JPS5856830B2 - カンジヨウブザイオヒハカイテキ ニ ケンサスル ホウホウ オヨビ ソウチ - Google Patents
カンジヨウブザイオヒハカイテキ ニ ケンサスル ホウホウ オヨビ ソウチInfo
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- JPS5856830B2 JPS5856830B2 JP48052046A JP5204673A JPS5856830B2 JP S5856830 B2 JPS5856830 B2 JP S5856830B2 JP 48052046 A JP48052046 A JP 48052046A JP 5204673 A JP5204673 A JP 5204673A JP S5856830 B2 JPS5856830 B2 JP S5856830B2
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- signal processing
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は溶接した管状部材の壁を連続的に非破壊的に検
査する方法および装置に関する。
査する方法および装置に関する。
溶接パイプおよび溶接管の製造においては、金属板の縁
部を溶接点に持ってゆき、そこで溶接により接合するよ
うに公知の手段で管形に成形される。
部を溶接点に持ってゆき、そこで溶接により接合するよ
うに公知の手段で管形に成形される。
管材はその長手方向に沿って直線的に延長する溶接つぎ
目により形成でき、または溶接線つぎ目が管軸を中心に
してらせん形に延長するように金属板をらせん形に巻く
ことができる。
目により形成でき、または溶接線つぎ目が管軸を中心に
してらせん形に延長するように金属板をらせん形に巻く
ことができる。
材料である金属板に異常が存在することがあり、またに
不完全な溶接のために溶接またはその附近に異常が生ず
ることがある。
不完全な溶接のために溶接またはその附近に異常が生ず
ることがある。
石油産業で使用するパイプの許容基準が米国石油協会(
American Petroleum In5tit
ute )により設定されている。
American Petroleum In5tit
ute )により設定されている。
この基準によれば、ある種の、およびある程度の異常は
欠陥とはみなされず、許容できるが、他の異常は欠陥で
あるとみなされる。
欠陥とはみなされず、許容できるが、他の異常は欠陥で
あるとみなされる。
しかし、その異常の除去または修理によりそのパイプを
その所期の用途に許容できるようにすることができる。
その所期の用途に許容できるようにすることができる。
ある種の有害な異常はパイプをその所期の目的に使用で
きないようにすることがある。
きないようにすることがある。
パイプの接合部で検出したある種の異常をパイプ製造者
が除去または修理することが実際には認められており、
それによってパイプ製造に際してのロスを防いでいる。
が除去または修理することが実際には認められており、
それによってパイプ製造に際してのロスを防いでいる。
しかしながら、溶接パイプの溶接部はパイプの最も弱い
部分であり、通常は使用中で最も故障の多い部分である
から、溶接部に異常が存在したことを検査記録が示して
いるパイプについては、パイプ製造者は供給に抵抗を感
じ、パイプ購入者は購入に抵抗を感する。
部分であり、通常は使用中で最も故障の多い部分である
から、溶接部に異常が存在したことを検査記録が示して
いるパイプについては、パイプ製造者は供給に抵抗を感
じ、パイプ購入者は購入に抵抗を感する。
このような慣行によりパイプ製造者はかなりの損失をこ
うむっている。
うむっている。
磁気探傷法によるパイプの検査の場合に、溶接部の異常
部分から出る検査信号のレベルは、パイプのスケルプ(
5kalp )部の異常部からの検査信号の大きさより
も低くできる。
部分から出る検査信号のレベルは、パイプのスケルプ(
5kalp )部の異常部からの検査信号の大きさより
も低くできる。
その理由は、溶接部にはピンホールや毛筋はどの細いク
ラックのような非常に小さな傷が生ずるのに対して、ス
ケルプ部にはピットやゴージのような大きな傷が生する
わらである。
ラックのような非常に小さな傷が生ずるのに対して、ス
ケルプ部にはピットやゴージのような大きな傷が生する
わらである。
したがって、妥当な確実さで溶接部の欠陥の真の性質を
決定することがしはしは困難であり、前記したように溶
接部に異常を有するパイプに石油産業に用いるには許容
できないと考えられるようになってくる。
決定することがしはしは困難であり、前記したように溶
