JPS587572A - 微小放電検出装置 - Google Patents
微小放電検出装置Info
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- JPS587572A JPS587572A JP10663681A JP10663681A JPS587572A JP S587572 A JPS587572 A JP S587572A JP 10663681 A JP10663681 A JP 10663681A JP 10663681 A JP10663681 A JP 10663681A JP S587572 A JPS587572 A JP S587572A
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- discharge
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/1272—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、固体絶縁物を有し、高電圧で使用される電
気機器の稼動中に固体絶縁物中で発生する微小放電を検
出するためおよび微小放電の発生位置を知るための微小
放電検出装置に関する。
気機器の稼動中に固体絶縁物中で発生する微小放電を検
出するためおよび微小放電の発生位置を知るための微小
放電検出装置に関する。
従来、固体絶縁物内部で発生する部分放電を検出する方
法として、電気回路による部分放電検出法が知られてい
る。第１図は最も一般的な試料接地法による部分放電測
定回路を示す回路図である。
法として、電気回路による部分放電検出法が知られてい
る。第１図は最も一般的な試料接地法による部分放電測
定回路を示す回路図である。
この第１図において、１は高電圧印加トランス、２は試
料で発生した部分放電パルスを高電圧印加トランス１側
に向わせないためのブロッキング抵抗であシ、３は検出
インピーダンス、４は検出インピーダンスを収する部分
放電検出器、５はブロッキング抵抗３の検出インピーダ
ンス端に発生した出力信号、６は試料で、Ｔは試料６と
検出インピーダンスとを電気的に結合するための結合コ
ンデンサである。
料で発生した部分放電パルスを高電圧印加トランス１側
に向わせないためのブロッキング抵抗であシ、３は検出
インピーダンス、４は検出インピーダンスを収する部分
放電検出器、５はブロッキング抵抗３の検出インピーダ
ンス端に発生した出力信号、６は試料で、Ｔは試料６と
検出インピーダンスとを電気的に結合するための結合コ
ンデンサである。
次に動作について説明する。高電圧印加トランス１によ
って印加された高電圧によシ試料６において発生した部
分放電パルスは結合コンデンサＴを通シ、検出インピー
ダンス３の両端に電圧として検出される。この場合、ブ
ロッキング抵抗２を適幽な値に選ぶことによ〕、部分放
電パルスは高電圧印加トランス１側へは向かわない。そ
して、検出インピーダンス３によシ得られた検出電圧は
部分放電検出器４の出力５として熟理される。
って印加された高電圧によシ試料６において発生した部
分放電パルスは結合コンデンサＴを通シ、検出インピー
ダンス３の両端に電圧として検出される。この場合、ブ
ロッキング抵抗２を適幽な値に選ぶことによ〕、部分放
電パルスは高電圧印加トランス１側へは向かわない。そ
して、検出インピーダンス３によシ得られた検出電圧は
部分放電検出器４の出力５として熟理される。
従来の部分放電測定回路は以上のように構成されている
ので、試料６に高電圧を印加するための高電圧印加トラ
ンス１が必要でかつ試料６となる電気機器を一旦停止し
、この電気機器が構成している電力回路網から独立させ
なければならず、加えて結合コンデンサ、ブロッキング
抵抗などを必要とする。
ので、試料６に高電圧を印加するための高電圧印加トラ
ンス１が必要でかつ試料６となる電気機器を一旦停止し
、この電気機器が構成している電力回路網から独立させ
なければならず、加えて結合コンデンサ、ブロッキング
抵抗などを必要とする。
また、試料６となる電気機器はその大きさ、形に関係な
く回路的に一つのコンデンサとして考えるため、部分放
電の発生位置を知ることができず、さらに、外部から飛
来するノイズに対するシールド６埋が困難で、外来ノイ
ズの多い工場などでの測定は極めて困難であるという欠
点があつ九。
く回路的に一つのコンデンサとして考えるため、部分放
電の発生位置を知ることができず、さらに、外部から飛
来するノイズに対するシールド６埋が困難で、外来ノイ
ズの多い工場などでの測定は極めて困難であるという欠
点があつ九。
この発明は、上記従来の欠点を除去するためになされた
もので、稼動中の電気機器において、固体絶縁物内部の
微小欠陥で発生する部分放電にともなって放射される音
波、超音波成分を検出増幅することＫよシ、絶縁物内部
で部分放電が発生しているか否かの発見および部分放電
が発生していればその発生位置の評定ができる微小放電
検出装置を提供することを目的とする。
もので、稼動中の電気機器において、固体絶縁物内部の
微小欠陥で発生する部分放電にともなって放射される音
