JPS5844216B2 - 速度測定装置 - Google Patents

速度測定装置

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JPS5844216B2
JPS5844216B2 JP8867877A JP8867877A JPS5844216B2 JP S5844216 B2 JPS5844216 B2 JP S5844216B2 JP 8867877 A JP8867877 A JP 8867877A JP 8867877 A JP8867877 A JP 8867877A JP S5844216 B2 JPS5844216 B2 JP S5844216B2
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JP
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light
photoelectric conversion
lattice
slit
incident light
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JP8867877A
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信博 佐野
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Koito Manufacturing Co Ltd
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Koito Manufacturing Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、レーザ光を対象面へ投射したとき反射光に生
ずる光斑現象を利用した速度測定装置の改良に関するも
のである。
レーザ光を用いたこの種の装置は、非接触状態で対象物
との相対速度を測定できる利点を有しており、航空機、
車輛等移動体の対地速度測定に用いることもできるが、
特に各種工業プロセスにおいて有効であり、例えば、圧
延機から押出されて来る圧延材の速度測定、線材製造工
程での線材走行速度の測定等においては、測定対象物に
対する無影響、測定精度向上等の面から極めて有用であ
る。
この光斑現象は、特にレーザ光を用いたときにその単一
波長性、均−位相特性等により顕著であるが、これは、
対象面が鏡でない限り、対象面構成素子の各々が反射光
に関して相互に一定の位相関係を有することが原因とな
っており、投射されるレーザ光が一つのビームであって
も、反射光としては多数に分割されたビームが得られ、
この反射光をスクリーン等へ投影して観測すると不規則
な明暗の光斑を見ることができる。
以上の現象を利用して測定対象物との相対速度を測定で
きるが、反射光を入射光として捕捉する際、レーザ光以
外の周囲からの光線による影響、対象面の移動に基く反
射率変化による受光々度の変動、レーザ光自体に含まれ
ている雑音成分等の影響があり、これらの影響を抑圧し
て良好な信号対雑音比の受光信号を得るため、一般につ
ぎに述べるとおり差動型の光検出装置が用いられている
第1図、第2図は、この手法を用いた従来の速度測定装
置の代表例を示す構成国であり、第1図においては、移
動体1にレーザ発振器2が固定され、レーザ光3を対象
面としての大地4へ投射し、大地4の表面において前述
のとおり多数のビームとして散乱反射された反射光5の
一部は、移動体1に設けられた格子形光電変換器6の表
面へ入射する。
たゾし、格子形光電変換器6は移動体1の移動方向に配
列された素子7により構成され、素子7の幅およびこれ
らの間隔i/2はすべて均一であり、更にこれらの素子
7は一つおきに接続されている。
このような格子形光電変換器6の表面へ入射した反射光
5の一部は、多数のビームからなっており、このために
格子形光電変換器6の表面には多数の光斑によるパター
ンを生ずるが、移動体1の移動に伴なってレーザ光3の
投射面が移動するため、前記パターン内の光斑も格子形
光電変換器6の表面を横切って移動し遂には消滅する。
たゾし、レーザ光3の投射面が前進するにつれて遂次新
しい光斑を生じ、これを反復する。
したがって、この光斑の移動速度が移動体1の大地4に
対する相対速度に比例しており、これに基いて相対速度
の測定が行なえる。
すなわち、格子形光電変換器6の表面における光斑の移
