JPS5870157A - 強磁性体材料の非破壊検査方法および装置 - Google Patents
強磁性体材料の非破壊検査方法および装置Info
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- JPS5870157A JPS5870157A JP57127437A JP12743782A JPS5870157A JP S5870157 A JPS5870157 A JP S5870157A JP 57127437 A JP57127437 A JP 57127437A JP 12743782 A JP12743782 A JP 12743782A JP S5870157 A JPS5870157 A JP S5870157A
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- G01N2291/042—Wave modes
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- G01N2291/0423—Surface waves, e.g. Rayleigh waves, Love waves
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は1張出性体材料好適(二は管体や棒体のような
円筒状被検体に対でる非破壊検査方法および検査装置に
閣下るものである0 一般(:、材料の非破壊検f%:超音波(二よって行う
ことができ、ピエゾ集子トランスデューサを用いて超音
波を発生させ、この超音波を水のような結合手段を用い
て物体中に導入している・またコイルな用いて電気的手
段によって超音波を発生させることができ、このコイル
屯=よって高周波のパルス状うず電流なワークピース中
(−発生させることができる0この領域における磁界は
、うず[15ftと共(二、ワークピースのグリッドシ
ステムで作動するローレンツ力の発生を誘起Tると共(
−1音波な発生する要因となるeこのような磁界等の発
生を表わT原理は、受信響二おいては反対の動作原理と
なる0強磁性体材料例えば、管体や棒体のワークピース
な検査する場合、漂遊a束回転システムC二おいても検
査でき、このシステムでは、S束?被検体中で発生させ
ると共C二、被検体中のキズC:よって漂遊磁界な誘導
させ、この漂遊磁界な磁界プローブ(:よって検出して
いる。この種既知の検査方法が。
円筒状被検体に対でる非破壊検査方法および検査装置に
閣下るものである0 一般(:、材料の非破壊検f%:超音波(二よって行う
ことができ、ピエゾ集子トランスデューサを用いて超音
波を発生させ、この超音波を水のような結合手段を用い
て物体中に導入している・またコイルな用いて電気的手
段によって超音波を発生させることができ、このコイル
屯=よって高周波のパルス状うず電流なワークピース中
(−発生させることができる0この領域における磁界は
、うず[15ftと共(二、ワークピースのグリッドシ
ステムで作動するローレンツ力の発生を誘起Tると共(
−1音波な発生する要因となるeこのような磁界等の発
生を表わT原理は、受信響二おいては反対の動作原理と
なる0強磁性体材料例えば、管体や棒体のワークピース
な検査する場合、漂遊a束回転システムC二おいても検
査でき、このシステムでは、S束?被検体中で発生させ
ると共C二、被検体中のキズC:よって漂遊磁界な誘導
させ、この漂遊磁界な磁界プローブ(:よって検出して
いる。この種既知の検査方法が。
例えば、ドイツ公開特許公報第2559125号、ドイ
ツ特許明細書$2621684号および住友す−デ第1
7巻、1977年5月発行。
ツ特許明細書$2621684号および住友す−デ第1
7巻、1977年5月発行。
第73頁〜79頁(:開示されている。
この漂遊磁束回転システム一二よって円筒状の被検体に
おける縦方向の欠陥、キズ、孔の位置な計測できる・し
かじ、この測だシステムでは。
おける縦方向の欠陥、キズ、孔の位置な計測できる・し
かじ、この測だシステムでは。
管体や棒体の寸法や壁厚鴫二関Tる測定データを得るこ
とは困難である・従って、これらデータな得るためには
1通常mt波回転システムを採用Tるよう(;Tる・し
かし乍ら、この既知の超音波回転システムは、[iのコ
ストが嵩むのみならず1例えば水のよプな超音波結合手
段【必要とするためC:相当複雑な傅造となる欠点があ
った一 本発明の目的は、パ縦万同のキズ、孔−横方向のキズな
同時に感知できると共に、被検体の周囲を回転する磁石
4;よって誘導された磁界【利用して寸法な計測できる
方法および装置v提供すること1;ある。
とは困難である・従って、これらデータな得るためには
1通常mt波回転システムを採用Tるよう(;Tる・し
かし乍ら、この既知の超音波回転システムは、[iのコ
