JPS5862573A - 進行波管寿命試験装置 - Google Patents
進行波管寿命試験装置Info
- Publication number
- JPS5862573A JPS5862573A JP16092681A JP16092681A JPS5862573A JP S5862573 A JPS5862573 A JP S5862573A JP 16092681 A JP16092681 A JP 16092681A JP 16092681 A JP16092681 A JP 16092681A JP S5862573 A JPS5862573 A JP S5862573A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- high frequency
- wave tube
- traveling wave
- measured
- tube
- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/24—Testing of discharge tubes
- G01R31/25—Testing of vacuum tubes
- G01R31/255—Testing of transit-time tubes, e.g. klystrons, magnetrons
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は短期間で進行波管の良否を判定できる寿命試験
装置に関するものである。
装置に関するものである。
従来のこの種装置は、供試（被測定）進行波管への高周
波入力が常に標準値になるようにｔ、Ａ成されていたの
で、測定される進行波管の高周波出力は飽和出力であり
、進行波管の劣化に対して出力変化かあまり敏感でない
ため、良否（寿命）を判定するために長期間の試験時間
を必要とするという欠点かあった。
波入力が常に標準値になるようにｔ、Ａ成されていたの
で、測定される進行波管の高周波出力は飽和出力であり
、進行波管の劣化に対して出力変化かあまり敏感でない
ため、良否（寿命）を判定するために長期間の試験時間
を必要とするという欠点かあった。
本発明はこの欠点を除去するため、被測定進行波管への
高周波入力電力を所望の時期に２０ｄＢ程度低下して進
行波管の小信号ゲインを測定できるようにし、被測定進
行波管の劣化傾向を比較的短期間で知ることにより寿命
を推定できるようにしたものである。
高周波入力電力を所望の時期に２０ｄＢ程度低下して進
行波管の小信号ゲインを測定できるようにし、被測定進
行波管の劣化傾向を比較的短期間で知ることにより寿命
を推定できるようにしたものである。
以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
第１図は本発明第１の実施例の装置、屑成を示すブロッ
ク図である。図において、１は被測定進行波管（ＴＷＴ
）、２は進行波管電源、３は高周波用線路（同軸線路あ
るいは導波管）であり、４は高周波信号発生器、５はロ
ータリスイッチ、６は高ｌｒｄ ｍ ’、Ｍカ計、７は
コントローラ、８は半固定の減衰（ｒｒｉである。コン
トローラ７は、ロータリスイッチ５の回転の制御、高周
波電力的゛６の指示＋＋ｒＬの読取り、進行波管電源２
の各都電圧・電流の読取りと副ｉｉ＋’ｌｌを行なう。
ク図である。図において、１は被測定進行波管（ＴＷＴ
）、２は進行波管電源、３は高周波用線路（同軸線路あ
るいは導波管）であり、４は高周波信号発生器、５はロ
ータリスイッチ、６は高ｌｒｄ ｍ ’、Ｍカ計、７は
コントローラ、８は半固定の減衰（ｒｒｉである。コン
トローラ７は、ロータリスイッチ５の回転の制御、高周
波電力的゛６の指示＋＋ｒＬの読取り、進行波管電源２
の各都電圧・電流の読取りと副ｉｉ＋’ｌｌを行なう。
これを動作するには、まず進行波管１に進行波管電源２
から標準動作型■を供給する。高周波用、１９只路３に
より接続された高周波測定回路は、Ｉ＋ｒ ′ＩＪ’発
生器４で発生した高周波信シ」・をロータリスイッチ５
を通して進行波管１に導く。進行波管ｌにより増、〆ｊ
１１された高周波信号は高周波電力計６でｉ＋ＩｉＪ定
され、測定１直はコントローラ７で読取られる。ロータ
リスイッチ５が第１図の実線で示した状態にあるとき、
進行波管は飽和用１３４’ ７Ｇられるような高周波入
力で駆動されており（標準動作状態に相当する）、コン
トローラ７からの信号・でロータリスイッチ５が９０°
回転し、破線で示す状態になったとき高周波信号発生器
４からの信号は半固定の減衰器８により減衰されて進行
波管を駆動する。半固定減衰器８の減衰量を２０ｄＢ以
上にすれば進行波管は小信号状態となり、このときの出
力を高周波電力計６により測定すれば、入力電力はあら
かじめわかっているので小信号ゲインか測定できる。
から標準動作型■を供給する。高周波用、１９只路３に
より接続された高周波測定回路は、Ｉ＋ｒ ′ＩＪ’発
生器４で発生した高周波信シ」・をロータリスイッチ５