接部に異常を有するパイプに石油産業に用いるには許容
できないと考えられるようになってくる。
少くともいくつかの異常を妥当な確実さで有害ではない
か、除去できるか、または修理できるかを決定できるよ
うに、溶接部の異常の性質と大きさを大きな確実さで確
認するために、溶接パイプの溶接部を大きな感度で検査
できることはパイプ製造者にとってはかなりの利益であ
る。
か、除去できるか、または修理できるかを決定できるよ
うに、溶接部の異常の性質と大きさを大きな確実さで確
認するために、溶接パイプの溶接部を大きな感度で検査
できることはパイプ製造者にとってはかなりの利益であ
る。
高感度のために比較的大きな信号として、検査記録また
は検査装置の読出しに現われる、あまり重要でなく許容
できる異常の指示のために、したがって本当の異常信号
を識別し、分離することを混乱または困難にする指示の
ために、あまり高い感度でパイプのスケルプ部を非破壊
検査することは通常は望ましいことはない。
は検査装置の読出しに現われる、あまり重要でなく許容
できる異常の指示のために、したがって本当の異常信号
を識別し、分離することを混乱または困難にする指示の
ために、あまり高い感度でパイプのスケルプ部を非破壊
検査することは通常は望ましいことはない。
米国特許第3,345,563号には溶接部分を厚くし
て作られるパイプのことが記載されている。
て作られるパイプのことが記載されている。
溶接部がこのように厚くなるのは溶接ビートがパイプの
内面から除去されていないからである。
内面から除去されていないからである。
この特許によれは、このようにするのは厚みが厚くなる
とその部分の磁束密嵌が低くなるから、溶接部の磁気探
傷の感度を低くするためであるということである。
とその部分の磁束密嵌が低くなるから、溶接部の磁気探
傷の感度を低くするためであるということである。
この特許によると、検査されるパイプの溶接部の肉厚を
モニタするための装置が設けられ、かつモニタした肉厚
の直接関数および逆関数として増幅器の利得または比較
器のバイアスレベルを制御するための装置が設けられて
いる。
モニタするための装置が設けられ、かつモニタした肉厚
の直接関数および逆関数として増幅器の利得または比較
器のバイアスレベルを制御するための装置が設けられて
いる。
パイプの溶接部からの異常検査信号は増幅器または比較
器に加えられるから、検査回路の感度は肉厚の関数とし
て増加する。
器に加えられるから、検査回路の感度は肉厚の関数とし
て増加する。
しかし、高周波電気抵抗溶接法によりかなりの量のパイ
プが生産されている。
プが生産されている。
実際にはこの方法では(および他のいくつかの溶接法も
)、溶接部の肉厚かパイプのスケルプ部の肉厚とほぼ同
じになるように、パイプの内外面の溶接ビートを削った
りするのが一般的である。
)、溶接部の肉厚かパイプのスケルプ部の肉厚とほぼ同
じになるように、パイプの内外面の溶接ビートを削った
りするのが一般的である。
たとえは、米国特許第3,115,017号には出っ張
っている溶接ビートを削り取るための機具をそなえた、
高周波電気抵抗溶接機か示されている。
っている溶接ビートを削り取るための機具をそなえた、
高周波電気抵抗溶接機か示されている。
パイプはその全周にわたって肉厚はほぼ一様であるから
、前記米国特許第3,345,563号に開示されてい
る検査法は、パイプの肉厚が不均一の場合にのみ有用な
ものであるから使用できない。
、前記米国特許第3,345,563号に開示されてい
る検査法は、パイプの肉厚が不均一の場合にのみ有用な
ものであるから使用できない。
更に、この米国特許に示されている方法と装置はパイプ
の溶接部だけを非破壊的に検査するものである。
の溶接部だけを非破壊的に検査するものである。
パイプのスケルプ部の状態も問題であるから、スケルプ
部を検査するためには別々の独立に動作する検査機器を
必要とする。
部を検査するためには別々の独立に動作する検査機器を
必要とする。
本発明の検査装置は、連続動作中に第1検査部材がパイ
プの表面を走査してスケルプ部と、溶接部に存在する有
害な異常部材は各走査中に溶接線の存在だけを検出し、
検査部材が溶接部中の有害な異常を検出している間だけ
、信号処理回路の増幅器の利得を高くするように、増幅
器の利得を変化させる制御信号を与える。
プの表面を走査してスケルプ部と、溶接部に存在する有
害な異常部材は各走査中に溶接線の存在だけを検出し、
検査部材が溶接部中の有害な異常を検出している間だけ
、信号処理回路の増幅器の利得を高くするように、増幅
器の利得を変化させる制御信号を与える。
それによって高い感寒で溶接部を自動的に検査し、そう
しなければ溶接部から受ける小さな異常信号を補償する
。