ストが嵩むのみならず1例えば水のよプな超音波結合手
段【必要とするためC:相当複雑な傅造となる欠点があ
った一 本発明の目的は、パ縦万同のキズ、孔−横方向のキズな
同時に感知できると共に、被検体の周囲を回転する磁石
4;よって誘導された磁界【利用して寸法な計測できる
方法および装置v提供すること1;ある。
本発明の方法および装置は、a1石C:よって発生させ
た磁界を超音波の電気的励起一二用いると同時c、11
遊磁束の測定(−も用いること(:よって達成すること
t特徴とする。従って0本発明による方法は1丁でに既
知の検査技術な組み合せて達成されるもので、このよう
な既知の技術な独立且つ最適C:利用TることC二よっ
て、縦方向のキズおよび孔、横方向のキズの検出なちび
C:寸法の測定tl実現できる−ここで強mTべき点は
、結合手段な不要としたことで、この結果。
た磁界を超音波の電気的励起一二用いると同時c、11
遊磁束の測定(−も用いること(:よって達成すること
t特徴とする。従って0本発明による方法は1丁でに既
知の検査技術な組み合せて達成されるもので、このよう
な既知の技術な独立且つ最適C:利用TることC二よっ
て、縦方向のキズおよび孔、横方向のキズの検出なちび
C:寸法の測定tl実現できる−ここで強mTべき点は
、結合手段な不要としたことで、この結果。
コストな押えた漂遊磁束回転システム【達成できる点で
ある0 本発明の検量方法1:よれば、S遊磁束測定および゛ギ
、気的励牝技術1に組み合せたものt以下の装置1uニ
ー適用できる・即ち、被検体な2つの磁極を有する回転
磁石(二よって包囲し、少なく共。
ある0 本発明の検量方法1:よれば、S遊磁束測定および゛ギ
、気的励牝技術1に組み合せたものt以下の装置1uニ
ー適用できる・即ち、被検体な2つの磁極を有する回転
磁石(二よって包囲し、少なく共。
1個の磁界プローブな被検体の局轍表向上(二。
磁石の回転(:同期して回転するようl:設け、更に、
うず電流の励起および受信プローブ【、被検体に面した
磁極の範囲内および/または被検体12面した磁界プロ
ーブの範囲内1:配置したことを特徴とするものである
―換言丁れば、既知の個々の装置又は測定技術の特徴を
利用して。
うず電流の励起および受信プローブ【、被検体に面した
磁極の範囲内および/または被検体12面した磁界プロ
ーブの範囲内1:配置したことを特徴とするものである
―換言丁れば、既知の個々の装置又は測定技術の特徴を
利用して。
本発明の方法および装wt1kIIr想したもので、単
なる寄せ集めで完成したものではないことが明らかであ
る・本質的(−1被検体中に出束を発崖させ得る磁石の
磁極を回転させること(=よって構成されているOat
界の強度が被検体材料の磁気飽和点まで増大した場合C
二は1例えばクラックや断面減少現蒙のような欠陥によ
って比較的強い漂遊磁界を誘導し、この磁界を被検体の
開−]の磁石の回転と同期して回転する磁界プローブに
よって検出できる0実施例C二よれば、2つのグループ
から成る磁界プローブを設け、これらプローブな磁極C
:対して90度離して配置し。
なる寄せ集めで完成したものではないことが明らかであ
る・本質的(−1被検体中に出束を発崖させ得る磁石の
磁極を回転させること(=よって構成されているOat
界の強度が被検体材料の磁気飽和点まで増大した場合C
二は1例えばクラックや断面減少現蒙のような欠陥によ
って比較的強い漂遊磁界を誘導し、この磁界を被検体の
開−]の磁石の回転と同期して回転する磁界プローブに
よって検出できる0実施例C二よれば、2つのグループ
から成る磁界プローブを設け、これらプローブな磁極C
:対して90度離して配置し。
この被検体の間1月−a石の回転に同期させて回転させ
ることを特徴とする。漂遊磁束な適I/l(:測定する
と共(=、磁極および$界プローブ?上述の如く配置で
ることC:よって、外側の欠陥Y壁厚の10悌まで好適
(=計測で氷る利点があるの本発明(:よれば、超音波
信号の′q気的励起C:よって寸法の測定および横方向
のキズの位Hv測定可能となる―この目的のためC−必
要な磁界な2個の磁極を有する回転Tる磁気ヨーク(二
よって発生させるので、漂遊磁束の測定(:必要である
これらの構成要素な共用することができる・従って、測
定に当っては、特(二1回転磁界によって発生させたこ
れ−らの磁界な、被検体の表向に対して垂直且つ平行4
−誘導させることができる。平行な磁界は、磁極(二対
して90度成丁角度で配置した磁界プローブの範囲以内
1:発生するの(二対して、垂直な磁界は磁極の麺域内
に発生する・ うず電流の励起用プローブおよび受信用プローブの配8
k(二依存して、磁界およびうず電流/(ルスと協動し
て発生させた超音波な横方向の表面波きてることができ
る0従って、この横方向の波は寸法9例えば壁厚の測定
に用いられ0表面波は横方向のキズの検出C:用いるこ
とができる・ 本発明の一実施例によれば、横波を発生するため(−1
