JPS5847662B2 - ジヨウタイソクテイソウチ - Google Patents
ジヨウタイソクテイソウチInfo
- Publication number
- JPS5847662B2 JPS5847662B2 JP47082893A JP8289372A JPS5847662B2 JP S5847662 B2 JPS5847662 B2 JP S5847662B2 JP 47082893 A JP47082893 A JP 47082893A JP 8289372 A JP8289372 A JP 8289372A JP S5847662 B2 JPS5847662 B2 JP S5847662B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- susceptance
- conductance
- amplifier
- component
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 30
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 240000008042 Zea mays Species 0.000 description 5
- 235000005824 Zea mays ssp. parviglumis Nutrition 0.000 description 5
- 235000002017 Zea mays subsp mays Nutrition 0.000 description 5
- 235000005822 corn Nutrition 0.000 description 5
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 5
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000011236 particulate material Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/048—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance for determining moisture content of the material
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物質の乾燥重量を測定するための装置の改良に
関する。
関する。
ある容器(タンク)内に収容された例えばある粒状物質
中にプローブ(探針)を挿入し、このプローブが呈する
サセプタンスを測定することによってこの粒状物質の重
量が測定できることは知られている。
中にプローブ(探針)を挿入し、このプローブが呈する
サセプタンスを測定することによってこの粒状物質の重
量が測定できることは知られている。
しかしながら、そのような測定の精度は測定されるべき
物質に関連する湿気のために相当の誤差を生じる欠点が
あった。
物質に関連する湿気のために相当の誤差を生じる欠点が
あった。
何故ならば、湿気はプローブサセプタンスを、物質の乾
燥重量の関数としてだけでなく、それに関連する湿気の
関数としてもまた変化させるからである。
燥重量の関数としてだけでなく、それに関連する湿気の
関数としてもまた変化させるからである。
すなわち、湿気含有量の変化によってもプローブサセプ
クンスが変化してしまうためである。
クンスが変化してしまうためである。
一方、本発明者はプローブが没入される物質の湿気含有
量の関数として変化するコンダクタンス成分をプローブ
が呈することを見出した。
量の関数として変化するコンダクタンス成分をプローブ
が呈することを見出した。
このコンダクタンスはある例においてはサセプタンスと
実質的に同じ数学上の関係に従って湿気の関数として変
化し、また他の例においては実質的に異なる関係に従っ
て変化することが分った。
実質的に同じ数学上の関係に従って湿気の関数として変
化し、また他の例においては実質的に異なる関係に従っ
て変化することが分った。
本発明者は、いずれにしても、サセプタンス成分から減
算したときに、湿気含有量の変化に実質的に関係しない
、かつ測定されている物質の乾燥重量の変化だけを実質
的に表わすある量をもたらすように、プローブの呈する
コンダクタンス成分を操作することができることを見出
した。
算したときに、湿気含有量の変化に実質的に関係しない
、かつ測定されている物質の乾燥重量の変化だけを実質
的に表わすある量をもたらすように、プローブの呈する
コンダクタンス成分を操作することができることを見出
した。
さらに、コンダクタンス成分を操作することによって生
じる量は湿気含有量の変化を直接表わすから、この量は
乾燥重量を表わす量で割算することによって測定されて
いる物質の湿気含有量百分率の変化を表わす量を与える
ことができる。
じる量は湿気含有量の変化を直接表わすから、この量は
乾燥重量を表わす量で割算することによって測定されて
いる物質の湿気含有量百分率の変化を表わす量を与える
ことができる。
本発明によれば、その乾燥重量が測定されるべきである
物質中に挿入されたプローブによって示されるサセプタ
ンス成分およびコンダクタンス成分の両者を測定するた
めの手段が用意される。
物質中に挿入されたプローブによって示されるサセプタ
ンス成分およびコンダクタンス成分の両者を測定するた
めの手段が用意される。
この2つの量が実質的に同じ数学上の関係に従って変化
するならば、それらは直接差動増巾器あるいは他の適当
な減算回路に供給される。
するならば、それらは直接差動増巾器あるいは他の適当
な減算回路に供給される。
その出力には、物質の乾燥重量の変化を直接表わし、そ
して湿気含有量の変化に関係のないある量が生じる。
して湿気含有量の変化に関係のないある量が生じる。
測定から引き出される2つの量が異なる数学上の関係に
従って変化するならば、コンダクタンス対サセプタンス
の比を表わす量が発生され、そしてこれが適当な非線形
増巾器または関数発生器に供給される。
従って変化するならば、コンダクタンス対サセプタンス
の比を表わす量が発生され、そしてこれが適当な非線形
増巾器または関数発生器に供給される。
この非線形増巾器または関数発生器は前記量を変更して
サセプタンス成分と実質的に同じ数学上の関係に従って
変化する量を発生するように適合されている。
サセプタンス成分と実質的に同じ数学上の関係に従って
変化する量を発生するように適合されている。
