JPS58501551A - クラツド厚さ測定装置 - Google Patents

クラツド厚さ測定装置

Info

Publication number
JPS58501551A
JPS58501551A JP50348381A JP50348381A JPS58501551A JP S58501551 A JPS58501551 A JP S58501551A JP 50348381 A JP50348381 A JP 50348381A JP 50348381 A JP50348381 A JP 50348381A JP S58501551 A JPS58501551 A JP S58501551A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
magnetic flux
cladding
thickness
secondary winding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP50348381A
Other languages
English (en)
Inventor
メードウエル・ジヨージ・ロビンソン
Original Assignee
コンバツシヨン エンヂニアリング,インコ−ポレ−テツド.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by コンバツシヨン エンヂニアリング,インコ−ポレ−テツド. filed Critical コンバツシヨン エンヂニアリング,インコ−ポレ−テツド.
Publication of JPS58501551A publication Critical patent/JPS58501551A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/105Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 クラッド厚さ測定装置 発明の背景 本発明は、金属の非破壊テストに関し、特に、クラット材の透磁率と異々る透磁 率の磁束伝導母材の上に張り伺けられた磁束伝導クラツド材の厚さ測定に関する 。
侵食または熱の保護を要する原子力、石油化学、および他の産業にて使用される 容器、パイプ、および他の部品は、母材の上にその特定の性質によって選択され たクラツド材を張り付けたものが時々製造される。
このクラッド構造は容器、パイプまたは他の部品全体をクラッド材料だけで製造 するよりも経済的である。
クラッド材料は時々、容器、パイプまたは他の部品の母材に溶接によって張り付 けた後そのクラツド材を機械加工あるいは研摩して表面仕上げされる。最初のク ラッド厚さはクラツド材を張り付けるに使用される特定の溶接法から見積もられ るが、機械加工または研摩後のクラツド材の厚さを見積もることは、難しい。
クラツド材および母材間の界面を検出することによってクラツド材の厚さを測定 する超音波法が使われている。超音波法は、クラツド材が母材によく張り付いて いる時よりも母材によく張り付いていない時の方がうまく界面を検出する。クラ ット材が母材によく張り付いているというより好捷しい条件においては、クラツ ド材の厚さの確実な超音波決定は望1れない。
母材に張り付けられたクラツド材の表面に直角な面に置いた磁石を引張ることに よってクラッド厚さをIll定する方法も使用されている。この方法(廿破壊カ を測定してクラット厚さに対するその刀を相関させる。クラット厚さを決定する この方法(プ、クランド材の透磁率が低く母材の透磁率が高い場合の適用に限ら れる。
したがって、クラツド材の透磁率とは相違する透磁率の磁束伝導母材に張り付け られた磁束伝導クラツド材の厚さを決定する非破壊方法および装置の必要性があ る。
発明の概要 本発明は磁束伝導クラツド材の厚さを非破壊的に決定するためにコア型変圧器を 使用している。本発明は、磁束伝導クラツド材が磁束伝導母材に張り付けられ、 クラツド材の透磁率が母材の透磁率と相違するもの(・で適用される。コア型変 圧器の一次および二次巻線は不完全なコアおよびクラッド厚さ被測定材料を通っ て伝導される相互磁界によって相互接続されている。不完全なコアの3つの脚部 は強磁性材で、2つの脚部間にエアギャップを有し2、U字状をし、でいる。磁 束経路はそのエアギャップ間に磁束伝導性のクラッド厚さ被測定材料を置くこと によって完成される。
コア型変圧器の一次巻線には交流電圧が印加される。
コア型変圧器の一次巻線および二次巻線は不完全なコアおよびクラッド厚さ被測 定材料を通って伝導される相互磁界によって相互接続される。二次巻線に誘起さ れる電圧の大きさは、−次巻線に印加される電圧の大きさ、−次巻線の巻数に対 する二次巻線の巻数の比、および磁束経路のりラフタンスに依存する。
−次巻線に印加された電圧の大きさに対する二次巻−次巻線に印加された電圧の 大きさによって二次巻線に誘起される電圧を正規化することにより一次巻線に印 加される電圧の大きさに無関係な電圧比が作られる。
このように、電圧比は一次巻線に印加される電圧の変化と無関係になる。巻数比 がわかれば、電圧比は磁束経路のりラフタンスのみに依存する。
強磁性で不完全なコアのりラフタンスは一定である。
クラッド厚さ被測定材料のりラフタンスは、クラツド材の組成、クラツド材の厚 さ、および母材の組成に依存する。この3つの変数である、クラツド材の組成、 クラツド材の厚さおよび母材の組成の各組合せにより予測電圧比が得られる。ク ラツド材の組成および母材の組成がわかれば、電圧比はクラツド材の厚さの非破 壊測定量となる。
クラツド材の厚さは、電圧比とクラツド材の組成との交点に近い目盛に基き特定 のクラッド材−母材電圧比図表を参照することによって決定される。このクラッ ド材−母材電圧比図表は、クラツド材の組成、クラツド材の厚さおよび母材の組 成がわかっている多くのテストブロックを使って作られる。母材の特定の組成に 対して、テストブロックはクラット材組成の範囲およびクラッド材厚さの範囲を 変化させる。電圧比(d、に記録される。電圧比はゼロから巻数比まで変化′す る。