うず電流励起用プローブおよび受信用プローブな被検体
(二面している磁極の遊端(;配置し、更に、数個のう
ず電流励起用および受信用プロープヲ並べて配置Tるこ
と(:よって、大きな領域な一度に走査することができ
る利点がある0 前述したように、磁極に対して90度成す領域中(:配
置した磁界プローブの範囲内で1表面波の最適な励起が
行われるので、うず電流励起用および受信用プローブな
同特t:、a界プローブ上6二配置できる。また、他の
実施例1;よれば。
ることを特徴とする。漂遊磁束な適I/l(:測定する
と共(=、磁極および$界プローブ?上述の如く配置で
ることC:よって、外側の欠陥Y壁厚の10悌まで好適
(=計測で氷る利点があるの本発明(:よれば、超音波
信号の′q気的励起C:よって寸法の測定および横方向
のキズの位Hv測定可能となる―この目的のためC−必
要な磁界な2個の磁極を有する回転Tる磁気ヨーク(二
よって発生させるので、漂遊磁束の測定(:必要である
これらの構成要素な共用することができる・従って、測
定に当っては、特(二1回転磁界によって発生させたこ
れ−らの磁界な、被検体の表向に対して垂直且つ平行4
−誘導させることができる。平行な磁界は、磁極(二対
して90度成丁角度で配置した磁界プローブの範囲以内
1:発生するの(二対して、垂直な磁界は磁極の麺域内
に発生する・ うず電流の励起用プローブおよび受信用プローブの配8
k(二依存して、磁界およびうず電流/(ルスと協動し
て発生させた超音波な横方向の表面波きてることができ
る0従って、この横方向の波は寸法9例えば壁厚の測定
に用いられ0表面波は横方向のキズの検出C:用いるこ
とができる・ 本発明の一実施例によれば、横波を発生するため(−1
うず電流励起用プローブおよび受信用プローブな被検体
(二面している磁極の遊端(;配置し、更に、数個のう
ず電流励起用および受信用プロープヲ並べて配置Tるこ
と(:よって、大きな領域な一度に走査することができ
る利点がある0 前述したように、磁極に対して90度成す領域中(:配
置した磁界プローブの範囲内で1表面波の最適な励起が
行われるので、うず電流励起用および受信用プローブな
同特t:、a界プローブ上6二配置できる。また、他の
実施例1;よれば。
これらプローブな平らなコイルで形成でき、このコイル
魅線の形状を曲折形状とすることができる・従って、測
定した値¥を最適C;利用するためC,曲折形状の巻線
の中心軸な互い(:平行または互いC:直角を成丁よう
C:することができる一本発明の利点な挙げれば、それ
ぞれ個々(−は既番:公知の漂遊磁束測定方法および同
様I:公知の超音波の電気的励起方法とを組み合せて、
如何なる結合媒体を用いずC,壁厚のみならず。
魅線の形状を曲折形状とすることができる・従って、測
定した値¥を最適C;利用するためC,曲折形状の巻線
の中心軸な互い(:平行または互いC:直角を成丁よう
C:することができる一本発明の利点な挙げれば、それ
ぞれ個々(−は既番:公知の漂遊磁束測定方法および同
様I:公知の超音波の電気的励起方法とを組み合せて、
如何なる結合媒体を用いずC,壁厚のみならず。
横方向および縦方向のキズまたは孔の位1v測定でき、
この所望の磁界の発生には回転磁石を利用している点で
ある。
この所望の磁界の発生には回転磁石を利用している点で
ある。
以下図ITOヲ参照し乍ら、この発明の詳細な説明する
0 第1図は、回転検査ユニツtの断面図である。
0 第1図は、回転検査ユニツtの断面図である。
このユニットには、S遊磁束回転検査システムの主要部
が含有されている◎これらシステム自身は、公知のもの
で1例えば以下の刊行物より知れている。叩ち、Asm
B1977年9月18日〜23日、テキサス州ヒュース
[ン、°オイルチューブ製品の非破壊検査′第1〜13
頁;住友す−?に17.1977年5月、第73〜79
頁:マテリアルエバリユエーション59フフ年7月、第
52〜56°頁がある。
が含有されている◎これらシステム自身は、公知のもの
で1例えば以下の刊行物より知れている。叩ち、Asm
B1977年9月18日〜23日、テキサス州ヒュース
[ン、°オイルチューブ製品の非破壊検査′第1〜13
頁;住友す−?に17.1977年5月、第73〜79
頁:マテリアルエバリユエーション59フフ年7月、第
52〜56°頁がある。
このような漂遊磁束回転装置は、2個のa@Al2およ
び14v有する磁石な具え、この磁石はチューブIII
を円心円上に包囲すると共にチューブの周すな回転する
・従って、磁界が磁極12と14との間で庄じるために
、磁束が被検体16中C:発生Tる・この磁石のS界強
度が被検体16の材料中の磁気飽和となる値まで増加す
ると1例えば縦方向の孔のキズのような欠陥によって庄
じる断面減少の場合に、比較的強い漂遊磁界がこれらの
欠陥部分に現われるようになる。この漂遊磁界を磁界プ