その後サセプタンス成分および2つの成分の変更された
比を表わす量は差動増巾器に供給され、その出力に乾燥
重量の変化を表わす量が発生される。
比を表わす量は差動増巾器に供給され、その出力に乾燥
重量の変化を表わす量が発生される。
第1の場合においては、所望ならば、コンダクタンス成
分を表わす変更された量および乾燥重量を表わす差動増
巾器の出力を通常の割算器回路に供給してその出力に湿
気含有量百分率を表わす量を発生させるようにしてもよ
い。
分を表わす変更された量および乾燥重量を表わす差動増
巾器の出力を通常の割算器回路に供給してその出力に湿
気含有量百分率を表わす量を発生させるようにしてもよ
い。
第2の場合においては比を表わす量がその出力に湿気含
有量百分率を表わす量を発生するように増巾器に供給で
きる。
有量百分率を表わす量を発生するように増巾器に供給で
きる。
それ故本発明の目的は物質の乾燥重量を測定するための
改良された装置を提供することである。
改良された装置を提供することである。
本発明の他の目的は粒状物質の乾燥重量を、その湿気含
有量の変化に関係なく測定するための、かつまたそのよ
うな物質の湿気含有量百分率を測定するための装置を提
供することである。
有量の変化に関係なく測定するための、かつまたそのよ
うな物質の湿気含有量百分率を測定するための装置を提
供することである。
本発明は添付図面を参照しての以下の詳細な記載を考察
することによって十分に理解されよう。
することによって十分に理解されよう。
第1図を参照すると、例えば200キロヘルツの周波数
で動作するように設計された発振器10の出力は結合回
路11を介してバツファ増巾器12の入力に供給される
。
で動作するように設計された発振器10の出力は結合回
路11を介してバツファ増巾器12の入力に供給される
。
バツファ増巾器12は例えば1000を十分に越える高
利得を有する。
利得を有する。
増巾器12の出力は結合回路11にフィードバックされ
そして発振器10からの出力と結合されて実質的に10
0%の負のフィードバックを与え、増巾器12の出力に
高度に安定な低インピーダンスの交流高周波信号源を与
える。
そして発振器10からの出力と結合されて実質的に10
0%の負のフィードバックを与え、増巾器12の出力に
高度に安定な低インピーダンスの交流高周波信号源を与
える。
増巾器12の出力はトランス14の1次巻線13に接続
される。
される。
トランス14の2次巻線の2つの半体15および16は
それぞれブリッジ回路17の2つの隣接するアームを形
成する。
それぞれブリッジ回路17の2つの隣接するアームを形
成する。
ブリッジ回路の残りの2つのアームのうちの一方は並列
組合せの抵抗器18およびコンデンサ19よりなる。
組合せの抵抗器18およびコンデンサ19よりなる。
これら抵抗器18およびコンデンサ19はその重量が測
定されるべきである物質中に挿入されるように適合され
たプローブ20によって示されるアドミツタンスのコン
ダクタンス成分およびサセプタンス戒分をそれぞれ表わ
す。
定されるべきである物質中に挿入されるように適合され
たプローブ20によって示されるアドミツタンスのコン
ダクタンス成分およびサセプタンス戒分をそれぞれ表わ
す。
前記プローブは同軸ケーブル21を通じてトランス2次
巻線の上部半体15の上部端子に接続されている。
巻線の上部半体15の上部端子に接続されている。
同軸ケーブル21はその外側導体が結線23を通じて点
19aに接続されている。
19aに接続されている。
ブリッジ回路の残りの他方のアームは並列組合せの可変
抵抗器24および可変コンデンサ25よりなる。
抵抗器24および可変コンデンサ25よりなる。
ブリッジ回路の出力はトランス2次巻線の2つの半体1
5および16の接続点15aと点19aとの間に接続さ
れたコンデンサ22の両端に発生される。
5および16の接続点15aと点19aとの間に接続さ
れたコンデンサ22の両端に発生される。
この出力はインピーダンスバツファ増巾器26の入力に
供給される。
供給される。
この増巾器26の出力は結線27および28を介して高
周波(無線周波)増巾器29および30にそれぞれ供給
される。
周波(無線周波)増巾器29および30にそれぞれ供給
される。
これら増巾器29および30はそれぞれの利得を調整す
るための用意がなされていてもよい。
るための用意がなされていてもよい。
これら増巾器の出力はそれぞれ位相感知検出器31およ
び32の入力に供給される。
び32の入力に供給される。
検出器31にはまたバツファ増巾器12の出力からの同
相信号が結線33を介して供給され、また検出器32に
は結線34および移相器35を介してバツファ増巾器1
2の出力からの直角位相の信号が供給される。
相信号が結線33を介して供給され、また検出器32に
は結線34および移相器35を介してバツファ増巾器1
2の出力からの直角位相の信号が供給される。
検出器31はプローブ20によって示されるアドミツタ
ンスのサセプタンス成分に比例する出力を発生するよう
に動作し、また検出器32は同じアドミツタンスのコン
ダクタンス成分に比例する出力を発生するように動作す
る。
ンスのサセプタンス成分に比例する出力を発生するよう
に動作し、また検出器32は同じアドミツタンスのコン
ダクタンス成分に比例する出力を発生するように動作す
る。
検出器31および32のそれぞれの出力はローパスフィ
ルタ36および37においてフィルタされて実質的に直
流電圧を生じさせる。
ルタ36および37においてフィルタされて実質的に直
流電圧を生じさせる。
フィルタ37の出力は可変電圧分割器の入力に供給され
る。
る。
この電圧分割器は抵抗器39と直列に接続されたポテン
ショメータ41よりなり、抵抗器39の他端は共通接地
に接続される。
ショメータ41よりなり、抵抗器39の他端は共通接地
に接続される。
ポテンショメータ41のセンターアームは可変電圧分割
器の出力である。
器の出力である。
可変電圧分割器の出力およびローパスフィルタ36の出
力の両者は差動増巾器42の入力に供給される。
力の両者は差動増巾器42の入力に供給される。
差動増巾器42の出力はスイッチ43によって直流出力
増巾器44の入力かあるいは割算器45の入力に接続で
きる。
増巾器44の入力かあるいは割算器45の入力に接続で
きる。
割算器45の入力にはまた、可変電圧分割器の出力から
の結線46がある。
の結線46がある。
スイッチ47によって割算器45の出力は後述されるよ
うに増巾器44の入力に接続でき、あるいは増巾器44
の入力から接続を断つことができる。
