JPS5849250U - 探傷装置 - Google Patents

探傷装置

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JPS5849250U
JPS5849250U JP14543581U JP14543581U JPS5849250U JP S5849250 U JPS5849250 U JP S5849250U JP 14543581 U JP14543581 U JP 14543581U JP 14543581 U JP14543581 U JP 14543581U JP S5849250 U JPS5849250 U JP S5849250U
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JP
Japan
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flaw detection
detection equipment
differential
flaws
inspected
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Application number
JP14543581U
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JPS6311652Y2 (ja
Inventor
正之 今井
工藤　保一
Original Assignee
株式会社島津製作所
山陽特殊製鋼株式会社
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、先行辣術の構成を示す図、第２図は、その構
成において最大感度が得られる場合の傷に関する信号波
形図１．第３図は、本考案の一実施例の構成を示す図、
第４図はタイプの異なる被検材に対する検出素子の組合
わせを説明するための図　　−である。 １０・・・被検材、１１．　１２．　１３・・・傷、１
５゜１６．１７・・・漏洩磁束、１８−・・検出子、２
０゜２１、　２２．　２３・・・検出素子、２５．　２
６．　２７・・・差動回路、３１．　３２．　３３・・
・フィルタ／増幅回路、３４．３５．３６・・・判定回
路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 少なくとも３個の検出素子を被検材の傷の状況に応じて
    配列して成る検出子と、各検出素子からの検出信号を受
    信する差動回路と、差動回路からの差動信号に基づいて
    被検材の傷の有無を検出する信号処理回路とを含むこと
    を特徴とする、探傷装置。
JP14543581U 1981-09-30 1981-09-30 探傷装置 Granted JPS5849250U (ja)

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JP14543581U JPS5849250U (ja) 1981-09-30 1981-09-30 探傷装置

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JP14543581U JPS5849250U (ja) 1981-09-30 1981-09-30 探傷装置

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JPS5849250U true JPS5849250U (ja) 1983-04-02
JPS6311652Y2 JPS6311652Y2 (ja) 1988-04-05

Family

ID=29938366

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014202483A (ja) * 2013-04-01 2014-10-27 大阪瓦斯株式会社 検査装置及び検査方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56122938A (en) * 1980-02-29 1981-09-26 Shimadzu Corp Flaw detecting method and defectoscope

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56122938A (en) * 1980-02-29 1981-09-26 Shimadzu Corp Flaw detecting method and defectoscope

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JPS6311652Y2 (ja) 1988-04-05

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