しなければ溶接部から受ける小さな異常信号を補償する
。
以下に説明する非破壊検査法は洩れ磁束検査法である。
本発明の原理に従って別の非破壊検査法を用いることも
できる。
できる。
第1図には肉厚がほぼ一様で、溶接つぎ目12を持つパ
イプ11の一部が右から左へ動いている様子を示す。
イプ11の一部が右から左へ動いている様子を示す。
実際には、パイプ11は第1図に示すパイプの上流側に
設けられている溶接機により溶接された後でパイプミル
のコンベヤにより動かされる。
設けられている溶接機により溶接された後でパイプミル
のコンベヤにより動かされる。
パイプを非破壊検査する装置は検査シュー15の形の検
出ユニットを含む。
出ユニットを含む。
この検査シュー15はパイプ11の外面に接触し、移動
するパイプの外周を連続的に回転するから、移動するパ
イプのらせん状走査が検査シューにより行われる。
するパイプの外周を連続的に回転するから、移動するパ
イプのらせん状走査が検査シューにより行われる。
パイプ11の壁の少くとも検査シュー15の下にある部
分に、円周方向の一方向磁界8を形成するために図示の
磁極片のような装置が用いられる。
分に、円周方向の一方向磁界8を形成するために図示の
磁極片のような装置が用いられる。
検査シュー15は異常検出サーチコイルa −jを内蔵
している。
している。
これらのコイルはシュー15の全面に配置され、パイプ
11を連続的に走査する。
11を連続的に走査する。
コイルa −jは比較的小さなコイルで、パイプ11に
存在するかもしれない有害な異常により起される洩れ磁
束を検出し、電気信号を発生する。
存在するかもしれない有害な異常により起される洩れ磁
束を検出し、電気信号を発生する。
この信号は後述する信号処理回路に加えられる。
隣接する検査コイルは直列に接続できる。
たとえばコイルaとす、cとd、eとf等が互いに直列
接続される。
接続される。
検査シュー15は比較的大きな検査コイルminも含む
。
。
これらのコイルは検査シューの長さにほぼ一杯に延ひて
おり、互いに直列接続される。
おり、互いに直列接続される。
コイルm(!:nは溶接パイプ中に存在することが予期
される通常の種類の有害異常には悪寒を有さす、溶接線
12を横切った時に出力信号を発生するように構成され
る。
される通常の種類の有害異常には悪寒を有さす、溶接線
12を横切った時に出力信号を発生するように構成され
る。
実際には、コイルa −jは平らなコイルであって、そ
の平らな面がパイプ11の外面に平行となるように検査
シュー15に取付けられる。
の平らな面がパイプ11の外面に平行となるように検査
シュー15に取付けられる。
コイルmとnも平らに巻くことができるが、各コイルの
細長い一力の側だけがパイプに密接し、パイプ11の表
向に沿う磁束の変化を検出するように、コイルの平らな
面がパイプ11の外面に対して傾斜される。
細長い一力の側だけがパイプに密接し、パイプ11の表
向に沿う磁束の変化を検出するように、コイルの平らな
面がパイプ11の外面に対して傾斜される。
コイルa −jは比較的短いから、パイプに生ずると予
測される潜在的な有害な異常の種類を表わす異常信号を
発生する。
測される潜在的な有害な異常の種類を表わす異常信号を
発生する。
コイルmとnの長さはパイプに生ずるものと予想される
有害な異常の寸法よりもかなり長いから、理想的には連
続する溶接線12以外には感じない。
有害な異常の寸法よりもかなり長いから、理想的には連
続する溶接線12以外には感じない。
当業者であれば検査コイルを上記のように構成できる。
コイルmとnが溶接線12の存在を検出できる理由は、
スケルプの接合縁部に沿う金属が加熱され、冶金学的な
変化を行うからである。
スケルプの接合縁部に沿う金属が加熱され、冶金学的な
変化を行うからである。
更に、加熱された金属は硬化されて溶接部を形成したり
、溶接部が電極材料または溶加金属を含む。
、溶接部が電極材料または溶加金属を含む。
したがって、溶接部の金属はパイプの他のスケルプ部分
とは磁気特性が多少異り、そのために磁束が他の部分と
は異るからである。
とは磁気特性が多少異り、そのために磁束が他の部分と
は異るからである。
ある場合にはこの差異は小さいが、コイルmとnは検査
コイル15のほぼ全長にわたって延びており、溶接部に
沿う洩れ磁束の感知しうる長さをさえぎるから、コイル
mとnは溶接線を検出する。
コイル15のほぼ全長にわたって延びており、溶接部に
沿う洩れ磁束の感知しうる長さをさえぎるから、コイル
mとnは溶接線を検出する。
高周波抵抗溶接法により溶接したパイプにしばしば起る
ことであるが、溶接線にあまり大きくない物理的な不連
続が生じても、コイルmとnは溶接線を検出する。
ことであるが、溶接線にあまり大きくない物理的な不連