うに増巾器44の入力に接続でき、あるいは増巾器44
の入力から接続を断つことができる。
増巾器44の出力はメータあるいは他の適当な手段(図
示せず)によって観察および測定でき、または制御効果
を発揮するために任意所望の態様で使用できる。
示せず)によって観察および測定でき、または制御効果
を発揮するために任意所望の態様で使用できる。
第1図に示す位相感知検出器31および32を含むまで
の装置は1971年5月20日付で出願された「状態測
定装置(Condit ion Measuri−ng
System)jと題する本発明者の米国特許出願に
記載されているものと本質的に類似であり、そして本質
的に同じ態様でかつ同じ目的で動作する。
の装置は1971年5月20日付で出願された「状態測
定装置(Condit ion Measuri−ng
System)jと題する本発明者の米国特許出願に
記載されているものと本質的に類似であり、そして本質
的に同じ態様でかつ同じ目的で動作する。
ただし、第1図の配置では別個の位相検出器31および
32がプローブ20によって示されるアドミツタンスの
サセプタンス成分およびコンダクタンス成分をそれぞれ
表わす別個の出力を発生するために用意されているのに
対し、上記特許出願においてはサセプタンス成分を表わ
す出力のみが発生されるという点では両者は相違する。
32がプローブ20によって示されるアドミツタンスの
サセプタンス成分およびコンダクタンス成分をそれぞれ
表わす別個の出力を発生するために用意されているのに
対し、上記特許出願においてはサセプタンス成分を表わ
す出力のみが発生されるという点では両者は相違する。
簡単に説明すると、本発明の配置においては、発振器1
0、結合器11、およびバツファ増巾器12が、上記特
許出願の配置の場合と同様に協働してブリッジ回路17
に供給するための高度に安定な、低インピーダンス高周
波信号源を提供する。
0、結合器11、およびバツファ増巾器12が、上記特
許出願の配置の場合と同様に協働してブリッジ回路17
に供給するための高度に安定な、低インピーダンス高周
波信号源を提供する。
その電圧はたとえプローブ20によって示されるコンダ
クタンスが非常に大きくなったとしても認められるほど
には変化しない。
クタンスが非常に大きくなったとしても認められるほど
には変化しない。
上記特許出願の配置の場合と同様に、その両端にブリッ
ジ回路の出力が発生されるコンデンサ22によって呈さ
れるインピーダンスはプローブ20によって示されるも
のより非常に小さぐなされているからプローブによって
示されるサセプタンス成分および抵抗成分をせれぞれ表
わす直角位相或分がその両端に発生される。
ジ回路の出力が発生されるコンデンサ22によって呈さ
れるインピーダンスはプローブ20によって示されるも
のより非常に小さぐなされているからプローブによって
示されるサセプタンス成分および抵抗成分をせれぞれ表
わす直角位相或分がその両端に発生される。
バツファ増巾器12からの出力の同相成分が供給される
検出器31はプローブアドミツタンスのサセプタンス成
分を表わす出力を発生し、他方バツファ増巾器出力の9
0°位相のずれた成分が供給される検出器32はブロー
ブアドミツタンスのコンダクタンス成分を表わす出力を
発生する。
検出器31はプローブアドミツタンスのサセプタンス成
分を表わす出力を発生し、他方バツファ増巾器出力の9
0°位相のずれた成分が供給される検出器32はブロー
ブアドミツタンスのコンダクタンス成分を表わす出力を
発生する。
上記した特許出願において指摘したように、インピーダ
ンスバツファ増巾器26は高インピーダンス入力をもつ
高度に安定な増巾器からなるものでよい。
ンスバツファ増巾器26は高インピーダンス入力をもつ
高度に安定な増巾器からなるものでよい。
コンデンサ22によって呈されるインピーダンスは小さ
くかつ安定な位相角をもつことが好ましい。
くかつ安定な位相角をもつことが好ましい。
これは物理的要素であっても、あるいは反射または見掛
けのインピーダンスであってもよい。
けのインピーダンスであってもよい。
例えば、それはコンデンサ22の代りに接続されたトラ
ンス1次巻線によって与えることができる,この場合に
は、2次巻線が無負荷であるならば、1次巻線の誘導性
リアクタンスはインピーダンスを構成する。
ンス1次巻線によって与えることができる,この場合に
は、2次巻線が無負荷であるならば、1次巻線の誘導性
リアクタンスはインピーダンスを構成する。
トランス2次巻線が大きく負荷されるならば、1次巻線
に反射されるインピーダンスがインピーダンスを構戒す
る。
に反射されるインピーダンスがインピーダンスを構戒す
る。
同様に、電流フィードバックを有する高利得増巾器の入
力がコンデンサ22の代りに接続されるならば、フィー
ドバックを有する増巾器の見掛けの入力インピーダンス
がインピーダンスを構成する。
力がコンデンサ22の代りに接続されるならば、フィー
ドバックを有する増巾器の見掛けの入力インピーダンス
がインピーダンスを構成する。
第1図の配置の残部の動作をより良く理解するために、
まず第2図のグラフを参照する。
まず第2図のグラフを参照する。
これはプローブによって示されるサセプタンスおよびコ
ンダククンス対異なる量の湿気をもつポリエステル粒状
物の百分率湿気含有量のプロットを示す。
ンダククンス対異なる量の湿気をもつポリエステル粒状
物の百分率湿気含有量のプロットを示す。
サセプタンスは湿気含有量のOから1%までの変化に対
して約2.5乃至3.35(すなわちl対1.34の比
)の範囲にわたって変化する。
して約2.5乃至3.35(すなわちl対1.34の比
)の範囲にわたって変化する。
明らかに、そのような状況のもとでは、プローブによっ
て示されるサセプタンス成分はポリエステル粒状物の乾
燥重量の満足な指示を与えるためには信頼できない。
て示されるサセプタンス成分はポリエステル粒状物の乾
燥重量の満足な指示を与えるためには信頼できない。
しかしながら、コンダクタンス曲線はサセフ゜タンス曲
線と実質的に同じ形状を有し、そしてそれが適当な定M
P)だけ掛算されその結果の曲線(P×コンダクタンス
)がサセフ゜タンス曲線から減算されるならば、実質的
に湿気含有量の変化に関係のない〔サセプタンスー(マ
イナス)P倍のコンダクタンス〕の曲線が得られるとい
うことを特に言及しておく。
線と実質的に同じ形状を有し、そしてそれが適当な定M
P)だけ掛算されその結果の曲線(P×コンダクタンス
)がサセフ゜タンス曲線から減算されるならば、実質的
に湿気含有量の変化に関係のない〔サセプタンスー(マ
