 14. Configure a flip-flop as follows, and convert NAND circuit 1
Output signal from 4■. This allows the UT to be taken out.

5− このような回路において、入力信号の供給される第1の
インバータ1ノは、例えば第5図に示すように構成する
。すなわち、電源■DDと■ssとの間に、P−MOS
 )ランジスタ16とN−MOS )ランジスタ17を
回動にして接続し、この両トランジスタ16.17のケ
9−トに対して入力信号■1Nを結合し、同じく両トラ
ンジスタ16.17の相互接続点から出力信号■。UT
を取り出すようにするものである。この場合、P−MO
S )ランジスタ16およびN−MOS )ランジスタ
17のそれぞれf−)に対して、チャンネル・ドープを
施すようにする。ただし、以下の説明では、チャンネル
・ドープはほう素等の3価の元素を想定して説明する。
5- In such a circuit, the first inverter 1 to which the input signal is supplied is configured as shown in FIG. 5, for example. That is, between the power supplies ■DD and ■ss, there is a P-MOS
) Transistor 16 and N-MOS) Transistor 17 is connected by rotation, and the input signal 1N is coupled to the gate of both transistors 16.17, and the interconnection point of both transistors 16.17 is also connected. ■Output signal from. UT
The purpose is to take out the . In this case, P-MO
Channel doping is applied to each of the S) transistor 16 and the N-MOS) transistor 17 f-). However, in the following description, the channel dope is assumed to be a trivalent element such as boron.

これに対して、第2のインバータ12は第6図に示すよ
うに電源vDDと■88との間にP−MOSトランジス
タ18およびN−MOS )ランジスタ19を上記同様
に接続して構成するものであるが、このトランジスタ1
8.19のデートに対しては、チャンネル・ドープを施
さないようにする。
On the other hand, the second inverter 12 is constructed by connecting a P-MOS transistor 18 and an N-MOS transistor 19 between the power supply vDD and the voltage source 88 in the same manner as described above, as shown in FIG. There is, but this transistor 1
Do not apply channel dope to the 8.19 date.

6− すなわち、チャンネル・ドープを施したP−MOS )
ランジスタ16およびN−MOS )ランジスタ17で
構成した第1のインバータ11の入出力電圧伝達特性は
、第1図に示すようになるものであり、これに対してチ
ャンネル・ドープを施さないトランジスタ18.19で
構成した第2のインバータ12の入出力電圧伝達特性は
第2図に示すようになる。したがって、このような入出
力電圧伝達特性のインバータ11.12を組み合わせ構
成したシュミット・トリガ回路においては、第3図に示
すようなヒステリシス幅が得られるものである。
6- i.e. P-MOS with channel doping)
The input/output voltage transfer characteristics of the first inverter 11 composed of the transistor 16 and the N-MOS transistor 17 are as shown in FIG. 1, whereas the transistor 18. The input/output voltage transfer characteristics of the second inverter 12 configured with the inverter 19 are as shown in FIG. Therefore, in a Schmitt trigger circuit configured by combining inverters 11 and 12 having such input/output voltage transfer characteristics, a hysteresis width as shown in FIG. 3 can be obtained.

一般に、C−MOSを構成するインバータは、第5図お
よび第6図で示したようにP−MOS )ランジスタお
よびN−MOS )ランジスタによって構成される。こ
こで、ダートへのチャンネル・ドープを施した後のP−
MOS トランジスタのスレッシホールド電圧を■TP
とすると、デートにチャンネル・ドープを施す前のP−
MOS )ランジスタのスレッシホールド電圧は、[V
TP+ΔV、、 j (ただし、Δ■TPはゲートへチ
ャンネル・ドープをする前と後との変動であり、また■
TPおよびΔ”TPは正の値とする)となることは知ら
れている。
Generally, an inverter constituting a C-MOS is composed of a P-MOS transistor and an N-MOS transistor, as shown in FIGS. 5 and 6. Here, P− after channel doping to dirt
MOS transistor threshold voltage ■TP
Then, P− before channel doping is applied to the date.
The threshold voltage of the transistor (MOS) is [V
TP+ΔV,, j (However, Δ■TP is the variation before and after channel doping to the gate, and ■
It is known that TP and Δ''TP are positive values).