不完全なコアは平らなU字状の強磁性積層体を特定の奥行まで積重ねて作られる 。クラッド厚さ被測定材料と接触状態に置かれた不完全なコアの端部は積層体の 任意の1つの平面に実質的に直角にテーパが付けられている。テーパ付端部は積 層体の底部のところに直線の線分をもったU字状の形を形成している。テーパの 先のところには積層体が摩耗するのを防ぐためにコアの床全体に亘って耐摩耗材 が挿入されている。このテーパは不完全なコアがクラッド厚さ被測定材料と接し ているところの磁束を集中させている。耐摩耗挿入体間の距離はクラッド厚さ被 測定材料の特定の長さを制定するもので、この間を介して磁界が確立される。
不完全なコアの奥行は磁界の幅を確立する。同じクラッド材−母材図表を使って 使用しようとするコア型変圧器のすべては、耐摩耗挿入体間の距離を同じにし、 不完全なコアの奥行きを同じ、にし、がっU字状のテーパを同′じものにしなけ ればなら万い。
好適な実施例は一次巻線に既知の大きさおよび周波る。−次巻線に印加される電 圧は既知の値で一定に維持されている。これにより一次巻線に印加される電圧に よって二次巻線に誘起される電圧を正規化する必要性を除いている。二次巻線に 誘起される電圧の大きさは直接に使用することができる。
二次巻線に誘起される電圧の大きさは、−次巻線に印加される電圧の大きさ、二 次巻線の巻数に対する一次巻線の巻数の比、および磁束経路のリラクタンスに依 存する。−次巻線に印加される電圧の大きさ、巻数比、および不完全なコアの3 つの強磁性脚部のりラフタンスは一定で変わらない。クラッド厚さ被測定材料は 2つの平行な磁束経路を与え、それぞれは異なったリラクタンスを有している。
平行磁束経路の等価リラクタンスは、クラツド材の組成、クラツド材の厚さ、お よび母材の組成に依存する。3つの変数であるクラツド材の組成、クラツド材の 厚さ、および母材の組成の各組合せにより、巻数比がわかっていて一次巻線に印 加される電圧がわかっていれば、二次巻線には予測電圧が誘起される。クラツド 材の組成、および母材の組成がわかっていれば、二次巻線に誘起される電圧はク ラツド材の厚さの非破壊測定量である。
クラツド材の厚さは、二次巻線に誘起された電圧およびクラツド材の組成の交へ に近い目盛に基いて特定のクラッド材−自材図表を参照して決定きれる。クラッ ド材−母材図表は、クラツド材の組成、クラツド材の厚さ、および母材の組成が わかっている多くのテストブロックを使って作られる。母材の特定の組成におい ては、テストブロック(dクラット材組成の範囲およびクラッド材厚さの範囲を 変化させる。二次巻線に誘起された電圧は、既知の電圧が一次巻線に印加されて 各テストブロックが一度に1つを不完全なコア型変圧分までの厚さを決定するの に有効である。
図面の簡単な説明 第1図は不完全なコア型変圧器と関連された電気回路図および耐摩耗挿入体、ク ラツド材、および母材を通る典型的な磁束線を示した不完全なコア型変圧器の側 面図である。
第2図は一次巻線に印加される電圧が一定である場合の別な実施例を示す図であ る。
第3図はフェライト番号の範囲内の炭素鋼母材の上にステンレス鋼のクランドが ある場合で1インチエアキャップによる二次巻線誘起電圧とクラッド厚さとの  ″関係を示す特定のクラッド材−母材図表である。
好適な実施例の説明 第1図は、クラッド厚さ測定装置10を示す概要図である。リード線50は一次 巻線52を交流電圧源96と電圧比計算器98とに接続している。
−次巻線52は不完全なコア54の一部を取り巻くよう示しである。−次巻線5 2に印加された電圧は一次巻線52に電流を発生させ不完全カコ752に磁界を 発生させる。磁束回路はクラッド厚さ被測定材料Iによって完全にされる。この クラッド厚さ被測定材料56は母材厚さ60の母材58とクラッド材厚さ64の クラツド材62とで成る。はぼすべての磁束線66は不完全なコア54を通過す る。磁気回路を完全にするには、磁束線66の一部である磁束線68はクラツド 材62を通過する。磁束線66の残りの磁束線70はクラツド材62、母材58 、そして再びクラツド材62を通過する。
リード線38は二次巻a40を電圧比計算器98に接続している。
電圧比計算器98は、−次巻線52に印加された電圧の大きさに対して二次巻線 40に誘起された電圧の大きさの比を与えるものである。゛この電圧比はクラツ ド材62の厚さ64の非破壊測定量である。−次巻線52は300の巻数を有し 、二次巻線40は600の巻数を有している。巻数比は一定である。−次巻線5 2に印加された電圧の大きさによって二次巻線40に誘起された電圧を正規化す ることにより一次巻線52に印加された電圧の大きさに関係のない電圧比が作ら れる。
このように、電圧比は電圧源96の電圧の変化に影響されない。
既知の巻線比においては、電圧比は磁束経路のりラフタンスのみに依存する。不 完全なコア54のリラクタンスは一定である。クラッド厚さ被測定材料56のリ ラクタンスはクラツド材62の組成、クラツド材の厚さ、および母材の組成に依 存する。これら3つの変数である、クラツド材の組成、クラツド材の厚さ、およ び母材の組成の各組合せによって電圧比を予測させることができる。クラツド材 62の組成および母材58の組成がわかっていれば、その電圧比はクラツド材6 2の厚さ64の非破壊測定量である。
クラツド材62の厚さは、格別のクラッド材−母材電圧比図表を参照して電圧比 とクラツド材62の厚さとの交点に近い目盛から決定される。クラッド材−母材 電圧比図表は、フェライト番号の範囲に亘って炭素鋼の母材の上にステンレス鋼 をクラッドする場合を、左側の縦座標の目盛を使って第3図のように示される。
クラッド材−母材電圧比図表はクラツド材の組成、クラツド材の厚さ、および母 材の組成がわかっている多くのテストブロックを使って作られる。母材の成る特 定の組成のものでは、テストブロックはクラツド材組成の範囲およびクラッド材 厚さの範囲に亘って測定する。電圧比は、電圧が一次巻線に印加され各テストブ 比まで及ぶ。