ローブ18および20によって検出でき、これらプロー
ブ1m。
び14v有する磁石な具え、この磁石はチューブIII
を円心円上に包囲すると共にチューブの周すな回転する
・従って、磁界が磁極12と14との間で庄じるために
、磁束が被検体16中C:発生Tる・この磁石のS界強
度が被検体16の材料中の磁気飽和となる値まで増加す
ると1例えば縦方向の孔のキズのような欠陥によって庄
じる断面減少の場合に、比較的強い漂遊磁界がこれらの
欠陥部分に現われるようになる。この漂遊磁界を磁界プ
ローブ18および20によって検出でき、これらプロー
ブ1m。
20は磁極12.144二対して90度離間して配置さ
れており、これらプローブ【被検体j6の簡りな周波数
Wで周期回転させる。このため。
れており、これらプローブ【被検体j6の簡りな周波数
Wで周期回転させる。このため。
これら磁界プローブis、zoのそれぞれなキャリア2
1.24Cよって支持する・上述したような漂遊磁束の
測定法C−よって、被検体の外側のキズは壁厚の5%ま
で、内側のキズは壁厚の1011まで゛如何なる支障な
く正確−一検出できるO しかし乍ら、このような漂遊磁束の測定法では、横方向
のキズお工び管の厚みや長さ等のデータな得ることがで
きないe 本発明によれば、これらデータな同じ回転レステムな用
いて、既知の超音波の電気的発生方法(:よって得るこ
とができる。この目的のため。
1.24Cよって支持する・上述したような漂遊磁束の
測定法C−よって、被検体の外側のキズは壁厚の5%ま
で、内側のキズは壁厚の1011まで゛如何なる支障な
く正確−一検出できるO しかし乍ら、このような漂遊磁束の測定法では、横方向
のキズお工び管の厚みや長さ等のデータな得ることがで
きないe 本発明によれば、これらデータな同じ回転レステムな用
いて、既知の超音波の電気的発生方法(:よって得るこ
とができる。この目的のため。
被検体の表面で発生させたうず電流パルスと共C:磁界
なこの被検体の表面C二対して平行または垂直C;存在
させる必要があり、これ1二よって。
なこの被検体の表面C二対して平行または垂直C;存在
させる必要があり、これ1二よって。
ローレンツカ屯ユよって異った強さのパルスを被検体の
表面C二発生させ、その結果、超音波が発生する。磁界
の方向C:依存して、横方同、縦方回または表面の超音
波な発生できる一W厚を測定Tるには、一般(二横方同
の波を使用し、これ(二対して横方向のキズの検出(二
は表面波な用いている( 磁極12.14を有Tる電磁石または永久磁石な回転さ
せること(;よって、被検体の表面C二垂直な万回C二
磁極から下方同1;磁界を延在させることができ、従っ
てこの磁界は表面上平行の磁界プローブ1Bおよび2o
の範囲以内C:延在するようになる。このことは1本発
明にょる漂遊磁束の測定法において、超音波の信号波な
回転磁石娼−よって電気的に発生させることを意味する
ものである□ 被検体16の壁厚を測定可能とてるために。
表面C二発生させ、その結果、超音波が発生する。磁界
の方向C:依存して、横方同、縦方回または表面の超音
波な発生できる一W厚を測定Tるには、一般(二横方同
の波を使用し、これ(二対して横方向のキズの検出(二
は表面波な用いている( 磁極12.14を有Tる電磁石または永久磁石な回転さ
せること(;よって、被検体の表面C二垂直な万回C二
磁極から下方同1;磁界を延在させることができ、従っ
てこの磁界は表面上平行の磁界プローブ1Bおよび2o
の範囲以内C:延在するようになる。このことは1本発
明にょる漂遊磁束の測定法において、超音波の信号波な
回転磁石娼−よって電気的に発生させることを意味する
ものである□ 被検体16の壁厚を測定可能とてるために。
うす電流励起プローブおよび受信プローブを被検体に面
している磁極12.14の遊端中に配lTる必要がある
。I81図C:おいて、これらうず電流プローブを番号
26.2Mまたはjo・32な付して線図的に表示して
いる・従って。
している磁極12.14の遊端中に配lTる必要がある
。I81図C:おいて、これらうず電流プローブを番号
26.2Mまたはjo・32な付して線図的に表示して
いる・従って。
プローブ26または30によって発生させたうず電流パ
ルスな、これらプローブと同じ磁極12または14中C
二配置した受信プローブ28または326二よって感知
している。そして、受信したうず電流パルスを既知の電
子回路(図示せず)で処理している・この処理方法kA
び回路については1例えば、刊行物@IJltraso
n1cTesting of Half−wrough
t Material byυ−1Mgglectro
dynamic Instrument Trm@fo
rmers ’ 。
ルスな、これらプローブと同じ磁極12または14中C
二配置した受信プローブ28または326二よって感知
している。そして、受信したうず電流パルスを既知の電
