JPS58501887A - ディジタルデータレコード材料 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ディジタルデータストレージのための記録保管記録媒体の準備 した特許　との　戸開 この特許出願は、我々の共通に譲渡され同時に出願された同時係属中のアメリカ 特許出願、連続番号第３１９，４６３号、第３１９．４６４号、第３１９．４６ ５号、第３１９．４６６号および第３１９，４０６号に関連した事項を含む。

この発明は、新規な高密度の記録保管（ａｒｃｈｉｖａｌ　）情報ストレージ媒 体に関し、かつより特定的には、低出力のレーザ手段で記録するようにされたそ のような媒体に関する。

１１．１１ ディジタルデータの光学的ストレージは、比較的粗しい技術であり、特定の関連 した（ＯＤＤ、「光学的ディジタルデータＪ）！ｆｉ体、たとえばＯＤＤディス クを用いる光学的技術を用いたディジタル情報の記憶および検索と関連する。そ のようなデータは、従来、アナログによって、今日高速ディジタルコンピュータ とともに普通に用いられるテープやディスクのような磁気媒体の上に記録される 。

この開示は、アナログ光学的媒体と、関連した読出／書込技術およびその装置と に関し、それらは、上述した放射エネルギの集束されたビーム、特に低出力のレ ーザ装置を用いて、そのディジタル情報を記録および読出すようにされる。

特５昭５Ｆｌ　３ａＬＢＢ７（３） 当業者が周知のように、このようなシステムを設計しかつ動作させる際の成功は 、ストレージ媒体と非常に関係する。当業者は、満足できるＯＤＤテイスタ媒体 、特に現在利用可能でかつ最も実用的な低出力レーザに適応したものをどのよう に開発するかというのを長い間思案してきた。

この発明は、この目的のための実用的なＯＤＤディスクを教示し、かなり長い安 定した記録保管寿命（たとえば、１０年以上のオーダ）でかつ今日の高速コンピ ュータシステムにおける記録ストレージのために用いられるのに適合したものを 教示する。

一−レーザ記録媒体のＩＩＩ論： このようなＯＤＤ媒体の必要条件は、厳しい、たとえば満足できる読出／書込速 度で高いビット密度とコストに対して効果的な情報ストレージとを含み、特に低 出力のレーザを用いる。（当業者は、そのようなレーザの天理の簡単さおよび力 を認識しており、つまり読出／書込動作のためレーザ光を変調しかつ偏向するだ けでよいということを認識している）。関連した出願くたとえば、ビデオディス クレコーディングンにおいて、当業者は、レーザを用いており、かつ成る局面で は、１゛情報」として金属膜を用いた媒体を提案してきており、この層は、「ビ ット」としてその層に「空所」　（ビット、穴、バブル等、または他の変形）を 形成するのに充分な書込レーザビームによって、（たとえば、熱を与えられて） 柔かくされ、溶かされまたは気化される。このような膜は、回転しているディス クの表面にコーティングされてもよい。

多くの当業者は、このようなレーザレコーディングが、上述したＯＤＤ媒体のＪ ：うな多種なコンピュータ記録に対して有用であると感じていた。彼等は、実用 的なシステムが、低出力のレーザ書込に応答する媒体に用意されており、かつこ れは順次、現在の実用的な低出力レベルで溶がされ（または気化される等）るこ とが可能なそのような情報層（材料）を見出すかどうかにかかっていると予言し ていた。

これはまた、関連したシステムの放射効率にも依存し、かつその層を囲む熱的な 状態にも依存する（たとえば、他の場所で述べるＢａｒｔｏｌｉｎｉの記事を参 照）。

このように、高い熱効率（記録位置に発生した熱のどのくらい多くが、「ビット 」の形状を与えるように充分集中したままであるかという程度）を示すそのよう なレーザ記録材料を捜してきており、かつ低い溶融温度および低い熱拡散性を有 する記録材料（テルル、鉛、そう鉛およびインジウムなどがその例である）を長 くかかって探しあてた。

そして、当業者は、（たとえば、レーザの動作寿命を長くしかつそのコストとサ イズを最小化するために）そのような記録のため低出力のレーザを好んで用いる ので、そのような情報アブソーバ（ａｂｓｏｒｂｅｒ　）膜として選択された材 料は、「著しく低い」溶融温度（「十分に高い感度」）を有し、そのため所望な 「空所」が、最小のレーザ出力で形成され１５２ろのがより望ましいようである 。

−−−Ｔｅアブソーバ膜： 今、当炎者は、いくつかの理由のため、このまたは関連したレーザレコーディン グのためテルル（，７ｅ　）アブンーバ膜ヲー用いることを考えてきた。テルル は、非常に低い溶融１８度（約４５０℃）を有し、熱を伝えに＜＜、かつ良好な 感度とＳ７・′Ｎ比を与えることができ、さらにそれは、薄い模として形成する のが比較的容易である。そう鉛は、またこのような理由のために普通に提案され る。そして、関連し７た合金〈たとえば、Ｔｅ　−Ｇｅ　、Ｔｅ　−Ａｓ−８ｅ およびｓ＋−ｓＯ＞は、興味あるものとして提案されてきた。

テルルは、たとえばアルミニウムと比較した場合には低い書込／しきい値（エネ ルギ）を有し、それとともに、非常に低い熱拡散性を有する、たとえば、３ａｌ ｌ他へのし。

Ｓ、４，２２２，０７１を参照、また○ｐＮｃａｌ　Ｊ　ｎｒｏｒｍａｔｔｏｎ 　３　ｔＯｒａｇｃの１９７９年の５ＰＩＥ　Ｖｏ！、１７７の５６頁以下のＺ 　ｅｃｈによる「Ｒｅｖｉｅｖ　ｏｆ　Ｑ　ｐｔｉｃａｉ　３　ｔ。

ｒａｇｅ　！ｖｉｅ（１１，ｔＪを参照、がッ「Ｑ　ｐｉｉｃａｌ　Ｓ　ｔｔ） ｒａｇｅＭ　ｅｒｅｒｉａｌｓ　ａｎｄ　Ｍｅｊｈｏｄ３Ｊの１９７７年の５Ｐ ＩＥ　Ｖｏｌ。

１２３の２「ｑ下のＢａｒＬｉｌｉｎｉによる７　０　ｐｔｉｃａｌ　Ｒｅｃｏ ｒｄｉｎｇ　Ｍ　ｅｄｉａ　Ｒｅｖｉｑｗ　ｊをＩＩ。

たとえば、この巳ａ″ｔｏｌｉｎ＋の記事は、屈折率の変化を意味道る光化学的 な変化をするものとして知らゎている有殿化合物である「フォトポリマ」を含む １０個の伯の光学的レコーディング手段とともに、このようなアブソーバ膜く「 アブレイティブ（ａｂｌａＨｖｅ）　１ｌｌｌ！Ｊ　）を議論している。

２ρａｈの記事は、レーザ書込が、吸収層に１穴」を形成するように構成されか つ用いられるアブソーバ膜を議論しており、情報は、（３ｅｌ＋の特許と同様に ）反射率の差によって検出される。

このような公知の「変形によるレコーディング」に対しては、高い強度の放射ビ ーム（レーザの「書込ビーム」）により与えられる熱エネルギは、「書込位置」 が、少なくともそのビームの横端面の部分において柔かくなり溶融しまたは除去 されるというもののようである。表面張力が、そのとき、［横方向のキヤごチー ジョン」を生じ（上述したＺ　ｅｃｈによる記事を参照）、順次、通常わずかに 楕円形の「ビット」または穴を形成する。（１９７７年８月のＳＰ　Ｉ　Ｅ　Ｐ 　ｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓの１７頁ないし３１頁のＣｏｃｈｒａｎおよびＦ　ｅｒ ｒｉｅｒによる［ｊｙｌｅｌｔｉｎｇ　ｌ−１ｏｌｅｓ　ｉｎ　Ｍｅｔａｌ　Ｆ 　１１ｍ５　ｆｏｒ　Ｒｅａｌ　−Ｔｉｍｅ　、　＠　ｉｇｈ　［）ｅｎｓｉｔ ｙ　［）ａｔａ　３ｔｏｒａｇｅＪを参照）。

一一アブソーバ！ｌ： １つの特徴として、関連した種類のレーザレコーディングが、「アブソーバ」の ような溶融温度のがなり下の温度でなされ得るということを発見した。そして、 その結果として、私達は金のような比較的高い溶融温度と良好な伝導性−一その 特性は従来この目的のためには当業者によって避けられてきた−−−を有する材 靭が、非常に良好なアブソーバ膜を与えることができ、それは、テルルの、よう ｔ「従来好まれてきた】アブソーバにそのＩｑにおいて［！Ｔ　ｋ　”ｊるもの で市る。

もちろん、大人かは、チタンおよび台〈プラヂ：：−１にジウム、ニッケル、ク ロム、マンガニ・オよびパラジウム／−ζどもマタ同様、１＝トエＩｄ、Ｂｅ１ ｌ　へのｌｉ、３．ｌ、２Ｂ５゜０５６を参Ｆり）のような「高いご「、シし材 郭ノ・０、そσ・ような「変形２アブソ一バ層に適している力もしれないど漠然 と推測してぎた。しかしながら、そのような推測（Ｊｌ「感度」の実用上の間［ や、どのようにより低い出方のレーザが上述したようにそこへ記憶されるである うがということには注意が払われなかった。また、イれらは、直（・伝導率（熱 が容易にレコーディング位置から他へ伝導すると、熱が浪費され、さらには感度 を低下させることとなる一一金のような金属は高い伝導率を有しており、それに 対しＴｉおよびＴｅはそうではないことに注目）の関連した問題を無袂してきた 。

より注意深いｒ泉者は、そのような「高い溶融温度Ｊの金属は、アブソーバにな り得るものとしては全く見込みがないことを認識していた（たとえば、上述した Ｕ、Ｓ、４゜２２２．０７１に示されているように、Ｔｅの「低い溶融温度」お よび低い伝導率が、より優れた感度を与えかつ低出力のレーザで記録することが 可能であるとして本心から述べている。このように、「逆のもの」である、すな わち良好な熱伝導体でありかつ高い溶融温度を有するＡＵのような金属は、理論 的には、最も悪い「７プソーバ」である筈である。）ユしかし、この発明は、金 のようなそのような金属が、用いられることができ、かつ公知のアブソーバより も優れている、たとえばＴｅにほぼ等しい感度を有しかつ非常に擾れた記録保管 寿命を有するということを教示する。

この発明は、さらに、このようなアブソーバ膜は、−一産業界にお（゛て知られ ていることとは反対に一一明らかに、レコーディングの過程において穴を形成す る必要はなくまたは他の方法で変形される必要もない。

−〜長くなった記録保管寿命： 光学的データストレージ技術の主な利点は、たとえば、磁気テープの１００倍の オーダで、それがストレージ能力を増加させるということである。ここで思案さ れた光学的データディスクは、１０年ないし１５年またはそれ以上のオーダの長 くなった記録保管寿命の量情報が永久的にそこへ記憶されている「消去不可能」 であるとして仮定する。

