JPS5856580A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPS5856580A
JPS5856580A JP56153563A JP15356381A JPS5856580A JP S5856580 A JPS5856580 A JP S5856580A JP 56153563 A JP56153563 A JP 56153563A JP 15356381 A JP15356381 A JP 15356381A JP S5856580 A JPS5856580 A JP S5856580A
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center
signal
solid
cell
conductor
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Nozomi Harada
望 原田
Okio Yoshida
吉田 興夫
Yukio Endo
幸雄 遠藤
Masayuki Matsunaga
誠之 松長
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Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/73Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors using interline transfer [IT]

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 4i:発明1は固体撮像装置の改良に膚する。
周知の如く、固体4障・直置は半導体基板上に設けられ
た互に独立する感光セルから、そこで光電変換、蓄積さ
れた信号電荷を何んらかの手段により前記基板に設けら
れ九出勾部より取出すものである。一方、撮濃蒼の部会
、光電変換、信号電荷蓄積を行なうターゲノ)嘆は連続
してゼ成されており、ンート抵抗が非常に高いために、
信号電荷の横方向拡散がほとんどなく、その結果、解像
度は信号読取りのための短資電子ビームの径でほぼ決定
されろ。したがって、既述した固体撮像装置では撮像管
のように走査電子ビームによる信号電荷読出しができな
いため、前記半導体基板上にいかに多くの感光部及び読
出部を形峻せしめることにより解像度が決定されろ。
ところで、従来の固体撮像装置としては、半導体基板内
で光電変換させて信号電荷を蓄積する構造のものが知ら
れている。しかしながら、かかる構造の固体撮像装置は
所定の解儂覚を得るために所定面積の感光部を確保する
こと、及び基板内で光電変換するために必要以上の信号
電荷が非読出し時に読出し部に流れるのを避ける目的で
同基板にオーバフロードレインを設けること、等の必要
があるので、高集積化には自ずと限界があるという難点
があった。
このようなことから、最近、第1図に示す如く光電変換
を半導体基板上の元′鑞変換模で行ない、該光電変換膜
にて発生した信号電荷を半導体基板の主面に形成し九続
出し部によって読み出す固体撮像装置が開発されている
。即ち1図中の1は例えばp型の半導体基板であり、こ
の基板1には該基板1と後記する導体電極とを電気的に
接続するための第1のn型不純′44!J層2h22・
・・が所定間隔をあけてマ) IJフックス状設けられ
ている。前記基板1には光電変換された信号電荷を読み
出すための第2のn不純物’If 31#J2・・・が
所定長さのゲート領域4+、42・・・を介して前記第
1のn+型不純物−21t22・・・と隣接して夫々設
けられている。このn十型不純物・l 31#32・・
・けインターライン転送方式のCCD々らばCCII)
チャ/ネルとなる。また、前記基板1には前記第1.第
2の計型不純物項域21゜31を1単位として、これら
単位間を分離するため↓ のpalのストッパ45+151153・・が設けられ
ている。更I(、前記ゲート頭載41.42・・・、第
2の計型不純物領域31,32、及びストッパ層51+
52*53・・が位置する基板1kK!d、ゲート絶縁
膜61162#63・・・を介して転送′電極でちる多
結晶シリコンゲート電極71+72+73・・が没けら
れてい乙、このゲート電極7hp72p7j1.を含む
4@lhには絶縁膜8が被覆され、かつ@紀第1のn 
型不純物Ii#21,22・・・の一部に対応する前記
絶縁膜8にはコンタクトホール91s92・・・が開口
されている。そして、前記絶縁膜8上には互に所定耐碓
へだてて独立した複数の導体1kL極101.102・
・が設けら作ていると共に、各導体電極101,102
・・・1は夫々前Iピコンタクトホール91s92・・
・を介して第1のn 型不純物42rs22・・・に接
続されている。また、これら導体電極101.102・
・・を含む絶縁膜8全面1cは、光電変換を行なう例え