子回路(図示せず)で処理している・この処理方法kA
び回路については1例えば、刊行物@IJltraso
n1cTesting of Half−wrough
t Material byυ−1Mgglectro
dynamic Instrument Trm@fo
rmers ’ 。
1980年1月25日* Hoesch Huette
rw@rk*AG、(ドルトムント市)および、ドイツ
特許明細書第2621684号ならび(二ドイツ公開特
許公報第2924819号C:開示されている。
rw@rk*AG、(ドルトムント市)および、ドイツ
特許明細書第2621684号ならび(二ドイツ公開特
許公報第2924819号C:開示されている。
うずill!ll用プローブ26.2Mおよび受信用プ
ローブso、szwtB極IIおよび14の範囲内C;
配置すること(:よって、±5/100 mmの精度で
壁厚を測定できるe 磁界プローブ18および2oの範囲以内C:表面波の最
適励起が行われるので、この面一:うず電流励磁用プロ
ーブj4.JJlおよび受信用プローブ:96.40%
:配置する◎測定データの検出な最適に行なうため一:
、うず電流励起用およ′び受信用プローブsa # s
sまたは、9 R、d Oを平らなコイルで形成Tる必
要があり、このコイル巻線の形状は第3図および!J4
図で示TようC二曲折した形状である・受信用プローブ
な表th1w4域の波の伝搬方向4二対して斜めに配@
−rる場合には、この表面饋域中に延在τる波(−よっ
て波の一部が受信用プローブC二面って反射されるよう
C:なる・従って、Jlつたでンデ俗東か矢視される。
ローブso、szwtB極IIおよび14の範囲内C;
配置すること(:よって、±5/100 mmの精度で
壁厚を測定できるe 磁界プローブ18および2oの範囲以内C:表面波の最
適励起が行われるので、この面一:うず電流励磁用プロ
ーブj4.JJlおよび受信用プローブ:96.40%
:配置する◎測定データの検出な最適に行なうため一:
、うず電流励起用およ′び受信用プローブsa # s
sまたは、9 R、d Oを平らなコイルで形成Tる必
要があり、このコイル巻線の形状は第3図および!J4
図で示TようC二曲折した形状である・受信用プローブ
な表th1w4域の波の伝搬方向4二対して斜めに配@
−rる場合には、この表面饋域中に延在τる波(−よっ
て波の一部が受信用プローブC二面って反射されるよう
C:なる・従って、Jlつたでンデ俗東か矢視される。
1143図によれば1曲折形状のコイルna、MIiの
主軸は互いC;平行ζ;延在していると共C二、a′界
プローブI8ζ二隣接して配列される。また、第3図C
:よれば、数個の磁界プローブV並べて配置して、被検
体I6の大きな表面領域な一時感二走査でることも可能
である一図示の様C,f1%界プローブ18および曲t
r形状プイル5aa86%!同じ支持体22(:よって
支持している。
主軸は互いC;平行ζ;延在していると共C二、a′界
プローブI8ζ二隣接して配列される。また、第3図C
:よれば、数個の磁界プローブV並べて配置して、被検
体I6の大きな表面領域な一時感二走査でることも可能
である一図示の様C,f1%界プローブ18および曲t
r形状プイル5aa86%!同じ支持体22(:よって
支持している。
第4図は保持部材24を示し、この保持部材FJによっ
て、数個の磁界プローブ20な並べて配置しである−う
ず富流励1用および受信用プローブ38および40線2
曲折形状IIt有しており、これらの軸が互いC;90
度敗丁ことが望ましい。
て、数個の磁界プローブ20な並べて配置しである−う
ず富流励1用および受信用プローブ38および40線2
曲折形状IIt有しており、これらの軸が互いC;90
度敗丁ことが望ましい。
うずIIlかt励磁用および受信用プローブ1−0!I
I’f a Rg e d (Fの配置を特別C:設
計すルコトによって1表(klc近い都会の欠陥な検出
することができ、この表面の伸びは各々の鷺鯵の10優
よ易)少ないものである。横方向の切り込みを感知する
場合には、壁厚の7係の欠陥を正確6:検出できる・ また、うず電流励磁用および受信用プローブ26.28
またはso、sz媚:関して被検体161に回転中、大
きな表面領域で係合させるため≦:、第2図で示すよう
C:数個のプローブを並べて配置することは当業者(二
とって容易C:看想し得るもの°である◎
I’f a Rg e d (Fの配置を特別C:設
計すルコトによって1表(klc近い都会の欠陥な検出
することができ、この表面の伸びは各々の鷺鯵の10優
よ易)少ないものである。横方向の切り込みを感知する
場合には、壁厚の7係の欠陥を正確6:検出できる・ また、うず電流励磁用および受信用プローブ26.28
またはso、sz媚:関して被検体161に回転中、大
きな表面領域で係合させるため≦:、第2図で示すよう
