JPS5852543Y2 - 接触不良検出装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は被検出回路に接続する機械接点の接触不良を被
検出回路に影響を与えることなく検出する接触不良検出
装置に関する。

一般に試験・調整台・トランスジューサ等からケーブル
を介して電気信号を得、計測を行なう場合、検出ピン、
−コネクタ等の機械接点を通じて信号を伝送するように
している。

したがって上記機械接点に接触不良を生じると試験、調
整等の作業は無意味になり、たとえデータを得られたと
しても信頼性に疑問を生じることになる○このために従
来、たとえば第１図に示すような接触不良検出装置を用
いて接触不良を検出することが行なわれている。

すなわち電源Ｅ に内部抵抗Ｒｇを直列に接続したもの
と見なすことができる被検出回路に対して、検出ピン、
コネクタ等の機械接触部Ｍｃ ２Ｍｃを介して計測器Ｍ
８を接続して所望の計測を行なう。

なお図中ｒａ、ｒｂは機械触部Ｍｃ２Ｍｃにおける接触
抵抗、Ｒｉｎ は計測器Ｍ の入力抵抗で被検出回路
の内部抵抗Ｒｇに対して計測器Ｍ８の入力抵抗Ｒｉｎは
Ｒｇ ＜ ＜ Ｒ１ｎとなるようにしている。

そして上記計測器Ｍ８に並列に電流源または電圧源に高
抵抗を直列に介挿した電源Ｅｄを接続し、この電源Ｅｄ
の端子間のレベルをレベル検出器Ｌｄによって測定し、
機械接触部Ｍｃの接触不良を検出するようにしている。

すなわち機械接触部Ｍ。

に接触不良を生じると、接触抵抗ｒａ、ｒｂが増加し、
この抵抗値の増加分と流れる電流の積だけレベル検出器
Ｌｄの検出電圧は高くなる。

したがってこの検出出力によって、たとえば警報を行な
うことにより接触不良を検出し、かつ警告を発すること
ができる０しかしながらこのような七のでは、電源Ｅｄ
から被検出回路側へ電流Ｉが流れるのでその内部抵抗Ｒ
ｇの大きい場合は、計測器Ｍ、の入力にオフセット誤差
を生じる。

このために計測器Ｍ８で計測中は接触不良の検出は不可
能なために計測作業の前後で接触不良が生じていないこ
とを確認するに過ぎない。

またこのようなものでは、電源Ｅｄのコンプライアンス
電圧は被検出回路側の電源Ｅ８の電圧よりも高い電圧を
必要とする問題がある。

本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので計測器から
見た被測定回路のインピーダンスの変化を検出すること
によって、機械接触部における接触不良を確実に検出す
ることができ、しかも被測定信号に影響しない接触不良
検出装置を提供することを目的とするものである。

本考案の一実施例を第２図に示す回路図を参照して詳細
に説明する。

図中１、は図示しない被検出回路に接続する機械接触部
からなる検出入力、２は検出人力１と高入力インピーダ
ンスの直流増幅器３の反転入力との間に介挿したコンデ
ンサである。

そして４，５は直流増幅器３の出力と非反転入力および
反転入力との間に介挿した帰還抵抗、６は上記非反転入
力と基準電位との間に介挿した入力抵抗である○そして
直流増幅器３の出力を結合コンデンサ７を介してトラン
ジスタ８のペースへ与える。

なお９はバイアス抵抗、１０は負荷抵抗である。

そしてこのトランジスタ８のスイッチング出力を直流増
幅器１１の反転入力へ与える。

この直流増幅器１１は非反転入力と出力との間に帰還抵
抗１２を介挿し、またこの非反転入力を入力抵抗１３を
介して基準電位に接続し、さらに反転入力に充電コンデ
ンサ１４を設けている。

そして上記直流増幅器１１の出力を出力抵抗１５を介し
てコンデンサ１６．抵抗１７からなる平滑回路で平滑し
て直流分を得るようにしている。

なお１８、は直流分を出力する検出出力である。

このような構成であれば検出人力１を第１図に示すよう
に計測器の入力に並列に接続し図示しない被検出回路の
被測定信号源から適宜な機械接点を通じて信号を得、計
測を行なうことができる。

一方直流増幅器３は検出入力に介挿されるインピーダン
スに応じた周期で発振する。

すなわち、直流増幅器３の出力が正の状態で飽和してい
るとすると、この出力から帰還抵抗４を介して入力コン
デンサ２および図示破線で示す入力浮遊容量１９に充電
が行なわれる。