続が生じても、コイルmとnは溶接線を検出する。
高置波抵抗溶接機とパイプの内外面から溶接ビードを除
去する機具を有する溶接装置を用いる、パイプミルを適
切に作動させている場合には、パイプの内外面間の溶接
つぎ目またはその近くに、ある程度の欠陥があったとし
ても、ある種の金属では溶接線の存在を視覚的に決定す
ることは困難である。
去する機具を有する溶接装置を用いる、パイプミルを適
切に作動させている場合には、パイプの内外面間の溶接
つぎ目またはその近くに、ある程度の欠陥があったとし
ても、ある種の金属では溶接線の存在を視覚的に決定す
ることは困難である。
検査シュー15の接続されたコイル対からの信号はケー
ブル19を介して、本発明の信号処理回路に加えられる
。
ブル19を介して、本発明の信号処理回路に加えられる
。
この回路を第2図にブロック図で示す。
コイルrn + nからの溶接線信号は端子20に加え
られ、コイル対aとす、cとd + eとf、gとh+
iとJからの異状信号は端子21〜25にそれぞれ加え
られる。
られ、コイル対aとす、cとd + eとf、gとh+
iとJからの異状信号は端子21〜25にそれぞれ加え
られる。
第2図に示すような波形の溶接線信号26は端子20か
ら増幅器28に加えられ、それからパルス整形回路29
に加えられる。
ら増幅器28に加えられ、それからパルス整形回路29
に加えられる。
この回路の出力は方形波のトリがパルスであって、この
パルスは単安定マルチパイプレークをトリガする。
パルスは単安定マルチパイプレークをトリガする。
このマルチパイプレークの出力は方形波の負ゲートパル
スであって、その持続時間twは異常検査コイルa〜j
が高い感寒で検査する溶接部を通過するのに要する時間
に等しくなるように選択される。
スであって、その持続時間twは異常検査コイルa〜j
が高い感寒で検査する溶接部を通過するのに要する時間
に等しくなるように選択される。
この溶接部は約0.65 cm〜1.3 crn (4
分の1〜2分の1インチ)にわたって実際の溶接線の両
側に延び、溶接作業中に潜在的に有害な異常が生ずるよ
うな部分である。
分の1〜2分の1インチ)にわたって実際の溶接線の両
側に延び、溶接作業中に潜在的に有害な異常が生ずるよ
うな部分である。
前記持続時間twに検査シュー15の回転速度と、コイ
ルm 、 nとコイルa −jとの間隔との関数として
選択される。
ルm 、 nとコイルa −jとの間隔との関数として
選択される。
ゲートパルス33はライン34を介して各可変利得増幅
器41〜45の入力側に加えられ、各増幅器の利得を変
化させる。
器41〜45の入力側に加えられ、各増幅器の利得を変
化させる。
端子21〜25は可変利得増幅器41〜45の第2入力
端に接続され、これらの増幅器にコイル対a −jで発
生されたそれぞれの異常信号を与える。
端に接続され、これらの増幅器にコイル対a −jで発
生されたそれぞれの異常信号を与える。
増幅器41〜45の出力側はパルス整形回路51〜55
にそれぞれ接続され、これらの回路の出力側は記録計5
8に接続される。
にそれぞれ接続され、これらの回路の出力側は記録計5
8に接続される。
この記録計はそれぞれの信号の波形を記録する。
可変利得増幅器41〜45の出力信号を処理し、記録す
るために希望によっては他の回路や機器も利用できる。
るために希望によっては他の回路や機器も利用できる。
第1,2図に示す装置と回路の動作を説明するに際して
、検査シュー15がパイプ11のスケルプ部を走査して
おり、コイルm9 nは異常を検出せず、第2図の端子
20には信号が現われないと仮定する。
、検査シュー15がパイプ11のスケルプ部を走査して
おり、コイルm9 nは異常を検出せず、第2図の端子
20には信号が現われないと仮定する。
したがって、単安定マルチパイプレーク32はその第1
安定状態にあり、その出力は2つのレベルのうちの高い
レベルにある。
安定状態にあり、その出力は2つのレベルのうちの高い
レベルにある。
この出力は制御信号であってライン34を介して各増幅
器41〜45に加えられ、その増幅器の利得を第ルベル
にセットする。
器41〜45に加えられ、その増幅器の利得を第ルベル
にセットする。
検査コイルa=jにより検査されるパイプ11のスケル
プ部の有害な異常に対応する異常信号は、端子21〜2
5を介して増幅器41〜45に加えられ、これらの増幅
器で増幅されて最後には記録計58で記録される。
プ部の有害な異常に対応する異常信号は、端子21〜2
5を介して増幅器41〜45に加えられ、これらの増幅
器で増幅されて最後には記録計58で記録される。
検査シュー15が溶接線12を通過するとコイルmとn
は溶接線を検出し、溶接線信号20を発生する。