ばアモルファスシリコン等からなる光導dt膜11が被
覆されている。この光導1[1c模11上には透明電極
12が被覆され、かつ該電極12には所望の電圧が印加
される。このような構造の固体撮像装置において、透明
電極12に所望の4EEを印加された状轢で、例えば導
体電極101上の光導電膜11領域に光が照射されると
、光導電膜11で光電変換されて信号電荷が発生すると
共に、その信号電荷は導体電極101を通ってこれとコ
ンタクトホール91を介して接続した逆バイアスされた
p型半導体艦板1のn十型不紬物層21に王に蓄積され
る。こうして蓄積された信号電荷は任意の蓄積時間後に
ゲート電極72に電圧を印加すること(でより、基板1
のゲート領域41を通って第2の砂型不純’m43xに
読み出される。かかる固体撮像装置は半導体基板1上の
光導電膜11で光電変換できるため、半導体基板内の感
光部で光電変換する固体撮像装置に比べて感光部の了パ
ーチャを確保するための設計上の考慮が軽減するため感
度を低下することなく高集積化が可能となる。また、上
記固体撮像装置でけ光電変換時に必要以上の信号電荷が
発生した場合%元導成咬11上の透明電極12より外部
に逃がすことができるため、半導体基板内で光電変換す
る固体考(17装置のように感光部に隣接して鳩板内[
1−バフロードレインを設けることが不要となり、この
薇からも高集積化が可能となる。
ところで、上述した固体撮像装置は、従来、第1、第2
図のn型不純物・−、ゲート電極、導体電極及び光導′
?Jt嗅(共通部)を単位セルとし、これら鱗位セルを
第2図に示す如くマトリック状に配置した構造になって
いる。々お、第2図中の3a〜3dは続出し部(CCD
チャンネル)としての第2のn十型不純4g1ii、9
8〜9pはコンタクトホール。
10a〜10pは噂!F−電極である。ここで、一画素
は導体電極103〜10pで定められ、既述の如く導体
電極10a〜top上の光導電膜で光電変換され1発生
された信号電荷はコンタクトホール9a〜9pを介して
図中の矢印で示される如く読出し部である計型不純物−
3a〜3dに移動し読出される。
F記第2図図示のIM体撮1象装置Ifおける画素を勘
定する導体電極は例えばNTSC標準方式に適合させた
1合、信号電荷によって得られた再生画像の画素列に対
応する方向(垂直方向)に約500個配置され、これと
直交する方向(水平方向)Kは例えば現状のインターラ
イン転送方式CCDでは400個配利きれている。こう
した配列状態の固体撮像装置におAて、垂(α方向に1
しては現在前述の標準方式に適合したものが得られるが
、水平方向の画素数について次のような問題がちる。即
ち、水平方向に400個の画素を配列した装置では、空
間同波数白黒バーパターン400本をナイキスト限界周
波数とな抄、この近傍及びこの周波数隻−ヒの細かいパ
ターンを撮像すると、モアレと呼ばれる偽信号が現われ
、再生画像を著j〜〈劣化させる。
特に%実際の撮嗜にお(へては垂i[、べ平方同成分を
多く持った被写体が多く、固体礒#i!装置では各画素
を規定−fも導体電極が互に独立l、7て形成されてい
るため、ナイキスト限界周波数での、<  、:ターン
を撮f象した際の出力、変調度が高く、その糖果−ヒ述
の偽信号が太き(現われA、こう(7た現象を軽減する
には、水平方向の画素数を増加させればよ1ハが、製造
ヒの困蝿さと、1浦号仇出しノートの増大による駆動同
格、情号処理回J各上の困難さを招く。
一方、半導体鳩板内で光蹴5換する固本撮1象装置に9
いて垂直方向に並んだ感光部の画素列を水平方向に一画
素列毎交互!でずらして配置し九構造のものが提案され
ている(米国特許第4012587号)。かかる固体搬
像装置では洒号処理上において向上がみられろものの、
単板式では尤に対する無効領域が噌え、m4g号の庫内
となるため解1象度の同上(は囁めない。そ7)塙果、
2枚式、3枚式で空間的Vζ全碩域から#を報を得るよ
うK Lなければならず、コストの増大化や駆動回路、
オ号処理回路が複雑化する欠点がある。
本発明は上記光導、を模で尤′鑞変換する固体撮f象装
置の欠徹を解消rるためになされた本ので、従来と略同
様な製造技術でダイナミックVンジの劣化や信号読出し
レートの高速化による不都合さを招くことなく高Is像
度を達成した固体撮像装置を礎供しようとするものであ
る。
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。
本発明に係る固体撮儂装置は画素を規定する導体電極の
配列状態が異なる以外は前述した第1図と同構造をなす
、すなわち、第3図に示す如く読出し部よね出力された
信号電荷によって得られる再生画像の水平方向の画素列
に対応した方向(X方向)に連続した導体電極列100
A(100A1,10042゜100Aa 、 100
A4・・・)、 100B (l00B1.IQOB2
