JPH04232478A - マルチパクタ現象測定装置 - Google Patents
マルチパクタ現象測定装置Info
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- JPH04232478A JPH04232478A JP3247150A JP24715091A JPH04232478A JP H04232478 A JPH04232478 A JP H04232478A JP 3247150 A JP3247150 A JP 3247150A JP 24715091 A JP24715091 A JP 24715091A JP H04232478 A JPH04232478 A JP H04232478A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は位相雑音を利用したマル
チパクタ現象測定装置に係る。
チパクタ現象測定装置に係る。
【０００２】
【従来の技術】”Ｍｉｃｒｏｗａｖｅ Ｊｏｕｒｎａ
ｌ”（Ｍａｒｃｈ １９７８）に所収のＰ．Ｆ．
Ｃｌａｎｃｙの論文 ”Ｍｕｌｔｉｐａｃｔｏｒ
ｃｏｎｔｒｏｌｉｎ ｍｉｃｒｏｗａｖｅ ｓｐａ
ｃｅ ｓｙｓｔｅｍｓ”は、マイクロ波宇宙システム
にマルチパクタ欠陥を生じる物理的条件（特に電力レベ
ル、周波数帯域及びスロット幅）について記載している
。この論文の８２頁には、雑音検出法によるマルチパク
タ現象の測定について記載されている。
ｌ”（Ｍａｒｃｈ １９７８）に所収のＰ．Ｆ．
Ｃｌａｎｃｙの論文 ”Ｍｕｌｔｉｐａｃｔｏｒ
ｃｏｎｔｒｏｌｉｎ ｍｉｃｒｏｗａｖｅ ｓｐａ
ｃｅ ｓｙｓｔｅｍｓ”は、マイクロ波宇宙システム
にマルチパクタ欠陥を生じる物理的条件（特に電力レベ
ル、周波数帯域及びスロット幅）について記載している
。この論文の８２頁には、雑音検出法によるマルチパク
タ現象の測定について記載されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、雑音が
位相雑音を介して検出されるのではなく搬送波周波数に
非常に近い周波数で検出されるため、分析周波数、周波
数変位、分析帯域、測定機器の雑音特性に依存する測定
感度の点で問題がある。
位相雑音を介して検出されるのではなく搬送波周波数に
非常に近い周波数で検出されるため、分析周波数、周波
数変位、分析帯域、測定機器の雑音特性に依存する測定
感度の点で問題がある。
【０００４】しかもその結果得られる特性は反射電力測
定のみを示すものである。
定のみを示すものである。
【０００５】本発明の目的は上記問題を解決することで
ある。
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、入力電力を受
け取る入力と出力電力を送出する出力との間に直列配置
された、第１の結合器、真空囲繞体内に収納された被測
定装置、及び第２の結合器を備えており、更に、第１の
減衰器及び移相器を介して入力電力の一部をサンプリン
グするように第１の結合器の出力に接続された第１の入
力、第２の減衰器を介して出力電力の一部をサンプリン
グするように第２の結合器の出力に接続された第２の入
力、及び雑音測定装置に接続された出力を有する位相検
出器として動作するミキサを備えたマルチパクタ現象測
定装置に係る。
け取る入力と出力電力を送出する出力との間に直列配置
された、第１の結合器、真空囲繞体内に収納された被測
定装置、及び第２の結合器を備えており、更に、第１の
減衰器及び移相器を介して入力電力の一部をサンプリン
グするように第１の結合器の出力に接続された第１の入
力、第２の減衰器を介して出力電力の一部をサンプリン
グするように第２の結合器の出力に接続された第２の入
力、及び雑音測定装置に接続された出力を有する位相検
出器として動作するミキサを備えたマルチパクタ現象測
定装置に係る。
【０００７】
【実施例】本発明の要旨及び利点は添付図面に関する以
下の非限定的な実施例の説明に明示される。
下の非限定的な実施例の説明に明示される。
【０００８】本発明は発生した位相雑音の測定によるマ
ルチパクタ現象測定装置に係る。
ルチパクタ現象測定装置に係る。
【０００９】該装置は、入力電力Ｐｉを受け取る入力と
出力電力Ｐｓを送出する出力との間に直列配置された、
第１の結合器１０、真空囲繞体１２内に収納された被測
定装置１１、及び第２の結合器１３を備えており、更に
、第１の減衰器１５及び移相器１６を介して入力電力Ｐ
ｉの一部をサンプリングするように第１の結合器１０の
出力に接続された第１の入力、第２の減衰器１７を介し
て出力電力Ｐｓの一部をサンプリングするように第２の
結合器１３の出力に接続された第２の入力、及びスペク
トルアナライザ１８及び電圧計１９に接続された出力Ｖ
ｓを有する位相検出器として動作するミキサ１４を備え
ている。
出力電力Ｐｓを送出する出力との間に直列配置された、
第１の結合器１０、真空囲繞体１２内に収納された被測
定装置１１、及び第２の結合器１３を備えており、更に
、第１の減衰器１５及び移相器１６を介して入力電力Ｐ
ｉの一部をサンプリングするように第１の結合器１０の
出力に接続された第１の入力、第２の減衰器１７を介し
て出力電力Ｐｓの一部をサンプリングするように第２の
結合器１３の出力に接続された第２の入力、及びスペク
トルアナライザ１８及び電圧計１９に接続された出力Ｖ
ｓを有する位相検出器として動作するミキサ１４を備え
ている。
【００１０】本発明の測定装置は被測定装置１１の入力
信号（Ｐｉ）と出力信号（Ｐｓ）の一部をサンプリング