は溶接線を検出し、溶接線信号20を発生する。
この信号は端子20を介して増幅器28に加えられ、増
幅されてからパルス整形器29で方形パルス31にされ
てから、単安定マルチバイブレーク32を不安定状態に
トリガする。
幅されてからパルス整形器29で方形パルス31にされ
てから、単安定マルチバイブレーク32を不安定状態に
トリガする。
この不安定状態はパルス31の持続時間twに等しい時
間だけ持続され、それによりゲートパルス33を発生す
る。
間だけ持続され、それによりゲートパルス33を発生す
る。
このパルスは増幅器41〜45に加えられてその利得を
増加させ、それらの増幅器がコイルa = jからの入
力異常信号に対しより高い感晩を持つようにする。
増加させ、それらの増幅器がコイルa = jからの入
力異常信号に対しより高い感晩を持つようにする。
増幅器41〜45の利得が高くなるから、パイプ11の
溶接部は高い感度で検査され、検査記録は溶接部の性質
をよりはっきりと示す。
溶接部は高い感度で検査され、検査記録は溶接部の性質
をよりはっきりと示す。
可変利得増幅器41〜45をゲートする別の装置は、検
査シュー15に溶接線検出用の別のコイルp2gを用い
ることである。
査シュー15に溶接線検出用の別のコイルp2gを用い
ることである。
これらのコイルはコイルm、nにほぼ等しいが、検査シ
ュー15の後縁部が溶接線12を通過した時に第2の溶
接線信号を発生するように、検査シュー15の後縁部に
設けられる。
ュー15の後縁部が溶接線12を通過した時に第2の溶
接線信号を発生するように、検査シュー15の後縁部に
設けられる。
次に第3図を参照して、双安定マルチパイプレーク32
′はコイルrn v nから発生される第1溶接線信号
により第2安定状態にセットされて、低レベルの出力を
発生し、コイルp2gから発生される第2溶接線信号に
より第1安定状態にリセットされ、高いレベルの出力を
発生する。
′はコイルrn v nから発生される第1溶接線信号
により第2安定状態にセットされて、低レベルの出力を
発生し、コイルp2gから発生される第2溶接線信号に
より第1安定状態にリセットされ、高いレベルの出力を
発生する。
したがって、ライン34に現われるゲート信号33は、
異常検出コイルa −jが溶接部を通過している間は可
変利得増幅器41〜45が高い利得で動作するような、
発生時刻と持続時間twとを有する。
異常検出コイルa −jが溶接部を通過している間は可
変利得増幅器41〜45が高い利得で動作するような、
発生時刻と持続時間twとを有する。
あるいは、第1図に示すそれぞれの信号処理チャンネル
の各増幅器41〜45の利得を変化するために、各チャ
ンネルに一定の互いに異なる利得を有する2つの増幅器
を用い、ライン34に現われるゲートパルス33に応答
して、いずれか−力の増幅器を信号処理回路に切換える
ことができる。
の各増幅器41〜45の利得を変化するために、各チャ
ンネルに一定の互いに異なる利得を有する2つの増幅器
を用い、ライン34に現われるゲートパルス33に応答
して、いずれか−力の増幅器を信号処理回路に切換える
ことができる。
第4図はこのような装置を簡単なブロック図で示す。
入力端子21′は増幅器41′と41“に接続される。
増幅器41“の利得は増幅器41′の利得よりも高い。
これらの増幅器の出力側はスイッチング装置61に接続
される。
される。
この装置は、ライン34に現われる信号33が高いレベ
ルの時に増幅器41′をパルス整形回路51に接続し、
信号33が低レベルの時に増幅器41“だけを回路51
に接続するように動作する。
ルの時に増幅器41′をパルス整形回路51に接続し、
信号33が低レベルの時に増幅器41“だけを回路51
に接続するように動作する。
信号33が低レベルというのは検出コイルa = jが
溶接部を検査している時である。
溶接部を検査している時である。
さた、スケルプ部と溶接部を検査している間に、各信号
処理チャンネルの信号比較回路の基準バイアスレベルを
変えることにより、信号処理回路の特性を変化できる。
処理チャンネルの信号比較回路の基準バイアスレベルを
変えることにより、信号処理回路の特性を変化できる。
すなわち、コイルa −jからの異常信号は信号比較器
の入力端子にそれぞれ加えられる。
の入力端子にそれぞれ加えられる。
信号33またはそれに対応する信号は基準信号として比
較器に加えられる。
較器に加えられる。
この比較器は入力信号のうち基準信号の大きさをこえる
部分を、その出力側に発生する。
部分を、その出力側に発生する。
基準信号すなわちゲートパスス33は大きさが変化する
から、比較器の出力信号も変化する。
から、比較器の出力信号も変化する。