波、超音波成分を検出増幅することＫよシ、絶縁物内部
で部分放電が発生しているか否かの発見および部分放電
が発生していればその発生位置の評定ができる微小放電
検出装置を提供することを目的とする。
以下、この発明の微小放電検出装置の冥施例について図
面に基づき説明する。第２図はその一実施例の構成を示
す断面図である。この籐２図において、２１は固体絶縁
物であ夛、２２はこの固体絶縁物２１の中に存在する欠
陥を示す。固体絶縁物２２０中心には高圧導体２４が配
設され、また固体絶縁物２１の外周面には低圧導体２５
が設けられている。すなわち、固体絶縁物２１を介して
高圧導体２４と低圧導体２５は同軸状になっている。
面に基づき説明する。第２図はその一実施例の構成を示
す断面図である。この籐２図において、２１は固体絶縁
物であ夛、２２はこの固体絶縁物２１の中に存在する欠
陥を示す。固体絶縁物２２０中心には高圧導体２４が配
設され、また固体絶縁物２１の外周面には低圧導体２５
が設けられている。すなわち、固体絶縁物２１を介して
高圧導体２４と低圧導体２５は同軸状になっている。
高圧導体２４と低圧導体２５間にはライン電圧２６が印
加されており、低圧導体２５はアースされている。低圧
導体２５には接触媒質２８を介して微小放電検出センナ
２Ｔが設けられておυ、この微小放電検出センナ２７０
出力は電気信号出力コード２９によ〕取ｐ出されるよう
になっている。
加されており、低圧導体２５はアースされている。低圧
導体２５には接触媒質２８を介して微小放電検出センナ
２Ｔが設けられておυ、この微小放電検出センナ２７０
出力は電気信号出力コード２９によ〕取ｐ出されるよう
になっている。
また、２３は欠陥２２で発生した部分放電にともなって
発生し、固体絶縁物２１中を伝播する音波もしくは超音
波である。この音波もしくは超音波２３は微小放電検出
センサ２ＴＫより検出されて電気信号に変換するもので
あり、ｔｆｃ、接触媒質２８は固体絶縁物２１と微小放
電検出センサスフとの間で音波もしくは超音波２３の伝
播効率を低下させないためのものである。
発生し、固体絶縁物２１中を伝播する音波もしくは超音
波である。この音波もしくは超音波２３は微小放電検出
センサ２ＴＫより検出されて電気信号に変換するもので
あり、ｔｆｃ、接触媒質２８は固体絶縁物２１と微小放
電検出センサスフとの間で音波もしくは超音波２３の伝
播効率を低下させないためのものである。
次に、以上のように構成されたこの発明の微小放電検出
装置の動作について説明する。稼動中のバスダクト、す
なわち、高圧導体２４と低圧導体２５関には高電圧（ラ
イン電圧２６）が印加されているため、高圧導体２４の
周囲をとシま〈固体絶縁物２１に欠陥２２が存在すると
、この欠陥２２０個所で部分放電が発生する。これと同
時に１部分放電の原因に基づく音波もしくは超音波２Ｓ
が放射される。
装置の動作について説明する。稼動中のバスダクト、す
なわち、高圧導体２４と低圧導体２５関には高電圧（ラ
イン電圧２６）が印加されているため、高圧導体２４の
周囲をとシま〈固体絶縁物２１に欠陥２２が存在すると
、この欠陥２２０個所で部分放電が発生する。これと同
時に１部分放電の原因に基づく音波もしくは超音波２Ｓ
が放射される。
放射された音波もしくは超音波２３は固体絶縁物２１中
を伝播し、微小放電検出センナ２７に達し、ここで電気
信号に変換され、電気信号出力コード２９よシ取シ出さ
れる。
を伝播し、微小放電検出センナ２７に達し、ここで電気
信号に変換され、電気信号出力コード２９よシ取シ出さ
れる。
微小放電検出センサスフの材料は通常チタン酸パリクム
など、圧電効果を有するものが使用される。この微小放
電検出センナ２Ｔと固体絶縁物２１の関には音波もしく
は超音波２３を効率よく伝播させるための接触媒質２−
が使用されており、しかも、微小放電検出センナ２７は
手動あるいは機械的動作によル低圧導体２５の表面を矢
印Ａｍ、Ａ２方向に移動可能であ〕、したがって、測定
個所を変えながら微小放電検出センサ２Ｔで欠陥２２を
精確に検出できるとともに、欠陥２２０個所を標定する
ことがで亀る。
など、圧電効果を有するものが使用される。この微小放
電検出センナ２Ｔと固体絶縁物２１の関には音波もしく
は超音波２３を効率よく伝播させるための接触媒質２−
が使用されており、しかも、微小放電検出センナ２７は
手動あるいは機械的動作によル低圧導体２５の表面を矢
印Ａｍ、Ａ２方向に移動可能であ〕、したがって、測定
個所を変えながら微小放電検出センサ２Ｔで欠陥２２を
精確に検出できるとともに、欠陥２２０個所を標定する
ことがで亀る。
なお、上記実施例では、部分放電計測の被測定物として
、高圧パスダクトの場合について説明したが、毫−ルド
変圧器中発電機固定子コイルあるいは電動機、変成器で
あってもよく、固体絶縁物を用いた高圧電気機器におい
て広く上記実施例と同様の効果を奏するものである。
、高圧パスダクトの場合について説明したが、毫−ルド
変圧器中発電機固定子コイルあるいは電動機、変成器で
あってもよく、固体絶縁物を用いた高圧電気機器におい
て広く上記実施例と同様の効果を奏するものである。
また、微小放電検出センサスＴの材質としてはチタン欧
バリウムなどの圧電効果を有する素子で説明したが、音