し、可変減衰器１５及び１７はサンプリングされたレベ
ルをミキサ１４に許容可能な値に減衰し、可変移相器１
６はこれら２つのチャネルの一方に挿入される。したが
ってミキサ１４は局部発信（ＬＯ）チャネル及びＲＦチ
ャネルの２つの信号を受け取り、位相検出器として機能
する。ミキサの出力（ＩＦ）は低周波（数Ｈｚ〜数ＭＨ
ｚ）スペクトルアナライザ１８に接続されている。電圧
計１９はミキサ１４の出力における直流電圧を測定する
。
信号（Ｐｉ）と出力信号（Ｐｓ）の一部をサンプリング
し、可変減衰器１５及び１７はサンプリングされたレベ
ルをミキサ１４に許容可能な値に減衰し、可変移相器１
６はこれら２つのチャネルの一方に挿入される。したが
ってミキサ１４は局部発信（ＬＯ）チャネル及びＲＦチ
ャネルの２つの信号を受け取り、位相検出器として機能
する。ミキサの出力（ＩＦ）は低周波（数Ｈｚ〜数ＭＨ
ｚ）スペクトルアナライザ１８に接続されている。電圧
計１９はミキサ１４の出力における直流電圧を測定する
。
【００１１】測定を実施する場合、位相比較器としてミ
キサ１４の作動が行えるようなレベルを得るべく可変減
衰器１５及び１７が調整される。次に、ミキサ１４の出
力においてゼロの直流電圧が得られるまで可変移相器１
６が調整される。
キサ１４の作動が行えるようなレベルを得るべく可変減
衰器１５及び１７が調整される。次に、ミキサ１４の出
力においてゼロの直流電圧が得られるまで可変移相器１
６が調整される。
【００１２】被測定装置にマルチパクタ現象が生じると
、通過中の信号に位相雑音が生起し、その結果、低周波
スペクトルアナライザ１８で測定される雑音レベルが著
しく増大する。
、通過中の信号に位相雑音が生起し、その結果、低周波
スペクトルアナライザ１８で測定される雑音レベルが著
しく増大する。
【００１３】低周波スペクトルアナライザ１８の代わり
に、約１Ｈｚ〜１ＭＨｚの周波数範囲の雑音レベルを測
定する任意の他の装置を使用してもよい。測定感度を増
加するために、スペクトルアナライザ又は雑音測定装置
の前段に低雑音増幅器を必要に応じて配置してもよい。
に、約１Ｈｚ〜１ＭＨｚの周波数範囲の雑音レベルを測
定する任意の他の装置を使用してもよい。測定感度を増
加するために、スペクトルアナライザ又は雑音測定装置
の前段に低雑音増幅器を必要に応じて配置してもよい。
【００１４】ミキサ１４の分岐路の一方に配置された移
相器１６は、ミキサの最大感度レンジを選択するために
用いられる。これは例えば、電圧計１９を使用してゼロ
のＶｓ信号を得ることにより行う。
相器１６は、ミキサの最大感度レンジを選択するために
用いられる。これは例えば、電圧計１９を使用してゼロ
のＶｓ信号を得ることにより行う。
【００１５】低周波スペクトルアナライザ１８は、ゼロ
点近傍の数Ｈｚ〜数ｋＨｚ（最大）という狭帯域内にお
ける搬送波周波数に非常に近い周波数で位相雑音を測定
する。
点近傍の数Ｈｚ〜数ｋＨｚ（最大）という狭帯域内にお
ける搬送波周波数に非常に近い周波数で位相雑音を測定
する。
【００１６】図２に示す本発明の装置の変形例は、利得
を得るように所与の周波数で共振するループ線により形
成された共振リング２０（当業者に周知）を含む。
を得るように所与の周波数で共振するループ線により形
成された共振リング２０（当業者に周知）を含む。
【００１７】この変形例の動作は、共振リング２０の特
性により、入力電力よりも著しく高く且つ被測定装置の
損失、共振リングの損失、主ラインの結合、結合器の損
失に依存する電力に到達できるという点を除き、図１の
実施例の動作と同一である。
性により、入力電力よりも著しく高く且つ被測定装置の
損失、共振リングの損失、主ラインの結合、結合器の損
失に依存する電力に到達できるという点を除き、図１の
実施例の動作と同一である。
【００１８】マルチパクタ現象はこの場合も低電力で測
定される。
定される。
【００１９】被測定装置が低損失（≦０．１ｄＢ）であ
る場合、共振リング２０に蓄積されたエネルギは、入力
電力にリング２０による結合分を加えたレベルにほぼ等
しい電力を得るために用いられる。この方法により１０
ｄＢのオーダの利得を得ることができ、５００Ｗの入力
電力の場合５０００Ｗのオーダのサンプル電力を達成す
ることができる。リング２０の他の利点は、リング内の
電力が位相に無関係であるという点にある。したがって
、被測定サンプルの全ての点で電力が同一である。共振
周波数を増減するためには、リングの長さを増減すれば
十分である。
る場合、共振リング２０に蓄積されたエネルギは、入力
電力にリング２０による結合分を加えたレベルにほぼ等
しい電力を得るために用いられる。この方法により１０
ｄＢのオーダの利得を得ることができ、５００Ｗの入力
電力の場合５０００Ｗのオーダのサンプル電力を達成す
ることができる。リング２０の他の利点は、リング内の
電力が位相に無関係であるという点にある。したがって
、被測定サンプルの全ての点で電力が同一である。共振
周波数を増減するためには、リングの長さを増減すれば
十分である。
【００２０】高さの低い（０．１ｍｍ）導波管の一部の
形態をとる被測定サンプル１１を使用する場合に、スペ
クトルアナライザ１８に記録された曲線であり、マルチ
パクタ現象の存在するとき（２１）及び存在しないとき
（２２）の周波数Ｆの関数として検出された雑音レベル
の曲線が図３に示されている。
形態をとる被測定サンプル１１を使用する場合に、スペ
クトルアナライザ１８に記録された曲線であり、マルチ
パクタ現象の存在するとき（２１）及び存在しないとき