動速度をVBN相対速度をVoとすれば、次式の関係が
成立する。
たゾし、aは大地4の表面と格子形光電変換器6の表面
との距離、bはレーザ光3の仮想投射点8と大地4の表
面との距離である。
こSで、格子形光電変換器6の表面へ入射する一つの光
斑に注目すれば、その移動によって各素子7の表面が横
切られ、各々の素子7に対し断続して光斑が入射するも
のとなり、一つ置きに接続された各素子7による二組の
電気的出力は、光斑の移動速度vBに比例した周波数f
Qの信号となる。
すなわち、たマし、gは前述のとおり素子7の一つ置き
の間隔である。
なお、各素子7は等間隔で配列されており、光斑が交互
に入射するため、二組の電気的出力は互に1800の位
相となっている。
したがって、第1図のとおり各出力信号を別個の増幅器
9,10で増幅の後、差動増幅器11へ逆相入力として
与えれば、周波数fQの成分は互に加算されるが、他の
不規則な雑音成分は減算され、求める周波数fQの成分
のみが良好な信号対雑音比の信号として得られる。
なお、この様にして得た信号を周波数測定器12におい
て、その周波数fQを検出すれば相対速度Voが求めら
れるが、更に上述の各式に基いた演算回路の付加により
相対速度Voを直読することもできる。
以上の様に相対速度Voの測定を行なえるが、光電変換
を行なう素子7の応答周波数特性と光斑の移動速度vB
との関係があり、VBが増大した場合素子7の応答性が
不充分となる問題を生じる。
なお、素子7は一般に半導体が用いられ受光面積を小と
すれば応答周波数限界が犬となるが、これと反比例して
出力信号のレベルが低下し、数10KHzの信号を得る
のが限界であり、各種工業プロセスにおいてはfQが数
100KHzに達することがあり、もはや格子形光電変
換器6を用いることは不可能となって終い、その対策と
して第2図に示すとおり、格子状スリットと、応答周波
数特性の良好な光電管、光電子増倍管等の電子管または
アバランシェ光検出器等の特殊な半導体を光電変換素子
として用いることが行なわれている。
第2図において、大地4からの反射光5の一部はハーフ
ミラ−13により二分され、第1の格子状スリット14
と第2の格子状スリット15を経て、それぞれレンズ1
6.17により集光された後光電変換素子18.19へ
入射する。
なお、両格子状スリツN4.15は移動方向と直角に形
成され、スリット幅および遮光部幅は互に等しく、スリ
ットの間隔gもすべて均一となっているが、同一の入射
光20に対し第1の格子状スリット14では遮光部へ投
射され、第2の格子状スリット15ではスリットへ投射
され、第1の光電変換素子18と第2の光電変換素子1
9とでは交互に電気的出力を生ずるものとなっており、
両格子状スリット14.15のスリットの位相を相互に
1800異ならせである。
したがって、両光電変換素子18.19の出力も互に1
800の位相差を有しており、第1図と同様に信号処理
を行なえば全く同一の結果が得られ、更に両光電変換素
子18,19として応答周波数特性の良好なものが用い
られるため、数100KHzまでの信号を扱うことが可
能であり、高速の相対速度Voを測定するのに好適とな
る。
たくし、第2図の手段では、両格子状スリット14.1
5を対象面としての大地4から光学的距離が等しく、か
つ、両スリットの位相が1800異る様、正確に配置す
る必要があり、機構的精度を高度に保たねばならないが
、その実現が甚だ困難であり反って測定精度を低下させ
る要因となっている。
また、ハーフミラ−13の使用により両光電変換素子1
8.19への入射光量が半減し、併せてハーフミラ−1
3における損失もあり、全体としての光学的効率が低下
する欠点も有している。
本発明は上述の欠点を一挙に解決することを目的とし、
レーザ光を対象面へ投射し、その対象面からの反射光を
入射光として格子状スリットを介して光電変換素子によ
り受光し、この光電変換素子の電気的出力に基き対象面
との相対速度を測定する装置において、対象面からの入
射光を集光する対物レンズと、この対物レンズの焦点位
置と合致しかつ対物レンズにより集光された入射光が透
過する透孔をはゾ中央に穿設した反射鏡と、前記透孔を
透過した入射光が投射される入射光と直交方向に設けら
れかつ遮光部表面を鏡とした格子状スリットと、この格
子状スリットのスリットを透過した透過光を受光する第
1の光電変換素子と、前記遮光部表面において反射され
た入射光を反射鏡を介して受光する第2の光電変換素子