本発明の原理はいわゆるらせん溶接パイプの検査にも用
いることができる。
いることができる。
第5図に示すように、パイプ71はその全長にわたって
らせん状に延びる溶接つぎ目72を有する。
らせん状に延びる溶接つぎ目72を有する。
検査シュー75はパイプ71の表面に適合するような形
状を持ち、その内部には検査コイルm、nとa −jが
収められている。
状を持ち、その内部には検査コイルm、nとa −jが
収められている。
検査シューとコイルは前方に送られるパイプ71の周囲
の円形路に沿って回転するように、溶接線72に平行に
配置される。
の円形路に沿って回転するように、溶接線72に平行に
配置される。
溶接線信号と異常信号を処理する回路は前記処理回路と
同じである。
同じである。
ある場合にはパイプの外面にロールマークが付くことが
ある。
ある。
これらのマークはパイプの製造中に付くすり跡や刻み目
である。
である。
これらの跡が溶接線検出コイルm 、 n t p j
qに望ましくない信号を発生する場合には、検査シュ
ー15をパイプの内側に設けてその内面を走査すること
もできる。
qに望ましくない信号を発生する場合には、検査シュ
ー15をパイプの内側に設けてその内面を走査すること
もできる。
検査シューをパイプの内側に支持する内面支持構造体は
米国等許第3,535,624号に開示されているもの
と同様である。
米国等許第3,535,624号に開示されているもの
と同様である。
検査シューとパイプとを相対的に回転させるために、適
当な装置が設けられる。
当な装置が設けられる。
以上の説明で、「信号処理回路の特性」という用語は、
増幅器の利得と比較回路のバイアスレベルを示すために
用いている。
増幅器の利得と比較回路のバイアスレベルを示すために
用いている。
このような特性は信号処理回路の信号処理特性の一例で
あり、そのような用語は特許請求の範囲でもそのように
理解すべきであることは明らかである。
あり、そのような用語は特許請求の範囲でもそのように
理解すべきであることは明らかである。
第1図はパイプの溶接線の存在とパイプの溶接部および
スケルプ部の有害な異常とをそれぞれ検出する検出コイ
ルを有する検査ユニットの概略斜視図、第2図はスケル
プ部からの異常信号を1つの感度で処理し、溶接部から
の異常信号を高い悪寒で処理する信号処理装置のブ冶ツ
ク図、第3図は第2図の装置に含まれるゲート信号発生
装置の別の実施例のブロック図、第4図は第2図の装置
の信号処理チャンネルの別の装置のブロック図、第5図
はらせん状溶接つぎ目を有するパイプを検査する検査コ
イルの別の例を示す略図である。 IL71・・・・・・パイプ、12.72・・・・・・
溶接つぎ目、15・・・・・・検査シュー a”3s
m + n p pyq・・・・・・検査コイル、29
.29’、51〜55・・・・・・パルス整形器、32
・・・・・・単安定マルチパイプレーク、32′・・・
・・・双安定マルチパイプレーク。
スケルプ部の有害な異常とをそれぞれ検出する検出コイ
ルを有する検査ユニットの概略斜視図、第2図はスケル
プ部からの異常信号を1つの感度で処理し、溶接部から
の異常信号を高い悪寒で処理する信号処理装置のブ冶ツ
ク図、第3図は第2図の装置に含まれるゲート信号発生
装置の別の実施例のブロック図、第4図は第2図の装置
の信号処理チャンネルの別の装置のブロック図、第5図
はらせん状溶接つぎ目を有するパイプを検査する検査コ
イルの別の例を示す略図である。 IL71・・・・・・パイプ、12.72・・・・・・
溶接つぎ目、15・・・・・・検査シュー a”3s
m + n p pyq・・・・・・検査コイル、29
.29’、51〜55・・・・・・パルス整形器、32
・・・・・・単安定マルチパイプレーク、32′・・・
・・・双安定マルチパイプレーク。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 溶接線を含む溶接部を有する管状部材の非破壊検査
方法であって、前記溶接部の肉厚は部材の他の部分の肉
厚とほぼ同じであるが、溶接熱のために溶接部の冶金学
的性質は部材の他の部分のそれとは異なり、検査を行う
装置は溶接部とその他の部分とを検査する場合に異った
動作を行う管状部材の非破壊検査法において、検査装置
が管状部材の周囲を完全に定検して溶接線と部材の残り
の部分を逐次走査するように管状部材と異常検出装置と
の間に相対回転運動を行わせる工程と、相対運動中に前
記管状部材中の有害な異常を検出し、検出した異常に対
応する異常信号を与える工程と、管状部材の走査中に溶
接部の種々の冶金学的性質を検出し、管状部材の走査中
に溶接部から出る異常信号よりも時間的に先行して生ず
る溶接部側(財)信号を発生する工程と、前記制菌信号
