JPS5845657B2 - 表面欠陥検出装置 - Google Patents

表面欠陥検出装置

Info

Publication number
JPS5845657B2
JPS5845657B2 JP11712277A JP11712277A JPS5845657B2 JP S5845657 B2 JPS5845657 B2 JP S5845657B2 JP 11712277 A JP11712277 A JP 11712277A JP 11712277 A JP11712277 A JP 11712277A JP S5845657 B2 JPS5845657 B2 JP S5845657B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
circuit
amplifier
television camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP11712277A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5450392A (en
Inventor
正勝 藤田
茂 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP11712277A priority Critical patent/JPS5845657B2/ja
Publication of JPS5450392A publication Critical patent/JPS5450392A/ja
Publication of JPS5845657B2 publication Critical patent/JPS5845657B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、被検査体の表面をテレビカメラで撮像し、そ
の出力の映像信号を処理して表面欠陥を検出する表面欠
陥検出装置に関するものである。
被検査体例えば圧延鋼板の表面をテレビカメラで撮像し
、その出力の映像信号を処理して圧延過程で生じた疵を
検出する手段が既に種々提案されている。
例えば第1図に示すように、テレビカメラ1の出力をバ
ッファ増幅器2で増幅し、帯域ろ波器3に加える。
テレビカメラ1の出力の映像信号には、真の疵信号と表
面の色むら等による偽疵信号とが含まれており、真の疵
信号は高周波成分を多く含む波形で、偽疵信号は低周波
成分を多く含む波形となるのが一般的であるから、帯域
ろ波器3により真の疵信号のみを抽出することができる
そして増幅器4により増幅し、整流回路5で整流して波
形整形回路6により波形整形して、疵検白信号が得られ
る。
しかし、実際には偽疵信号には立上り又は立下りの急峻
なものが得られる場合がある。
例えば色むらの境界が明瞭な場合や、反射率のみが急激
に変化する部分が存在する場合等に於いては、疵ではな
いが立上り又は立下りの急峻な波形の信号が得られ、こ
のような波形の信号は高周波成分を多く含むので、偽疵
信号の一部を疵信号として検出することになる。
又立上り又は立下りが比較的なだらかな偽疵信号であっ
ても、信号レベルが大きい場合には帯域ろ波器3により
完全に除去できないので、この場合も偽疵信号の一部を
疵信号として検出することになる。
又第2図に示すように、1次微分型の構成により疵信号
と偽疵信号とを分離して検出する手段も提案されており
、1はテレビカメラ、7はインピーダンス変換回路、8
は遅延線、9は高入力インピーダンスの増幅器、10は
波形整形回路である。
増幅器9にはインピーダンス変換回路7の出力と遅延線
8により反射遅延された信号との和が加えられ、反射波
の極性が反転することにより、映像信号の微分波形の信
号が増幅器9に加えられるもので、立上り及び立下りの
急峻な疵信号が抽出されることになるが、前述の如く立
上り又は立下りの急峻な偽疵信号は除去できないことに
なる。
本発明は、前述の如き欠点を改善したもので、その目的
は、1次微分型の構成を改良し、真の疵信号のみを検出
し得るようにすることにある。
以下実施例について詳細に説明する。
第3図は本発明の一実施例のブロック線図であり、11
はテレビカメラ、12はインピーダンス変換回路、13
は遅延線、14は高入力インピーダンスの増幅器、15
は整流回路、16は波形整形回路、17はパルス発生回
路、18はゲート回路である。
又第4図はその動作説明図であり、3〜gは第3図の各
部の信号a−gの一例を示すものである。
インピーダンス変換回路12はテレビカメラ11の出力
インピーダンスと遅延線13のインピーダンスとの整合
をとる為のものであり、又遅延線13は出力端短絡の構
成で、入力信号は出力端で反射されて入力端に戻ること
になり、種種の遅延回路を採用することができる。
インピーダンス変換回路12の出力信号aが第4図gに
示すように疵信号A、Bと偽疵信号C2Dとを含む場合
、遅延線13の遅延時間をtdとすると、遅延線13の
出力端で反射された信号すは第4図すに示すように、2
td遅延し、且つ極性が反転したものとなる。
この信号a、bの和の信号Cは第4図gに示すものとな
り、高入力インピーダンスの増幅器14で増幅される。
そして整流回路15で整流され、その整流出力信号dは
第4図gに示すように同一極性の信号となり、波形整形
回路16に於いて波形整形され、その出力信号eは第4
図gに示すものとなる。
パルス発生回路17は信号eの立下りでトリガされて、
一定のパルス幅tcのパルスを発生するもので、ワンシ
ョットマルチバイブレーク等種々の構成を採用すること
ができ、その出力信号fは第4図fに示すものとなる。
ゲート回路18には信号e、fが加えられ、その出力信
号gは第4図gに示す論理積の信号となる。
即ち立上りと立下りとが急峻な偽疵信号Cは、一定のパ
ルス幅以上であることにより真の疵信号A、Bとは完全
に分離されて除去され、又立上りのみ急峻で立下りがな
だらかな偽疵信号りは、1次微分により立上り部分にの
み波形整形出力信号eが得られるが、立下り部分は検出
されないものとなる。
なお図示していないが、立上り部分と立下り部分とがな
だらかな偽疵信号は、微分処理により除去されることに
なる。
第5図は本発明の他の実施例のブロック線図であり、2
1はテレビカメラ、22はインピーダンス変換回路、2
3は遅延線、24は高入力インピーダンスの増幅器、2
5.26は整流回路、27゜28は波形整形回路、29
はパルス発生回路、30はゲート回路である。
又第6図はその動作説明図であり、a−gは第5図の各
部の信号a−gの一例の波形を示すものである。
前述の実施例と同様にテレビカメラ21の出力の映像信
号はインピーダンス変換回路22を介して遅延時間td
の遅延線23と増幅器24とに加えられ、この増幅器2
4の入力信号Cは信号a。
bの和となり、それぞれ第6図a−cに示すものとなる
整流回路25は信号Cのうち正極性の信号を整流出力し
、又整流回路26は信号Cのうち負極性の信号を整流出
力するもので、それぞれの出力信号d、eは第6図g、
eに示すものとなり、それぞれ波形整形回路27.28
で波形整形される。
パルス発生回路29は信号dの立下りでトリガされて一
定のパルス幅tcのパルスを発生するもので、従ってそ
の出力信号fは第6図fに示すものとなる。
ゲート回路30には信号e、fが加えられるので、信号
dの立下りでトリガされて発生された一定のパルス幅t
cの信号fの期間内に信号eが存在する場合に、真の疵
信号として信号gが出力される。
以上説明したように、本発明は、被検査体の表面を撮像
したテレビカメラの出力の映像信号を、所定の遅延時間
の反射波との和をとることにより、一種の微分処理を施
し、それによって立上り及び立下りの緩かな偽疵信号を
除去し、又映像信号のパルス幅が所定のパルス幅以下の
もののみ抽出することにより、立上り又は立下りが急峻
ではあるがパルス幅が比較的広い偽疵信号を確実に除去
することができるものである。
従って種々の被検査体の表面欠陥を表面色むらや反射率
不均一分布等による偽疵信号と分離して確実に検出する
ことができる。
なお本発明は前述の各実施例にのみ限定されるものでは
なく、種々付加変更し得るものであり、例えばパルス発
生回路17.29は信号の立上りでトリガされる構成と
することもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来の表面欠陥検出装置のブロック
線図、第3図及び第5図は本発明のそれぞれ異なる実施
例のブロック線図、第4図及び第6図は第3図及び第5
図に示す構成の動作説明図である。 IL21はテレビカメラ、12.22はインピーダンス
変換回路、13.23は遅延線、1424は増幅器、1
5,25.26は整流回路、16.27.28は波形整
形回路、17,29はパルス発生回路、18.30はゲ
ート回路である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被検査体の表面を撮像するテレビカメラ、該テレビ
    カメラの出力の映像信号を加えるインピーダンス変換回
    路、該インピーダンス変換回路に接続された一端短絡の
    遅延回路及び高入力インピーダンスの増幅器、該増幅器
    の出力信号の少なくとも一方の極性の信号によってトリ
    ガされ、所定のパルス幅の信号を出力するパルス発生回
    路、該パルス発生回路の出力信号期間に前記増幅器の出
    力信号のうちの他方の極性の信号が存在するとき、表面
    欠陥検出信号を出力するゲート回路を備えたことを特徴
    とする表面欠陥検出装糺
JP11712277A 1977-09-29 1977-09-29 表面欠陥検出装置 Expired JPS5845657B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11712277A JPS5845657B2 (ja) 1977-09-29 1977-09-29 表面欠陥検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11712277A JPS5845657B2 (ja) 1977-09-29 1977-09-29 表面欠陥検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5450392A JPS5450392A (en) 1979-04-20
JPS5845657B2 true JPS5845657B2 (ja) 1983-10-12