,100B3*100B4・パへを、′それ−とば交す
る垂直方向(・Y方向)において各導体電極の中心と一
致せしめ、同様に導体電極110人(110At 、1
10A2.11nA3,110A4.ll0As・・・
)、110 B (110BI、110B2,110B
3,110B4,110B5・・・)今、それと直交す
る垂直方向において各導体電極の中心と一致せしめ、こ
れら導体電極110A、ll0Bと前記導体電極100
人、100Bを垂直方向においてその中心をこの導体電
極の水平方向長さの略1/2ずらせる。なお、図中の3
a〜3d・・・は続出し部としての第2のn十型不純物
−,9a〜9p・・・はコンタクトホールであり、これ
らの配置状態は従来構造を示す第2図と同様ETなって
いる。このような構成によれば、導体電極100A、1
008.110人、110B・・・上の光導電膜11で
光電変換され、発生された信号電荷はコンタクトホール
9a〜9p・・・を介して図中の矢印で示されろごとく
続出し部である第2のn−171不純物噛’(a〜3d
・・・1C移動して読出される。
こうした水平方向(X方向)への秋出しにおいて導体電
極列1oo+、tooBで読出される画素の中心は他方
の導体電極列110.A、、ll0Bで続出される画素
の中心の中間・C立置することになるため、出力信号処
理に際し1走査線読出しごとに1画素読出し期間の前記
導体電極100A、100Bと導体電極110A、11
0Bの水平方向Iだおける空間的なずれに対応し九時1
団を遅らすか進めるかにより再生画像上の各画素信号と
本発明の固体撮壕装置における各画素との相対的な空間
的ずれを一致せしめる。
これてより、第2図に示す従来の導体電極列のものと比
べて水平方向の解像度を向上できる。即ち、;X2図に
示した従来の固体撮像′装置では水平方向の導体電極の
ピッチより細かいパターンを撮惨した場合、モアレとい
う偽1号が現われるが、本発明の場合水平方向において
第2図の導体電極ピッチに対して2倍の空間的なサンプ
リング点が存在するため前述の偽信号発生が大幅(軽減
される。
これにより画質の解偉度が向上される。
tた、−ヒポした本発明の固体撮像装置は画素を決定す
る導体電極のみの配置を変え、その他のコンタクトホー
ル、ゲート電極、基板の第1、第2のn+型不純物1等
配着状態は従来のものと全く変らな贋ため、製造上はほ
ぼ従来と変ることなく高解像度を達成できると共に、総
画素数も従来の装置と同じであることから続出しレート
も同様(なり、高速駆動、これに伴う信号処理上の困難
さが増大することもない。
第4図は本発明のその他の1実施例を説明するだめのも
のである。この実施例においても第3図と同様に、従来
第1.第2の継型不純物1、ゲート電極、導体電極及び
光導電l1l(共通部)を琳はセルとし、この単位セル
(画素)を規定する前記導体電極の配列が鴨なる以外は
前述し九第1図と同構造を示す。−tなりち、第4図に
示↑如く、読出し部よりIlj勾された4g号電荷(で
よって得られる再生m (’il!の垂直り向(Y方向
)に連続し、これと直交する水平方向(X方向)に警い
てその中心が一致した導体電極120 、’−(120
A−+ e 120A2−120人3゜120A4 、
 =・)と12014(120B+ 、120B2.1
20B3,120B4゜・・・)、 130’k(13
1)AI、13’すA−2、130AL3 * 13O
A4 、130As l・・)と13nt((130B
+、110Bz、110B3,13084,130B5
・・・)。
140A(140A4.140A−2,140A3,1
40A4.・・・)と140B(14Q+3. 、14
0821140B3 、140B4 ・)を配!ilぜ
しめ、例えばAフィールドで続出される画素の導体電極
1zox。
130〜.140Aの中心の位置を空間的にすらしめる
こと1でよって第3図と同様に水平方向の偽信−@発生
を大−に軽減させることがでへる。これにおいても、読
出し部(C−CDチャネル)としての第2の継型不純物
I43 a〜3 +i・・・、コンタクトホール131
〜1332・・・の位置は第2図と同様でちり、導体電
極1204 、1208 、13OA 、 13013
 、140 A、 140B上の光導−a膜で光電変換
され5発生されたイざ号電荷はコンタクトホール131
〜1332・・を介して図中の矢印で示されるごとく続
出し部である第2のN+型不純物−3a〜3d・・・に
移動し読出される。
次に本発明をカラー撮像に適用した実施例を第5図乃至
第6図を参照して説明する。
第5図に本発明のカラー撮像における一実施例を示す、
カラー撮像を行う場合は、第1図における透明電極12
上で、第3図の各セルの形状を決める導体電極100A
、1008.110人、110B、・・・上のそれぞれ
に任意の光を透過せしめる色フィルタを乗せる。第5図
に示すよう(導体電極の配置は第3図と同様で各導体電
極100−へ、100B、110人、11QB、・・・