に応答して第1の値から第2の値に変化できる信号処理
特性を有する異常信号処理装置に前記異常信号と前記制
御信号とを与える工程と、溶接部が有害な異常を検出す
るために検査される度に前記信号処理装置の前記特性を
前記第2の値に変化する工程とをそなえることを特徴と
する管状部材の非破壊検査方法。 2 溶接線を含む溶接部を有する管状部材を非破壊的に
検査する装置であって、前記溶接部の肉厚は管状部材の
他の部分の肉厚とほぼ同じであるが、溶接中の加熱のた
めに溶接部の冶金学的性質は他の部分とは異なり、前記
検査装置は溶接部の検査の時には1つの検査特性で動作
し、前記他の部分の検査の時には別の検査特性で動作す
る管状部材の非破壊検査装置において、前記部材中の有
害な異常を検出し、その検出に応じて異常信号を発生す
る装置と、前記溶接部中の異なった冶金学的特性を検出
して、前記異常検出装置か前記溶接部を検出している間
は1つの値を有し、別の時には別の値を有する制御信号
を発生する装置と、前記部材と前記異常検出装置および
溶接部検出装置との間に相対らせん運動を起させる装置
と、前記制御信号に応じて第1の値から第2の値に変化
する信号処理特性を有する信号処理装置と、前記異常信
号と前記制御信号を前記信号処理装置に加えて制御信号
が前記1つの値の時だけ前記信号処理特性を前記第2の
値に変える装置とをそなえることを特徴とする管状部材
の非破壊検査装置。 3 はぼ一様な肉厚と溶接部とを有する管状部材を検査
して、前記部材の他の部分よりも溶接部を高い感度で検
査する非破壊検査装置において、第1および第2の検出
装置を有する検査ユニットと、このユニットが前記部材
の周囲を完全に走査して前記部材の溶接線と残りの部分
を逐次走査するように前記検査ユニットと前記部材の間
に相対回転運動を与える装置と、制御信号に応じて第1
の値から第2の値に変化する信号処理特性を有する信号
処理装置と、前記第1検出装置を前記信号処理装置に結
合して異常信号を信号処理装置に与える装置と、制御信
号を前記信号処理装置に与えて、第1検出装置が溶接線
の部分を検査している時に前記信号処理装置が前記特性
のうちの1つの値を示し、第1検出装置が部材の残りの
部分を検出する時に前記信号処理装置が前記特性の別の
値を示すようにするために前記第2検出装置を前記信号
処理装置に結合する装置とをそなえ、前記第1検出装置
は前記部材中の前記溶接部分の潜在的に有害な異常を含
む潜在的に有害な異状を検出し、その検出に応じて異常
信号を発生するように構成および配置され、前記第2検
出装置は前記溶接線を検出してその検出に応じて溶接線
信号だけを発生するように構成および配置され、これら
2つの検出装置は第1の装置が溶接線を通過する前に第
2の装置が溶接線を通過するように構成されることを特
徴とする管状部材の非破壊検査装置。 4 溶接線を含む溶接部を有する管状部材を非破壊的に
検査する装置において、前記溶接部の肉厚は前記部材の
他の部分の肉厚とはあまり異っておらず、前記検査装置
は溶接部を検査する時は1つの検査特性で動作し、前記
性の部分を検査する時は別の検査特性で動作する非破壊
検査装置において、第1および第2の検出装置を有する
検査ユニットと、このユニットが前記溶接部と前記残り
の部分を連続的に走査するように前記検査ユニットと前
記部材との間に相対らせん運動を行わせる装置と、制御
信号に応答して第1の値から第2の値に変化する信号処
理特性を有する信号処理装置と、異常信号を前記信号処
理装置に与えるために前記第1検出装置を前記信号処理
装置に結合する装置と、前記溶接部信号に応答して、第
2検出装置が溶接部を検出した時に始まって第1検出装
置が溶接部を通過した時に終る時間中は1つの値を有し
、別の時間中は別の値を有する制御信号を発生する装置
と、制御信号が前記1つの値の時に前記信号処理特性を
第2の値に変えるために前記制御信号を前記信号処理装
置に与える装置とをそなえ、前記第1検出装置は前記部
材中の前記溶接部の有害な異常を含む有害な異常を検出
してその検出に応じて異常信号を発生するように構成か
つ配置され、前記第2検出装置は前記溶接部を検出して
その検出した溶接部に対応する溶接部信号だけを発生す
るように構成かつ配置され、前記第2検出装置は検査ユ
ニットが溶接部を走査した時に溶接部の異常に対応する
異常信号に先行して溶接部信号を発生するように構成さ
れ、配置され、かつ動作することを特徴とする管状部材
の非破壊検査装置。 5 溶接線を含む溶接部を有する管状部材を非破壊的に
検査する装置であって、前記溶接部の肉厚は前記部材の
他の部分の肉厚とほぼ同じであるが溶接部の冶金学的性
質が溶接中の加熱のために他の部分とは異なり、前記検
査装置は溶接部を検査する時は1つの検査特性を有し、