当業者はそのようにすることをジ、ミ常に望んでいるであろうが、このような長 くなった寿命は、産業界において未だ到達されていない目標である。この発明は 、この記録保管寿命を示す媒体を与え、それは、光学的大言ｌ記＠およびその種 の応用例に特に適用する。

対照的に、そう鉛およびテルルのような普通に提案されるアブソーバ金属は、典 型的なユーザの環境では徐々に酸化しかつそうでなくても非常に容易に劣化する うのとして知られてあり、したがって、このような記録保管記録の候補者として は相応しくない（たとえば、１９８１年の、Ａ、ｓｈ他による上述した記事や、 Ｚ　ｅｃｈの記事や、また以下に示す例■を参照）。当業者は、一般に、テルル は、特に記録保管の安定性が乏しい、すなわち、その読出が、時間とともに早く 劣化するということを知っている。この劣化は、高い湿度の環境では加速される ことになり、かつ全体の光の伝送における早い増加によって典型的に特徴付けら れ、それは、その金属膜における「欠陥場所」において始よるような選択された ビット位置へのひどい攻撃によるのと同様に、その金属の一般的な酸化によって も生ずるであろうと思われるそして、そう鉛も同様である。

この記録保管の特徴は、この発明によって与えられ、この発明は、非常に記録保 管性に優れかつコンピュータ情報ストレージ媒体として、特に（表１におけるン コンピュータのためのそのような光学的データディスクレコードとして長く使用 する間安定である。

このように、新規な応用例の特徴として、私達は、所望の記録保管寿命を示す、 すなわち意図した使用の間駁化やそのような環境による劣化に対して非常に強い 、レコードのためにそのような材料を使用することを考えている。このように、 記録された情報の「損失」は、良い（ス［−レージ）ｋ命の間でも生じることは なく１、すなわち反射率は、「読取る」のに十分安定したままである。長い記録 保管寿命を与λ、ることができる実用的なストレージ媒体またはその間遠したシ ステムは、未だ実現しておらず、特に、高い感度が要求される場合（たとえば、 Ｔｅの感度またはそれ以上のものが要求される場合）にはそうである。この発明 は、この後、ちょうどこのステップを教示する。

ここに教示された新規な記録媒体は、上述の基準を満たでと推測され、かつそれ が可能な場合には、以下の表■に与えられる「目標性能Ｗｉ　＊−１のうちの１ つ以上を満たすものとしても一般に推測される。（１９８０年の５ＰＩＥのＶｏ ｌ、２２２のＡｓｈおよび△１ｌｅｎによるｒ　Ｏｐｔｌｃａｌ　Ｐ　ｒ。

ｐｅｒｔｌｅｓ　ｏｆ　Ｔｅ１ｌｕｒｉｕＩ！Ｆｉ１ｍｓ　［Ｊｓｅｄ　ｆＯｒ 　［）ａｔａ　ＲｅｃＯ「イＪｉｎｇＪ　） 表Ｉ（目僚媒体基準） 「高１感度ニ ーー高感度は、派出力レーザ手段で記録することを可能にする。「感度」は、ビ ット情報（穴、または個の空所もしくは媒体におけるそのような変化から生ずる ようなスポットの反射力における変化、それは、意図したレコーディング速度で 十分な読出を与え７＞）に必要な１小のレーザ出力として理解されこの発明では 、典型的には、約４０ないし６０ｎ。

ｓｅｃの間５ないし１５ｍ　Ｗのレーザ出力のオーダで「書込み」得る。

高感度は、〈たとえば、再生か繰返されても）読出によって低下することはない 。

１−Ａ、高いＳ／Ｎ：（充分な読出） 約３０ないし４０ｄＢまたはそれ以上のオーダの〈十分な読出のための）信号対 雑音比。

２、　「記＠保管安定性Ｊ　：　（１０年以上の１９命）：少なくとも１０ない し１５年の間はとんど読出を落とすことなく、「通常のコンピュータ環境で」用 いられまたは記憶され得る。

３、　「コンピュータ記録」： 今日の高速ディジタルコンピュータで、（たとえば、約１０６ビツト７ｃｍ２ま たはそれよりも良いビット密度のような）今日の磁気ディスク記憶装置と少なく とも同じ能力を有するようなコンピュータで動作可能である能力を仮定する。

４、　「形成−可能」−一適当な膜が、「商業規模」で形成されることができ、 かつ繰返し可能な制御された特性を与える。

５、オーバコート−可能性：〈たとえば、数ミルの厚さまでの）アブンーバ膜は 、機械的に保護されるようにコーティングされることがでさ、かつ上述した特徴 をｊｄうにとなく、ｌ：と＾はなＡ３−＋−力ｊよ読出？与えで、「表面の異物 」を焦点から外す（ブフォーカス）（好ましくは、フイーバコーｌ−は、また、 ７グソーバｌ！美からの熱Ｊ３よび異吻−ガスを遮ることろできる）Ｃ し、た１、びりで、ここでの目的は、上述の３５よびて〜の他の関連した特徴な らびに利；）２悔えることである。より特定的な目的は、このようなアブソーバ （情報）ｌｊとして金をそのように・：文示することであう、その１０の目的は 、艮くなっ、セ記禄ヌ管寿命ど開議に、（氏出力レーザーこさえも良好な感１宣 を示すそのｊ；う・よ喚を宍示することでめるっ二のさらに他の目的は、１田： Ｈｌ；二お（する「ビット」またはそのよう１３空所を晃生することが朗らかに 必要ではなくしＬ−ディングに適したぞ・Ｄようなレコードの情報を教示するこ とである。、世の１逼した目的は、情報層を溶融しまたは有息気に柔かくする２ ・要はなくそのようにすることであり、すなりち、溶′ＪＡ’；４度のかなり下 にその層を保ち、「変化した反射率」のビット（「１似の穴」）３生ずる。

図面の１ｒｔ１な説男 この発明のこれらの目的およ′、ｊその池の目的と特；：ｉは。

この発明の好ましい実施例の以下の詳！ｌな説明と参照ｌノこよりよ＜７１！解 できうように、当業者には明らかであり、二九らの好ましい実施例、ｊ、ｊ　、 　ｌｉＨ寸の図面とどらに４突どれ、その図面では、司１の＄窯番号は５、同様 のニレメン１−を示す。

第１図は、先行技術の記録（某体の理想的な都２けの断面図３与える。

第２図は、この発明の原理に従った尚１父・２紙す粗；Ｍな好ましい記録力巣体 の実施例の同様の図を与える。

第４図（コ【、好ましいディスイアし〕−ド冥施例の同様の図である。

第３因は、アブソーバの反射率と全体の田辺との図表であり、かつ第５図ないし 第７図は、好ましい応用（′・］に８５けるレコード実施例を戦略的に示す。

発明の詳細な説明 「Ｔｅ例ｊ：テルル７ブソーバ；（先行技術）：第１図は、光学的記録媒体１の 概念化した断面図の概略的な図であり、それは、一般に、テルルに関した文献に おいて現在教示されているものの線に沿っている（たとえば、Ａｓｈの記８を参 照）。媒体１は、支持物２を（賛え、その上には、１非反躬性の」サブメ１−レ ートＡＲが設けられ、かつそのＡＲ上には、情報ｆＦｉ（ｒアブソーバ」）５が 設けられている。

好ましくは、サブスト１．・−トＡＲは、「反射体」す３を備え、イの上には、 透過性の［スペーサＪＮ４か位置する。

層３および４は、そねぞね、意図した読出、２′鱈込波長において本来は反射的 −透過的で＾ることを￥ｊＰｊｌと（〕てｂよい。

層ｖ　、　４　、５１１’ｌ：、産漠界に４３いて知られているようなＦｉ’Ｊ 硯スペクトルのほとんどについ−Ｃ多層の低反射のく非反射）設計を与するもの としてｊ」解されるでのろう（Δ６ｈの記事を参照）。

支持１２は、〕ンビュータアｒスク、ニライブに対するディジタル磁気１ノコ− ディングに２５いて現在用いられ−Ｃいる形式の研磨されたアルミニワムｆイス クであ、ｂのが好ましく、そ（ｔには、反射ｉ１３の形成のために十分渭かで必 りかつ平坦な表面にされるサヒング（ｓｕｌｉｎｐ　）層２−８がコーティング され８．上述したエネルギおよび波長カーら・よる楡射（レーザ〉ビームが、１ ＝とえば想象線で示される場所「ｖ」において、［１：Δこが生じるＡに１５の 上に「穴シ、文たはそのようなｒ変形」を形成するために、レーザ源りから媒体 １に与えられるものとして理解されてもよい。

第１図の先行技術のレコー１：１は、ＪＦｔ−Ｆ’の例におけるこの発明の実ｂ １例【対しで、比較ｄ３よび区別の手！″ｉをこりえるために採用されかつ原理 的“、こ述べられていると理解できよう。そ（〕て、池のように旧宅されている という、ことを１′余いでは、すべての材餌、方法および装置は、この良好な実 施に従って周知の手段により実現できることが理解されるであろう。

ここで、金属性の記録ＩＡ５は、「透明なｊ透９性のスペーサ４の上に形成され るものとして理解され、それらの厚さは、公知の低反射、１３ｕ造（たどえは、 ３ａ＋・ｔｏｉｌｎｉの記事においては、λ−４６６ｎｍで記録する場合に、８ ０ｎｍｓｉＯ２のスペーサの上に５ｎｍＴｉが設けられて３％の反射率よりも小 さい構造）を与えるように選択される。そのとき、各１ビツト」　（ごット）が 記録される場合には、高コントラストのリード−バックのための「ビット」を与 えるようにこの「非反射性」のバックグラウンドが分裂されるであろう。ここで 、レコーディング波長が変わる場合には、スペーサの厚さは、同様の結果をもた らすように容易に変えられる。

当業者は、成る場合には、その反射袋が（たとえば、「誘電性のミラー」のため に）除去されてもよく、かつそのスペーサ４は、他の材料／構造（たとえば、も つと熱的に絶縁性であるような材料からなるいくつかの１１）であってもよい。