第2図は、−次巻線52に印加される電圧が一定であるようなりラッド厚さ測定 装置IOの好適力実施例を示す概略図である。リード線】2は定電圧出力変圧器 〕4を交流電圧源16に接続している。通常は60Hzの交流電圧源16は11 7ボルトrmsである。定電圧出力変圧器14は105ボルトないし130ボル トの範囲に亘って交流電圧源16の電圧変化を吸収して117ボルトnnsに固 定された出力電圧18を維持する。
電源20は一定の直流出力電圧を作る半波整流回路である。降圧変圧器22の一 次巻線はリード線19によって電圧源18に接続される。降圧変圧器22の二次 巻線には126ボルトの交流電圧が誘起される。降圧変圧器22の二次巻線の第 1リード線はダイオード24のアノードに接続される。コンデンサ26、抵抗2 8、およびコンデンサ30はπ型フイルりを成している。
波整流電圧は直流電圧が負荷に印加される前にろ波されて不要なりプルや電圧変 動が除かれる。コンデンサ26は25マイクロフアラツド、抵抗28は5007 1−−ム、コンデンサ:30は25マイクロフアラツドである。
ツェナーダイオード32はコンデンサ30と並夕1jに接続される。ツェナーダ イオード32はコンデンサ30のろ波電圧に残っているリプルより小さな91ポ ルの降伏電圧を有している。この結果、ゼロ調整ポテンショメータ34の両端は 91ボルトの一定の直流電圧と万る。ゼロ調整ポテンショメータ34(410回 転式25キロオームの抵抗である。上口調整ポテンショメータ34の共通端子に 対する摺動子の電圧は出力電圧計36に供給される。降圧変圧器22の二次巻線 の第2リード線も捷だ電圧計36に接続されている。電圧計36は実効真値電圧 を測定できる31/2桁表示のディジタル電圧計である。リード線38は二次巻 線40をディジタル電圧計36の電圧測定端子に接続している。
降圧変圧器42の一次巻線は定電圧源18に接続されている。降圧変圧器42の 二次巻線に誘起された63ボルトの交流電圧は3つの直列の抵抗に供給される。
第1の電流制限用抵抗44は20オーム、利得調整用ポテンショメータ46は1 0回転式25オームOポテンショメータ、そして第2の電流制限用抵抗48は2 0オームの抵抗である。リード線50は利得調整用ポテンショメータ46の摺動 子対共通端子間の電圧を一次巻線52に供給する。
一次巻線52は不完全なコア5・1の一部を取り囲むよう示さねでいる。−次巻 竹52(で与えら!1,る電圧は−次巻線52に電流を流して不完全なコア54 の中に磁界を発生させる。磁束回路はクラッド厚さ被測定材料56によって完全 にされる。クラッド厚さ被測定材料56は母材厚さ60の母材58とクラッド厚 さ64のクラツド材62とから成る。すべての磁束線66は不完全なコア54の 中を通る。磁気回路を完全にする4ノ ために、磁束線66の一部の磁束線68クラツド材62の中を通る。磁束線66 の残りの磁束線70はクラツド材62、母材58、そして再びクラツド材62を 通過する。
不完全なコア54は積層型変圧器コアによって作られている。不完全なコア54 の積層コア構造におけるすべての積層体はU状で同じものである。積層体の3つ の脚部の夫々の均一な断面幅は0.9センチメートル(036インチ)である。
積層体は奥行き0.9センチメートル(036インチ)まで積層される。積層さ れた積年完全なコア54は強磁性材の3つの脚部から成る。
3000巻数を有する一次巻線52は第1脚部の回シに巻かれている。ハンドル 72は不完全なコア54の第2脚部に装着されてそこから絶縁されている。60 0の巻数を有する二次巻線40は不完全なコア54の第3脚部に巻かれている。
第2脚部に接続されていない側の第1脚部の端部および第3脚部の端部は磁束経 路におけるエアギャップを形成するものであり、テーパが付けられている。この テーパ付端部はV字状を成し、そのV字状の端部のまん中には直線の線分を有し ている。この直線の線分は各別の積層体のすべての平面に対して実質的に直角で ある。クラッド厚さ被測定材料56はテーパ付端部と接触状態でエアギャップを 横切って置かれる。積層体の摩耗を除くためには、その摩耗特性に対応して選択 された材料の挿入体がテーパ付端部に挿入されて摩耗要素74を構成している。
タングステン、304ステンレス鋼、またはステライト挿入体が使用される。
積層体の平面に実質的に直角な直線の線分を形成するために不完全なコア54の 第1および第3脚部の端部にテーパを付けることにより、不完全なコア54がク ラッド厚さ被測定材料56と接触しているところの磁束線が集中される。耐摩耗 挿入体間の距離は中を通って磁界が発生しているクラッド厚さ被測定材料56の 特定の長さを成している。コア54の奥行は磁界の幅を成している。摩耗要素7 4間の距離f、すなわち距離76は25センチメートル(1インチ)である。
以下に述べるクラッド材−母材図表はこの距離に依存し、この図表を使うすべて の不完全なコア型変圧器はテーパ付端部間において同じ距離を有していなければ ならない。繰返し精度を保証するには、同じクラッド材−母材図表を使うすべて のコア型変圧器は同じ■字状テーパ付端部を有していなければならない。またテ ーパ付端部は被覆面のクラッド厚さ測定を容易にするものである。
材料の表面抵抗を決定するためにその材料を通して電流を流すようにした表面抵 抗測定法とは違って、本発明は材料56に磁束線を通してクラツド材62の厚さ 64を非破壊的に決定することにある。
本発明は、交流電圧源18から降圧変圧器42および利得調整ポテンショメータ 46を介して一次巻線52へ交流電圧を印加することによって使用される。磁気 材料の影響を与えないよう不完全なコア54を離しておきながら、ゼロ調整ポテ ンショメータ34を、二次巻線40での誘起電圧を測定する電圧計36がゼロを 指示するまで調整する。不完全なコア54を磁気材料の影響から離しておくこと は、不完全なコア54を磁気材料から離れた空気中に保持することにより、また はエアギャップ間に非磁性材料を摩耗要素74と接触状態にしておくことにより 成すことができる。ゼロ調整の間、摩耗要素74間のパーミアンスは最小である 。
または、リラクタンスはパーミアンスの逆数なので、摩耗要素74間の磁力線に 対するリラクタンスは最大である。