イナス)P倍のコンダクタンス〕の曲線が得られるとい
うことを特に言及しておく。
特に、湿気がOから1%まで変化する間、この差の曲線
はその変化が1%より小さい。
はその変化が1%より小さい。
従って、サセプタンスとP倍のコンダクタンスとの差を
とることによって、1%より良好な精度で粒状体の乾燥
重量を表わすある量が得られる。
とることによって、1%より良好な精度で粒状体の乾燥
重量を表わすある量が得られる。
これは第1図の配置において達成できる。
フイルタ36の出力は第2図のサセプタンス曲線によっ
て表わされた信号に対応する。
て表わされた信号に対応する。
高周波増巾器30の適当な利得設定(目盛係数)によっ
て、可変電圧分割器のポテンショメータ41は「P」に
較正でき、その結果この可変電圧分割器の出力は第2図
のP倍したコンダクタンス曲線(PXコンダクタンス)
によって表わされた信号に対応する。
て、可変電圧分割器のポテンショメータ41は「P」に
較正でき、その結果この可変電圧分割器の出力は第2図
のP倍したコンダクタンス曲線(PXコンダクタンス)
によって表わされた信号に対応する。
第2図のサセプタンス曲線およびP倍のコンダクタンス
曲線によって表わされた両出力信号は差動増巾器42の
入力に直接供給される。
曲線によって表わされた両出力信号は差動増巾器42の
入力に直接供給される。
この差動増巾器42の出力は第2図の(サセプタンスー
P倍のコンダクタンス)曲線に対応し、そしてプローブ
が没入されるポリエステル粒状物の乾燥重量を表わす。
P倍のコンダクタンス)曲線に対応し、そしてプローブ
が没入されるポリエステル粒状物の乾燥重量を表わす。
それ故スイッチ43は差動増巾器42の出力を出力増巾
器44の入力に直接供給する上側に位置付けされ、また
図示するようにスイッチ43に連動し得るスイッチ4T
は割算器45の出力を増巾器44の入力から接続を断つ
下側に位置付けされる。
器44の入力に直接供給する上側に位置付けされ、また
図示するようにスイッチ43に連動し得るスイッチ4T
は割算器45の出力を増巾器44の入力から接続を断つ
下側に位置付けされる。
上記記載から明らかなように、記載した配置は第2図に
示す特殊環境のもとで乾燥重量の測定の精度を相当に改
良するけれど、もつと悪い環境のもとでさえ後で説明さ
れるように同様の改良を達成することが可能である。
示す特殊環境のもとで乾燥重量の測定の精度を相当に改
良するけれど、もつと悪い環境のもとでさえ後で説明さ
れるように同様の改良を達成することが可能である。
次に第3図を参照すると、曲線50および51はとうも
ろこし(コーン)に対するサセプタンスおよびコンダク
タンス対湿気百分率のプロットをそれぞれ示す。
ろこし(コーン)に対するサセプタンスおよびコンダク
タンス対湿気百分率のプロットをそれぞれ示す。
第2図の曲線とは類似していないこれら2つの曲線は形
状において相当に相違し、それ故それらを減算して、広
範囲にわたり湿気の変化に実質的に関係のない曲線を直
接得ることは困難である。
状において相当に相違し、それ故それらを減算して、広
範囲にわたり湿気の変化に実質的に関係のない曲線を直
接得ることは困難である。
これは、水分がとうもろこし中に実際に吸収されそして
ポリエステル粒状物の場合のようには層を形成しないか
らである。
ポリエステル粒状物の場合のようには層を形成しないか
らである。
本発明によれば、湿気含有量の変化に実質的に関係しな
い量を引き出すことがなお可能である。
い量を引き出すことがなお可能である。
これを行なうために、コンダクタンス曲線の形状はプロ
ーブと直列にコンデンサをおくことによって変更される
。
ーブと直列にコンデンサをおくことによって変更される
。
この直列のコンデンサの追加は第3図に曲線52および
53によって例示されるようにサセプタンスおよびコン
ダクタンスの両曲線を降下させる。
53によって例示されるようにサセプタンスおよびコン
ダクタンスの両曲線を降下させる。
この影響は、コンダクタンスの変化がより犬であるから
、コンダクタンス曲線においてより太きい。
、コンダクタンス曲線においてより太きい。
それ故、第3図に1.93Xコンダクタンスと指示され
た曲線54と同じように、最小の誤差でサセプタンス曲
線に従うようにコンダクタンス曲線を低下させる直列コ
ンデンサの正確な値を選択することは可能である。
た曲線54と同じように、最小の誤差でサセプタンス曲
線に従うようにコンダクタンス曲線を低下させる直列コ
ンデンサの正確な値を選択することは可能である。
さらに使用されるべき直列コンデンサの正確な値は現存
するかつ測定されている物質の量に依存するということ
を注意しておく。
するかつ測定されている物質の量に依存するということ
を注意しておく。
物質のレベルが変化するにつれて、最小の誤差のために
必要な直列コンデンサの値もまた変化する筈である。
必要な直列コンデンサの値もまた変化する筈である。
この目的は絶縁されたプローブ、例えばテフロン(商品
名)で被覆されたプローブ、を使用することによって達
成できる。
名)で被覆されたプローブ、を使用することによって達
成できる。
この態様において曲線52から曲線54の減算を行なう
と、湿気含有量によって非常に小さな変化を示す点線の
曲線55が生じ、従ってとうもろこしの乾燥重量の正確
な指示を与える。
と、湿気含有量によって非常に小さな変化を示す点線の
曲線55が生じ、従ってとうもろこしの乾燥重量の正確
な指示を与える。
この結果は第2図を参照して記載したのと同じ態様で第
1図の配置を使用して得られる。
1図の配置を使用して得られる。
ただし、絶縁されたプローブが使用されそして適当な大
きさのコンデンサがプローブと直列に含まれるという点
は除く。
きさのコンデンサがプローブと直列に含まれるという点
は除く。
計器で見られるサセプタンスおよびコンダクタンス曲線
の形状に影響を与える2つの要因がある。
の形状に影響を与える2つの要因がある。
第lの要因は発振の周波数であり、第2はプローブの直
列容量すなわちプローブの絶縁物の厚さである。
列容量すなわちプローブの絶縁物の厚さである。
両要因はコンダクタンス曲線とサセプタンス曲線とを最
良に適合させるように調節することができ、それによっ
て出力の誤差を最小にする。
良に適合させるように調節することができ、それによっ
て出力の誤差を最小にする。
ある物質に対してこの方法が必要な精度を与えない場合
には、第1A図の配置が使用されよう。
には、第1A図の配置が使用されよう。
第1A図はこの結果を得るための第1図の装置の変更例
を示す。
を示す。