このように、ここでコーティングするパラメータは、書込ビームがこのアブソー バ層の上に集光した場合に、意図したレコーディング周波数で、そのようにコー ティングされたディスクに対して［非反射性のｊ状態を好ましく与えるように選 択されるものとして理解されるであろう。（Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｑｕａｎｔ ｕｍ　Ｅ　１ｅｃｔｒｏｎｉｃｓの１９７８年７月、Ｎｏ、７．Ｖｏｌ、ＱＥ１ ４のＢｅ１ｌおよび３　ｐｏｎｇによる「Ａｎｔｉ　−Ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ　 ５ｔｒｕｃｔｕｒｅｓ　ｆｏｒ　Ｑｐｔｉｃａｌ　ＲｅｃｏｒｄｉｎｇＪを参照 、および一般的な先行技術に関しては、１９７８年の８月のＢａｒｔＱｌ　ｔｎ ｉ他によるＩ　Ｅ　Ｅ　Ｅ　Ｓ　ｐｅｃｔｒｕ＋＋＋の２０頁の「Ｏｐｔｉｃａ ｌ　Ｄ　ｉｓｋ　Ｓ　ｙｓｔｅｍｓ　Ｅ　ＩＩｌｅｒｇｅｄＪおよびＳ　Ｐ　Ｉ 　Ｅ　Ｐ　ｒｕｃｅｅ＋ｊｉｒ＋ｇａ（Ｊ）　ｉ　９　ｔ−１年ＶＯ１，’１２ ３の３ａｒｊＱｌｉｎｉによるｌ−Ｏｐｃｉｃａｌ　ＲｅｃＯｒｄｉｌｌｇ　Ｍ 　ｅｄｉａ　Ｆ＼ｔ３ＶｉｄＷ　ｊ（ＩＱ　ｐｔｉｃａｉ　Ｓ　ｔｏｒａｇ８〜 ″Ｉａｔｅｒｉｄｌｓ　ａｎｄ　ＭｅｔｌＴｏｄＳｊ　。

２頁））、。

好ましくは、層５の反射率か、「効果的な○コまたは別に予の定められた最小反 ＩＪｉ蟲し△ニルに逢りるまで形成ｈ１（）なわれる。当系者が知るように、こ れ（よ、経験的に行なわれ、また層５か形成されるとさ・に−とのノフソーバ腹 の反射率を連続的にモニタｙることによつ”−（ｌ　ｅｃｌｌにより上述した記 事に述べられた形成技術を参照）行なわ４Ｌる。

このように、１Ｃ支持拐２の上にアルミニウムからなる不透明なＷｉＩ３が真空 めつぎされでもＪ、い（つべでの冗享的な特性は、ｌ＋　Ｃｏｏ−９０００△° の意図すれたＲ　／’　Ｖｖのレーザスペクトルに関してとられ１いる）。それ から、５ｉ０２＜または同様の「透明な」誘電体）の急４ｒＪ・、規定された深 さに層５の上に真空めっきされ、この深さはλｏ１すなわち動作波長に関連りる くここで、それは、石ましくはｉ　／’　４　／ｌａまたは３／′４λ０のいず れかよりもわずかに小さい〉。層４には、アブソーバｇ５か、本来の最小の（Ｏ に近い）反射串査笠しる厚さに真空めつきどれるく以下を参照）。

記録置体１の反射率は、菖込し−サＬからのＭ躬ビームによって各ピント位ｍｒ ｖＪで象形され、そのため、過当な手段で検出すれは、その「変形しｉこ＠戚ｊ Ｖ＜’ｉ’なＶろ、１ビツト」）は、産業界において公知のように、そのまわり の低反射率の「変形してない」領域から、比較的「高い反射率のスポット」であ るとして区別され得るということが理解できよう。

たとえば、３ｅｌｌへのＵ、Ｓ、４，２８５，０５６は、情報がアブソーバスペ ーサＷＩおよび透過性スペーサ層の両方における開口部として記録され、その開 口部および露出されていない介在領域の長さが、周波数情報を伝達するように特 定の情報トランクに沿って変化されるというような同様の媒体を述べている。こ の特許はまた、標準的な蒸着または電子ビーム蒸着技術を用いて形成されるべき 色々な材料（たとえば、チタン、ロジウム、プラチナ、金、ニッケル、クロム、 マンガンおよびパラジウムなどからの材料）も述べている。

しかしながら、３ｅｌｌは、彼のスペーサ層が書込ビームによって加熱され、そ れ自身が除去される（すなわち、そうでなくてもそれ自身の中に空所を形成する ）か、または他には分解されもしくは昇華されかつそれから（たとえば、金から なる〉超越＠　（ｓｕｐｅｒ　−１ａｙｅｒ　）の下で「泡」を生ずるのに十分 にガス放出されるかして、しかもこの場合には、本質的に、同様のスペーサ層に よってエネルギが吸収されるべきではないということを必要とするということに おいて、意図したものから逸れている。

−−アブソーバ１１５の準備；（第１図）：アブソーバ′７！Ｉ５は、比較的ジ いテルルの層を備え、その層は、（比較的平坦な−−、、’　１　／　２０λ− 一記録表面の上の）スペーサ層４の上に、好ましくはこのｒ’３１！！コーティ ング」をモニタして「最初の最小の反射率」　（典型的には、コないし数百Ａ″ ）を与えるように定められる厚さに真空めっきされる。そのＴｅは、ソースとし て耐火性のある金属製の容器を用いる高真空チャンバ（Ａ　ｓｈの記事において 用いられる１、２メートル箱型コーティングチャンバ）内でそのように蒸気にさ れる。テルルは、「低い溶融温度／低い伝導性」の金属であり、優れた感度を示 し、かつ必要な（しきい値）レーザ書込出力を最小化するので、当業者に共通し て好まれている。

たとえば、このことは、３８＋１およびｓ　ａｒｔｏｌ　ｉ旧へのり。

Ｓ、４，２２２，０７１において述べられ、そこでは、同様のテルル膜が、（十 分な読出−約２０％の光学的効率が仮定される、その目標は、約４５ないし５０ １１ＢのＳ／Ｎで記録されたビデオ信号を再生することができまたは「放送の品 質」のリードバックを可能にする−を達成するために）Ｉ込のため１５＋ＩＩＷ のオーダでレーザ出力を必要とすることが特徴である。

［彼等は、また、ソリッドステートＧａ−ＡＬ−Ａｓ注入・・・・レーザを特定 しており、そのレーザは、連続したビームで明らかに与えられ、記録表面におい て直径が１ミクロンであり、それはこのビームを通って移動することが医たれる ］。

Ｕ、Ｓ、４，２２２，０７１は、アブソーバが、＜ｒ連続的な膜ｊで形成され、 かつ「顕微鏡的な塊もこしては形成されないと同様に＞Ｔｅのような「低い溶融 温度金属」でなければならないと強調している。

サブストレート２は、平坦なアルミニウムプレート・であり、それは、（意図し 社放射スペクトルの少なくとｔ＋ｉ−動作部分」にわたって高い反射率である） 薄い反ｔＩＪＦＪ３を形成するのに都合が良いように所望の平坦さに研磨されか つザビング２−８がコーディングとれる。約６００ないし９００Ａ’のアルミニ ウムが真空めつきされたら十分であることがわかった。

スペーサ４は、反射膜３の上に同様に形成される。スペーサ４は、Ｉｌｉ体材料 であり、それは、レーザスペクトルの「動作部分コに対して比較的透明であり、 かつ良好な熱特性（たとえば、良好な絶縁体、低い熱容量）を好ましく示す。約 １１００Ａ°の真空めっきされた３ｉ０２　（二酸化シリコ〉）は、この目的の ためくたとえば、λ−６３３０Ａ’での書込／読出）に対して十分であることが わかった。テルルのアブソーバ層５は、意図した記録レーザスペクトルに対して 高い吸収性（たとえば、典型的には、２５９もの吸収性、３０％の反射性、約４ ５％のビームエネルギ透過（３層の打消に対しては、反射するよりも透過しなけ ればならない））であると理Ｗ？、されるであろう。

吸収性１１！５の厚さは、スペーサ４の厚さに依存し、かつ反射率が最初に最小 化されるまで、当業者に知られる「ダークミラー（［）　ａｒｋ　Ｍ　１ｒｒｏ ｒ　）効果Ｊを示すのに十分であるということのみに依存し、最小化されるべき である。

当業者は、低い溶融温度と比較的急い熱分散長さく低い伝導率−一入射レーザエ ネルギを維持するのを助ける）を有するＴｅアブソーバ５が、良好な高感度材料 であるとみなすであろう。レーザ、ｆｆ１Ｌからの書込ご−ムが、層５のｒＶＪ 位置にあたると、そのエネルギの小部分が、反射され、小部分が吸収され、かつ 大部分が透過し、その透過した部分は、層３によって反射しで戻り、１５におい て（主に）吸収される。したがって、入射および反射エネルギは、膜５を加熱し 、透過損失（「３層」を与えるための５の形成）を最小化する。

ｍ−結果： 緊急の目的のため、「感度」は、所望の最小の読出を与えるのに十分な反射率（ または同様の読出特性）を変えるのに必要な書込エネルギＥＶを特徴とするもの として理解されよう。

集光された書込ビームの強さおよび露光時間は、所望の読出品′ｉｔなど（たと えば、そのような十分なコントラスト、Ｓ／Ｎ比）が実現され得るような（Ｖ　 ４ｆｌＢにおける）反射率の示された変化を生じるようにアブソーバＦＩＩ５の １度を上げるのに十分であるとして理解されようｍ−参考、約１５ＭＨｚの帯域 幅に対して４０な（・し５０ｄＢの例示的なＳ／ト、１比（ビークビーク信号対 ＲＭＳ雑音）。

ここで、チットレコーディングが、６３３０Ａ°で動作するガフ、（１−１０１ Ｗ　Ｈｅ−Ｎｅ）レーザビームで、３０−、４７０ナノ秒のしノコ−ディング露 光で行なわれた（通常、１０１１Ｗ、４．０ナノ秒、または約４００ｐＪ−−− これは、低出力、たどえば、すなわｔ５１５０ないし５０Ｃ９Ｊ　／’Ｃｌ１１ ２．　ｐ　Ｊ　＝　１Ｑ−＋’２ワットー秒またはジュールのとき、最小の充分 壱読出、または約４０＋ｄ３のＳ　／　Ｎを、同じまたは同様のレーザ′ｊ装置 で与えるで５５ろう。参考二この意図された装置に効して、レーザが集光された どラド位置は、１／２ないし１ミクロンの直径で、約４０ナノ秒の長さ［立上が りから立下がりまで６０ナノ秒−一これはまた、ディスクのｒｐｌ！を１８００ まで適応させかつガルバノミラ−の集光特性を適応させる］の書込パルスが２・ 要であると思われる。

このし・コード１は、そのように記録される。（文献などにおける比較可能な状 態と関連して）比較的低出力のレーザパルスが、周知の１りし・−夕」よたは： 穴」を与えかつ良好な読出（たとえば、λ−６３Ｅ、　ＯＡ’　ニｔ；イーｃ、 ５０％までのビット反射串対１ないし３％のバンクグラウンド）を与えるのに十 分なようにＴｅ膜を溶畿することができる一一一しかしながら、「ノイズコのビ ットを伴いすぎる。

このような１ビツト穴」は、実際の空所であると思われる（たとえば１．へ３ｈ の記事の写真を参照、そこでは、２−２−１Ｏの１００ナノ秒のレーザパルスが 、同様のＴｅ１７１においてこのような「穴Ｊを記録しｍ−そこでは、反射モー ドで用いられるＴｅン）＼らなる２５．・つＡ′膜は、−４５００八〇で５７％ の反射率と６％の：ｇｓ率と３７％の吸収率とを生ずるとされているＪ、、しか しながら、そのようなＴｅ膜が、速読的な層として形成されていると員ハう事実 にもかかわらず、「ビット穴」　（■）の形、戊は、文献において、回りにリム を伴うとして述べられ、かつそれは、こＤ゛ツムＬ述した「ノイズ１のほとんど の原因であると考えられる。