さらに、N−MOS )ランジスタのダートへのチャン
ネル・ドープをする前のスレッシホールド電圧を■TN
とすると、ゲートへのチャンネル・P−デを施した後の
スレッシホールド電圧は「■TN+Δ■TN」(ΔvT
Nはチャンネル・ドープをする前と後との変動分であり
、■TNおよびΔ■TNは正の値とする)となることも
知られている。
Furthermore, the threshold voltage before channel doping to the dirt of the N-MOS transistor is
Then, the threshold voltage after applying channel P-de to the gate is "■TN+Δ■TN" (ΔvT
It is also known that N is the variation between before and after channel doping, and ■TN and Δ■TN are assumed to be positive values.

以下において、このC−MOSインバータの動作点を計
算してヒステリシス幅を計算する。いま、インバータの
出力が(■DD−Vs8)/2の時を考えると、この時
インバータを構成するP−MOS )ランジスタおよび
N−MOS )ランジスタは飽和領域にある。この時の
P−MOS )ランジスタの出力′電流をIP、 N−
MOS )ランジスタの出力電流を稲とすると、一般に
次の(1)(2) (3)式が成り立つ。
In the following, the operating point of this C-MOS inverter is calculated and the hysteresis width is calculated. Now, when the output of the inverter is (DD-Vs8)/2, the P-MOS () transistor and the N-MOS () transistor that constitute the inverter are in the saturation region. At this time, the output current of the P-MOS) transistor is IP, N-
If the output current of a MOS (MOS) transistor is represented by the output current, then the following equations (1), (2), and (3) generally hold true.

IP=IN                    
・・・(3)ただし、ε。工;ゲート酸化膜誘電係数゛
rox ;デート膜厚 wP ;pチャンネルトランジスタのチャンネル幅 WN :Nチャンネルトランジスタのチャンネル幅 ”IN S入力電圧(V88基準) μ、;易動度(Pチャンネル) μ、;易動度(Nチャンネル) LP ;Pチャンネルトランジスタのチャンネル長 LN ;Nチャンネルトラン・ゾスタのチャンネル長 計算を簡単にするためKrV8.=OVJとすると、上
記式(1) (2) (3)より次の式が成り立つ。
IP=IN
...(3) However, ε. Gate oxide dielectric coefficient rox; Date film thickness wP; P-channel transistor channel width WN: N-channel transistor channel width IN S input voltage (V88 reference) μ, ; Mobility (P channel) μ, ; Mobility (N-channel) LP ; Channel length of P-channel transistor LN ; To simplify the calculation of the channel length of N-channel transistor, assuming KrV8.=OVJ, the above formula (1) (2) (3) Therefore, the following formula holds true.

9− 上記(4)式において「α=1」ならば、となり、「■
TP=■TN」ならば となる。
9- In the above equation (4), if “α=1”, then “■
If TP=■TN'', then.

今、C−MO8回路において、通常のP−MOS トラ
ンジスタにはr−)へのチャンネル・ドープが実施され
ており、N−MOS )ランジスタにはダートへのチャ
ンネル・ドープが施されていない場合について考えてみ
る。この時のC−MOSインバータの出力反転をする(
出力電圧がVDD/ 2となる)入力電圧は、(4)式
で示される。
Now, in a C-MO8 circuit, the normal P-MOS transistor is channel-doped to r-), and the N-MOS transistor is not channel-doped to dirt. I'll think about it. Invert the output of the C-MOS inverter at this time (
The input voltage (for which the output voltage is VDD/2) is shown by equation (4).

ここで、前述したように第1のインバータ1110− は第5図に示したように構成され、第2のインバータ1
2が第6図に示されたように構成されるものとすると、
そのそれぞれの出力反転をする入力電圧■1NIおよび
■1N■はそれぞれ次のようになる。
Here, as described above, the first inverter 1110- is configured as shown in FIG.
2 is configured as shown in FIG.
The input voltages ■1NI and ■1N■ for inverting the respective outputs are as follows.

したがって、第1のインバータz1ij:第1図に示す
ような入出力電圧伝達特性を示し、第2のインバータ1
2は第2図に示したような入出力電圧伝達特性を示すよ
うになるものである。
Therefore, the first inverter z1ij: exhibits an input/output voltage transfer characteristic as shown in FIG.
2 exhibits input/output voltage transfer characteristics as shown in FIG.