上(透明フィルタwIA、〜■I B m ”2人、V
%r2B 、w3^。
W3 B t ”4 A * ”48 m・・・緑色(
q光と青色(ロ)光を透過せしめるシアン(Cy) フ
イνり(Jt^eCYI BeCY2AeCY2Bs・
・・、緑色(q光と赤色m元を透過せしめるイL口(Y
e) 74 ルタ”IAs”IB#Ye2BsY’3A
sYe3By ”’を形成する。ここでAフィールド目
のn番目の走f続出し列n^、同様にBフィールドのn
番目の走fd出し列11台からはW尤、Cy光を透過し
て形成された信号出力が交14 IC侍ら粍1.へ、B
フィールドの(n+1 ) ’ti目の走1ffi d
 +i L列(n + 1 ) h e (n + 1
 )BからはW、Ye元(桓よる信号出力が交互【得ら
れる。
第61司fa)〆/r、そのn番目短資続出し列の信号
出力波形を第6図1b)K (n+1 )番目ホ査続出
し列の信号出力波形を示す。ここで理解し易いようにW
yt、信号(叶(t(、+ B十G ) ′/lで5号
、cy党信号は(B+G)光信号、  Ye毘信号+d
(R+G)光信号で記述している。
これrり判るようにn列目信号では(B+G)光信号1
寸全セルより得られ、R信号が1つ訃きのセルより得ら
れる。同様に(n+1 )列目信号では(R+G)毘信
号布全セルより得られ、B信号が1つセきのセルより得
られる。ここでn、(n+1)列の(g号出力S口、S
n±1は次式で示される。
13日 8n4−+ = G+R+T +T Stn(wet 
+ T ) ・−・・−・=21ここでWCIはセルj
吉号読出し@波数の1/20角闇波数である。ここでこ
れら信号を角−波数wcを抑圧するローパスフィVりを
通過せしめることにより次式の信号Yn * Yn+1
が得られも。
Yn=G+B十旦 2           ・・ ・・13)Yn−+−
+ = o+ FL十旦 2         ・・・・・・ ・(4)又、’り
 p 12)式の信号を中心角周波数wc 、帯域幅w
c/2以下のバンドパスフィルタ及び検波回路を通すこ
とにより信号Cn 、Cn+lが得られる。
Cn =旦 2            ・・・・・・・・・・・(
5)CI’)+1=・匹 2           °−−+6)ここでCn 、
Cn−HをYn 、 Yn+1に加算することによって
輝度信号YA 、 Yn+tを得る。
Yn = G+ s+ R−−−−・川1−(7)YΔ
+I = G+a+8         ・・・・・・
・・・・・(8)以上の演算処理により解像度を決める
輝度償号Y古、YtH−xは全セルよシ得られ、n列目
と(n+1)列目の空、間約なセルは互に水平方向にお
いてずれているため第3図の場合と同様に1走査続出し
ごとに信号処理回路で第5図セル配置が忠実に再生1i
i 像上に表示されるように補正することにより解f象
度の良い再生儂を得ることができる。
なし、本発明は第1 ’dにしける透明電極12上に色
フィルタ嘆を設けて、該色フィルタ嘆を透過し九九によ
り前記光導を嘆11内に発生せしめだイg号4荷により
カラー再生ず象を得るト記第5層以外の檗板カーンー撮
像榛1dにも適用できることは言うまでもない。また、
かかる撮像に際しては単板式に限らず、2枚、3枚式の
カラー撮像【ついても同様に適用できる。2枚、3枚式
では各固体撮像装置を空間的にずらl〜て見かけ上、解
慣度を向上せしめろ空間絵素rらし法を用いると、更に
効果が大傘くなる。
ま九、丑記実寵例では導体電極を半導体基板に鑞気的に
接続する接合部をpn接合で1f戊したが、7=1ツト
キーパリアで構成してもよい、光導tKで光電変換され
′PC,信号電荷を読出す走査読出し部として、上記実
姑例ではインターライン転送方式CCDを用いたが、該
走査読出し部を、XYアドレス方式のNO3型、ライン
アドレス方式の呼び水転送形撮像素子(charge 
Prirning 1)evice; CPD )、抵
抗ゲート型撮像素子等で構成しても同様な高解度化を達
成できる。
以上詳述した如く、本発明によれば従来と略同様な製造
技術で夕°イナミックレンジの劣化や信号読出しレート
の高速化による不具合さを沼〈ことなく高解偉度化を達
成した固体撮像装置を礎哄することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光導電膜を用いた固体O&1象装置の要部断面
図、第2図は従来の固体撮像装置のセル構造を示す平面
図、第3図は本発明の一実施例を示す固体撮像装置のセ
ル構造の平面図、第4図は、本発明のその他の一実施例
を示す固体撮像装置のセル構造の平面図、第5図は1本
発明の固体撮像装置をカラー撮像に適用した例を説明す
る概略図、第6図(a) (b)はそれぞれ第5図に示
す固体撮像装置の出力信号波形図である0図において。 1・・・p型半導体基板% 21#22・・・第1のn
型不純物l−13s +32e3a〜3d +++ 第