利得は摩耗要素74と接触状態にある不完全なコア54のエフギャップ間に、炭 素鋼のような高磁束伝導材料を置くことによって調整される。高磁束伝導材料4 の透磁率は少なくともテストされる母材の透磁率と同じでなければならない。利 得調整ボテ/シフメータ46は二次巻線40の誘起電圧を測定する電圧計36が 500ミリボルトを示す捷で調整される。よシ高い磁束伝導材料は摩耗要素74 間の磁力線に対してより低いリラクタンスを与える。
もし、ゼロ調整および利得調整が独立していなければ、ゼロ調整および利得調整 を数回繰り返す必要がある。ゼロおよび利得の調整は、不完全なコア54が磁性 材料の影響から離れて位置されている時に二次巻線40((誘起される電圧を示 す電圧計36がゼロボルトを示すまで、および高磁束伝導材料が摩耗要素74と 接触状態でエアギャップ間に置かれている時に二次巻線40に誘起される電圧を 示す電圧計36が50θミリボルトを示すまで、行なわれる。−次巻線52に印 加される交流電圧の数値がわがっていることは重要なことではない。−次巻線5 2に印加される電圧が一定であること、および二次巻線4oに誘起される電圧が 、リラクタンスが摩耗要素74の間で最大である時ゼロ、リンクタンスが摩耗要 素74の間で最小である時500ミリボルトであることのみをわかればよい。こ れらの条件を一旦調整すると、ゼロ調整ポテンショメータ34および利得調整ポ テンショメータ46はクラッド厚さ測定装置10の使用の間変えなくてよい。
上記の調整が完了すると、クラッド厚さ、クラノド材および母材がわかっている テストブロックが不完全なコア54の摩耗要素74間に置かれる。二次巻線4゜ に誘起され電圧計36によって示されたと同゛じ電圧が記録される。クラッド厚 さ、クラツド材および母材がわかっている別なテストブロックが、クラッド材絹 成の範囲およびクラッド材厚さの範囲内に亘って、摩耗要素74間に置かれ、二 次巻線4oに誘起さ几た電圧が記録される。この結果各テストブロックについチ 一連の点が得られる。このテヌト点は曲線を成すよう結ばれる。一連の曲線から クラット材−母材図表が得られる。
第3図は、炭素鋼の母材にステンレス鋼のクラッドの場合のクラッド材−母材図 表を示している。9本の曲線が示されている。クラッド厚さは0がら127セン チメードル(0から05インチ)まで変化させている。
クラツド材の組成は0から16まで変化するフェライト番号によって示される。
曲線78.80,82.84.86.88.90.92および94はそれぞね0 .2.4.6.8.10.12.14および16のフェライト番号を持ったクラ ツド材について示している。曲線78〜941−]:クラノド製造にて広く使用 されているフエシイ)・番号の範囲をカバーしている。曲線78〜94と同様な 曲線を含むクラッド材−母材図表はクラッド材−母材の組合せ変化ごとに用意さ れる。
ゼロおよび利得調整が完了し、クラッド材−母イ」図特!(日、’!58−50 1!’151(6)表が用意されると、不完全なコア54はクラッド厚さ被測定 材料56と接触状態にある摩耗要素74と共にクラッド厚さ被測定材料56の土 に置かれる。二次巻線40に誘起され電圧計36によって示された電圧が記録さ れる。クラット材のノエライト含有量は任意の既知手段を使って測定される。母 材、クラット材こりフェライト番号および二次巻線40に誘起された電圧かわか れば、その母材について第3図と同様のクラッド材−母材図表((より、参照が なさ第1る。二次巻線4゜に誘起された電圧を縦座標の図表に入れると、クラッ ト厚さは二次巻線40に誘起された電圧とクラット材のフェライト番号を表わす 曲線との交点の下の横座標目盛から読取られる。中間のフェライト番号を入れる ことが必要である。
二次巻線40に誘起される電圧の大きさは、−次巻線52に印加される電圧、− 次巻線52と二次巻線4゜との巻数比、および−次巻線52と二次巻線4oとを 相互−接続している磁束経路のリラクタンスに依存する。
−次巻線52に印加される電圧(、咀利得調整ボデンンヨメータ46が調整され た詩法められ、テスト中は一定に維持される。−次巻線52は300の巻数を有 し1、二次巻線40ば600の巻数を有する。巻数比、すなわち−次巻線52の 巻数に対する二次巻線410の巻数の比は一定である。−次巻線52と二次巻線 40とを相互接続している磁束経路のりラフタンスのみが変数である。磁束経路 は不完全hコア54の3つの強磁性の脚部とクラット厚さ被測定材料56とから 成る。不完全&:+754の3つの強磁性脚部のリラクタンスバ一定である。ク ラッド厚さ被測定材料56のりラフタンスはクラツド材62の組成、クラツド材 の厚さ64、お磁率の磁束伝導クラット材62は、不完全なコア5,1のエアキ ャップの間に置かれた時に、摩耗要素74間のクラッド厚さ被測定材料56を介 して通る平行磁束経路を鳥えることになる。2つの平行なリラクタンスは組合わ されて等価リラクタンスを形成する。クラッド被測定材料56の等価リラクタン スf7jクラノ1−材の組成、クラツド材の厚さ、および母材の組成(C依存す る。これら3つの変数、すなわちクラツド材の組成、クラツド材の厚さ、および 母材の組成の各組合せにより、−次巻線52に印加された既知電圧に対応する予 夕1j電圧を二次巻線40に誘起させる。これら変数間の関係は第3図のクラッ ト材−母材図表にて図式的に表現される。これによって、クラット材62の組成 および母材の組成がわかれば、二次巻線40に誘起される電圧がクラッド材厚さ 64の非破壊測定量である。
第3図のクラッド材−母材図表を使う時、クラツド材の組成はフェライト番号に よって決められる。
厚さ0.054センチメートル(0,025インチ)壕でのクランド材は10セ ンチツートルないし25センチメートル(4インチないし10インチ)の範囲の 母材に与えられている。これらの適用において(廿、母材58の厚さ60は二次 巻線40に誘起される電圧に影響を与えていなかった。
不完全なコア型変圧器は距離76の半分寸てのクラッド厚さを決定するのに有効 である。不完全なコア型変圧器(寸わずか距離76の]/4まてのクラット厚さ を決定するのに使用されることが推奨されている。より薄いクラツド材を測定す るためには、より犬さな距離76を持った不完全なコア型変圧器を構成すべきで ある。