Family

ID=14703967

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11712277A Expired JPS5845657B2 (ja) 1977-09-29 1977-09-29 表面欠陥検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5845657B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61277038A (ja) * 1985-05-31 1986-12-08 Kanai Hiroyuki カ−ドウエブ測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5450392A (en) 1979-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1152372A3 (en) Method and apparatus for automatic detection and sizing of cystic objects
JPH0135295B2 (ja)
JPS5845657B2 (ja) 表面欠陥検出装置
US4240107A (en) Apparatus and method for pattern information processing
JPH07333197A (ja) 表面疵自動探傷装置
JPH06103276B2 (ja) 表面検査装置
JPS59138904A (ja) 走行中板状体の表面欠陥検査方法
JPS598988B2 (ja) 物体の検査装置
JPS6261899B2 (ja)
JPH0128539B2 (ja)
JPS6246803B2 (ja)
JPS6337902B2 (ja)
JPH08304302A (ja) 検査対象物の表面傷検出方法
JPS6216372B2 (ja)
JPH0317088B2 (ja)
JPS6349180B2 (ja)
JP2633673B2 (ja) 表面検査装置
KR100969052B1 (ko) 라인 카메라의 획득 화상 개선장치
JPS61175787A (ja) エツジ検出回路
JPS5569040A (en) Processing system for flaw detection signal
JPS58142248A (ja) 検査装置
JPS6116519Y2 (ja)
JPS62249038A (ja) 画像2値化処理回路
JPS6365581A (ja) 画像センシング方法
JPS59973B2 (ja) 自動外観検査装置