JPS60102665U - 探傷装置 - Google Patents

探傷装置

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Publication number
JPS60102665U
JPS60102665U JP19507383U JP19507383U JPS60102665U JP S60102665 U JPS60102665 U JP S60102665U JP 19507383 U JP19507383 U JP 19507383U JP 19507383 U JP19507383 U JP 19507383U JP S60102665 U JPS60102665 U JP S60102665U
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JP
Japan
Prior art keywords
flaw detection
signal
detection equipment
lift
eddy current
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Pending
Application number
JP19507383U
Other languages
English (en)
Inventor
遠藤　哲男
宏 松山
Original Assignee
三菱電機株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 三菱電機株式会社 filed Critical 三菱電機株式会社
Priority to JP19507383U priority Critical patent/JPS60102665U/ja
Publication of JPS60102665U publication Critical patent/JPS60102665U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例の断面図、第２図はこの考
案の実施例を説明するための図、第３図はこの考案によ
る実施例の構成を説明するためのブロック図、第４図は
この考案の実施例を説明するための図である。 図において、１は超音波探触子、２は渦流探触子、１３
はリフトオフパルス発生回路、１９は自動利得制御回路
モある。な聴、図中、同一あるいは相当部分には同一符
号を付して示しである。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 超音波探触子と渦流探触子を１体化すると共に、前記超
    音波探触子の信号からりフトオフ信号を発生するりフト
    オフパルス発生回路と、前記リフトオフ信号により前記
    渦流探触子の信号の利得を補正する自動利得＄Ｕ御回路
    とを備えたことを特徴とする探傷装置。
JP19507383U 1983-12-19 1983-12-19 探傷装置 Pending JPS60102665U (ja)

Priority Applications (1)

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JP19507383U JPS60102665U (ja) 1983-12-19 1983-12-19 探傷装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19507383U JPS60102665U (ja) 1983-12-19 1983-12-19 探傷装置

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JPS60102665U true JPS60102665U (ja) 1985-07-12

Family

ID=30419093

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19507383U Pending JPS60102665U (ja) 1983-12-19 1983-12-19 探傷装置

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