とを備えたことを特徴とし、一つの格子状スリットを用
いるのみであり、かつ、光学的損失が少く、製造の容易
な速度測定装置を提供するものである。
以下、実施例を示す第3図、第4図により本発明の詳細
な説明する。
第3図は第1図のものへ本発明を適用したものであり、
対物レンズ31と格子状スリット32との間に反射鏡3
3が鏡面を格子状スリット32へ向けて設けられ、その
はゾ中央に透孔34が穿設しである。
また、第1の光電変換素子18の前面に設けた格子状ス
リット32の遮光部35はその表面が鏡となっている。
なお、格子状スリット32の遮光部35とスリット36
の幅は等しく、間隔gもすべてが均一となっていること
は第2図のものと同様である。
したがって、大地4からの反射光5の一部は入射光20
として対物レンズ31により集光され、その焦点位置が
透孔34の位置と合致しているため、これを透過して入
射光20と直交方向に設けた格子状スリット32の表面
へ投射される。
スリット36を透過した入射光は透過光37としてレン
ズ16により再び集光のうえ第1の光電変換素子18に
より受光されるが、遮光部35へ投射された入射光はこ
\において反射され、再反射光38となって反射鏡33
により直角方向へ光路変更を受けた後、レンズ17によ
り集光されて第2の光電変換素子19によって受光され
る。
このため、同一の入射光20に対し両光電変換素子18
゜19の電気的出力は互に180°の位相差を有し、第
1図、第2図のものと全く同様の出力信号が得られる。
たくし、入射光20はハーフミラ−13により損失を受
けずに格子状スリット32へ到達し、更に第2の光電変
換素子19へ入射する再反射光38も鏡面反射によるも
のであるから、極めて少い光学的損失で受光される。
また、正規の入射光20のみが透孔34を透過し、周囲
からの雑音光は透孔34を透過せずに阻止されるため、
両光電変換素子18.19の電気的出力は信号対雑音比
の極めて良好なものとなり、測定誤差が減少する。
第3図において、対象面としての大地4と対物レンズ3
1との距離をa1対物レンズ31の焦点距離をF1対物
レンズ31と格子状スリット32との間隔をyとすれば
、格子状スリット32の表面における光斑の移動速度v
Bと相対速度Voとの比myは次式により示される。
ここでyoは対物レンズ31と、レーザ光線3の仮想的
投射点8の対物レンズ31による像との距離であり、次
式により与えられる。
両光電変換素子18.19の出力信号周波数fQは、格
子状スリット32の表面における光斑速度vBにより定
まり、格子状スリット32と両光電変換素子18.19
との間隔には無関係であるから、両光電変換素子18.
19の出力信号周波数は等しく次式で示される。
ただし gtは格子状スリット32の等何間スリット間
隔であり、次式により示される。
いま、対物レンズ31と格子状スリット32との間隔y
をy−2yoとすれば、(6)式はg’−−gとなり、
(5)式による信号周波数fQの値は(IX2)式で与
えられる第1図のものと等しくなる。
たゾし、このときには−gが1へ代入されるため−fQ
となるが、単に出力信号の位相が第1図のものと180
°異なっていることを表すのみであり、本質的なもので
はない。
また、(5X6)式から、対物レンズ31と格子状スリ
ット32との間隔yを変化させると、出力信号周波数f
Qも変化するため、yの設定により扱い易い周波数の信
号とすることが容易にできる。
なお、両光電変換素子18.19の出力信号処理に関し
ては第1図のものと全く同様に行なえばよい。
このほか、入射光20が格子状スリット32に対し傾斜
方向から入射すれば、入射部位により入射角度が一定と
ならず、入射角度に応じて実効的なスリット間隔が変化
し、出力信号に種々の周波数を含むものとなるが、入射
光20に対し直角方向として格子状スリット32を設け
であるため、出力信号の周波数は単一に近いものとなり
、信号対雑音比が向上し測定誤差が減少する。
第4図は第3図に示す受光系の具体的構造例であり、遮
光性のケース41の上方に第2の光電変換素子19が収
容され、対物レンズ31は鏡筒42により焦点調整を可
能としてあり、蛇腹43により連結された遮光性の可動
ケース44中には格子状スリット32および第1の光電
変換素子18が収容しである。
反射鏡33はケース41中に第2の光電変換素子19の
直下へ鏡面を上方として固定され、同図AのX−X断面
を示す同図Bのとおり、はゾ中央に透孔34が穿設しで
ある。
また、可動ケース44はその脚部45が支持台46のガ