C:数個のプローブを並べて配置することは当業者(二
とって容易C:看想し得るもの°である◎
$1図は本発明に係る回転検査装置の断面を線図的1;
表わした構成図、I!2図は、うす電流励起用および受
信用プローブの構成な示す線図。 第3図および!J4図は、共通の支持部材感−配置した
磁界プローブおよびうず電流励起用および受信用プロー
ブを示す線図である・ 1:1.14・・・出極、18.20・・・磁界プロー
ブ、26.!11.j10.lI2.I4.Ili。 38.40・・・うず電流励起用および受信用プローブ
・ 出願人代理人弁理士 鈴江武彦手続補
正書(方式) %式% 1、事件の表示 特願昭57−127437号 2、発明の名称 強磁性体材料の非破壊検査方法および装置3、補正をす
る者 事件との関係 、特許出■人 ヌーケン・r−工ムペーハー 4、代理人 住所 東京都港区虎ノ門1丁目あ番5号 第17森ビル
昭和s7年10月26日 明細書の浄書(内容に変更なし)
表わした構成図、I!2図は、うす電流励起用および受
信用プローブの構成な示す線図。 第3図および!J4図は、共通の支持部材感−配置した
磁界プローブおよびうず電流励起用および受信用プロー
ブを示す線図である・ 1:1.14・・・出極、18.20・・・磁界プロー
ブ、26.!11.j10.lI2.I4.Ili。 38.40・・・うず電流励起用および受信用プローブ
・ 出願人代理人弁理士 鈴江武彦手続補
正書(方式) %式% 1、事件の表示 特願昭57−127437号 2、発明の名称 強磁性体材料の非破壊検査方法および装置3、補正をす
る者 事件との関係 、特許出■人 ヌーケン・r−工ムペーハー 4、代理人 住所 東京都港区虎ノ門1丁目あ番5号 第17森ビル
昭和s7年10月26日 明細書の浄書(内容に変更なし)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) 好適(:は円筒形状の例えば管体または棒体
の被検体を2個の磁極な設けた回転する磁石によって包
囲してこのような強磁性体材料の非破壊検査を行なう方
法6;おいて、前記磁石(:よって発生させた磁界t−
前記被検体中1=超曾波を電気的(:励起させると同時
(;漂遊磁束の測定用−二も使用するようにしたこ七す
特徴とする非破壊検査方法。 ■) 好適C;は円筒形状の例えば管体凍たは棒体のよ
うな強磁性性材料から成る被検体な非破壊検査する装に
ζ;おいて、被検体j #lL’2個の磁極j!alJ
Y有し回転する磁石に二って包囲し、この磁石の自転に
同期して回転する少なくとも1個の磁界プローブ1B、
:jD’lこの被検体16の喝縁表面上C;設け、Jl
!l二、うず電流励起用および受信用プローブ(2g=
#Ji:so*zx:sa、ss;ss、ao)%:こ
の被検体に面した磁極の領域中および/またはこの被検
体12面した前記磁界プローブの領域中4二配賑したこ
とな特徴とTる強磁性体材料の非破壊検査装置− (3) 前記磁極12114の各々シ一対して。 90度の角Itv成T餉域(二前記2個の磁界プローブ
ttt、zo’xそれぞれ配置したことな特徴とでる特
許請求の範囲第2項記載の非破壊検査MtIL− (4) 前記磁界プローブts、zo*保持部材22
.2−4i二よって保持させると共1:、この保持部材
22 、24上感−前記うず電流励起用および受信用プ
ローブ:I4.36”、18.401に同時6:装置し
たことな特徴とする特許請求の範囲第2項記載の非破l
ll−査装置。 6) 前記うず11流励起用および受信用プローブ(s
a、5sHstt、go)を曲折して配賦した巻線な有
Tる平らなコイルとしたことt特徴とする特許請求の範
囲:$4項dピ緘の非破壊検査装置・ (6) 前記うず電流励起用および受信用プローブ(
34=M6:1B−40)の曲折形状の巻線の中心軸な
互い(:はぼ平行6二させたことな特徴とでる特許請求
の範囲IJ5項記載の非破壊検査装置・ (7) 前記うず電流励起用および受信用プローブ(
sa、zs:zti、4o)の曲折形状の巻線の中心軸
を互い(二はば垂@1’成TようC:配置したことな特
徴とTる特許請求の範11fi$5項記載の非破壊検査
装置− 伽) 前記磁極端(二装置した前記うず電流励起用およ
び受信用プローブ(ze、za:so。 5Z)W:、互い(二同心円上(=配置したコイルとし
たことな特徴とTる特許請求の範囲wIz項記載の非破
壊検査装置。 (9) 複数個の前記うず電流励起用および受信用コ
イル(26,zs ; go 、at)vlIiJ記磁
極端≦二並べて配置したことな特徴とTる特許請求の範
囲9A8項記載の非破壊検量!6に・
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE31288251 | 1981-07-21 | ||