クラツド材を厚さ測定する前に、一般に、クラツド材62の亀裂のようなきすが 検出される。したがって、クラッド厚さ測定装置10の動作時において、さすの 影響を確認する必要はない。
一般に、機械加工され研摩されたクラッドをスポット検査してクラツド材(″) 厚さを決定するのが適当である。しかし5、加工物の1−に格子を制定してその 格子の各四角からクラッド厚さをとることができる。
クラツド材が母材の上に接合されクラツド材および母材の透磁率が双方で相違す るけノ1ども比較的高いものである場合の適用についてクラッド厚さ測定装置1 0を述べた。また、クラッド厚さ測定装置10g、、金属母材上の塗料の厚さを 測定する時のような、クラツド材の透磁率が母材の透磁率よりも相当低いときの クラッド厚さの測定にも使用することができる。クラツド材の透磁率が母材の透 磁率より相当低い場合の適用において、クラッド厚さ測定装置10は、クラツド 材および母材の両透磁率が比較的高い場合のように、クラッド厚さのほぼ同じ範 囲に亘って有効であることがわかっている。
項 舌 聯 国際調査報告

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.一部を巻回している一次巻線と一部を巻回している二次巻線と第1端部と第 2端部とを有する不完全な変圧器コアと、この不完全な変圧器コアの前記−次巻 線に交流電圧を印加する手段と、2つの電圧の大きさの比を決定する手段と、こ の電圧比決定手段に前記−次巻線を接続する手段と、前記電圧比決定手段に前記 二次巻線を接続する手段とを備え、前記電圧比決定手段は、交流電圧が前記−次 巻線に印加されて透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラツド材が前記不 完全な変圧器コアのコアを完全にしている時クラッド厚さの非破壊測定量である 一次電圧に対する二次電圧の比を表示するようにしたことを特徴とする、透磁率 の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラツド材の厚さを決定する装置。 2 磁束伝導母材の透磁率は磁束伝導クラツド材の透幸 磁率より太いことを特徴とする請求の範囲第1項記載の、透磁率の異なる磁束伝 導母材上の磁束伝導クラツド材の厚さを決定する装置。 3 前記不完全な変圧器コアの前記第1端部および第2端部はテーパが付けられ ていることを特徴とする請求の範囲第1項記載の、透磁率の異なる磁束伝導母材 上の磁束伝導クラツド材の厚さを決定する装置。 4 耐摩耗挿入体を前記テーバ付端部の先端に挿入されていることを特徴とする 請求の範囲第3項記載の、透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラツド材 の厚さを決定する装置。 5(a)不完全な変圧器コアの中に磁束を発生させ、(b)クラッド厚さ被測定 材料を不完全な変圧器コアと接触状態に置いて磁束経路をクラッド厚さ被測定材 料を介して完成させ、(C)印加電圧を関数とした磁束の大きさを決定し、(d )既知のクラッド厚さについての印加電圧を関数とした磁束の大きさを決定し、 (e)決定された磁束の大きさと予め決定された磁束の大きさとを比較してクラ ッド厚さを得る、以上ステップを含むことを特徴とする、透磁率の異なる磁束伝 導母材上の磁束伝導クラツド材の厚さを決定する方法。 6 定電圧交流電源と、第1端子、第2端子および分圧端子を有し前記第1端子 および前記第2端子を前記定電圧交流電源に接続した第1分圧器と、一部を巻回 している一次巻線、一部を巻回している二次巻線、第1端部および第2端部を有 する不完全な変圧器コアと、前記第1分圧器の前記分圧端子および前記第2端子 を前記不完全な変圧器コアの前記−次巻線に接続する手段と、一定の直流電圧を 供給する手段と、第1端子、第2端子および分圧端子を有し前記第1端子および 前記第2端子を前記一定の直流電圧を供給する手段に接設に接続する手段と、前 記二次巻線を前記電圧測定手段に接続する手段とを備え、前記電圧測定手段は、 電圧が前記−次巻線に印加されて透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラ ツド材が前記不完全な変圧器コアを完全にしている時前記二次巻線に誘起された 電圧を測定することを特徴とする、透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導ク ラツド材の厚さを決定する装置。 7 前記不完全な変圧器コアの前記第1端部および第2端部はテーパが付けられ ていることを特徴とする請求の範囲第6項記載の、透磁率の異なる磁束伝導母材 りの磁束伝導クラツド材の厚さを決定する装置。 8 耐摩耗挿入体を前記テーパ付端部の先端に挿入されていることを特徴とする 請求の範囲第7項記載の、透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラツド材 の厚さを決定する装置。 9 磁束伝導母材の透磁率は磁束伝導クラツド材の透磁率より大きいことを特徴 とする請求の範囲第6項記載の、透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラ ツド材の厚さを決定する装置。 1.0. (a+、−一定の交流電圧を不完全な変圧器コアの一次巻線に供給し 、tb)不完全々変圧器コアを磁束伝導材料の影響から離れた位置に置き、(C )電圧測定手段のゼロ調整を、前記不完全な変圧器コアの二次巻線に誘起される 電圧を測定する電圧測定手段がゼロを示す捷で調整し、(d)高磁束伝導材料を 不完全な変圧器コアと接触状態に置いて磁束経路をその高磁束伝導材料を介して 完成させ、(e)利得調整を、前記不完全な変圧器コアの二次巻線に誘起される 電圧を測定する電圧測定手段が所定の電圧値を示すまで調整し、(f)必要に応 じてステップ(b)ないしくelを繰り返し、fg)クラッド厚さ被測定材料を 不完全な変圧器コアと接触状態に置いて磁束経路をクラッド厚さ被測定材料を介 して完成させ、(1〕)電圧ff1l+定手段によって示されたとおりに二次巻 線に誘起された電圧を決定し、(1)クラット材のフェライト組成を決定し、( J)二次巻線に誘起された電圧の大きさをクラッド厚さの関数として決定し、( kl二次巻線に誘起された電圧の決定された大きさと二次巻線に誘起された電圧 の予め決定された大きさとを比較してクラット厚さを得る、以上のステップを含 むことを特徴とする、透磁率の異なる磁束伝導母材上の磁束伝導クラツド材の厚 さを決定する方法。