前記性の部分を検査する時は別の検査特性を有する管状
部材の非破壊検査装置において、第1および第2検出装
置を有する検査ユニットと、この検査ユニットが前記溶
接部と前記性の部分を連続的に走査するように前記検査
ユニットと前記部材との間に相対らせん運動を起させる
装置と、制御信号に応答して第1の値から第2の値に変
化する信号処理特性を有する信号処理装置と、この信号
処理装置に異常信\ 号を与えるために前記第1検出装置を前記信号処理装置
に結合する装置と、前記溶接部信号に応答して、前記第
2検出装置が溶接部を検出した時に始まって第1検出部
が溶接部を通過した時に終る時間中は1つの値を有し、
別の時間中は別の値を有する制御信号を発生する装置と
、制御信号が前記1つの値の時 前記信号処理特性を第
2の値に変えるために前記制御信号を前記信号処理装置
に与える装置とを なえ、前記第1検出装置は溶接部の
有害な異常を含む前記部材中の有害な異常を検出し、そ
れに応じて異常信号を発生するように構成および配置さ
れ、前記第2検出装置は前記溶接部の異った冶金学的特
性を検出し、溶接部の異なる冶金学的特性に対応する溶
接部信号だけを発生するように構成および配置され、前
記第2検出装置は前記異常信号に先行して溶接部信号を
発生するように構成され、配置され、動作することを特
徴とする管状部材の非破壊検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP48052046A JPS5856830B2 (ja) | 1973-05-10 | 1973-05-10 | カンジヨウブザイオヒハカイテキ ニ ケンサスル ホウホウ オヨビ ソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP48052046A JPS5856830B2 (ja) | 1973-05-10 | 1973-05-10 | カンジヨウブザイオヒハカイテキ ニ ケンサスル ホウホウ オヨビ ソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5011087A JPS5011087A (ja) | 1975-02-04 |
| JPS5856830B2 true JPS5856830B2 (ja) | 1983-12-16 |
Family
ID=12903864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP48052046A Expired JPS5856830B2 (ja) | 1973-05-10 | 1973-05-10 | カンジヨウブザイオヒハカイテキ ニ ケンサスル ホウホウ オヨビ ソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856830B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5445050U (ja) * | 1977-09-02 | 1979-03-28 | ||
| JPH0333363U (ja) * | 1989-08-10 | 1991-04-02 | ||
| EP0523249B1 (en) * | 1991-02-04 | 1997-11-05 | Nkk Corporation | Magnetic inspecting method and device therefor |
| WO1997016722A1 (fr) * | 1995-10-31 | 1997-05-09 | Nkk Corporation | Capteur magnetique, procede et equipement de detection de defauts magnetiques utilisant ce capteur |
| ES2593180T3 (es) * | 2014-04-11 | 2016-12-07 | Magcam Nv | Método y dispositivo para medir una distribución de campo magnético de un imán a lo largo de una superficie principal de dicho imán |
-
1973
- 1973-05-10 JP JP48052046A patent/JPS5856830B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5011087A (ja) | 1975-02-04 |
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