イド溝47と滑合し、かつギヤ48が支持台46の上面
に切られたラック49と係合しており、ギヤ48の回転
により支持台46上を移動して、対物レンズ31と格子
状スリット32との間隔を調整できるものとなっている
なお、第3図におけるレンズ16.17は特に図示して
いないが、両光電変換素子18,19の受光面かはゾ格
子状スリット32と同一面積であれば不要であり、場合
によっては各光電変換素子18.19と一体にして設け
てもよい。
また、格子状スリット32は、金属板等へエツチング処
理等によりスリットを形成した後、表面へクローム鍍金
等を施し高反射率の被膜を形成すれば容易に製せられる
以上の説明により明らかなとおり、本発明によれば、遮
光部35の表面へ鏡面を形成した格子状スリット32を
たシ一つ用いるのみで、等倒曲に二つのスリットが構成
されるため、二つのスリットの配置精度に考慮を払う必
要が皆無となり、更に、ハーフミラ−を用いないため、
光学的損失が少くこれに伴なって光電変換素子の電気的
出力レベルが増大し、以降の信号処理が容易になる。
また、光電変換素子自体を格子形とする必要がなく、応
答周波数特性の良好なものを任意に選定することができ
ると共に、透孔34の作用および格子状スリット32の
設置方向により、光電変換素子の出力における信号対雑
音比が向上する。
したがって、全般的に速度測定範囲の拡大ならびに測定
精度向上が達せられると共に安価に製作できるものとな
り、各種の無接触速度測定において多大の効果を収める
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は従来の速度測定装置の代表例を示す構
成図、第3図は本発明の実施例を示す構成図、第4図は
第3図における受光系の具体的構造例を示し、Aは要部
破断側面図、Bは同図AにおけるX−X断面図である。 1・・・・・・移動体、2・・・・・・レーザ発振器、
3・・・・・・レーザ光、4・・・・・・大地(対象面
)、5・・・・・・反射光、18・・・・・・第1の光
電変換素子、19・・・・・・第2の光電変換素子、2
0・・・・・・入射光、31・・・・・・対物レンズ、
32・・・・・・格子状スリット、33・・・・・・反
射鏡、34・・・・・・透孔、35・・・・・・遮光部
、36・・・・・・スリット、37・・・・・・透過光
、38・・・・・・再反射光。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 レーザ光を対象面へ投射し、該対象面からの反射光
    を入射光として格子状スリットを介して光電変換素子に
    より受光し、該光電変換素子の電気的出力に基き前面対
    象面との相対速度を測定する装置において、前記対象面
    からの入射光を集光する対物レンズと、該対物レンズの
    焦点位置と合致しかつ前記対物レンズにより集光された
    前記入射光が透過する透孔をはゾ中央に穿設した反射鏡
    と、前記透孔を透過した前記入射光が投射される該入射
    光と直交方向に設けられかつ遮光部表面を鏡とした格子
    状スリットと、該格子状スリットのスリットを透過しこ
    透過光を受光する第1の光電変換系子と、@記遮光部表
    面において反射された前記入射光を前記反射鏡を介して
    受光する第2の光電変換素子とを備えたことを特徴とす
    る速度測定装置。
JP8867877A 1977-07-23 1977-07-23 速度測定装置 Expired JPS5844216B2 (ja)

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JPS5423581A JPS5423581A (en) 1979-02-22
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6444313A (en) * 1987-08-12 1989-02-16 Mazda Motor Control device for engine

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6444313A (en) * 1987-08-12 1989-02-16 Mazda Motor Control device for engine

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