波％Ｌ＜は超音波を電気信号に変換できる機能を有する
材料ならば何でもよく、また、マイクロホンなどであっ
ても同様の効果を奏する。
バリウムなどの圧電効果を有する素子で説明したが、音
波％Ｌ＜は超音波を電気信号に変換できる機能を有する
材料ならば何でもよく、また、マイクロホンなどであっ
ても同様の効果を奏する。
さらに、音波もしくは超音波の信号レベルが充分高い場
合には、微小放電検出センサ２Ｔと固体絶縁物２１間の
接触媒質２８は必要としない。
合には、微小放電検出センサ２Ｔと固体絶縁物２１間の
接触媒質２８は必要としない。
以上のように、この発明の微小放電検出装置によれば、
部分放電パルスを直接電気的に取り出すのではなく、部
分放電にともなって放射される音波もしくは超音波を電
気信号に変換して測定するようにしたので、被測定物が
稼動中であっても測定が行える。
部分放電パルスを直接電気的に取り出すのではなく、部
分放電にともなって放射される音波もしくは超音波を電
気信号に変換して測定するようにしたので、被測定物が
稼動中であっても測定が行える。
また、外部から高電圧を印加する設備や付属回路を必要
とせず、かつ外部から飛来する電気的ノイズに対しても
強いと云うすぐれた効果がおる。
とせず、かつ外部から飛来する電気的ノイズに対しても
強いと云うすぐれた効果がおる。
第１図は従来の部分放電測定回路を示す回路図、第２図
はこの発明の微小放電検出装置の一実施例の構成を示す
断面図である。 ２１・・・固体絶縁物、２２・・・欠陥、２３・・・音
波ｔしくは超音波、２４・・・高圧導体、２５・・・低
圧導体、２６・・・ライン電圧、２Ｔ・・・微小放電検
出センサ、２８・・・接触媒質
はこの発明の微小放電検出装置の一実施例の構成を示す
断面図である。 ２１・・・固体絶縁物、２２・・・欠陥、２３・・・音
波ｔしくは超音波、２４・・・高圧導体、２５・・・低
圧導体、２６・・・ライン電圧、２Ｔ・・・微小放電検
出センサ、２８・・・接触媒質
Claims (2)
- （１）固体絶縁物を有し高電圧で使用される電気機器の
稼動中において上記固体絶縁物の内部の微小欠陥で発生
する部分放電にともなって放射される音波もしくは超音
波を微小放電検出センナによって検出して電気信号に変
換することを特徴とする微小放電検出装置。 - （２）微小放電検出センナは移動可能であシかっ固体絶
縁物の内部欠陥を検出して得られた電圧の高低によルこ
の内部欠陥の位置を検出することを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の微小放電検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10663681A JPS587572A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 微小放電検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10663681A JPS587572A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 微小放電検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS587572A true JPS587572A (ja) | 1983-01-17 |
Family
ID=14438596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10663681A Pending JPS587572A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 微小放電検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS587572A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0346576A (ja) * | 1989-07-14 | 1991-02-27 | Toshiba Corp | 巻線の部分放電検出装置及びその検出方法 |
| US6953641B2 (en) | 2001-01-05 | 2005-10-11 | Johnson Controls Technology Company | Battery grid |
-
1981
- 1981-07-07 JP JP10663681A patent/JPS587572A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0346576A (ja) * | 1989-07-14 | 1991-02-27 | Toshiba Corp | 巻線の部分放電検出装置及びその検出方法 |
| US6953641B2 (en) | 2001-01-05 | 2005-10-11 | Johnson Controls Technology Company | Battery grid |
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