第1A図の配置はフィルタ36および37で始まる第1
図の装置の部分に置き換わるものである。
図の装置の部分に置き換わるものである。
サセプタンス成分およびコンダクタンス成分をそれぞれ
表わすフィルタ36および37からの出力は割算器回路
109の入力に供給される。
表わすフィルタ36および37からの出力は割算器回路
109の入力に供給される。
この割算器回路109はその出力にコンダクタンス成分
とサセプタンス成分の比を表わす信号を発生する。
とサセプタンス成分の比を表わす信号を発生する。
この信号はコンダクタンスとサセプタンスの比に比例す
る信号を発生するための関数発生器110の入力に供給
される。
る信号を発生するための関数発生器110の入力に供給
される。
関数発生器110の出力はフィルタ36の出力からのサ
セプタンス成分とともに掛算器111に供給される。
セプタンス成分とともに掛算器111に供給される。
その結果の積は差動増巾器112においてサセプタンス
成分から減算され、湿気に関係のないかつ乾燥重量を表
わす出力をもたらす。
成分から減算され、湿気に関係のないかつ乾燥重量を表
わす出力をもたらす。
この出力は出力増巾器113において増巾され、そして
任意所望の態様で使用できる。
任意所望の態様で使用できる。
この結果が得られる態様は第4図を考察することによっ
て理解できる。
て理解できる。
第4図には第3図の曲線と同じとうもろこしに対するサ
セプタンスおよびコンダクタンス対湿気含有量の曲線5
0および51が図示されている。
セプタンスおよびコンダクタンス対湿気含有量の曲線5
0および51が図示されている。
サセプタンスの増加は現存する物質の量および湿気百分
率の両者の関数である。
率の両者の関数である。
他方コンダクタンス対サセプタンスの比は湿気百分率だ
けの関数である。
けの関数である。
それ故、コンダクタンス対サセプタンス比の適当な関数
を掛算したサセフ゜タンスがサセフ゜タンスそれ自体か
ら減算されるならば、その結果は、適当な関数が第1A
図に与えられた回路に示された関数発生器で使用される
とすれば、湿気百分率に関係なくなされる、かつ物質の
乾燥重量に直接依存する、曲線52である。
を掛算したサセフ゜タンスがサセフ゜タンスそれ自体か
ら減算されるならば、その結果は、適当な関数が第1A
図に与えられた回路に示された関数発生器で使用される
とすれば、湿気百分率に関係なくなされる、かつ物質の
乾燥重量に直接依存する、曲線52である。
与えられた物質に対する適当な関数は発生できる。
計器の出力信号は湿気に無関係の筈である。
その結果第4図の曲線から所望の出力信号が、湿気含有
量が零である物質のサセプタンス(So)を表わす出力
に等しいことが分る。
量が零である物質のサセプタンス(So)を表わす出力
に等しいことが分る。
与えられた物質に対して関数は種々の湿気含有量の物質
の与えられたサンプルに対するサセプタンスおよびコン
ダクタンスを決定することによって実験的に見出すこと
ができる。
の与えられたサンプルに対するサセプタンスおよびコン
ダクタンスを決定することによって実験的に見出すこと
ができる。
とうもろこしに対するこの関数を表わす曲線は第4図に
53で示されており、その縦座標はグラフの右側の垂直
目盛による数値である。
53で示されており、その縦座標はグラフの右側の垂直
目盛による数値である。
第4図の曲線54はこれら比に異なる値の湿気百分率に
対するサセプタンスを掛算した結果を示す。
対するサセプタンスを掛算した結果を示す。
若干精度が落ちるけれど同様の結果が以下の態様で第1
図の配置を使用して得られる。
図の配置を使用して得られる。
第1図において、スイッチ43がその下側位置にありか
つスイッチ47がその閉路位置にあるならば、水の重さ
を表わす可変電圧分割器41の出力は乾燥重量を表わす
差動増巾器42の出力によって割算される。
つスイッチ47がその閉路位置にあるならば、水の重さ
を表わす可変電圧分割器41の出力は乾燥重量を表わす
差動増巾器42の出力によって割算される。
割算器45の出力および出力増巾器44の出力は乾燥重
量に対する水の分数、または適当な目盛係数によって乾
燥重量に対する水のパーセントを表わす。
量に対する水の分数、または適当な目盛係数によって乾
燥重量に対する水のパーセントを表わす。
水の含有量が全重量の百分率とじて表わすことができる
ならば、電圧分割器41の出力は、明らかであるように
、割算器回路45に対する適当に変化する入力である差
動増巾器42の出力と電圧分割器41の出力との和によ
って割られる。
ならば、電圧分割器41の出力は、明らかであるように
、割算器回路45に対する適当に変化する入力である差
動増巾器42の出力と電圧分割器41の出力との和によ
って割られる。
第1A図の配置においては、関数発生器110は任意適
当な通常の形式をもつ。
当な通常の形式をもつ。
例えば、バー・ブラウン、リサーチ、コーポレーション
(Bur−r − Brown Research C
orporat ion )の「演算増巾器のハンドブ
ックおよびカタログ(Handbook and Ca
talog of Operatio−nal Amp
l ifiers ) JのLI−227、第48頁下
側半分(著作権1969)に示された形式のものでよい
。
(Bur−r − Brown Research C
orporat ion )の「演算増巾器のハンドブ
ックおよびカタログ(Handbook and Ca
talog of Operatio−nal Amp
l ifiers ) JのLI−227、第48頁下
側半分(著作権1969)に示された形式のものでよい
。
この関数発生器において、演算増巾器Aは、例えば、1
968年11月付発行のアール・シー・工−(RCA)
、データ、シート、ファイル、第360号に示された形
式のものでよい。
968年11月付発行のアール・シー・工−(RCA)
、データ、シート、ファイル、第360号に示された形
式のものでよい。
差動増巾器112は上記した同じバー・ブラウンのカタ
ログの第41頁に「単体回路(SimpleCircu
it)Jとして示された形式のものでよい。
ログの第41頁に「単体回路(SimpleCircu
it)Jとして示された形式のものでよい。
またこの回路において演算増巾器Aは上記のアール・シ
ー・工一、データ、シートに示された形式ノモのでよい
。
ー・工一、データ、シートに示された形式ノモのでよい
。
割算器109はモトローラ、セミコンダクタ、プロダク
ツ、インコーポレイテッド(Motorola Sem
iconductor Products ,Inc.
