JPS584788B2 - デイジタルケイスウリツケイ - Google Patents

デイジタルケイスウリツケイ

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JPS584788B2
JPS584788B2 JP50152228A JP15222875A JPS584788B2 JP S584788 B2 JPS584788 B2 JP S584788B2 JP 50152228 A JP50152228 A JP 50152228A JP 15222875 A JP15222875 A JP 15222875A JP S584788 B2 JPS584788 B2 JP S584788B2
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JP
Japan
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count
circuit
count value
rate
counting
Prior art date
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Expired
Application number
JP50152228A
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English (en)
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JPS5275478A (en
Inventor
竹内祥高
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は放射線計測の分野等におけるランダム現象を有
する計数値の計数率をデイジタル方式にて統計的誤差を
ほぼ一定として測定するようにしたデイジタル計数率計
に関する。
放射線計測の分野等においては原子の崩壊等のランダム
現象によるパルス数を計数するため計泌値には当然統計
的誤差が含まれている。
この統剤的誤差は計数値をZとすると相対的標準偏差が
例する。
したがって計数値が大きい場合には統計的誤差の割合は
小さく、計数値が小さい場合には統計的誤差の割合は大
きくなる。
計測の分野においては測定値に信頼性をもたせるため一
般にこの統計的誤差は所定値以下にする必要がある。
したがって計数率を求める際に一定時間の測定では、計
数率が小さい(単位時間当たりの計数値が小さい)と統
計的誤差が多く含まれるため、このような場合には計数
時間を長くすることにより含まれる統計的誤差が所定値
以下となるまで計数値を多くして測定する必要がある。
また計数率が大きい(単位時間当たりの計数値が大きい
)場合には短い計数時間により統計的誤差の少ない測定
結果が得られるため、計数時間を短かくして応答性をよ
くする必要がある。
このため従来においては計数率の計数時間を単位時間当
たりの計数値に対応させて変化させるようにしている。
たとえばアナログ方式にて計数率を求めているものにお
いては時定数の切換スイッチ、デイジタル方式にて計数
率を求めているものにおいては計数時間の切換スイッチ
を多段に設けて単位時間当たりの計数値に応じて手動に
て切換えて使用することが行なわれている。
しかし、この手動による切換えは熟練しないとなかなか
最適値を求めることができないという欠点がある。
さらにアナログ方式のものにおいてはメータ表示のだめ
に目盛レンジの読み間違いおよび個人差があり、広範囲
の指示を読むためにはレンジの切換えを行なわなければ
ならなかった。
またデイジタル方式のものにおいても一回の計数測定ご
とに計数をリセットするので計数率変化に対する応答性
がよくなかった。
本発明は上記に鑑み、デイジタル表示において計数時間
が単位時間当たりの計数値に応じて自動的に切換わるよ
うに構成することにより上述のク点を解消したデイジタ
ル計数率計を提供することを目的とする。
本発明によればこの目的は、アナログ方式の割数率計の
ごとく入力パルスを積算しながら一定の割合で減数させ
る動作をデイジタル方式を用いてくり返し行なうに際し
て、計数時間を前回の計泌率値に逆比例させて変化させ
、さらにその計数萌間内に生ずる入カパルスを前回の計
数率値に正辻例させて通過させることにより達成される
すなわち上述の構成によれば計数率が短時間に変化が少
ないと考えることにより、計数時間を計数率に対して逆
比例して変え、さらにその計数時間内に生ずる入カパル
スはその計数時間に逆比例して通過させられるため、計
数率を求めるために計数される入カパルスの数は計数率
値にかかわらず常に一定となり、しだがって統計的誤差
の一定な計か率測定が行なわれるのである。
次に本発明を図に示す実施例に基づいて詳細に説明する
図は本発明によるデイジタル計数率計の構成を示したブ
ロック図である。
図において1はゲート回路、2は計数変換回路、3は加
減演算回路、4は減算計数設定回路、5はラッチ回路、
6は表示装置、7は計数時間設定回路、8はプログラム
・コントロール回路を示している。
このような構成において、まずゲート回路1に単位時間
当たりn個(すなわちこのnが計数率値を示す)の入カ
パルスが加えられるとする。
ゲート回路1は計数時間設定回路7において定められる
時間だけゲートを開く。
計数時間設定回路7はラッチ回路5において記憶保持さ
れている前回の計数値(この計数値は前回の測定の計数
率値に対応する値である)に逆比例させてゲート回路1
のゲートを開く時間を定める。
ラッチ回路5において記憶保持されている前回の計数値
をNとすると計数時間設定回路7において設定される時
間すなわち計数時間tは、 にて示される。
但しaは定数である。しだがってゲート回路1から計数
変換回路2に送られるパルス数をm1とするとパルス数
町は(1)式より、にて示される。
計数変換回路2においてはラッチ回路5において記憶保
持されている前回の計数値Nに比例させてゲート回路1
からのパルスを通過させる。
この通過させる割合すなわち通過率をPで示すと、通過
率Pは、 P=bN ・・・・・・・・・・・・・・
・(3)0にて示される。
但しbは定数である。したがって計数変換回路2におい
て変換されたのち加減演算回路3に加えられるパルス数
をm2とすると、パルス数m2は(2),(3)式より
、 にて示される。
このように本発明によるデイジタル計数率計によれば、
前回の計数値Nが大きいときすなわち前回の計数率値が
大きいときには(1)式に示すように計数時間tが短か
くなり、前回の計数値Nが小さいときには計数時間tは
長くなる。
しかし加減演算回路3に加えられるパルス数m2が(4
)式に示されているようにゲート回路1に加えられる入
カパルスの単位時間当たりの個数nにのみ比例するよう
に計数時間tの違いを計数変換回路2において調節する
その際に原子の崩壊等によるパルスの計数率は短時間に
は大きな変化を示さないものであるため前述のごとく前
回の計数値Nに基づく測定においても計数率に対してほ