そして直流増幅器３０反転入力（図示ａ）の電位が上昇
しスレッシホールド電圧に達する。

ここでスレッシホールド電圧■。は次の式で与えられる
。

ただしＲ１は入力抵抗６の抵抗値、Ｒ２は帰還抵抗４の
抵抗値、そして上記反転入力の電圧がスレッシホールド
電圧■８に達すると出力は負に反転し、コンデンサ２，
１９０電荷は放電され入力（第２図図示ａ）の電圧は負
に向って下降する。

そしてこの電圧が負側のスレッシホールド電圧以下に下
降すると上記コンデンサ２，１９を再び充電し、これを
繰り返すことによって発振を継続する。

すなわち直流増幅器３は反転入力に介挿されるコンデン
サ２，１９の静電容量と検出入力１間に介挿されるイン
ピーダンスの値に応じた周期で、たとえば３００μＳｅ
ｅ の周期で発振する。

そして上記直流増幅器３の出力（第２図図示ｂ）には第
３図すに示すように正側飽和出力電圧と負側飽和出力電
圧とを振幅とする矩形波が得られる。

そしてこの矩形波はトランジスタ８のベースに与えられ
このトランジスタ８をスイッチングさせる。

したがってこのトランジスタ８のオフ時、充電コンデン
サ１４は抵抗１０を介して与えられる電圧子Ｅによって
充電され、また上記トランジスタ８０オン時、充電電荷
を放電させる。

このために直流増幅器１１０反転入力端子（第２図図示
Ｃ）には第３図Ｃに示すようなのこぎり波が得られる。

そしてこののこぎり波は直流増幅器１１の反転入力に与
えられる。

この直流増幅器１１は非反転入力と出力との間に帰還抵
抗１２を介挿し、この非反転入力に抵抗１３を設けて直
流増幅器を形成しているので入力信号と出力信号との間
にヒステリシス特性を呈し、入力信号の周波数が所定周
波数を越える場合は出力（第２図図示ｄ）のレベルは第
３図ｄに示すように一定の直流レベルを維持する周波数
弁別回路として動作する。

そしてこの直流信号は抵抗１５，１７、コンデンサ１６
からなる平滑回路を介して検出出力１８から出力される
。

一方、被検出回路に接続した機械接点に接触不良を生じ
ると、検出人力１のインピーダンスが大きくなり、それ
によって直流増幅器３の発振周期は長くなる。

なお第４図ａ、ｂは第２図図示ａ点およびｂ点の波形を
示すものである。

そして、この発振出力でスイッチングされるトランジス
タ８の出力（第２図図示ｂ）は第４図Ｃに示すように充
電開始後、一定時間を経過すると飽和したのこぎり波と
なり、第３図に示す波形図に比して周期も長く、たとえ
ば８００μｓｅｃ の周期となる。

したがって直流増幅器１１の出力（第２図図示ｄ）は第
４図ｄに示す矩形波となりこの平滑出力（第２図図示ｅ
）は一定の直流レベルとなり、電源子Ｅ 、−Ｅの電圧
を適宜に調整することにより、第４図ｅに示すようにＯ
Ｖの直流となる。

しかして、検出入力１間のインピーダンスに応じて直流
増幅器３における発振周波数が変化し、この変化を検出
することによって、被検出回路に対する機械接点の接触
不良を確実に検出することができる。

なお直流増幅器３の発振出力の被検出回路側への影響は
、コンデンサ２および帰還抵抗５の値に影響される。

たとえば上記発振出力±３■、コンデンサ２の値が２０
００ＰＦ、帰還抵抗５の値が１００ＭΩで被検出回路側
の内部抵抗１０にΩの場合、被検出回路側へ流れる発振
出力は３０ ｍＡであり極めて微小である。

したがって被検出回路および計測器に対する影響は極め
て少なく、かつコンデンサ２によって直流的に絶縁して
いるので計測中も機械接点の接触不良を監視することが
できる。

以上詳述したように本考案は、被検出回路を計測器に接
続する機械接点を検出入力を接続し、この検出入力に接
続される機械接点のインピーダンスに応じた周波数で発
振する発振回路の出力を周波数弁別回路で弁別して上記
機械接点の接触不良を検出するようにしたものである。

したがって被検出回路および計測器に影響することなく
機械接点の接触不良を確実に検出することができる接触
不良検出装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来例を示す図、第２図は本考案の一実施例を
示す回路図、第３図、第４図は上記実施例の動作を説明
する波形図である。 １・・・・・・検出入力、３，１１・・・・・・直流増
幅器、８・・・・・・トランジスタ、１８・・・・・・
検出出力。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 被検出回路に機械接点を介して計測器を接続して計測を
   行なうものにおいて、上記機械接点に接続する検出入力
   と、この検出入力に接続される機械接点の電気的なイン
   ピーダンスに応じた周波数で発振する発振回路と、この
   発振回路の発振周波数を弁別して上記機械接点の接触不
   良を検出する周波数弁別回路とを具備する接触不良検出
   装置。