JPS5845192B2 - 可変抵抗装置 - Google Patents

可変抵抗装置

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JPS5845192B2
JPS5845192B2 JP51058606A JP5860676A JPS5845192B2 JP S5845192 B2 JPS5845192 B2 JP S5845192B2 JP 51058606 A JP51058606 A JP 51058606A JP 5860676 A JP5860676 A JP 5860676A JP S5845192 B2 JPS5845192 B2 JP S5845192B2
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JP
Japan
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variable
resistance
voltage
variable resistor
operational amplifier
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Expired
Application number
JP51058606A
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English (en)
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JPS52141585A (en
Inventor
欣士 河本
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電圧(または電流)により制御し得る可変抵
抗器の制御電圧対抵抗特性が、旧比例関係になるように
した可変抵抗装置に関する。
従来、電圧(または電流)により抵抗値の変わる抵抗素
子としては、電界効果トランジスタ(以下FETと呼ぶ
)のゲートソース間電圧VGSの変化に対して、ドレイ
ンソース間抵抗RDSが変化することを利用したものが
ある。
しかし、この場合のRDS−Vos特性は第3図の実線
のように、非常に曲ったものであるため、低抵抗と高抵
抗の途中が使いにくい、温度特性があってその補正が困
である、RDS V3Si性が素子ごとにばらついて
調整が必要である等の欠点がある。
そしてこれらの欠点のために、その用途はきわめて限ら
れたものになっていた。
一方、発光ダイオード(L E D )と、C’dSや
CdSeを用いた光導電性の口I変抵抗素子とを1つの
箱の中に収納し、LEDの順方向電流により抵抗値を変
化させる、いわゆる、フォトカプラーも知られているが
、この場合にもやはり制御電圧と抵抗器の関係が直線的
ではf、さり、複雑な温度依存性をもっているためFE
Tの場合と同様の欠点があった。
本発明は、このような従来の欠点を除去し、電圧または
電流により制御できる可変抵抗素子の制御特性の直線化
をはかるようにした可変抵抗装置を提供するものである
以下、本発明の一実施例について第1図とともに説明す
る。
第1図において、演算増幅器2の負入力端子1には制御
電圧VINが印加される。
第1の可変抵抗器を構成するFET4のソースSを接地
し、ドレインDに定電流源3からの定電流1を流し込む
FET4のドレインDの電圧を演算増幅器2の正入力端
子に帰還する。
演算増幅器2の出力電圧をFET4のゲートGと別の可
変抵抗、器を構成するFET6のゲートに印加する。
そして端子6と端子7の間の抵抗を可変抵抗素子として
用いる。
いま、FET4のドレインソース間抵抗をRDS4とす
ると、ドレイン電圧VDは、I X RDS4である。
これは、制御電圧VINと等しい。
したがってVIN’−IRDS4 が成立する。
一方FET4とFET5の可変抵抗特性が同等とすると
、FET5のドレインソース間抵抗RD 85 =RD
84である。
したがってRDS5−■■N/■ になる。
すなわち、RDS5はVINに正比例する。これを第3
図の破線で示す。
FET4とFET5を集積回路技術を利用して同一シリ
コン基板上につくれば、両者の特性をそろえることがで
きる。
また、さらに多数のFETのゲートを演算増幅器の出力
電圧で制御すると、可変抵抗特性のそろった多数の可変
抵抗素子の制御特性を直線化することができる。
また、各FETのゲートとドレインおよびゲートとソー
ス間に高抵抗を接続して、VDSの半分の電圧がVGS
にかかるようにすれば、RD Sの抵抗値のリニアリテ
ィを改善することができるので有効である。
なお、RDSの抵抗値の1ニアリテイが良い領域で使用
するためには、電流■、端子6,7間の電圧をできるだ
け小さくする方がよい。
また、各ソース端子の電位は同一(こすることが望まし
い。
第2図は本発明の他の実施例であり、FETの代りにフ
ォトカプラー10,11を用いたものである。
フォトカプラー10.11を構成する発光ダイオードD
1とD2に抵抗Rを介して演算増幅器2の出力電圧を印
加する。
)第1・カプラー10を構成する抵抗素子RI、の一端
を接地し、他端より電流1を流し込む。
フォトカプラー10と11の抵抗素子RLの抵抗値をR
Lとすると、演算増幅器2の正入力端子電圧■。
・−RL■、■1N=■イであるから RL二vIN/■ となり、フォトカプラー11の抵抗素子RLの抵抗値R
I、は制御電圧VINに正比例する。
したがって、この場合にも第1図と同様の効果が得られ
る。
以−L説明したように、本発明は、演算増幅器と、定電
流源と、2つ以上の特性の揃った可変抵抗器を用いるこ
とにより、可変抵抗器の抵抗素子の抵抗値を制御電圧に
比例する特性にすることができる。
また、温度特性も皆無になり、ばらつきのない多数の可
変抵抗器を作ることができる。
なお本発明は、FETやフォトカプラーにかぎらず、種
種の特性のそろった可変抵抗器であれば、制御特性の複
雑さや温度特性の有無にかかわらず、適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は本発
明の他の実施例を示す回路図、第3図は可変抵抗特性図
である。 1・・・・・・制御電圧の入力端子、2・・・・・・演
算増幅器、3・・・・・・定電流源、4,5・・・・・
・FET、10.11・・・・・・フォトカプラー。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 抵抗値が電圧または電流で制(財)される第1の可
    変抵抗器の抵抗素子に定電流源より一定電流を流し、上
    記第1の可変抵抗器の抵抗素子両端に発生する電圧を、
    演算増幅器の一方の入力端子(こ印加し、上記演算増幅
    器の他方の入力端子に制御電圧を印加し、上記演算増幅
    器の出力電圧または出力電流で上記第1の可変抵抗器の
    抵抗値を制御し、さらに上記第1の可変抵抗器と同等の
    制御特性をもった少なくとも1つ以上の別の可変抵抗器
    の抵抗値を上記演算増幅器の出力電圧または出力電流で
    制御し、上記制御電圧と、上記第1の可変抵抗器および
    別の可変抵抗器の抵抗値とが比例的関係になるよう(こ
    したことを特徴とする可変抵抗装置。 2 上記第1の可変抵抗器の抵抗素子の一方の端子を接
    地したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の可
    変抵抗装置。 3 上記第1および別の可変抵抗器として、電界効果ト
    ランジスタを用いたことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の可変抵抗装置。 4−上記第1および別の可変抵抗器として、電圧または
    電流により発光量の変化する素子と、受光量により抵抗
    値の変化する可変抵抗素子とを組合わせたフォトカプラ
    ーを用いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の可変抵抗装置。
JP51058606A 1976-05-20 1976-05-20 可変抵抗装置 Expired JPS5845192B2 (ja)

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JPS52141585A JPS52141585A (en) 1977-11-25
JPS5845192B2 true JPS5845192B2 (ja) 1983-10-07

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4355499A (en) * 1979-05-16 1982-10-26 Oda Gosen Kogyo Kabushiki Kaisha Fabrics having salt-and-pepper patterns and crimped filament yarns for producing the same
JPS5660074A (en) * 1979-10-20 1981-05-23 Ricoh Co Ltd Variable resistor
JPS59181680A (ja) * 1983-03-31 1984-10-16 Toshiba Corp 電流源回路

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JPS52141585A (en) 1977-11-25

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