（２２）の周波数Ｆの関数として検出された雑音レベル
の曲線が図３に示されている。
【００２１】即ち曲線２２はマルチパクタ現象の存在し
ない状態で測定し、曲線２１はこの現象の開始と共に測
定した。曲線２１はＰｉ＝５５〜５８ｄＢｍ、結合器減
衰＝５０ｄＢ、ミキサ最大入力電力＝＋８ｄＢｍ、周波
数＝１１ＧＨｚ、位相雑音レベル＝−８３ｄＢＶ、参照
レベル＝−１２０ｄＢＶ、測定周波数＝１ｋＨｚ、測定
電圧（電圧計）＝０Ｖの測定条件下で雑音（曲線２２）
に対して約４０ｄＢＶの平均レベルを有する。
ない状態で測定し、曲線２１はこの現象の開始と共に測
定した。曲線２１はＰｉ＝５５〜５８ｄＢｍ、結合器減
衰＝５０ｄＢ、ミキサ最大入力電力＝＋８ｄＢｍ、周波
数＝１１ＧＨｚ、位相雑音レベル＝−８３ｄＢＶ、参照
レベル＝−１２０ｄＢＶ、測定周波数＝１ｋＨｚ、測定
電圧（電圧計）＝０Ｖの測定条件下で雑音（曲線２２）
に対して約４０ｄＢＶの平均レベルを有する。
【００２２】以上の説明は本発明の単なる例示に過ぎず
、本発明の範囲内で構成要素を等価の要素に置換できる
ものと理解されたい。
、本発明の範囲内で構成要素を等価の要素に置換できる
ものと理解されたい。
【図１】本発明の装置の一実施例のブロック図である。
【図２】本発明の装置の変形例のブロック図である。
【図３】本発明の装置の動作を示すグラフである。
１０，１３ 結合器
１１ 被測定装置
１２ 真空囲繞体
１４ ミキサ
１５，１７ 減衰器
１６ 移相器
１８ スペクトルアナライザ
１９ 電圧計
２０ 共振リング
Claims (4)
- 【請求項１】 入力電力を受け取る入力と出力電力を
送出する出力との間に直列配置された、第１の結合器、
真空囲繞体内に収納された被測定装置、及び第２の結合
器と、第１の減衰器及び移相器を介して入力電力の一部
をサンプリングするように第１の結合器の出力に接続さ
れた第１の入力、第２の減衰器を介して出力電力の一部
をサンプリングするように第２の結合器の出力に接続さ
れた第２の入力、及び雑音測定装置に接続された出力を
有する位相検出器として動作するミキサとを備えたこと
を特徴とするマルチパクタ現象測定装置。 - 【請求項２】 被測定装置とのインターフェースを提
供する共振リングを備えたことを特徴とする請求項１に
記載の測定装置。 - 【請求項３】 前記雑音測定装置が低周波スペクトル
アナライザであることを特徴とする請求項１又は２に記
載の測定装置。 - 【請求項４】 前記ミキサと前記雑音測定装置との間
に低雑音増幅器を備えたことを特徴とする請求項１から
３のいずれか一項に記載の測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9007853 | 1990-06-22 | ||
| FR9007853A FR2663750B1 (fr) | 1990-06-22 | 1990-06-22 | Dispositif de mesure de l'effet multipactor par bruit de phase. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04232478A true JPH04232478A (ja) | 1992-08-20 |
Family
ID=9397911
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3247150A Pending JPH04232478A (ja) | 1990-06-22 | 1991-06-21 | マルチパクタ現象測定装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5180985A (ja) |
| EP (1) | EP0464445A1 (ja) |
| JP (1) | JPH04232478A (ja) |
| CA (1) | CA2045046A1 (ja) |
| FR (1) | FR2663750B1 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2703531B1 (fr) * | 1993-03-30 | 1995-05-19 | Cit Alcatel | Dispositif d'évaluation de la qualité de transmission d'un équipement amplificateur optique. |
| US5412325A (en) * | 1993-12-23 | 1995-05-02 | Hughes Aircraft Company | Phase noise measurement system and method |
| US5691642A (en) * | 1995-07-28 | 1997-11-25 | Trielectrix | Method and apparatus for characterizing a plasma using broadband microwave spectroscopic measurements |
| US6434501B1 (en) * | 2000-03-21 | 2002-08-13 | Space Systems/Loral, Inc. | Automatic network analyzer having noise/NPR test capability |