DE3128825A DE3128825C2 (de) | 1981-07-21 | 1981-07-21 | Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von ferromagnetischen Materialien |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5870157A true JPS5870157A (ja) | 1983-04-26 |
Family
ID=6137399
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57127437A Pending JPS5870157A (ja) | 1981-07-21 | 1982-07-21 | 強磁性体材料の非破壊検査方法および装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0071147B1 (ja) |
JP (1) | JPS5870157A (ja) |
CA (1) | CA1195385A (ja) |
DE (1) | DE3128825C2 (ja) |
ZA (1) | ZA825159B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59226857A (ja) * | 1983-06-07 | 1984-12-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 探傷装置 |
JPH01134253U (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-13 |
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---|---|---|---|---|
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US4492115A (en) * | 1984-04-11 | 1985-01-08 | Pa Incorporated | Method and apparatus for measuring defects in ferromagnetic tubing |
DE3515977A1 (de) * | 1985-05-03 | 1986-11-06 | Nukem Gmbh, 6450 Hanau | Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung ferromagnetischer koerper |
DE3530525C2 (de) * | 1985-08-27 | 1994-05-11 | Foerster Inst Dr Friedrich | Vorrichtung zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung |
DE9011477U1 (ja) * | 1990-08-07 | 1990-12-20 | Nukem Gmbh, 8755 Alzenau, De | |
FR2665768B1 (fr) * | 1990-08-07 | 1993-08-13 | Nukem Gmbh | Installation d'essai non destructif de materiau notamment de pieces cylindriques, tubes manchons et analogues. |
DE9011478U1 (ja) * | 1990-08-07 | 1990-12-20 | Nukem Gmbh, 8755 Alzenau, De | |
DE4116208A1 (de) * | 1991-05-17 | 1992-11-19 | Karlheinz Dr Ing Schiebold | Verfahren und einrichtung zur zerstoerungsfreien werkstoffpruefung |
DE4301622C1 (de) * | 1993-01-22 | 1994-02-24 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur Untersuchung des Gefügezustandes |
DE4328712A1 (de) * | 1993-08-26 | 1995-03-02 | Foerster Inst Dr Friedrich | Verfahren und Einrichtung zum Prüfen von langgestreckten Gegenständen ggf. mit von der Kreisform abweichendem Querschnitt |