)の「ザ・マイクロエレクトロニクス、データ、ブック
(The Microelectronics Dat
aBook)J、第2版、1969年12月に示された
形式のものでよい。
ツ、インコーポレイテッド(Motorola Sem
iconductor Products ,Inc.
)の「ザ・マイクロエレクトロニクス、データ、ブック
(The Microelectronics Dat
aBook)J、第2版、1969年12月に示された
形式のものでよい。
次に第5図を参照すると、第1図の実施例の変更例が示
されている。
されている。
この変更例においてはブリッジ出力のコンダクタンス成
分およびサセプタンス成分の減算はこれから説明される
ように0°と90°間の値をもつように選択された特定
の角度で検出するように位相調整された単相感知検出器
を使用して達成される。
分およびサセプタンス成分の減算はこれから説明される
ように0°と90°間の値をもつように選択された特定
の角度で検出するように位相調整された単相感知検出器
を使用して達成される。
第5図の回路は第1図のインピーダンスバツファ26以
下の回路に置きかわる。
下の回路に置きかわる。
第5図の回路は第1図のインピーダンスバツファ26か
らの出力が供給される高周波(無線周波)増巾器80を
有する。
らの出力が供給される高周波(無線周波)増巾器80を
有する。
高周波増巾器80の出力は位相感知検出器81の入力に
供給される。
供給される。
この検出器81には移相器82を通じて位相のずらされ
た信号がまた供給される。
た信号がまた供給される。
移相器82の入力には第1図のバツファ増巾器12の出
力が同様に供給される。
力が同様に供給される。
位相検出器81の動作は第5A図を参照して説明する。
第5A図においてはブリッジ出力信号のサセプタンス成
分およびコンダクタンス成分がベクトルBおよびGによ
ってそれぞれ表わされており、そして検出器位相角はα
である。
分およびコンダクタンス成分がベクトルBおよびGによ
ってそれぞれ表わされており、そして検出器位相角はα
である。
動作時に検出器『およびGの大きさの差に比例する直流
出力を発生する。
出力を発生する。
検出位相とコンダクタンス成分G間の角度αの適当な選
択によって、Gの相対的貢献度は検出器の直流出力がI
BI−PIGIに比例するようにできる。
択によって、Gの相対的貢献度は検出器の直流出力がI
BI−PIGIに比例するようにできる。
ここでPは適当な定数であり、またこの出力は測定され
る物質の乾燥重量を表わす。
る物質の乾燥重量を表わす。
それ故、第5A図において、B’=Bsinα,G′=
Gcosαということが分る。
Gcosαということが分る。
ここでαは検出位相とコンダクタンス成分G間の角度で
ある。
ある。
検出された信号はB/ G/であるが、しかしそれ故
、検出された信号はIBI−P IG+に比例する。
、検出された信号はIBI−P IG+に比例する。
ここでp=cotα、またsinαは比例定数である。
第1図の装置におけるように、検出器の出力はフィルタ
83を介して直流出力増巾器84に供給でき、この増巾
器84の出力は所望のように使用できる。
83を介して直流出力増巾器84に供給でき、この増巾
器84の出力は所望のように使用できる。
本発明は若干の好ましい実施例について記載したけれど
、特許請求の範囲に定められた本発明の範囲から逸脱す
ることなしに多くの変更が行なえ、また多種多様の実施
例が構成できることは明らかである。
、特許請求の範囲に定められた本発明の範囲から逸脱す
ることなしに多くの変更が行なえ、また多種多様の実施
例が構成できることは明らかである。
第1図は本発明の一形式を例示する構成図、第1A図は
第1図の実施例の変更例を示す構成図、第2,3および
4図は第1および1A図の実施例の動作を説明するのに
参照される線図、第5図は第1図の実施例の他の変更例
を示す構成図、第55Aおよび5B図は第5図の変更例
を説明するのに参照されるベクトル図、である。 図の主要な部分を表わす符号の説明は次の通りである。 10:発振器、11:結合回路、12:バツファ増巾器
、14: トランス、11:ブリッジ回路、20:プロ
ーブ、21:同軸ケーブル、26:インピーダンスバツ
ファ増巾器、29.30:高周波(無線周波)増巾器、
31,32:位相感知検出器、35:移相器、36,3
7:ローパスフィルタ、41:ポテンショメータ(可変
電圧分割器)、42:差動増巾器、44:直流出力増巾
器、45:割算器、109:割算器、110:関数発生
器、111:掛算器、112:差動増巾器、113:出
力増巾器、80:高周波増巾器、81:位相感知検出器
、82:移相器、83:フィルタ、84:直流出力増巾
器。
第1図の実施例の変更例を示す構成図、第2,3および
4図は第1および1A図の実施例の動作を説明するのに
参照される線図、第5図は第1図の実施例の他の変更例
を示す構成図、第55Aおよび5B図は第5図の変更例
を説明するのに参照されるベクトル図、である。 図の主要な部分を表わす符号の説明は次の通りである。 10:発振器、11:結合回路、12:バツファ増巾器
、14: トランス、11:ブリッジ回路、20:プロ
ーブ、21:同軸ケーブル、26:インピーダンスバツ
ファ増巾器、29.30:高周波(無線周波)増巾器、
31,32:位相感知検出器、35:移相器、36,3
7:ローパスフィルタ、41:ポテンショメータ(可変
電圧分割器)、42:差動増巾器、44:直流出力増巾
器、45:割算器、109:割算器、110:関数発生
器、111:掛算器、112:差動増巾器、113:出
力増巾器、80:高周波増巾器、81:位相感知検出器
、82:移相器、83:フィルタ、84:直流出力増巾
器。
Claims (1)
- 1 容器の内容物の乾燥重量を測定するための装置にお
いて、該容器内に該内容物と物理的接触状態に位置付け
されたアドミツタンスプローブを含み、かつ該アドミツ
タンスプローブによって示されるアドミツタンスの、前
記容器の内容物の前記乾燥重量によってかつ前記容器に
含まれる水分の重さによって変化するサセプタンス成分
、および前記容器に含まれる水分の重さによって変化す
るアドミツタンスのコンダクタンス成分、をそれぞれ表
わす信号戒分を有する信号を引き出すための装置と、前
記サセプタンス成分信号およびコンダクタンス戒分信号
に応答し、前記サソプタンス戒分と前記コンダクタンス
成分対前記サセプタンス成分の比の関数との積を前記サ
セプタンス成分から減算することによって、前記サセプ
タンス成分から水分によって変化する部分を除去するた
めの装置とからなることを特徴とする乾燥重量測定装置
。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US17353871A | 1971-08-20 | 1971-08-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS4830496A JPS4830496A (ja) | 1973-04-21 |
JPS5847662B2 true JPS5847662B2 (ja) | 1983-10-24 |
Family
ID=22632483
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP47082893A Expired JPS5847662B2 (ja) | 1971-08-20 | 1972-08-21 | ジヨウタイソクテイソウチ |
JP56051310A Granted JPS5756719A (en) | 1971-08-20 | 1981-04-07 | Measuring apparatus |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56051310A Granted JPS5756719A (en) | 1971-08-20 | 1981-04-07 | Measuring apparatus |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3746975A (ja) |
JP (2) | JPS5847662B2 (ja) |
CA (1) | CA965148A (ja) |
DE (1) | DE2240813C3 (ja) |
GB (1) | GB1359778A (ja) |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3864974A (en) * | 1971-01-11 | 1975-02-11 | George P Rauchwerger | Capacitance probe and system for precision measurement of liquid level |
US3936738A (en) * | 1974-01-02 | 1976-02-03 | Drexelbrook Controls, Inc. | Method of and apparatus for measuring the amount of coating material applied to substrates |
US3993947A (en) * | 1974-09-19 | 1976-11-23 | Drexelbrook Controls, Inc. | Admittance measuring system for monitoring the condition of materials |
US4332167A (en) * | 1975-11-28 | 1982-06-01 | Drexelbrook Controls, Inc. | Method of making an RF admittance measuring probe and product thereof |
JPS52143018A (en) * | 1976-05-25 | 1977-11-29 | Teijin Ltd | Method of regenerating developer waste |
US4090408A (en) * | 1976-10-12 | 1978-05-23 | Hedrick Geoffrey S | Fluid quantity indicator |