| FR2848302B1 (fr) * | 2002-12-10 | 2005-05-27 | Thales Sa | Procede de calibration d'une source hyperfrequence |
| JP2007120956A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Eicon Denshi Kk | 電子機器動作検出装置 |
| CN103873157A (zh) * | 2012-12-10 | 2014-06-18 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种具有零频抑制功能的频谱分析仪 |
| CN104849629B (zh) * | 2015-04-23 | 2018-08-14 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 微放电效应检测双路微波信号自动调零装置与方法 |
| DE102015112105B4 (de) * | 2015-07-24 | 2020-02-06 | Infineon Technologies Ag | Sensorvorrichtung, Auswertungsvorrichtung und entsprechende Systeme und Verfahren |
| US10416218B2 (en) | 2017-01-31 | 2019-09-17 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Testing system for performing multipaction tests on a device under test as well as a method for testing a device under test |
| CN111856165B (zh) * | 2020-08-21 | 2022-05-03 | 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 | 快速测量金属表面电场噪声的装置及方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2891217A (en) * | 1954-12-16 | 1959-06-16 | Electronic Res Associates Inc | Noise figure meter |
| US3265967A (en) * | 1965-06-08 | 1966-08-09 | Mark A Heald | Microwave plasma density measurement system |
| US4578634A (en) * | 1983-05-31 | 1986-03-25 | Westinghouse Electric Corp. | Apparatus for determining frequency versus acceleration characteristics for crystals |
| GB2179458B (en) * | 1985-08-23 | 1988-11-09 | Ferranti Plc | Microwave noise measuring apparatus |
| US4801861A (en) * | 1987-08-28 | 1989-01-31 | Hercules Defense Electronics Systems Inc. | Apparatus for measuring frequency modulation noise signals having a frequency response compensation circuit |
| US4902977A (en) * | 1989-01-10 | 1990-02-20 | University Of Utah | Multipactor pressure gauge for use as a noninvasive vacuum tube sensor |
-
1990
- 1990-06-22 FR FR9007853A patent/FR2663750B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-06-17 EP EP91109905A patent/EP0464445A1/fr not_active Withdrawn
- 1991-06-19 US US07/717,604 patent/US5180985A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-20 CA CA002045046A patent/CA2045046A1/fr not_active Abandoned
- 1991-06-21 JP JP3247150A patent/JPH04232478A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5180985A (en) | 1993-01-19 |
| FR2663750A1 (fr) | 1991-12-27 |
| FR2663750B1 (fr) | 1992-09-11 |
| CA2045046A1 (fr) | 1991-12-23 |
| EP0464445A1 (fr) | 1992-01-08 |
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