JP50348381A 1981-10-14 1981-10-14 クラツド厚さ測定装置 Pending JPS58501551A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/US1981/001388 WO1983001505A1 (en) 1981-10-14 1981-10-14 Clad thickness measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58501551A true JPS58501551A (ja) 1983-09-16

Family

ID=22161475

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50348381A Pending JPS58501551A (ja) 1981-10-14 1981-10-14 クラツド厚さ測定装置

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4507609A (ja)
EP (1) EP0091429B1 (ja)
JP (1) JPS58501551A (ja)
AU (1) AU7802481A (ja)
CA (1) CA1221739A (ja)
DE (1) DE3176014D1 (ja)
ES (1) ES516322A0 (ja)
WO (1) WO1983001505A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014062745A (ja) * 2012-09-20 2014-04-10 Sensor System Co Ltd 母材表面に形成した磁性異質層厚さの検査装置

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5967405A (ja) * 1982-09-30 1984-04-17 Sumitomo Metal Ind Ltd ライナ厚測定方法
US4634976A (en) * 1983-05-05 1987-01-06 American Stress Technologies, Inc. Barkhausen noise method for stress and defect detecting in hard steel
US4829251A (en) * 1983-08-31 1989-05-09 Helmut Fischer Electromagnetic probe for measuring the thickness of thin coatings on magnetic substrates
JPS6138503A (ja) * 1984-07-31 1986-02-24 Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk 膜厚計
US4618825A (en) * 1984-10-11 1986-10-21 Helmut Fischer Electro-magnetic thickness measuring probe
CH667727A5 (de) * 1985-05-28 1988-10-31 Zellweger Uster Ag Messkopf zur induktiven messung der dicke einer isolierenden schicht auf einem elektrischen leiter.
US5115192A (en) * 1990-11-06 1992-05-19 Nova Corporation Of Alberta Magnetic displacement transducer with saturation compensation
GB2257528A (en) * 1991-06-18 1993-01-13 Colebrand Ltd Locating the position of ferrous reinforcement in a structure
US5218296A (en) * 1992-02-07 1993-06-08 International Business Machines Corporation Method and apparatus for determining at least one characteristic of a superconductive film
US5341678A (en) * 1993-05-12 1994-08-30 General Electric Company Method for determining thickness of ferromagnetic material deposition on nuclear fuel rods
JPH07110203A (ja) * 1993-10-08 1995-04-25 Japan Atom Energy Res Inst 原子炉圧力容器の肉盛り溶接部の厚さを計測する方法及び装置
US5623427A (en) * 1994-09-02 1997-04-22 Defelsko Corporation Nondestructive anodic capacity gauge