ぼ逆比例した計数時間、すなわち計数率の低い場合には
長い計数時間、計数率の高い場合には短かい計数時間と
することができる。
このようにゲート回路1が動作する以前にラッチ回路5
においては前回の計数値Nが記憶されている。
この計数値Nは減算計数設定回路4に送られ、そこにお
いて設定計数m3を、 m3=kN ・・・・・・・・・・・・・・
・(5)として設定する。
但しkは定数である。この減算計数設定回路4には、プ
ログラムコントロール回路8から減算信号が与えられ、
その減算信号が(5)式に示されている設定計数m3に
達することにより減算信号を停止させる。
ここにおいてプログラムコントロール回路8は1ないし
7までの各回路のプログラムを決め、コントロールする
信号を発生させるものである。
この設定計数m3の値だけ加減演算回路3にプログラム
コントロール回路8からの減算信号が送られ、加減演算
回路3における計数値Nから設定計数m3が減算される
計数値Nはこのときにはすでにラッチ回路5に記憶され
ている。
加減演算回路3においては設定計数m3が減算されるこ
とにより次式にて示される計数値N。
が成立する。N0=N−m3=N−kN =(1−k)N・・・・・・・・・・・・・・・(6)
この計数値N。
が加減演算回路3において計数された状態においてゲー
ト回路1が開かれ、(4)式に示されているパルス数m
2が加減演算回路3に加えられ加算される。
したがってパルス数m2が加算されたのちの加減演算回
路3における計数値をN。
′とすると計数値N。′は、No’=N−m3+m2 =(1−k)N+abn・・・・・・(7)にて示され
る。
このとき、たとえばゲート回路1に加えられる入カパル
スの単位時間当たりの個数nが前回の測定のときと同一
であったとすると、No’=Nという関係が当然成立す
ることになる。
したがって(7)式より、 kN=abn ・・・・・・・・・・・・
・・・(8)という関係が存在することになり、この(
8)式を入カパルスの単位時間当たりの個数nを表わす
式に変換すると、 という関係が成立する。
(a)式においてab=kというように定数a,b,k
を定めるとn=Nとなり加減演算回路3の計数値Nが入
カパルスの単位時間当たりの個数nすなわち計数率値を
示し、計数値Nの表示により計数または0.01という
ようにすれば計数率値を詳細に知ることができる。
次に(9)式を用いて(2)式に示したパルス数m1を
表わすと、 となる。
(10)式においてk,bは定数であるためパルス数m
1は定数となる。
このことは一回の測定で測定する計数値が入カパルスの
単位時間当たりの個数nの変化にかかわらず一定である
ことを示している。
したがって本発明によれば計数率を求める場合に計数時
間を変えてもパルス数m1が常に一定であるようにして
いるだめ統計的誤差を一定とした測定を行なうことがで
きる。
なお、図において表示装置6は計数値Nを計数率表示す
るだめの回路と表示パネルを示している。
このように本発明によれば計数率を求める場合に、計数
時間を変えてその時間内に生ずる入力パルスの個数を同
一とし、かつその計数時間の切換えを自動的に行なうよ
うにしているだめ、同一精度による測定を可能とし、ま
た測定データを得られる頻度が高くなるだめ計数率変化
に対する応答性がよくなり、計数変化を観測しやすくす
ることができる。
本発明はこのように放射線計測の分野における計数率計
に適用できるばかりでなく、データ処理モニタ用の計数
率計あるいは不規則な変化をする物量の測定、たとえば
道路における八車の流れの変化などを測定する場合など
、その他数多くの分野に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明によるデイジタル計数率計の構成のブロック
図を示している。 1・・・・・・ゲート回路、2・・・・・・計数変換回
路、3・・・・・・加減演算回路、4・・・・・・減算
計数設定回路、5・・・・・・ラッチ回路、6・・・・
・・表示装置、7・・・・・・計数時間設定回路、8・
・・・・・プログラム・コントロール回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 人カパルスを積算しながら一定の割合で減泌させる
    方式のものにおいて、前回の測定の計数値を記憶するラ
    ッチ回路と、そのラッチ回路に記憶されている計数値に
    逆比例した時間だけ入カパルスを通過させるゲート回路
    と、ゲート回路を通過した人カパルスを前記計数値に比
    例した通過率で通過させる計数変換回路と、前記計数値
    に比例した設定計数を設定する減算計数設定回路と、前
    記計数変換回路を通過した入力パルスを人力とし、その
    入力パルスが加算される以前に前記減算計数設定回路に
    て設定された設定計数を前回の測定の計数値より減算す
    る加減演算回路とを備え、前記加減演算回路における演
    算結果を前記ラッチ回路に記憶したのち表示するように
    したことを特徴とするデイジタル計数率計。
JP50152228A 1975-12-19 1975-12-19 デイジタルケイスウリツケイ Expired JPS584788B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP50152228A JPS584788B2 (ja) 1975-12-19 1975-12-19 デイジタルケイスウリツケイ

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JP50152228A JPS584788B2 (ja) 1975-12-19 1975-12-19 デイジタルケイスウリツケイ

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Publication Number Publication Date
JPS5275478A JPS5275478A (en) 1977-06-24
JPS584788B2 true JPS584788B2 (ja) 1983-01-27

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ID=15535879

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50152228A Expired JPS584788B2 (ja) 1975-12-19 1975-12-19 デイジタルケイスウリツケイ

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5362262U (ja) * 1976-10-27 1978-05-26

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JPS5275478A (en) 1977-06-24

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