そして、このようなインバータ11.12を用いて第4
図に示したシーミツト・トリガ回路を構成すると、その
ヒステリシス幅はrV、−V2Jとなり、次の式が成り
立つ。
Then, using such inverters 11 and 12, the fourth
When the seamit trigger circuit shown in the figure is constructed, its hysteresis width becomes rV, -V2J, and the following equation holds true.

ここで、実除はΔ■TN=Δ■TP−Δ■、である。た
だし、Δ■7はチャンネル・ドープをすることに工って
、P−Mo8に生ずるスレッショルド電圧の変化分であ
る。したがって、 となる。このようにして、Mo8の形状パラメータαに
依存せずに、チャンネル・ドープ量によって決まる。言
い換えれば、再現性のよいヒステリシス幅を得ることが
できる。
Here, the actual division is Δ■TN=Δ■TP−Δ■. However, Δ■7 is the change in threshold voltage that occurs in P-Mo8 due to channel doping. Therefore, . In this way, it is determined by the channel doping amount, without depending on the shape parameter α of Mo8. In other words, a hysteresis width with good reproducibility can be obtained.

以上示した実施例では、第1のインバータ1ノを構成す
るP−Mo8 )ランジスタおよびN−Mo8 )ラン
ジスタのそれぞれr−)にチャンネル・ドープを施し、
第2のインバータ12のP−R40SおよびN−Mo8
 )ランジスタのr−トにはチャンネル・ドープを施さ
ない状態で示した。しかし、第2のインバータ12はそ
のままにして、第1のインバータ11においてN−Mo
8 )ランジスタ17のr−)へのみチャンネル・ドー
プを施すようにしても、同様にヒステリシス幅を得るこ
とができる。この場合の(7)式は次のようになる。
In the embodiment shown above, channel doping is applied to each of the P-Mo8) transistor and the N-Mo8) transistor r-) constituting the first inverter 1,
P-R40S and N-Mo8 of second inverter 12
) The transistor r-t is shown without channel doping. However, the second inverter 12 is left as is, and the first inverter 11 is
8) A similar hysteresis width can be obtained by applying channel doping only to r-) of the transistor 17. Equation (7) in this case becomes as follows.

上記場合とは逆に第1のインバータ11のP−Mo8 
)ランジスタ16のデートへのチャンネル・ドープを施
すと、(7)式は となる。
Contrary to the above case, P-Mo8 of the first inverter 11
) When channel doping is applied to the date of transistor 16, equation (7) becomes.

また、第1のインバータ11は第5図で説明したように
構成し、第2のインバータ12のp−Mo5 ) ラン
ジスタ18のデートへチャンネル・ドープを施すと、(
7)式は次のようになる。
Further, the first inverter 11 is configured as explained in FIG. 5, and when channel doping is applied to the date of the p-Mo5) transistor 18 of the second inverter 12,
7) The formula is as follows.

これとは逆に第2のインバータ12のN−MOSトラン
ジスタのf−)へチャンネル・ドープを施すと、(7)
式は次のようになる。
On the contrary, when channel doping is applied to f-) of the N-MOS transistor of the second inverter 12, (7)
The formula is as follows.

すなわち、チャンネル・ドープを施すトラン13− ジスタを選定することによって、それぞれシュミット・
トリガ回路においてヒステリシス1陥を得ることができ
る。
That is, by selecting transistors to be channel-doped, Schmidt
Hysteresis can be obtained in the trigger circuit.

上記実施例では入力信号の結合される第1および第2の
インバータ11.12からの出力信号を、ナンド回路に
よる論理のフリップフロッゾ出力で取り出すようにした
が、これは第7図に示すようにノア回路20.21およ
びインバータ22を組み合わせたノア論理のフリツプフ
ロツプで取り出すようにしてもよい。さらに第8図に示
すようにフリップフロッゾ構成ではなく、オア回路23
、ナンド回路24、インバータ25による論理回路で取
り出すようにしてもよい。
In the above embodiment, the output signals from the first and second inverters 11 and 12 to which the input signals are combined are taken out by the logic flip-flop output using the NAND circuit, as shown in FIG. The output may be taken out by a NOR logic flip-flop that combines the NOR circuits 20 and 21 and the inverter 22. Furthermore, as shown in FIG. 8, instead of using the flip-flop configuration, the OR circuit 23
, a NAND circuit 24, and an inverter 25 may be used.