明らかに、成る１小の立上がり時間内で成る最小書込エネルギＥＶが必要である （たとえば、この１ノーザなどでは、充分な１穴ｊにするために約１０１ＭＷで ４０ナノ秒内、たとえば、それよりも高出力のものがゆつ（つと発せられたなら ば、アブソーバの熱が１れてしまいしｔこがって「ビット１は書込まれない）。

このような「穴Ｊまたは「ビット」は、第１図の「■」における穴によって示さ れる。少な（とも、アブソーバ材料５の一部は、そのとき、そのビット位置にお いて明らかに柔かくなりかつずれて十分にその厚さを減少しかつ反射率を増加さ せる（少なくとも、当業者が従来教示している程度、たとえば、、Ａ、ｓｈの記 事や上述したＵ、Ｓ、４，２２２．０７１を参照）、。

このようなスポラ１−は、たとえば、低出力の同表のレーザ（たとえば、上述し た３ｉＷのレーザ）のような産業界において公知の手段で読出されてもよく、〈 適当な光検出器で）５」プられた反射されたエネルギの増加が、観察されて、記 録されたヒントを示す出力信号を与え、これらのビット・がバックグラウンドか ら容易に区別されることができ、この読出エネルギは、もちろん、記録されたビ ットを「消去」したりまたは乱したりするほど大きくはない、、［注意：周波数 ｆ　ｚ　Ｔの読出、この場合、「ビットの深さ」が、コントラスト・を最大化す るためにＴｅａ表面にむいて反射された光に対する位置の変化を生じる〕。

−一記録保管安定性： 私達は、この［＋、ｅレコードづの百２録保管安定性が、文献が指摘１）によう に（たとえば１．Ａ、ｓｈの記事の再酸化などを参照）、非常によくないノニい うことを発見した。たとえば、公知の８度−湿度のサイクルの下では、レコード １は、（５５の上に何も被せていない場合には）約５０３！！間で、明らかにほ とんどが酸ｔに、Ｊ二って反射率が５０％灘少したにい）ことが発見された、例 ＩのＴｅｍは、このようｈｒ経時ぷ儂、全体の光学的透過性が急速ｔニ増加する ということが１つかる。・：のことは、金属ｒｓ、におけろ「欠陥の位置］でひ どい選択的な立性−攻撃が１７ｚ末るのと同様に、その金属の一９ｆｉ的な酸化 によって生ずるものと思わ机るー　（ＭＩＬ　３ＰＥＣ＃８１０−Ｂによろ間柊 のテス１〜を参照）。

二のととシよ、上述した「記録保色メモリ」の必要条件（通常のコンピュータオ ペレーティング／ストレージ状悪に少な（とも１０ないし１５年さらされること 、表１を参照）を満足するものではない。

実ｍ例 以下の例は、この発明に従ったｒｅａ度」のアブソーバの例示的な使用ど利点と を教示するものとしで与えられる。

この利点および特徴は、それらと上述した「Ｔｅの例」とを比較することにｊ： っでよりよく理解できょう。

−一例Ｉ：ＡＵアブンーバ；（第２図）：上述したｒＴｅ例」　（第２図）の動 作、材料、方法および構造は、他のように特定したものを除いて、「金のレコー ド」１０においても本質的に援用される。

レコード１０は、サブスｉ〜レート支持材１２を菫えるものとして理解でき、そ の上には、「非反射性の」サブストレート１−ＡＲ（それは好ましくは、反射上 １３と、その荀１３の上に位！する透過性のスペーサ層１４とを備える）が位置 し、サブストレート１−ＡＲ（そのスペーサ１４）の上にアブソーバ膜１５が１ かれる。ここで、アブソーバ１５は、「Ｔｅの例」におけるＴｅ１ｌｌと同様に １本質的に同様の手段で同様の厚さに形成された金の夷を備える。その下に位置 するスペーサＦ！ｌ　１４と反射２１３とサブストレー　１−　”ｊ　２とは、 （少なくとも・凄能的には＞　ｒｒｅの例Ｊにおけるものと池の点では同一であ り、かつ「３層」として機能することも理解できよう。

すなわち、この金のアブソーバ膜１５は、好ましくは、周知の「３層」になるま で（すなわち、５の表面反射率がまず○または「０に近くＪになるまで）、Ｓｉ ○２スペーサ４の表面の上に金を真空めっきりることによって（ｒＴｅの例Ｊと 同様に）形成される。

ｍ−結果： その結果は、持に期待された特性の光において、かつｒＴｅの例」にａ３いて述 へられたＴｅアフソーバのような従来の媒体と比較すると非常に著しい。すなわ ち、レコード１０は、トＴｅの例」にあ′けるように、Ｔｊな０ち、上述した形 式のｌ−１ｅ−１’ｙｅレーザシステムを用いて、その感度などが計測され記録 され、読出されかつ評価された。そのように書込まれたビット位置は、７ｅのも のと同様に反射率が同様に増加しかつより高い出力信号を示した。この後に述へ るか、このことによって、良好な記録保管安定性と、予期できないほどの高い感 度、高いＳ　ｉ′Ｎ　ｉｔおよび遍くほどの低い書込エネルギと低い書込温度と を有し、その上オーバコート許容性を有するレコードを与えるということがわか り、しかも、１ピツト」やアブソーバのそのような変形を有さない「反射率の移 り変わりＪのみが般祭された。

−−「記録保管安定性」　（環境による劣化に釣つる抵抗力）は、「１−ｅの例 」にＪ５けるテルルレコードのうのよりも（およびあらゆる公知のテルル「ヒン ト」レコードのものよし）も）′３１常に！！ＪアＬ−ＣいることかわｊＪ’っ た。（凶瀉／′高湿度の還境の操返しの下での）；−経時」後の光孝的反射亭に おける変化の測定に対して、この合金は、非常にｊ；り以ｔ′：−アルル膜より もかなり安定しく１’ることを示す。そして、当業者が周知のように、金は、必 要とさ（するこのような「記録保管１条件に等しい。このよう７ｊ７金のレコー ドｊ１１、意図ざ４ツ、７こス１〜レージおよび２月の１０年またはそれ以上の オーダで十分な浸出（３０−ｊ巳）を維持することができ・ると思われる。

一一子期されないほどの「高い感度−二我／′２は、このような薄い金の合金の アブソーバが、テルルのアブソーバとは（ま同じくらい一敏感５であつ得る（た とえば　７ＴｅＯ例」の約１７７２が普通である）−ｍ＝たとえば、その情報は 、５ないしｉ　５　ＣＸＪＸ、・て１０ないし１００ナノ秒の出力範囲くまたは １００ないし１０００ρ、Ｊ、）で記録されることかでさ−−−特定的にＩｃ１ １１：０１７秒はどのわずかな間の約５ａＷが、「反射率を切換える」ことがわ かり、いくつかの渕では、約１０ないし１５ｊ−ノ゛秒で１ないし２！ＪＷでも ［切換Ｊを行ない、池の場合ではそれよりもさｎい乃、間で１０ｔｍ　Ｖｌて切 換を行な−１−−−クー八：て（。、良好科：読ｄ」〈たとえば、３０ないし４ Ｃ０８のＳ　／”　Ｎ比など）を与ヌーる。このことは、不当に煎くぺδこと石 ”あり、Ｐ測１７１”：：我々の理論の何（Δもの値て′勺り、かつ文≧（が従 来数示していたものとは全く対照的である。

すなわち、Ｔｅのような公知の満足な「良好なアブソーバ」と比較すると、蛍は 、比較的高い溶融ｍｅ　（Ｔｅの約４５０℃に対して約１１００ないし１２００ Ｃ）を有し、より４れた伝導性（Ｔｅの伝導性は、周知のとおり低い）を有し、 人は、金のアブソーバは、テルルのものよりう非常に悪い感度を示すｔ”あろう と予期しなければならなかったであろう。たとえば、文献は、Ｔｅがチタニウム よりも非常に凌れた感度を有り〜るどｉｔ賃しｒ：あり、かつチタニウムは、金 のような高い溶融８度を有するか、しかしＨｅのような低い熱伝導性であり、し たがって金は、チタニウムよりも勝れたアブソーバになり得ないと述べている。

１つの運出は（以下を参照〉、このような「ビット形成」に対して非常に異なる メカニズムを含んでいるからであり、すなわら、これにより、Ｔｅなどとは異な り、たとえば、変形（たとえば、ビット、ハノル、などの形成）は、ここには含 まれ又おらず、それよりうむしろ、池のものか、書込ビームを受けたときに反射 率を変化ざゼるように作用し、かつ明らかにかなり小さな書込エネルギを必要と する。

−一低＊度記録： このような低い（書込）出力レベルでかつ明らかにこのような低い１度で、示Ｊ れた「反射率の移り変わり」が生ずるというのは蓬くべきことである［以下を参 照、金の溶融１度のかなり下でこのことが生ずるというのを例が示している］。

このように、驚りべき高い感度は、順次、より優れた記録保管特性を有する、す なわち長い期間の間腐蝕や劣化の危険性を緩和する金のような「高い溶融温度の 」材料に人々を向けた。

、ｌアブソーバの「変形Ｊなしの「移り変わり」の書込：〈低出力、低いＴｏで ）書込まれた記録は、（Ｔｅ膜と同様に「穴」またはそのような変形の）通常の 「ビット」が検査されると、さらに驚くべきことが生じた。注意深（（たとえば 、電子走査顕微鏡で〉検査しても、Ｆビット」の形跡は見られなかった。その上 、結果は、ビットの形成によっては説明することができないものであることがわ かった。これは、非常に不思議でありかつ全く予期しないことであり、この形式 のすべての公知のアブソーバ膜は、そのように書込まれたとするとくすなわち、 適当なレーザエネルギが、ここで述べたように、有意義な読出反射率の差を与え るのに十分であると）、明らかに「ビット」　（すなわち、ビット位置における アブソーバ材料のずれ）を、当業者が周知のように、示した。例Ｉは、適切なケ ースである。

このことは、あまりに変わっているので、当業者の多くは、しばらくの間それを 信じようとはしなかった。しかし今日まで、「ビット」の形跡を見つけることが できなかったので、（確信するための否定的な事実−この後に考えられる説明を 行なう）、我々はそこには何もないと信じなければならない。もちろん、おそら く、非常に増加した書込出力が、このような穴またはビットを生ずるということ も考えられる。そして、「ｅのようなこの「変形材料」は、「正しい」条例の下 で同家Ｉ、装置きｉ丁と９・っことを粱ｅが確信する。