を通して進行波管１に導く。進行波管ｌにより増、〆ｊ
１１された高周波信号は高周波電力計６でｉ＋ＩｉＪ定
され、測定１直はコントローラ７で読取られる。ロータ
リスイッチ５が第１図の実線で示した状態にあるとき、
進行波管は飽和用１３４’ ７Ｇられるような高周波入
力で駆動されており（標準動作状態に相当する）、コン
トローラ７からの信号・でロータリスイッチ５が９０°
回転し、破線で示す状態になったとき高周波信号発生器
４からの信号は半固定の減衰器８により減衰されて進行
波管を駆動する。半固定減衰器８の減衰量を２０ｄＢ以
上にすれば進行波管は小信号状態となり、このときの出
力を高周波電力計６により測定すれば、入力電力はあら
かじめわかっているので小信号ゲインか測定できる。
もちろんロータリスイッチ５と進行波管１の入力部との
間に方向性結合器を挿入して高周波電力計により入力電
力を測定してもよい。半固定域に’ｔ−ｔａｒｔ８の減
衰量を２０ｄＢよりも大きくしてゆけば、さらに純粋な
小信号ゲインを測定できるが、高周波電力計６のダイナ
ミックレンジを大きくとらねばならず、高価なものにな
ってしまう。また２０ｄＢよりも小さくすれば進行波管
は飽和し始めるので、半固定減衰器８の減衰量は２０ｄ
Ｂ程度が適当である。
間に方向性結合器を挿入して高周波電力計により入力電
力を測定してもよい。半固定域に’ｔ−ｔａｒｔ８の減
衰量を２０ｄＢよりも大きくしてゆけば、さらに純粋な
小信号ゲインを測定できるが、高周波電力計６のダイナ
ミックレンジを大きくとらねばならず、高価なものにな
ってしまう。また２０ｄＢよりも小さくすれば進行波管
は飽和し始めるので、半固定減衰器８の減衰量は２０ｄ
Ｂ程度が適当である。
：・）
第２図にこのよう゛にして測定した飽和出力と小信号ゲ
インの経時変化の一例をグラフで示す。９が飽和出力の
経時変化であり、従来の進行波管寿命試験装置ではこれ
のみが測定されるわけであり、２７０００時間経過して
いるにもかかわらずほとんど変化していない。しかし１
０で示した小信号ゲインは大きく低下しており、１００
０時間程度で低下の傾向か明らかになっている。小信壮
ゲインをＩＪＩＩＪ定できるようにしたことにより進行
波管の劣化傾向を短時間で知ることができ、これにより
供試（被ｂａｄ定）進行波管の寿命が推定できる。
インの経時変化の一例をグラフで示す。９が飽和出力の
経時変化であり、従来の進行波管寿命試験装置ではこれ
のみが測定されるわけであり、２７０００時間経過して
いるにもかかわらずほとんど変化していない。しかし１
０で示した小信号ゲインは大きく低下しており、１００
０時間程度で低下の傾向か明らかになっている。小信壮
ゲインをＩＪＩＩＪ定できるようにしたことにより進行
波管の劣化傾向を短時間で知ることができ、これにより
供試（被ｂａｄ定）進行波管の寿命が推定できる。
Ｓ１３３図は本発明箱２の実施例の装置＆構成を示すブ
ロック図である。図において、前出のものと同一符号の
ものは同一または均等部分を示すものとする。】１はラ
ッチングサーキュレータ、１２か半固定の反射器である
。標準動作時はラッチングサーキュレータは実線の向き
に信号が回り、信号発生；：／Ｉの高周波信号は減衰せ
ずに進行波ｉ：ｉ； ｌの入力に入る。小信号ゲイン測
定時はコントローラ７によりラッチングサーキュレータ
１１の印加磁界が反転され、高周波ｔ’６ ”：ｉは破
線の方向に回転され、半固定反射器１２により一部か反
射されて進行波管１の人力に入る。半固定反射器１２の
反射率を’／＋００に設定しておけば、入力信号は標準
動作状態に較べて２０ｄＢ減衰されることになるので、
実施例１と同様に小信号ゲインが測定できる。
ロック図である。図において、前出のものと同一符号の
ものは同一または均等部分を示すものとする。】１はラ
ッチングサーキュレータ、１２か半固定の反射器である
。標準動作時はラッチングサーキュレータは実線の向き
に信号が回り、信号発生；：／Ｉの高周波信号は減衰せ
ずに進行波ｉ：ｉ； ｌの入力に入る。小信号ゲイン測
定時はコントローラ７によりラッチングサーキュレータ
１１の印加磁界が反転され、高周波ｔ’６ ”：ｉは破
線の方向に回転され、半固定反射器１２により一部か反
射されて進行波管１の人力に入る。半固定反射器１２の
反射率を’／＋００に設定しておけば、入力信号は標準
動作状態に較べて２０ｄＢ減衰されることになるので、
実施例１と同様に小信号ゲインが測定できる。
以上説明したように本発明によれば、短い試験時間で供
試進行波管の劣化傾向を知ることができ、その寿命を推
定できるので、高信頼進行波管の試験工数を大幅に低減
できるので、寿命試験の効率向上と経済化か計れる。
試進行波管の劣化傾向を知ることができ、その寿命を推
定できるので、高信頼進行波管の試験工数を大幅に低減
できるので、寿命試験の効率向上と経済化か計れる。
第１Ｋ及び第３図はいずれも本発明の実施例の装置ｆｉ
ｉ！成を示すブロック図、第２図は進行波管の飽和出力
と小信号ゲインの経時変化を示すグラフである。 １・・・被測定進行波管 ２・・・進行波管電源３・