2のn 型不純物噛(続出し部)、71 *72y73
・・・ゲート電極(転送電極)、91+92s 9a〜
9p * 131〜1332・・・コンタクトホール、
101.102.11)0へ〜100A4,100t3
+〜1oOB5,110A1〜110A4゜110B1
〜110t35.12OA+ 〜12OA4 、120
1うt−120B4.130At〜130人s、110
Br”130B5,140人1〜140A5,140B
1〜140Bs  ・・導体軍事、11・・光導1t@
、12・・・透明電極。 (7317)代理人 弁理士 則 近 憲 佑(ほか1
名) 第 1図 ′fJz ロ 63霞 第4図 第y図 第 6図 INCy   w   (。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板の工面に接合部を設けると共に、該接
    合部に一部が電気的に接続された導体電極上に入射光に
    より信号電荷を発生せしめる光電変換半導体重を設け、
    更に前記半導体基板の工面に前記元電変換半導体噛で発
    生した信号電荷を読み出す丸めの読み出し部を前記接合
    部と隣接して設けることによって一曝位セvt嘴成1/
     mカ1つ該単位セルを前記半導体基板上に二次元的に
    配11せしめ、前記読み出し部より出力された信号1荷
    によってた4暎位セルを、それと直行する永平方1句に
    おいて巣位セルの中心が同一の一方の2単位セルの中心
    を前配水平方向において巣位セルの中・0カニ1司−〇
    他方の2単位セルの中心に対してずらして配電?しめる
    °ことを特徴とする固1本撮(襖装電。
JP56153563A 1981-05-25 1981-09-30 固体撮像装置 Granted JPS5856580A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56153563A JPS5856580A (ja) 1981-09-30 1981-09-30 固体撮像装置
DE8282104525T DE3280262D1 (de) 1981-05-25 1982-05-24 Festkoerper-bildsensor.
EP82104525A EP0066767B1 (en) 1981-05-25 1982-05-24 Solid state image sensor
US06/706,254 US4543489A (en) 1981-05-25 1985-02-28 Solid state image sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56153563A JPS5856580A (ja) 1981-09-30 1981-09-30 固体撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5856580A true JPS5856580A (ja) 1983-04-04
JPH0311152B2 JPH0311152B2 (ja) 1991-02-15

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ID=15565226

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JP56153563A Granted JPS5856580A (ja) 1981-05-25 1981-09-30 固体撮像装置

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JP (1) JPS5856580A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007059465A (ja) * 2005-08-22 2007-03-08 Fujifilm Corp 光電変換素子及び撮像素子

Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5187913A (ja) * 1975-01-30 1976-07-31 Sony Corp
JPS5619276A (en) * 1979-07-20 1981-02-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Solid state image pickup device

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Publication number Publication date
JPH0311152B2 (ja) 1991-02-15

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