US4370611A (en) * | 1977-11-01 | 1983-01-25 | Georgetown University | Identification of materials using their complex dielectric response |
US4174498A (en) * | 1978-03-30 | 1979-11-13 | Preikschat F K | Apparatus and method for providing separate conductivity, dielectric coefficient, and moisture measurements of particulate material |
US4181881A (en) * | 1978-05-15 | 1980-01-01 | Preikschat F K | Electrical impedance measuring apparatus for providing separate measurements of the conductivity and dielectric coefficient of various materials |
FR2430608A1 (fr) * | 1978-07-06 | 1980-02-01 | Aerospatiale | Procede et appareil pour la mesure de la resistance a la corrosion d'une protection recouvrant un corps metallique |
US4232300A (en) * | 1978-11-24 | 1980-11-04 | Drexelbrook Controls, Inc. | Level measuring system using admittance sensing |
US4301681A (en) * | 1979-09-06 | 1981-11-24 | Drexelbrook Controls, Inc. | Method of using capacitor probe with a semiconductive electrode |
DE2943198A1 (de) * | 1979-10-25 | 1981-05-14 | Eur-Control Källe AB, Säffle | Vorrichtung zum messen der elektrischen impedanz von insbesondere teilchenfoermigen materialien |
US4363030A (en) * | 1979-11-30 | 1982-12-07 | Drexelbrook Engineering Company | Fail-safe instrument system |
US4415859A (en) * | 1980-10-06 | 1983-11-15 | Texaco Inc. | Paraffin monitor |
US4391146A (en) * | 1981-06-01 | 1983-07-05 | Rosemount Inc. | Parallel T impedance measurement circuit for use with variable impedance sensor |
JPS58114731U (ja) * | 1982-01-30 | 1983-08-05 | 山本電機インスツルメント株式会社 | 静電容量式連続レベル計 |
JPS58123325U (ja) * | 1982-02-12 | 1983-08-22 | 山本電機インスツルメント株式会社 | 静電容量式連続レベル計 |
JPS5955439A (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-30 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 製版方法 |
JPS5988738A (ja) * | 1982-11-12 | 1984-05-22 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | 写真用水洗促進液 |
US4568874A (en) * | 1983-02-17 | 1986-02-04 | Drexelbrook Controls, Inc. | RF Admittance apparatus and method for monitoring the contents of a pipe |
US4692685A (en) * | 1984-03-14 | 1987-09-08 | Blaze Kevin L | Electrical measuring apparatus, and methods for determining the condition or identity of biological material |
JPS6136744A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | X−線用ハロゲン化銀写真感光材料の処理方法 |
GB2170911B (en) * | 1985-01-24 | 1989-02-01 | Commw Scient Ind Res Org | Apparatus and method for measuring the moisture content of a substance |
US4817021A (en) * | 1985-01-24 | 1989-03-28 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Moisture and density determination |
US4676101A (en) * | 1986-09-03 | 1987-06-30 | Walbro Corporation | Capacitance-type material level indicator |
US5045797A (en) * | 1986-10-14 | 1991-09-03 | Drexelbrook Controls, Inc. | Continuous condition sensing system determining liquid level by admittance measurement |
DE3838608A1 (de) * | 1988-11-15 | 1990-05-17 | Lve Verfahrenselektronik Gmbh | Verfahren und anordnung zur bestimmung einer prozessvariablen bei der waermebehandlung von metallteilen |
US5885757A (en) | 1996-10-31 | 1999-03-23 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Aminopolycarboxylic acid chelating agent, heavy metal chelate compound thereof, photographic additive and processing method |
WO1999006812A2 (en) | 1997-08-01 | 1999-02-11 | Drexelbrook Controls, Inc. | High accuracy measuring system |
US7245985B2 (en) * | 2001-03-21 | 2007-07-17 | Signature Control Systems | Process and apparatus for improving and controlling the vulcanization of natural and synthetic rubber compounds |
US20040133301A1 (en) * | 2002-07-09 | 2004-07-08 | Signature Control Systems | Process and apparatus for improving and controlling the vulcanization of natural and synthetic rubber compounds |
US6774643B2 (en) | 2001-03-21 | 2004-08-10 | Signature Control Systems | Non-bridged single electrode impedance measurement system for determining a condition of a dielectric according to impedance related changes over a range of frequencies |
US6855791B2 (en) * | 2002-07-09 | 2005-02-15 | Signature Control Systems | Process and apparatus for improving and controlling the vulcanization of natural and synthetic rubber compounds |
US7167773B2 (en) * | 2001-03-21 | 2007-01-23 | Signature Control Systems | Process and apparatus for improving and controlling the curing of natural and synthetic moldable compounds |
US7340951B2 (en) * | 2005-11-04 | 2008-03-11 | David S. Nyce | Distributed impedance sensor |
US7676953B2 (en) | 2006-12-29 | 2010-03-16 | Signature Control Systems, Inc. | Calibration and metering methods for wood kiln moisture measurement |
