JPS5858339U - ウエ−ハプロ−バ - Google Patents
ウエ−ハプロ−バInfo
- Publication number
- JPS5858339U JPS5858339U JP15384481U JP15384481U JPS5858339U JP S5858339 U JPS5858339 U JP S5858339U JP 15384481 U JP15384481 U JP 15384481U JP 15384481 U JP15384481 U JP 15384481U JP S5858339 U JPS5858339 U JP S5858339U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- wafer prober
- prober
- feeding
- support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は従来例および本考案のウエーハプローバの動作
を説明するための検査ウェーハの平面図、第2図は本考
案の一実施例のブロック図である。 11・・・・・・操作兼検出部、12・・・・・・コン
トロール部、13・・・・・・X軸パルスモータドライ
ブ部、14・・・・・・Y軸パルスモータドライブ部、
15・・・・・・X軸パルスモータ、16・・・・・・
Y軸パルスモータ、17・・・・・・ウェーハ支持台、
18・・・・・・検査ウェーハ、19・・・・・・プロ
ーブヘッド。
を説明するための検査ウェーハの平面図、第2図は本考
案の一実施例のブロック図である。 11・・・・・・操作兼検出部、12・・・・・・コン
トロール部、13・・・・・・X軸パルスモータドライ
ブ部、14・・・・・・Y軸パルスモータドライブ部、
15・・・・・・X軸パルスモータ、16・・・・・・
Y軸パルスモータ、17・・・・・・ウェーハ支持台、
18・・・・・・検査ウェーハ、19・・・・・・プロ
ーブヘッド。
Claims (1)
- プローブを保持しているプローブヘッドと、検査ウェー
ハを支持するウエーノ1支持台と、このウェーハ支持台
の自動送りをするウェーハ送り装置とを備えたウエーハ
プローバにおいて、前記ウェーハ送り装置には、前記ウ
エーノ1支持台を予じめ定められた複数種類の送り間隔
に従って順送りするための制御信号を発生する送り制御
装置を含むことを特徴とするウエーハプローバ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15384481U JPS5858339U (ja) | 1981-10-16 | 1981-10-16 | ウエ−ハプロ−バ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15384481U JPS5858339U (ja) | 1981-10-16 | 1981-10-16 | ウエ−ハプロ−バ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5858339U true JPS5858339U (ja) | 1983-04-20 |
Family
ID=29946444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15384481U Pending JPS5858339U (ja) | 1981-10-16 | 1981-10-16 | ウエ−ハプロ−バ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5858339U (ja) |
-
1981
- 1981-10-16 JP JP15384481U patent/JPS5858339U/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5858339U (ja) | ウエ−ハプロ−バ | |
JPS5821879U (ja) | 電子回路試験装置 | |
JPH026278U (ja) | ||
JPS5851399U (ja) | 自動試験装置 | |
JPS60191978U (ja) | Ic用検査装置 | |
JPS6246540A (ja) | 測定方法および装置 | |
JPS59148251U (ja) | ウエハプロ−バの測定針研磨装置 | |
JPS58165681U (ja) | 半導体寿命試験装置 | |
JPH01148871U (ja) | ||
JPS60116241U (ja) | 半導体ウエハ−検査装置 | |
JPS5942039U (ja) | 半導体部品の組立装置 | |
JPS59146766U (ja) | 鋼管欠陥部の位置表示モニタ− | |
JPS59103253U (ja) | 画像自動検査装置 | |
JPS5866342U (ja) | 試験片破断位置検出装置 | |
JPS602900U (ja) | 半導体素子挿入方向ミス検出装置 | |
JPS63106138U (ja) | ||
JPS60144237U (ja) | 半導体装置の検査装置 | |
JPS59180611U (ja) | ガラス板の平面度測定装置 | |
JPS61102881U (ja) | ||
JPS6054954U (ja) | 微粒子検出装置 | |
JPS6076209U (ja) | 鋼管の寸法測定装置 | |
JPS5893859U (ja) | 単結晶のカツト面検査装置 | |
JPS59151158U (ja) | 半導体試験装置 | |
JPH01130533U (ja) | ||
JPS63148864U (ja) |