US5661241A (en) * 1995-09-11 1997-08-26 The Babcock & Wilcox Company Ultrasonic technique for measuring the thickness of cladding on the inside surface of vessels from the outside diameter surface
KR100376494B1 (ko) * 1995-12-30 2003-05-22 주식회사 포스코 전자석철심의투자율변화를이용한철판의매수감지장치및방법
KR100368247B1 (ko) * 1995-12-30 2003-03-28 주식회사 포스코 자속변화를이용한철판의매수감지장치
KR100428845B1 (ko) * 1999-08-20 2004-04-28 주식회사 포스코 포터블용 강판 표면의 스케일층 측정장치 및 방법
US20080136490A1 (en) * 2005-01-28 2008-06-12 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Voltage Integrator And Transformer Provided With Such An Integrator
CN103499272A (zh) * 2013-10-10 2014-01-08 南昌航空大学 铁磁构件非磁性覆层的大量程磁性测厚装置及其检测方法
CZ2014742A3 (cs) * 2014-11-03 2016-04-20 Vysoké Učení Technické V Brně Způsob pro vyhodnocení rozložení, hustoty a orientace feromagnetických elektricky vodivých vláken v kompozitním materiálu a detekční zařízení k jeho provádění

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5122461A (ja) * 1974-08-19 1976-02-23 Naito Densei Kogyo Co Ltd Jikimakuatsukei

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB460991A (en) * 1934-05-03 1937-02-08 Octavius Knight Improvements in or relating to electromagnetic gauging and testing of materials
GB501333A (en) * 1938-03-16 1939-02-24 William Henry Tait Apparatus for electrically testing the thickness of coatings or of other thin layers
US2320761A (en) * 1939-10-26 1943-06-01 Tait William Henry Apparatus for electrically testing the thickness of thin layers
US2226275A (en) * 1939-11-16 1940-12-24 Gen Electric Magnetic thickness gauge
FR888093A (fr) * 1942-03-31 1943-12-02 Gen Mecanique Appliquee Soc In Perfectionnements apportés à des dispositifs de contrôle magnétique, notamment pour mesurer l'épaisseur d'une couche non-magnétique sur un support en métal magnétique
US2595380A (en) * 1948-01-19 1952-05-06 Geotechnical Corp Pipe thickness testing apparatus
GB645777A (en) * 1948-08-04 1950-11-08 Gen Electric Co Ltd Improvements in or relating to apparatus for measuring the thickness of non-magneticcoatings on magnetic materials
US2935680A (en) * 1953-09-10 1960-05-03 Continental Can Co Means of gauging sheet metal and the like
US3340467A (en) * 1964-06-23 1967-09-05 Beckman Instruments Inc Magnetic metal detector utilizing a magnetic bridge formed with permanent magnets and a hall effect sensor
SE353791B (ja) * 1968-10-10 1973-02-12 Hajtomu Es Felvonogyar
DE2049976B2 (de) * 1970-10-12 1972-09-21 Elektro-Physik Hans Nix & Dr.-Ing. E. Steingroever KG, 5000 Köln Verfahren zur messung der dicke von schichten im bauwesen und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahren
US3747085A (en) * 1971-11-03 1973-07-17 Itek Corp Tool monitoring apparatus