我々の＠ｅ艮い理−（まだ完全には成立しく−Ｑ・ないが）は、あら（少るこの よっな１ビン１−」を形収ブることなく、この薄い［純粋な金ｊアブソーバ膜が 、封意極な反射竿（バッククラ・ノンドに対するン斧−−Ｆビンｔ〜」を形成す る過程において丁ｅのような他の公知ｉ′グノーハが達成するのとほとんど同じ ようなｍ−を示すようになんどがして通常の書込ビームによつで根革的に変えら ）・シるここができるように（たとえは、３層の上に）形成３れるこψ・うこと である。我々は、これを、池に適里な用Ｊ６がないので−Ｕ反ＩＥ＊の移り斐ね り」と名付シブた。

我々はまだ、原因となるメんニスムー−たとえは、位相や、結晶度ヤ凹度なとに ６１する何らが０二′内５　Ｔｅ　ｗｊの変化からくるもの７）Ｉどうか、（あ ぞらく、上述した３ａｒに１；［旨の記事におけるフォトがリマーと同様に）、 まｆｃ　１つまζはいくつかの内部の微細な位置がそのように形成８（Ｌるもの であるのＤ゛・とうかということ−一を確信するまでには到っていない。

予期しない【５どの低い書込エネルギ（Ｅｗ　）に≦っ〔，１−変形」がなくか つ明らかに溶融してもいないというこの奇妙なことは、そのよう１．：書込まれ ｌご「反ｉギの梯り変わリ」が、その金の膜における内部の比較的顕微鏡的な変 化によって生ずるｍ−これは、ビットの形成のような従来の「顕微鏡的な」変化 とは対照的であるｍ−ということを我々に推測させるに至り、（かっ人は、後者 の方はより多くの書込エネルギが必要であろうと推測している）。我々は、この ような移り変わりが、（百ないし数百Ａ°±５０％のオーダでの）この形式の「 極度に薄い」摸に特有であるということを理論立てた。成る者はさらに、このよ うな膜は、「バルク状の金属」のものとは関連しない特定の特性−一くたとえば 、Ａｕ　−ｓ＋　０層結合対Ａｕ−ＡＬ＋結合のような）金属サブストレート結 合の相対的な卓越さにおそらく（少なくとも一部において）その原因がある特性 −−を示すものと推測した。そして、我々は、（「バルク状の金属」のような） より厚い膜に対しては、もしこのような「移り変わり」が起こり得るならばより 多くの書込エネルギが必要であろうと予期する（たとえば、Ａ１１−ＡＵ結合が 、卓越しておりかつより強い）。

この新しい形式の「相の移り変わり」、または緩い加熱の下でのアブソーバ構造 の再構成が、書込ビームの熱がコロイド（より不連続な）の形式に凝固すること ができるような非常に薄い「半連続的な」膜としてアブソーバが形成されるとき に（少なくともいくつかの場合には）生ずる。

このような結果は、硝子産業界において知られている「ルビーガラス」現象によ く似ているかもしれない（１９５１年にＷ、Ａ、Ｗｅｙｌによって発行され、か つ１９５９年ロンドンにおいてＰａ１ｌ　ＭａｌｌのＯａｗｓｏｎｓによって再 版された「Ｃｏ１ｏａｒａｄ　Ｇ　Ｉａｓｓｅｓｊ　ｅ参照）。実際、これは、 ３層のアブソーバ１５を１光学的に除去し」、その関連した１位相の打消」を除 去しかつ反射材１３のみからの反射率を引継がせる（たとえば、数Ａ°の直径を 有する［コロイド−アイランド（島）」対１０００倍の広さのビーム）。

とにかく、当業者は、周知の方法および特性によっててれらが明らかに製造（形 成、処理）しやすく、かつそれらが明らかにより優れた記録保管安定性を有しか つコンピュータディスクレコードくたとえば、表Ｉに関する）使用に対する適合 性を有するということのみならず、このような「移り変わり」の書込が特定の独 自な利点を与えることによっても、このような新規な金のアブソーバの利用可能 性を確かに歓迎するであろう。独自の利点としては、たとえば、アブソーバを溶 融する必要性をなくし、また「ビット」を形成するためアブソーバの質量を１脇 に移す」必要もなく、「ノイズを読出す」もとである典型的な「ビット−リム」 も存在せず、かつオーバコーティングの収斂性の影響に関係ないこと（たとえば 、普通のビットを形成するＴｅアブソーバを覆う保護膜は、ビット形成を妨害す るのに十分なほどそのビットの位置を「圧迫する」ものと思われる）、また、そ れに関連して書込エネルギおよび記録温度が減少することなどが挙げられ、これ らのすべては、非常に少ないエネルギで「レーザ１込」しかつより小さなビット を書込むことができるということを可能にする。当業者は、ビットが、強い熱な しに記録されかつ周知のビット形成に特有の顕Ｗｉ境的な変化もなしに記録され ることができるようなシステムを歓迎するであろう。

−−オーバコーティング；効果 ｒＴｅの例」は、丁ｅｌｌの上のく真空めっきされた１００Ａ’の）ＳｉＯの薄 いオーバコーティングが施される。

これは、当業者が思っていた（たとえば、表面の埃、汚れなどを「デフォーカス 」するように傷をつけることなくレコードの処理を可能にし、たとえば水や酸素 などの蒸気の入口を防ぎ、ざらに、書込熱などを維持するほどの数ミルの厚さ） の真の礪能的なオーバコートではないが、しかし「ビットの形成Ｊを与え、必要 な書込エネルギを約２倍に上げる。（おそらくそれは、ビット位置おいてＴｅ１ ｌ＃を「圧迫」してそこのＴｅ材料の関連した変位を妨げるからであろう）。そ して、当業者は、（Ｔｆ＋におけるビットや、他の金属におけるバブルなどを有 するような）このような「変形媒体」は、このような「オーバコート」を許容す ることができない（たとえば、読出信号が破壊され、感度が上昇する）というこ とを確信している。

有意義には、例ＩのようなＡｌｌ膜が同様にオーバコーティングされると、その ような影響は、見られない（たとえば、同じ書込エネルギで１擬似ビツトＪを生 ずる）。当業者が、この「移り変わり」メカニズムが全（新規であるという理論 をこれが強化するということがわかるにつれて、（「ビット」などを形成するた めのＡＩＪ金属の運動がない）そのメカニズムは、このようなアブソーバの魅力 を倍増するものではない（オーバコーティングに対する許容性は、非常に重要で ある）。明らかに、意味される「反射率の移り変わり」は、通常のオーバコート のものよりもより許容性がある。たとえば、数ミルの透明なテフロンでこのよう な純粋な金の３層をコーティングしても、その記録特性を根本的に乱さない（た とえば、感度、続出は、Ｔｅを有するものに対してわずがなビットを落とすのに すぎず、この出力レベルでは全く記録できない）。このようなエラストメリック な分離性のτ−バコーティングとの金のアブソーバの適合性は、非常に歓迎すべ き特徴である。我々の知る限りでは、これは、良好な記録特性（感度、Ｓ　／’ 　Ｎ　Ｘ記録保管性、など）を維持しながらこのようなオーバコーティングを受 入れる最初のアブソーバである。

その他の特徴として、かつ上述したおよび他の例に基づいて、人は、このような 極薄のアブソーバＦＡ（金からなる）は、おそらく、報告された「バルク」　（ 金）特性（たとえば、熱伝導性−−たとえば、放射伝導性は重要ではない）から 予期できるように作用しないというふうに推測しよう。

このような「薄い膜の特性」の発見は、重要であり、がっこの後さらに述べられ る。

これらの「移り変わりのビット」　（反射率の切換）は、（金の）溶融温度のか なり下で生じ、かつ「ビット」または他の変形を含まないということを示して、 例■ないしＶがこの後に述べられる。

一一例■；クロス加熱： 例Ｉのレコードは、例■と同じ厚さに同じ３層の上に形成された純粋な金と本質 的に同じである。しかしながら、それをレーザ書込ビームに晒すよりもむしろ、 そのレコードは、普通のはんだごてでいくつかのスポットにおいてそのままより もむしろ単に加熱される。そのスポットは、「移り変わり温度」　（溶融温度ま たは軟化温度のがなり下の範囲）に加熱され、色の根本的な変化が観察される（ 全体の「眼球−反射率」における極度の変化がやや突然に生ずる）。

すなわち、我々は、はんだごてか約５５０℃に加熱されてこの「純粋な金」のア ブソーバの試料の上の個所をわずかに加熱しくその温度の概算は、はんだごての 最大Ｔ０であり、かつ金の溶融温度１１００ないし１２００℃のかなり下である ）−一かつ我々は、そのように加熱されたスポットの各々の「眼球外観」は、（ 比較的低い反射率の暗い青から高い反射率の「白」−青白い紫へと）非常に変化 するということがわかって驚いた。再び、実験によっては、「ビット」の形跡は 何も見られなかった。

−−ＬＬ：Ｉと同様、しかしＡＵ／Ｐｂ：例Ｒが、純粋なＡＵと金−鉛合金とを 置換えて、繰返された。その結果は、本質的には、（同様の試料でより低いＴｏ で）ビットがより早く生ずるという期待通りであった。

このことは、多種な金の合金が、これらのインペンテイブな結果（高い感度；非 常に低い出力および溶融温度のかなり下での「書込」、など）を与えるように製 造され得るということを強く確信させるに至った。

他の同様の試料（ＡＵ　／Ｐｂ　）が作られ、かつ書込まれ、それからＩＭＩに おける場合と同様に読出される。その結果は、感度が１ビット高い）さらに、「 Ｔｅの例」における場合よりも高い）ものであるということを除いては例■〈純 粋なハＵ）と非常によ（似ていた。

−一例ＩＮ−Ａ　：例Ｉと同様であるが、Ａ　Ｕ　／’　Ｓ　ｎ　：例Ｉが、純 粋な金のアブソーバ庚とＡＵ／Ｓｎ合金とを置換えて、＠返された。その結果は 、感度がわずかに低下したが、例■と全く同様であった。

例■および例ＩＩＩ−Ａにおける「合金Ｊは、別々のＡｕ。

Ｐｂまたは３層層が個別にかつ引続いて（−たとえば、△口。

それからＰｂ、それからＡｕ、それからＰｂ、それから八〇が例１における「本 来のＯ反射率」を与える全厚に）（例■のように）真空めっきされる。このよう に、それらは、「ラミネート−混合号としてよりよ＜ＦＦｔｙ付Ｇ斗られる。

−・−例■；硝子だけの上のＡＵ　；トーチ加熱；１列１．９、ｒ　３　’Ｊｉ 　Ｊのナスストレートの１曳：っ・っｉこ、、１４−Ｆンートだ（プが用いられ ているということを除いて繰返された。

（たとえば、例Ｉにおけるように３層の反射率をモニタしながら、両方の試料に 対して形成時間を同じに保ち、共通のチャンバで第２の３層のサンプルを伴って ）Ａｌｌ膜が同じ「３層の厚さ」に真空めっきされて、同し形成が実行される。