以上のようにこの発明によれば、入力信号の供給される
1対のインバータのそれぞれ出力反転する入力電圧■、
および■2をrv、−v2>o、、1となるように、イ
ンバータを構成するPチャンネルおよびNチャンネルの
Mo8 )ランジスタに選択的にチャンネル・ドープを
施すことによって14− ヒステリシス幅を得るものであり ’i  P−MOS
 。
As described above, according to the present invention, the input voltage ■, which inverts the output of each of the pair of inverters to which the input signal is supplied;
The 14-hysteresis width is obtained by selectively channel-doping the P-channel and N-channel Mo8) transistors constituting the inverter so that 2 is rv, -v2>o, 1. Yes 'i P-MOS
.

N−MOSの各トランジスタのパターンサイズに影響を
与えることなく、効果的にシュミット・トリが回路を構
成することができるものである。
This allows a Schmidt-Tori circuit to be effectively configured without affecting the pattern size of each N-MOS transistor.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図はシュミット・トリガ回路を構成す
る1対のインバータで要求される入出力電圧伝達特性を
それぞれ示す図、第3図は同じくシュミット・トリが回
路で要求されるヒステリシス幅を示す図、第4図はこの
発明の一実施例に係るシュミット・トリガ回路を説明す
る構成図、第5図および第6図はそれぞれ上記実施例で
使用されるインバータの具体的回路を示す図、第7図お
よび第8図はそれぞれこの発明の他の実施例を示す構成
図である。 11・・・第1のインバータ、12・・・第2のインバ
ータ、16.18・・・P−MOS )ランジスタ、1
7.19・・・N−MOS )ランジスタ。 出願人代理人 9F理士 鈴 江 武 彦15− 第1図    第2図 第3図 第4図 9−
Figures 1 and 2 are diagrams showing the input/output voltage transfer characteristics required for a pair of inverters constituting a Schmitt trigger circuit, and Figure 3 is a diagram showing the hysteresis width required for the Schmitt trigger circuit. FIG. 4 is a configuration diagram illustrating a Schmitt trigger circuit according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 5 and 6 are diagrams showing specific circuits of an inverter used in the above embodiment, respectively. FIGS. 7 and 8 are block diagrams showing other embodiments of the present invention, respectively. 11...First inverter, 12...Second inverter, 16.18...P-MOS) transistor, 1
7.19...N-MOS) transistor. Applicant's agent 9F Takehiko Suzue 15- Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 9-

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 入力信号が並列的に供給される第1および第2のインバ
ータ、およびこの第1および第2のインバータ出力を論
理出力する手段を備えた回路において、上記第1および
第2のインバータは、電源間にP−MOS )ランジス
タおよびN−MOSトランジスタを直列に接続し、この
両トランジスタのf7)に入力信号を供給すると共にそ
の相互接続部から出力信号を取り出すようにそれツレ構
成し、この第1および第2のインバータを構成するp−
MOS )ランジスタおよびN−MOS トランジスタ
に対して、選択的にチャンネル・ドープを施し、第1お
よび第2のインバータのそれぞれ出力反転する入力電圧
を異ならせて、その相互にヒステリシス幅が形成される
ようにしたことを特徴とするシーミツト・トリガ回路。
In a circuit comprising first and second inverters to which input signals are supplied in parallel, and means for logically outputting the first and second inverter outputs, the first and second inverters are connected between power supplies. A P-MOS transistor) and an N-MOS transistor are connected in series, and the first and second p- constituting the second inverter
MOS) transistors and N-MOS transistors are selectively channel-doped, and the input voltages at which the outputs of the first and second inverters are inverted are made different so that a hysteresis width is formed between them. Seamit trigger circuit characterized by:
JP56175283A 1981-10-31 1981-10-31 Schmitt trigger circuit Pending JPS5875915A (en)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5197963A (en) * 1975-02-25 1976-08-28 Cmos shusekikairo

Patent Citations (1)

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