US3878457A (en) * 1973-11-16 1975-04-15 Wayne E Rodgers Thin film thickness measuring apparatus using an unbalanced inductive bridge

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5122461A (ja) * 1974-08-19 1976-02-23 Naito Densei Kogyo Co Ltd Jikimakuatsukei

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014062745A (ja) * 2012-09-20 2014-04-10 Sensor System Co Ltd 母材表面に形成した磁性異質層厚さの検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0091429B1 (en) 1987-03-18
ES8407576A1 (es) 1984-09-16
AU7802481A (en) 1983-05-05
DE3176014D1 (en) 1987-04-23
CA1221739A (en) 1987-05-12
EP0091429A1 (en) 1983-10-19
WO1983001505A1 (en) 1983-04-28
EP0091429A4 (en) 1984-05-17
US4507609A (en) 1985-03-26
ES516322A0 (es) 1984-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS58501551A (ja) クラツド厚さ測定装置
CA2357233C (en) Sensor head for acfm based crack detection
US4553095A (en) Eddy current thickness gauge with constant magnetic bias
US4079312A (en) Continuous testing method and apparatus for determining the magnetic characteristics of a strip of moving material, including flux inducing and pick-up device therefor
US3378763A (en) Eddy current probe with temperature compensation
US3496458A (en) Method and apparatus for detecting and measuring cracks in metal structures
US2703384A (en) Apparatus for measuring the thickness of nonmagnetic coatings on magnetic material
JPS6352345B2 (ja)
JPH0316005Y2 (ja)
JPH0341795B2 (ja)
US2935680A (en) Means of gauging sheet metal and the like
US2158409A (en) Testing method and apparatus
Langman Measurements of the mechanical stress in mild steel by means of rotation of magnetic field strength—part 3: practical applications
US2055672A (en) Metal testing device
Moses et al. Comparison of the Epstein-square and a single-strip tester for measuring the power loss of nonoriented electrical steels
KR860000962B1 (ko) 피복두께 측정장치 및 방법
JPS6014162A (ja) キユリ−温度を超える温度にある金属体の表面および表面下の欠陥を測定するための測定装置
Nafalski et al. Loss measurements on amorphous materials using a field-compensated single-strip tester
JPH05142204A (ja) 電磁誘導型検査装置
GB460991A (en) Improvements in or relating to electromagnetic gauging and testing of materials
Beckley Continuous power loss measurement with and against the rolling direction of electrical steel strip using nonenwrapping magnetisers
US3284710A (en) A.c. or pulsating d.c. input signal current measuring transformer system with transformer output ratios corresponding to the input signal
RU2399870C1 (ru) Способ непрерывного контроля толщины и сплошности соединения слоев биметалла
US2982912A (en) Testing apparatus
US3345559A (en) Method of measuring the thickness of magnetic metal plates by measuring the variation of magnetic potential difference across said plates