結果は、非常に似ており（反射率の急激な変化か生じて、色が約４５０℃で変化 ）、シかしながら加熱は、「ブロートーチ」で行なわれた。

例■、■および■にお【プる温度は、正確には検知されずに、概算された。これ は、以下の例■において直された。

例工が、（３層の上に純粋なＡＬＩが設けられてン繰返される。しかしながら、 この試料は、〈レーザ書込ではなく）オーブン内で加熱され、かつその温度は、 その反射率とともに（熱電対によって）注意深くモニタされた（６３３０Ａｏの ５ｉ　Ｗ、Ｈｅ−Ｎｅレーザおよびその関連した検出器および続出手段）。

第３図は、オーブン／レコード温度と反射率（反射率のスケールは任意に選択さ れたー−＃０．５は、〜５％反射率に対応し；＃２０は、〜９０％の反射率に対 応ｊる）の図表である。この表は、金の溶融温度Ｔ０のがなり以下で保たれるこ のような「ｓｌい加熱」が、それ自体で、反射率における忌な変化（参考、約２ ００ないし４００’Ｃでは徐々の変化で、それから４００ないし５５０℃では急 な変化）を生ずる。（ここでは、全試料表面が加熱されてｍ−溶融は観察されな かった）。

当業者は、このような「緩い」　（溶融しない）加熱の下で、上述した例■ない しＶにおいて観察された全体の肉眼で見える色の移り変わりは、たしかに、金の 膜におけるこのような「反射率の移り変わりＪが、「ビット」またはあらゆる他 の変形することとは無関係であるということを確かなものにしたと同意するであ ろう。

これは、いくつかの点−一たとえば、「低いＴ’書込」（低いＥｗ）を約束し、 「ビット」のようなまわりに通常形成される隆起部に関連する続出ノイズの除去 、より高いビット密度、比較的高い溶融温度を有する腐蝕しなくかつ同様に１記 録保管性の優れた金属」での「そのような書込Ｊ能力−−において驚くべきこと である。

例■が、硝子スライドがディスク１２と置換えられかつ透明なテフロン（Ｔｅｒ ｌｏｎ　）コーティングがｓ＋　０２スペーサ１４と置換えられるということを 除いて、繰返される。

同様の真空めっきが行なわれ、たとえば、モニタされた反射率が最大になるまで グラススライドの上にＡｌ１１３が形成゛さｔ５、そｒから前と同μに５つｒ： 〕ｔ「シ、ハ、−ｔσ月さ」に形成され、それから純粋なＡｌｌが、（伴ってい る３層の試料の＞ｒｈｘ初の鳩小反綱−１まで形成５れる。

−一結果： 結果は、良くなつ）こだけ、たとえば約４＠の反射率を示しただけで、例■のも のと同様である。そして、（読出のための）充分な「移り変わり」が、出力が約 １ないし１゜５１１Ｗはどの低さである同じＨｅ−Ｎａレーザ（４０ナノ秒−一 「シきい値レベル」）でコ込まれることができる。

前と同様に、「ピッ１〜」などの形跡はくたとえば、走査電子顕微鏡でも）見ら れない。まｔ：、金の寸倚しよ、（Ｓｉ　０２に対して）優れている。

明らかに、エラスＩ−メリックスペーサ（テフロン）は、「ビット位置」におい て書込ビーム熱を局部化して、ａ込効率を大いに改善する。

２００ＯＡ６の透明なテフロンのオーバニートが、金のアブソーバ膜に与えられ るということを除いて、例■が繰返される。

一一積」虹： 結果は、感度が幾分か低下したということを除いては、例■とほとんど同じでぬ る。もｊノ、約３０秒の露光が、許容できるならば、０．１［ＩＷはどの低いレ ーザ出力で「移り変わり」を書込むことさえ可能である。

この結果は、もしビットが先行技術のようなメカニズム（たとえば、「ビットコ の形成）に基づいて書込まれるならば全く予期できないものであろう。すなわち 、従来は、人は、このようなオーバコートは感度を非常に低下させる（より多く の書込みエネルギを必要とする）ものと思っていた。たとえば、上述したように 、「「ｅの１列」におけるＴｅ膜の上のオーバコートは、（上述した１０：ｉｌ Ｗのようなかなりの出力レベルでも）完全に１込を妨げる。当業者は、（「ビッ トの形成」のための）必要な１込エネルギにおける明らかな増加は、アブソーバ のオーバコートの「圧迫」が原因であり、「ビット」形成され始まるときのその 質量の移動を妨げるものと推測してきた。

このように、この結果は、驚くべきものでありかつ有利なものであるばかりでな く、含まれる新規な「移り変わり」のメカニズム（およびその関連したＡＩＪの ような「拶り変わりのアブソーバ」材料）は、全くビットや他の変形を形成する ものとは全く無関係であるということを確かなものにする。そして、オーバコー ティングが容易であると思われるようなこのような新ＭなＯＤＤレコードやその 関連したシステムを当業者は歓迎するであろう。

以上のことは、このような金の膜にあけるこのようなビット位置のく連取温度Ｔ °のかなり下の）「緩い加熱」が、ビットの形成をすることなくはっきりとした 反射率の変化（Ｆ移り朶（ノリ」ンを生プるということを確力・なも・のｌニす る。

溶融温度のかなり下のこのような「緩い加熱」によってビットを記録するための 金のこのような薄いアブソーバ膜のこの感度（十分な反！）Ｉ率における変化、 など）は、改良した記録システムに対し大さｌよ望みを有している。当業者が証 明するに従っＣ１１込エネルギの必要性を有意義に減することができるというあ らゆる改良は、それ自身、巨大な可能性を与える。たとえば、必要な書込レーザ 出力にあけるほんの２５％ないし５０％の減少は、システムを衣優にし、信頼性 を良（しかつ実用的にし、そンしらは曲下市題となっているが、産業界の現在の 状態であり、−−シたがって、われわれの発明は、単なる研究所のものめり−ら しいものから商業的なシステムを作ることができる。

当業者は、金を用い、かつ他の関連した環境の下ではそれと互換性のある金属を 用いることがひきるということが期待できると理解するであろう（たとえば、「 ヒツト位置」におけるこのような「緩い加熱ｊが反射率における利用できる変化 を与えるような他の種類のサブスレレートの上の金の形成）。このような場合に は、人は、その金（またはその合金）を公式化して、動作必要条件（たとえば、 表Ｉに６５けるように、モ分な記録保管可能性、感度などを与えるのに十分なほ どの合金における金など）含満足することを予期する。それから、人が、このよ うな「反射率の切換」を達成するのに必要な引込エネルギＥＶを決定することお よびこれを記録環境（−一すなわち、λ０にあけるレーザ出力および露光時間、 アブソーバ膜の熱的な環境、光学の見地からの全システムを考えた場合には、反 射率、隣接する鷲に対する熱の損失など〉に関連付けることをいずれにしても（ 経験的にまたは理論で）予期するであろう−一さらに、上述した例におけるよう なｉくしたレコードの「テスト加熱」は、このことを導きまたは確証するために 行なりねることができる。

当業者がまた、他の材料が、同様の応用に対しても告えら杓るべきであるという ことが理解できよう。このように、同様に、他のこのような「移り変わりのアブ ソーバ」　（たとスば、Ａｇ、Ｃｕ　、またはそれらの合金のような）を選択す ることができ、おそらくそれを公式化でき、予期される「反射率の切換」に従う ような関連した書込エネルギＥｅを決定することかでさ、かつこれを会まれる記 録ＴＪｍに関連付けることができるものと思うであろう−一おそらく、必要な膜 の厚さ、サブストレートの性質、レーザエネルギなどかどのようなものであるか を決定しまたは確証するために、温度がモニタされたオーブン内でその悪因され たサブストレート ぞして、関連したレコードのテスト当逃および読出は、もちろん、動作特性およ び条件のさらに他の指抛を与えるであろう。

−一■：好ましいＲ／Ｗ　ＯＤＤディスク；第４−二第４図は、部分的な観念化 された断面で、たとえば、第５図ないし第７図に示されかつ以下に述べられる形 式の「低出力ｊ　Ｒ／Ｗレーザシステムにおいて用いるのに適した改良されたＯ ＤＤディスクレコードＲを示す。レコードＲは、サブストレートディスク１１２ を備え、その上には、金の３Ｍ１０１が形成され、その金の３層は、反射層１１ ３の上の誘電体スペーサ１］４からなる非反射性光学的サブストレートの上に金 のアブソーバｐｉ１１１５を含む。これらのエレメントおよびその関連した材料 、動作などは、他のように述べられた場合を除いては、例■におけるものと本質 的に同様であると理解されてもよい。レコードＲは、アブソーバ１１５の上のオ ーバコート１ｏｏ−ｏｃで覆われる。その詳細は以下に述べる。

サブストレートディスク１１２は好ましくは、コンピュータシステムにあげる磁 気記録レコードに現在用いられる形式の周知のウィンチェスタ−ディスク（アル ミニウム。

１４インチの直径、通常研磨された表面を有する）である。

好ましくは、それは、産業界において公知のように１１２−８で「サビング層」 が与えられ、反射１１１１３の形成のための清らかな表面を与えるようにコーテ ィングされる。

代わりに、ディスクそれ自体が、（λＯに）調整された誘電体のミラーとして製 造されてもよい。

上述したように、反射１１１１３（前と同様のＡｌｌ１りおよび）、ペーサ１１ ４は、好ましくは、非反射性のベースを与え、その、［に、アブソーバ膜１１５ か与えられて周知の「３后」を実現する。スペーサ１１４は好ましくは、１″３ 五の厚さ」の透明なテフロンまたは同様の有観物からなる。

代わりに、ＳｉＣ２またはそのような「硝子」が、その有機物の一部（たとえば 中央部分）と＠ｒＪえられ、金への良好な付着のため上の有泡物（テフロン）を 残し、かつ（この＝うな加熱の下で安定な）アブソーバ１１５からどんな感知で きるエネルギも反射材１１３が流出する°のを妨げる「熱へリア」として残して もよい。

７ブソーバク１１５は、〈「最初の最小の反射率の厚さ」などを与えるように） 前と同様に、非反射性のサブストしｌ−１〜１１４，１１３などの上に真空めっ きされた純粋な金からなる。

オーパコー１−″＋　ＯＯｏｃｌｌ：　、次に、虻業界において公知ように、損 傷抵抗「キャップ」、異物（たとえば、水、酸素の蒸気）の侵入に対するバリア としで機能し、かつその上の埃やごみを１デフオーカスコするためにアブソーバ １１５の上に与えられる。すなわち、（１００−ｏｃの上の）表面の状などの影 響を、たとえλ０に対して透明であっても、アブソーバ１１５に照射したとき焦 点からそれかずれるのに十分１．ｆはど単に厚く（たとえば、ここでは数ミルの 厚さ）することによって、光学的に除去または少なくとも（減する）ことができ る。今、オ“−バコードの表面の上にあるあらゆる埃の粒子は　光学的シ、ζデ ム（光学系）の焦面から十分ずれてあり、読出／ｗ！込１１１１　ｆｉ−におい て鼾知できるほどの影響を為さない。