DE19543481C2 (de) * | 1995-11-22 | 1997-10-23 | Pipetronix Gmbh | Vorrichtung zur Prüfung von ferromagnetischen Materialien |
DE102005060582A1 (de) * | 2005-12-17 | 2007-07-05 | Ndt Systems & Services Ag | Verfahren und System zur zerstörungsfreien Prüfung eines metallischen Werkstücks |
CN103225876B (zh) * | 2013-05-13 | 2015-09-09 | 山东大学 | 自热水暖装置 |
GB201318096D0 (en) * | 2013-10-14 | 2013-11-27 | Advanced Eng Solutions Ltd | Pipeline condition detecting apparatus and method |
DE102013018114A1 (de) * | 2013-11-28 | 2015-05-28 | Otto Alfred Barbian | Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung eines Prüfkörpers |
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US3854085A (en) * | 1973-06-07 | 1974-12-10 | Magnetics Analysis Corp | Multi-probe flux leakage testing apparatus producing bipolar signals from the largest simultaneously occurring signals of each polarity |
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US4184374A (en) * | 1978-06-22 | 1980-01-22 | Rockwell International Corporation | Ultrasonic inspection of a cylindrical object |
JPS55129749A (en) * | 1979-03-28 | 1980-10-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Sensitivity correction method for electromagnetic ultrasonic wave probe |
-
1981
- 1981-07-21 DE DE3128825A patent/DE3128825C2/de not_active Expired
-
1982
- 1982-07-19 EP EP82106490A patent/EP0071147B1/de not_active Expired
- 1982-07-20 ZA ZA825159A patent/ZA825159B/xx unknown
- 1982-07-20 CA CA000407616A patent/CA1195385A/en not_active Expired
- 1982-07-21 JP JP57127437A patent/JPS5870157A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59226857A (ja) * | 1983-06-07 | 1984-12-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 探傷装置 |
JPH0342629B2 (ja) * | 1983-06-07 | 1991-06-27 | ||
JPH01134253U (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-13 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0071147A1 (de) | 1983-02-09 |
DE3128825C2 (de) | 1985-04-18 |
ZA825159B (en) | 1983-05-25 |
EP0071147B1 (de) | 1985-04-03 |
DE3128825A1 (de) | 1983-03-17 |
CA1195385A (en) | 1985-10-15 |
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