RU2488130C2 (ru) * | 2011-06-28 | 2013-07-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ижевский государственный технический университет имени М.Т.Калашникова" | Сканирующий измеритель параметров cg-двухполюсников |
CN109870210A (zh) * | 2018-12-25 | 2019-06-11 | 骆杨斌 | 液位计中液面高度的确定方法、设备及装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB911975A (ja) * | ||||
US2008046A (en) * | 1931-11-18 | 1935-07-16 | Trojan Powder Co | Method for the testing of detonating fuse |
US3566259A (en) * | 1968-03-29 | 1971-02-23 | Petrolite Corp | Instrument for measuring conductance or capacitance of an electrical load during operation |
-
1971
- 1971-08-20 US US00173538A patent/US3746975A/en not_active Expired - Lifetime
-
1972
- 1972-07-26 CA CA147,995A patent/CA965148A/en not_active Expired
- 1972-08-18 DE DE2240813A patent/DE2240813C3/de not_active Expired
- 1972-08-18 GB GB3859772A patent/GB1359778A/en not_active Expired
- 1972-08-21 JP JP47082893A patent/JPS5847662B2/ja not_active Expired
-
1981
- 1981-04-07 JP JP56051310A patent/JPS5756719A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS4830496A (ja) | 1973-04-21 |
GB1359778A (en) | 1974-07-10 |
DE2240813A1 (de) | 1973-03-01 |
JPS5756719A (en) | 1982-04-05 |
DE2240813C3 (de) | 1980-02-07 |
DE2240813B2 (de) | 1979-05-31 |
JPS619566B2 (ja) | 1986-03-25 |
CA965148A (en) | 1975-03-25 |
US3746975A (en) | 1973-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5847662B2 (ja) | ジヨウタイソクテイソウチ | |
US4181881A (en) | Electrical impedance measuring apparatus for providing separate measurements of the conductivity and dielectric coefficient of various materials | |
US3778707A (en) | Means for measuring loss tangent of material for determining moisture content | |
US4174498A (en) | Apparatus and method for providing separate conductivity, dielectric coefficient, and moisture measurements of particulate material | |
US5455513A (en) | System for measuring properties of materials | |
US2639411A (en) | Alternating-current bridge | |
US3376746A (en) | Electrical circuit for capacitor probe | |
US3936738A (en) | Method of and apparatus for measuring the amount of coating material applied to substrates | |
US3241062A (en) | Computer system for two-frequency dielectric materials gauge with standardization and temperature sensor input | |
US3493855A (en) | Capacitive moisture gauge with signal level control using a differential capacitor in the input and feedback circuits of an amplifier | |
JPS5829468B2 (ja) | カンノウインピ−ダンスソシ オ シヨウスル ソクテイソウチ | |
US3408566A (en) | Phase shift method and apparatus for mass-independent measurement of the properties of dielectric materials | |
US3757205A (en) | Conductivity measuring apparatus | |
US3155901A (en) | System for quantitatively measuring one property of dielectric material by applying input signals at two different frequencies to a capacitance probe and varying one input signal to maintain a constant ratio of output signals for the two frequencies | |
US3155900A (en) | Measuring system for determining the mass of a dielectric material utilizing a capacitive probe at two frequencies | |
US4238726A (en) | Method of measuring low impedance for obtaining unknown capacitance and/or resistance | |
Jones et al. | Direct correlation between 1/f and other noise sources | |
US3323049A (en) | System for quantitatively measuring a property of dielectric material by applying input signals at two different frequencies to a capacitance probe and varying the frequency of one input signal to maintain a constant ratio of output signals for the two frequencies | |
US3255410A (en) | System and method for measuring a property of dielectric material by periodically and alternately applying signals at different frequencies to a capacitance probe and measuring the difference in output signals while maintaining the average amplitude of the output signals constant | |
US2759149A (en) | Moisture measuring apparatus | |
US3443219A (en) | Dielectric materials gauging system with input signal frequency automatically variable in response to detected signal phase shift variation | |
GB622470A (en) | Improvements in or relating to electric measuring instruments for measuring the moisture content of materials | |
US3323047A (en) | Two-frequency dielectric measuring system including a variable gain circuit for modifying the amplitude of at least one of two detection signals | |
Morse | A computer controlled apparatus for measuring AC properties of materials over the frequency range 10-5 to 105 Hz | |
Thompson | A bridge for the measurement of permittivity |