万一バコート１００−ＱＣは、適当に透明な硝子てあってもよい。しかしながら 、成る場合には、バリアニーチー、′ング（たとえ（Ｊ１１００Ａ０Ｓ！Ｏおよ び／まｌ；は数百へ〇テフロン）が、まずアブソーバ１１５の上にコーティング される。可撓性が重要な楊８には、硝子の代わりに可撓性の有礪汝（たとえば、 ぜネラルエレク１〜す・ンク礼のｒＲＴＶ　５ｉ１ａＳｔｌＯｊ　）とＪ換えら れてもより、かつこのような場合、「ウェアキャンプ１がし【３λ゛しは゛推奨 される（たとえは、ＩＪ、Ｓ、／１，１０１，９０７１．：Ｊ５レプるよう（こ またはＲＴＶの上のアクリルＡ）。

今、当業者は、選択可能な数の情報トラックを澹込むために書込ご一部を用いな がら、それを（たとえは、ここでは好ましくは１８００ｒｐ、ｎで）回覧させる ことによってこのようなし］−ドを用い、各トラックは、反）］性の脂１１５の 反射率が乱されていイ【い調造まれていない？Ａ　Ｊによつ又分けられた、連続 した間′Ｐυを７かれＩこ「ヒツト位置！〈ここでは、「移り変わり、１は、反 射率の変化として書かれている〉からなる。

続出に対しては、比較的一定の強度と上述した汲置のレーザヒームが、ディスク が回転していることに、アブ、−バ阪のこれらのビットからなる情紺トラックの 上に同謀に集光される。このように、ビットは、書込ビームがこのトラックに沿 って反射率を切換えるところで「１」を表わし、他方、「０」は、理解できよう 。読出レーザは、スポット反射率を変えるのには不十分なエネルギで与えられ、 かつ好ましくは、トラックの乱されていない領域が「非反射性のＪ状態を表わす 周波数で与えられよう。そのように記録された「ビット」を示す出力信号として 現われることが知られているように、光検出器が、用いられている通過中の「ビ ット位置」から反射した光を受けるように位°置決めされる。反射率の変化は、 必要とされる最小の続出コントラスト（たとえば、意図した再生モードにおいて 許容されることができるＳ／Ｎ比）を与えるのに十分であるだけでよく、最大で ある必要はない）。

当業者は、１０１１Ｗのレーザのような低出力の記録手段を用いて、反射率の変 化によって検出されるビット（「移り変わり」）を書込むようなデータの処理の ための高密度のディジタルデータレコーディングに適した「低い放射」レコード におけるアブソーバ（情報）手段として薄い金の膜を用いてもよいということを これがどのように教示しているかというのを理解しよう。明らかに、他の関連し たアブソーバ構造、関連した材料および関連した読出／書込システムは、成る場 合には、応用可能であろう。以下には、このようなレコードを用いるのに適した 好ましいＲ／Ｗシステムの例を示す。

−一関連した低出力Ｒ／Ｗシステム、第５図ないし第７図： このような記録媒体を用いる例および好ましいモードが、今、第５図における好 ましい関連した光学的記録／再生システム２００を参照して簡単に述べられる。

第５図は、システム２００を包括的に示し、そこでは、記録されるべきデータが 、まず記録サーキットリ２１０に与えられ、そのサーキットリは、たとえば、Ｏ に戻らない（ｎｏｎ　−ｒｅｔｕｒｎ−ｔｏ−ｚｅｒｏ）　、Ｑに戻る（　ｒｅ ｔｕｒｎ　−ｔｏ　−ｚｅｒｏ）などのように磁気記録のために用いられた形式 の従来のエンコーディングフォーマットを用いて与えられたデータをエンコード する。従来のエラーチェツキングもまた、エンコードされた信号に与えられても よい。

記録サーキットリ２１０からのエンコードされたデータ２１０ａが、レーザ光学 系２１２に与えられる。そのレーザ光学系２１２は、３つのレーザビーム２１２ ａ、２１２ｂ、２１２Ｃを発生し、それらは、モータ２１８による回転のために ＩＩ密ススピンドル２１６上に支持された予めフォーマットされた光ディスク２ １５の同じ選択されたトラックの中心線に沿って間隔を置かれた位置に集光され る。

光ディスク２１５は、たとえば、上述した例■において開示された形式の３層デ ィスクであってもよい。

レーザビーム２１２ａは、エンコードされたデータを表わす光ディスク２１５の 選択されたトラックにおける光学的に検出可能な変化を形成するように、エンコ ードされたデータによって変調される書込ビームである。書込レーザご一部２１ ２ａによりディスクにおいて生じた光学的に検出可能な変化（たとえば、「ビッ ト」）は、ビットまたは穴のような物理的な変形を含む必要はないということを 叩解すべきである。唯一の必要条件は、光学的に検出可能な変化が、エンコード されたデータ２１０ａを表わす書込レーザビーム２１２ａに応答してディスクの 選択された領域において生ずるということである。この説明の目的のため、生ず ることができる光学的に検出可能な変化の考えられる形式のすべてが、ここに「 移り変わり」として述べられる。

第５図に示されるレーザビーム２１２ｂおよび２１２Ｃは、読出ビームである。

第６図において典型的に示されるように、読出ビーム２１２ｂは、リードアフタ ーライトご一部であり、したがって、そのビームは、選択されたトラック２１７ の中心線２１７ａの上に書込ビーム２１２ａの後方に集光し、一方ビーム２１２ ｂは、リードアフターライトビームであり、したがって、書込ビーム２１２ａの 前方に集光する。読出ビーム２１２ｂおよび２１２Ｃの強さは、それらが、予め 記録された情報の完全さを乱すことがないように選択される。読出ビームは、光 学系２１２に戻るようにディスク２１５から反射し、それに応答して、信号処理 エレクトロニクス２２０に与えられる複数の検出信号２１４ａ　、２１４ｂ、ｔ ５よび２１４Ｃを生ずる。その信号処理エレクトロニクス２２０はまた、記録さ れたデータの精度をチェックするために用いるため、記録サーキットリ２１０か らのエンコードされたデータ信＠２１０ａを受ける。

信号処理エレクトロニクス２２０は、データが続出されるディスクの上のトラッ クおよびセクタ位置をそれぞれ識別する信号２２０ｂおよび２２０Ｃとともに、 光ディスク２１５から読出されたデータに対応する出力データ信号２２０ａを与 えるように、検出された信号２１４ａ、２１４ｂおよび２１４Ｃを用いる。信号 処理エレクトロニクス２２０はまた、制御信＠２１０ｂ、２２１ａ、２２１ｂ、 ２２１ｄ　、２２１ｅおよび２２１ｆを生ずる。すなわち、制御信号２１０ｂは 、記録サーキットリ２１０に与えられて、ディスクの回転とデータのエンコード とを同期させ、制御信号２２１　ａは、光デイスクモニタ２１８に与えられて、 記録および読出の間正確な速度制御をし、制御信号２２コｂは、レーザ光学系２ １２に与えられて、レーザビーム２１２ａの放射位置を制御し、２１２ｂおよび ２１２Ｃは、所望のトラックを選択する目的のためであり、制御信号２２１Ｇは 、レーザ光学系２１２に与えられて、選択されたトラックの上のレーザビームの 正確なトラック追従を与え、制御信号２１２ｄは、レーザ光学系２１２に与えら れて、レーザビーム２１２ａ、２１２ｂおよび２１２ｃ　（Ｄ正確なフォーカシ ングを与え、かつ制御信号２２１ｅは、記録サーキッ１〜す２１０に与えられて 、反射されたリードビフＡ−ライ１〜ビームが、先頭のトラックが予め記録され たデータを含んでいるということから、２重書き（オーバーライド）の記録エラ ーの可能性を示す場合に記録を中断し、かつ信号２２１ｇは、記録サーキットリ ２１０に与えられて、記録エラーが生じた場合に記録を中断する。

予めフォーマツティングすることが、この発明に従って第５図において光ディス ク２１５に与えられる態様が、次に考察される。典型的なフォーマツティング構 成の例が、第７図に示される。

第７図において包括的に示されるように、説明されている好ましい実施例におけ る光ディスク２１５は、非常に多くの円形状のトラック３１７を含む。光ディス ク２１５はまた、複数のセクタ３１９に分割される。第７図に示されるように、 セクタ３１９内の各トラック３１７は、ヘッダ３５１とデータ記録部分３２０と を備える。データ記録部分３２０は、データが記録の間に書込まれかつ各セクタ ３１９内のトラックの長さのほとんどの部分を備える部分である。トラック３１ ７のヘッダ３５１が、まず各セクタ３１９において遭遇し、かつレコーディング の前にディスクの上に設けられる。データレコーディングの前にディスクの上に このようなヘッダ３５１を設けることは、典型的には、ディスクを［フォーマツ ティングするコとして述べられ、かつその結果のディスクは、「予めフォーマッ トされた」としてみなされる。

システム２００の他の詳細は、「現在の良好な実際」を示す産業界における当業 者によって理解できよう（たとえば、サブシステム、装置、コンポーネント、材 料および関連した製造および動作の事項について）。

多種な周知の方法およびアプローチの例が、以下の参考例において示される。

特許番号　発　明　者 ４．２１６，５０１　Ｂａ１１ ４、２３２．３３７　Ｗｉｎｓｌｏｌｗ、　ｅｔ　ａ１４、２４３．８４８　Ｕ ｔｓｕＩｌｉ ４、２４３．８５０　Ｅｄｗａｒｄｓ ４、２５３．０１９　０ｐｈｅｉｊ ４、２５３．７３４　Ｋｏｍｕｒａｓａｋｉ４．２６８，７４５　０ｋａｎ。

および、 ＩＥＥＥ　Ｓｐｅｃｔｒｕｍ　、　１９７８年８月、２０ないし２８頁、　Ｒ， Ａ、　３ａｒｔｏｌｉｎｉ他による［□　ｐｔｉｃａｌ　Ｄ　ｉｓｋ　Ｓｙｓｔ ｅｍｓ　Ｅｍｅｒｇｅ　Ｊ、 ＩＥＥＥ　Ｓｐｅｃｔｒｕｍ　、　１９７９年２月、３３ないし３８頁、　Ｇ、 　Ｃ，１（ｅｎｎｅｙ他による「Ａ　ｎ　Ｑ　ｐｔｉｃａｌ　［）　１ｓｋＲｅ ｐｌａｃｅｓ　２５　Ｍ　ａｇｔａｐｅｓ　Ｊ　、ＩＥＥＥ　Ｓｔ）ｅｃｔｒｕ ｌｍ、１９７９年８月、２６ないし３３頁、　Ｋ　、　Ｂ　１ｕｔｈｕｉｓ他に よる「Ｔ　ｅｎ　Ｂ１１１ｉｏｎ　Ｂ　１ｔｓＯｎａ　ＤｉＳｋｊ　、 ＩＥＥＥ　Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｑｑａｎｔｕｉ　［：１ｅｃｔｒｏｎｉｃｓ 、ＶＯＩ。