・・高周波用線路 ４・・・高周波信号発生器５・・
・ロータリスイッチ ６・・・高周波電力計７・・・コ
ントローラ ８・・・減衰器９・・・飽和出力の経
時変化 １０・・・小信号ゲインの経時変化 １１・・・ラッチングサーキュレータ エ２・・・反射器 １２図 第３図
ｉ！成を示すブロック図、第２図は進行波管の飽和出力
と小信号ゲインの経時変化を示すグラフである。 １・・・被測定進行波管 ２・・・進行波管電源３・
・・高周波用線路 ４・・・高周波信号発生器５・・
・ロータリスイッチ ６・・・高周波電力計７・・・コ
ントローラ ８・・・減衰器９・・・飽和出力の経
時変化 １０・・・小信号ゲインの経時変化 １１・・・ラッチングサーキュレータ エ２・・・反射器 １２図 第３図
Claims (1)
- 被測定、６行波管に駆動用の電力を供給する進行波・ａ
電源と、高周波信号発生器と、該高周波１１ｒ・元生器
の出力をｍｌ ｊｎす定進行波管に入力するための入力
端高周波線路と、被測定進行波管からの出力をＡｊｋり
出す出力測高７Ｍ波騙路と、該出力を計９！すする高周
波１１ｒと、該計測データを読み取るとともに各部へ制
御信シシ゛を送るコントローラを１１１．えてなり、被
測定進行波管に標準電圧、標準高周波人力を供給して連
続運転し、その特性の経時変化を１見司定するよう１４
４成した進行波管寿命試験装置において、上記高周波信
号発生器と入力側高周波線路の間にロータリスイッチと
減衰器又はラッチングサーキュレータと反射器を設け、
所望時に高周波１１ｒ号入力を一定滑の割合で低下させ
、小信号ゲインを測定可能にしたことを特徴とする進行
波管寿命試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16092681A JPS5862573A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 進行波管寿命試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16092681A JPS5862573A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 進行波管寿命試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5862573A true JPS5862573A (ja) | 1983-04-14 |
| JPS6143667B2 JPS6143667B2 (ja) | 1986-09-29 |
Family
ID=15725252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16092681A Granted JPS5862573A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 進行波管寿命試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5862573A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102967812A (zh) * | 2011-09-01 | 2013-03-13 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 评估行波管寿命的方法及其装置 |
| CN104360330A (zh) * | 2014-12-08 | 2015-02-18 | 安徽华东光电技术研究所 | 一种检测整机上行波管工作性能的装置及方法 |
| CN112964971A (zh) * | 2021-03-23 | 2021-06-15 | 电子科技大学 | 一种行波管收集极入口电子能量分布曲线的测量方法 |
-
1981
- 1981-10-12 JP JP16092681A patent/JPS5862573A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102967812A (zh) * | 2011-09-01 | 2013-03-13 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 评估行波管寿命的方法及其装置 |
| CN104360330A (zh) * | 2014-12-08 | 2015-02-18 | 安徽华东光电技术研究所 | 一种检测整机上行波管工作性能的装置及方法 |
| CN112964971A (zh) * | 2021-03-23 | 2021-06-15 | 电子科技大学 | 一种行波管收集极入口电子能量分布曲线的测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6143667B2 (ja) | 1986-09-29 |
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