ＱＥ　１４．Ｎｏ　、７．１９７８年７月、４８７ないし４９５頁、八、　［： 、３ｅｌｌ他の１Ａｎｔｉｒｅｆｌａｃｔｉ＊ｎ　３　ｔｒｕｃｔｕｒｅｓ　ｆ ｏｒ　０ｐｔｉｃａｌ　ＲｅＣｏｒｄｉｎｇｊ　０これらの参考文献の事項は、 すｌ＼ての他の参考文献のものと同様に、ここに援用されるものとして見なすべ きである。

ｍ−結論： 当県者は、このような「移り変わりの形成」の記録およびその関連し・たＲ　／ 　Ｗシステムが、コンピュータアプリケーションおよびそのようなもののために 新規な改良され１＝レコードをとのぐらい適切に与えるものであろうということ を理解しよう。特に、このようなレコードは、上述したようにＯＤＤディスクド ライ′ブの効率、出力、使用およびコストの効率を改善するために用いられるこ とができ、当業者が賞賛するであろうということか理解できよう。当業者は、関 連した環境にあける他の同様なアプリケーションのためのこのようなレコードお よびＲ／Ｗシステムをも理解できよう。たとえば、そのようなレコードは、他の （Ｒ／Ｗ＞周波数でおよび／または他の関連した目的のために（たとえば、ホロ グラフィックレコーディングのために）動作するように湛正される。

ここに述べられた好ましい実施例は単に例示であり、かつこの発明は、この発明 の精神を逸脱することなく構成および使用における多くの修正および変形が可能 であるということを理解すべきである。

さらに他のこの発明の変形例が、可能である。たとえば、ここに開示された手段 および方法はまた、同様のシステムおよび環境において他のトランスデユーサお よび関連した負荷を位置決めするためにも応用可能である。たとえば、関連した 実施例は、データが光学的に記録されかつ再生されるような、記録、／再生シス テムの他の形式にトランスデユーサを位置決めするために用いることができる。

そして、この発明の原理が、上述した実施例に特に関連して、証明されたが、多 種の変形が可能であることが認識されよう。

たとえば、これらの実施例に開示された「レコード」は、他の記録団塊にも応用 でき、たとえば、他の放射ビームを用いてデータが記録されかつ再生されるよう な異なるディスクく読出／ｉｌｌ込）環境において応用可能である。

可能な変形例の上述した例は、単に例示的であるので、この発明は認付の請求の 範囲によって規定されるこの発明の範囲内であらゆる可能な修正例および変形例 を含むものとして理解されよう。

（う ＦＩＧ、６゜ ＦＩＧ、７゜ １＝Ｉ　＋：！７調査報告

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １．　任意の周波数でかつ比較的低いり込エネルギで１込ビームを与える記録放 射源で比較的長い記録保管寿命にわたつＣ使用するためのレコードブランクを与 える方法であって、 前記−Ｃ，、意の周波数で所定の光学的および熱的特性を示す記録部分を有する サブストレートを設け、′ＦＪ記サブストレー１−の前記部分の上に所定の情（ ３店を与え、二の１の材料は、「移り変わり材料」に選択ざ↑Ｌがつ前記任叡の 周波歌で所定の吸収率および「最初の反射率」を示す、」：うに選択され、かつ また所定の「ビン１〜位８」に記録されるべき１ゴ水に対応する前記書込ビーム を受けて読出反射率に変えられるようにされ。 二の「移り変わり材料」は溶融または変形することなく各！！ａ録されたピッ１ 〜位コでの４オ料がそのように反！’Ｆｌ率にｉ３いて有意へに変叱１−で、ま た、前記最初の反ｔｔＪ率を示す記録されＣいない領域と比較して良好４゛読出 コントラストを与える、１）ニードプラ〉・りを与えろ方法。 ２、ｐｊｉ記情報層材料は、最初の反＠率として［最初の最小の反射率ｊになる のに充分な厚さに真空めっきされる、。 請求の？２囲第１項記載の方法。 ３、　前記サブストレートは、金属製の支持ディスクを設（プ、そこへサビング 層を与え、そのサビング層の上に反射膜を形成し、その反射膜の上にスペーサを 形成することにのフル号ロボリマは、情報層を支持するように機能し、この層は 、前記周波数の書込ビームに対して部分的に透過性である」、うなＨさを有する ように構成され、かつその厚さは、前記任、息の周波猿におけるレコードブラン クに対する前記最初の反射率として［実質的に非反射性の１状態を前記情報層と ともに確立するように、前記スペーサ手段の厚さと前記スペーサおよび反射手段 の光学的特性とに関連するようにされる、請求の範囲第２項記載の祖合せ。 ４、　約２情報１、前記スペーサ手段および前記反射手段は、ｒ３１ｉｆｆＪｔ ｆｔＢに帽合わされるように選択されかつ形成される、請求の範囲第３項記載の 方法。 ５、　前記スペーサは、テトラフルオロエチ１ノンからなる、請求の範囲第４項 記載の組合せ。 ６、　＠記情暇１は、金からなり、前記金は、「最初の最小の反射率」に対応す る厚さに真空めっきされる、請求の範囲第５項記載の方法。 ７、　前記サブストレートは、滑らかなｌを有するアルミニウムディスクを備え 、その上にアルミニウムの反射膜が形成される、請求の範囲第６項記載の方法。 ８４　任意の周波数でかつ比較的低い書、込エネルギの書込ビームを与えてレコ ードの上に１変化した反射率Ｊを書込む記録放射源で、比較的長い記録保管寿命 にわたって用いるＪ：うにさね、た、改良された「非変形性の放射レコード」を 製造する方法て夕・って、 Ｆビット」が引込ｊ：れるところのサブストレートから情Ｉ１１層を熱的に絶縁 りながら、情報層の形成のためそのレコードを「非反射性Ｊにするように、ディ スクサブス１ヘレートの反ＩＩ部′ＦＪＣ上に有機物の結縁性の透明なスペーサ を形成τることによって、［非反射性Ｊサブストレート構造を設に１、 最初のし・ニード反射率として「＠初の最小の反帽率］に対応する屹−な厚さに 、前記１ｉｆｆ造の上のこのような記録に適した「情報ＷＡＪを形成する各ステ ップを備える、改良どれｔ：「非変形性の放射レコード」を製造する方法。 ９、　１）″Ｊ記情＠Ｆｇは、デフォ−カシフグ熱絶縁性オーバコートて覆われ る、請求の範Ｉｆｌ！第８項記載の方法。 １０、　任意の周波数でかつ第１の再生強さの再生放射の集光したビームで用い るための、かつまた前記任意の周波！’：　７’かつ情報１ビツト・」をＶ込む ようにされた第２の記録強さの記録放射の集光し・たビームで記録するための、 し・コードブランクを与える方法において、前記第２の強ごは、前記第１の強さ よりも大きいがしかＬノ関連し、た情報音を溶融するにｋよ不十分であり、 反射性面部分を含むディスク支持手のを設け、良好な熱的絶縁特性を示しかつ前 記周波数の放射に対して実質的に透明でおる第１のスペーサ材料の厚みをこの部 分１与５−・　特表昭５８−５０１８８７　（２）任意の移：つ変わり厚さから なり、力つあると度の吸収率どめる程度の反射率と１〕なり大きな造厄串を前記 任意の周波数で示−１情報ｔシ料の居をこのスペーサ材料の層に与シこる各；− ′″Ｔ−；ブを備え、前記スペーサの摩ａは、「ビ）ト位だ」を除いて前記再生 じ一ムの下で前記恒報届がらの雇小の反叡空ケケ覆るようなものであり、 も（、記配録ビームは、イのヒラ１位［における材料を溶融することな、（前記 再生ビームの１−で最大の反射率を住づ′るよう（こそこの前記廿ｊ報材利なカ ニ熱するさうにされ、これらの反射キの値は、前記第１の０、きての前記再生ビ ームの再生の間、獣込まれたレコーｌ；が仁念の最小の信号ノイズ比を示すよう に程なるようにされ、 前記スペーサ材料は、透明なフルオロポリマからなるように選択される、しコー ドブランクを与える方法。 ！１．　前記スペーサの厚みは、テトラフル寸ロエチレンからなり、金ま１ビは その合金の情報Ｌ′料が、その上に真空ν５−７きされ、かつディスクか、前記 スペーサの厚みの下に反射性面を有するアルミニウムから形成される、請求の範 囲第１０項記軟の方法− １２、開運Ｉ］だ再生ビームで再生するため低出力記録レーザビームで使用する ためのレコードブランクを与える方法であって、両方のビームは、任意の波長で 動作し、前記波長で高い反＠串・３示す光反射性表面を有するサブストレートを 設け、 前記波長に対して高い透明性を示すスペーサ絶縁材料の厚みを前記サブストレー ト表面の上に与え、この波長である程度の反射率、ある程度の吸収率およびより 大きな透過率を示す「移り変わり材料」の情報層をこの絶縁材料の上に形成し、 この移り変わり材料は、その反射率が、溶融または変形することなく前記レコー ドビームによって有意義に変えられるように選択され、形成されかつ構成され、 その絶縁材料は、透明な有機物の誘電体からなる、レコードブランクを与える方 法。 １３、　スペーサ絶縁体は、前記波長の情報層の表面でのレーザ照射が通常実質 的に位相がずれ、かつ前記反射性表面によって反射された照射により打消される ような厚さに形成され、かつフルオロポリマからなる、請求の範囲第１２項記載 の方法。 １４、　所定の波長の低出力レーザ書込ビームで情報層の上に「移り変わりビッ ト」の非変形性の非溶融性の記録のためのレコードブランクを与える方法であっ て、前記周波数で高い反射率を示す所定の反射表面を含むサブストレートを設け 、 前記表面の上にスペーサの厚みを重ね、前記情報層を形成するために前記スベー リ一層の上に「移り変わり材料」の層を重ねる各ステップを備え、この移り変わ り材料は、前記スペーサ層および反射性表面と関連して、その情報層が「移り変 わりビット」位置で第１の反射率をその情報層が示し、書込ビームを受けて前記 書込ご一ムの下で溶融することなく他の部分で第２の有意義な対照的な反射率を 示すような厚さに与えられかつ公式化され、前記スペーサの厚さは、サブストレ ートから「ビット」を完全に分離するように選択され、かつ透明なポリマからな る、レコードブランクを与える方法。 １５、　前記サブストレートは、少なくとも１つの金属製の反射膜手段が、前記 反射表面を構成するディスクの形式前記スペーサは、前記反射膜手段と関連して 、前記「移り変わり材料」のため［非反射性Ｊサブストレートを構成しかつそれ を絶縁するような厚さを有する熱的に絶縁された透明なフルオロポリマの厚みか らなる、請求の範囲第１４項記載の方法。