JPS5835445A - 螢光面の検査方法 - Google Patents
螢光面の検査方法Info
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- JPS5835445A JPS5835445A JP13523281A JP13523281A JPS5835445A JP S5835445 A JPS5835445 A JP S5835445A JP 13523281 A JP13523281 A JP 13523281A JP 13523281 A JP13523281 A JP 13523281A JP S5835445 A JPS5835445 A JP S5835445A
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- Japan
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- color
- phosphor
- fluorescent
- light
- fluorescent substance
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は表像管用ガラスパネルに螢光体を所定の螢光
膜パターンに被着した後、前記螢光膜パターンの欠落！
効雫よく検中するための螢光面の検査方法に関するもの
で、第１図は一般的なカラー受像管螢光面の製造工程を
示し、これを第２図（ト）〜（Ｃ）とともにさらに詳し
く説明する。第２図体）に示す、これから螢光面を形成
しようとするガラスパネル（２）は、まず内面を苛性ソ
ーダ、弗酸・および純水を使って洗浄する洗浄工程住）
に入る。つぎに１プレコートエＩＩ（２）に入シ、九と
えばごく薄い０．０２重量％のポリビニールアルコール
の水溶液を吹きつけた後、乾燥して第２図ＣＢ）Ｋ示す
プレコート膜勾を形成する。つぎに、螢光体の塗布工１
！ （３）に入シ、感光性結合剤、たとえば、ポリビニ
ールアルコールと重クロム酸塩の水溶液に緑螢光体を分
散させた螢光体スラリーをガラスパネル内に注入し、回
転塗布法によシ均一に塗布した後、乾燥工程（４）で乾
燥させてスラリー膜曽とする。その断面を第２図Φ）に
示す。
膜パターンに被着した後、前記螢光膜パターンの欠落！
効雫よく検中するための螢光面の検査方法に関するもの
で、第１図は一般的なカラー受像管螢光面の製造工程を
示し、これを第２図（ト）〜（Ｃ）とともにさらに詳し
く説明する。第２図体）に示す、これから螢光面を形成
しようとするガラスパネル（２）は、まず内面を苛性ソ
ーダ、弗酸・および純水を使って洗浄する洗浄工程住）
に入る。つぎに１プレコートエＩＩ（２）に入シ、九と
えばごく薄い０．０２重量％のポリビニールアルコール
の水溶液を吹きつけた後、乾燥して第２図ＣＢ）Ｋ示す
プレコート膜勾を形成する。つぎに、螢光体の塗布工１
！ （３）に入シ、感光性結合剤、たとえば、ポリビニ
ールアルコールと重クロム酸塩の水溶液に緑螢光体を分
散させた螢光体スラリーをガラスパネル内に注入し、回
転塗布法によシ均一に塗布した後、乾燥工程（４）で乾
燥させてスラリー膜曽とする。その断面を第２図Φ）に
示す。
ついで、スラリー膜＠に欠点がなければ露光工程（５）
に入り、所定の露光装置によシ色選択電極としてのシャ
ドウマスクを介して所定量の露光を行ない潜像を形成す
る。なお、前記スラリー膜（至）に欠点があれば、前記
露光工程（６）を通さずにつぎの現像工＠（６）に入る
。現体工程（６）ではスラリー膜曽の未露晃部を、スプ
レーノズルより噴出する現偉水によって洗い流し、所定
の位置に所望の大きさの螢光体ストライプまたは螢光体
ドツト（以下、螢光体ストライプと総称する。）を形成
する・カラー受像管では前記スラリー塗布から現像まで
の工程を青、赤の螢光体についても繰〕返し、シャドウ
マスクの穿孔部に対応する位置に３種の蟹光体ストライ
プ榊、（２）、−を形成している。
に入り、所定の露光装置によシ色選択電極としてのシャ
ドウマスクを介して所定量の露光を行ない潜像を形成す
る。なお、前記スラリー膜（至）に欠点があれば、前記
露光工程（６）を通さずにつぎの現像工＠（６）に入る
。現体工程（６）ではスラリー膜曽の未露晃部を、スプ
レーノズルより噴出する現偉水によって洗い流し、所定
の位置に所望の大きさの螢光体ストライプまたは螢光体
ドツト（以下、螢光体ストライプと総称する。）を形成
する・カラー受像管では前記スラリー塗布から現像まで
の工程を青、赤の螢光体についても繰〕返し、シャドウ
マスクの穿孔部に対応する位置に３種の蟹光体ストライ
プ榊、（２）、−を形成している。
最後にフィルミング工程（図示せず）Ｋムシ、前記螢光
体スト？イブの上に、たとえば皮膜形成樹脂の水性乳剤
を塗布、乾燥して非水溶性皮膜（２）を形成する。これ
を第２図（Ｃ） Ｋ示す、この後、螢光面製造工程の最
終検査を行ない、規格品質に満たないものは除去してつ
ぎＯ工１１に送っている。
体スト？イブの上に、たとえば皮膜形成樹脂の水性乳剤
を塗布、乾燥して非水溶性皮膜（２）を形成する。これ
を第２図（Ｃ） Ｋ示す、この後、螢光面製造工程の最
終検査を行ない、規格品質に満たないものは除去してつ
ぎＯ工１１に送っている。
以上に述べた３色螢光体ストライプの形成過糧において
、通常、種々の原因、゛たとえば螢光体とガラスパネル
との接着力不足、スラリー膜中の欠陥、あるいは前記シ
ャドウマスクの穿孔部のゴミなどによる目詰〕によシ、
前記現儂工１１（６）にお−て、局部的に螢光体ストラ
イプがガラスパネル蘭に被着しない状態、すなわち第３
図の拡大１ｌｌＫ示すような螢光体ストライプの欠落ａ
）（以下、単に欠落と称す、）を生じることがある。こ
のような欠落部による欠陥は螢光面の品質を下げ、また
製造歩留ＤＫ悪影響を与えて好ましくないものである。
、通常、種々の原因、゛たとえば螢光体とガラスパネル
との接着力不足、スラリー膜中の欠陥、あるいは前記シ
ャドウマスクの穿孔部のゴミなどによる目詰〕によシ、
前記現儂工１１（６）にお−て、局部的に螢光体ストラ
イプがガラスパネル蘭に被着しない状態、すなわち第３
図の拡大１ｌｌＫ示すような螢光体ストライプの欠落ａ
）（以下、単に欠落と称す、）を生じることがある。こ
のような欠落部による欠陥は螢光面の品質を下げ、また
製造歩留ＤＫ悪影響を与えて好ましくないものである。
従来、欠落の対策として、使用する螢光体のガラス面へ
の接着力の強化、あるいは製造工程における各種の改善
、工夫など製造技術の向上が図られている。しかしなが
ら、前記螢光面の製造工程は微妙であり、厳格な管理が
行われていてもなお、欠落はいくらかの割合で発生する
ものでＴｏシ、とくに高性能受像管の螢光面Ｋｎる程、
その傾向は増大する。
の接着力の強化、あるいは製造工程における各種の改善
、工夫など製造技術の向上が図られている。しかしなが
ら、前記螢光面の製造工程は微妙であり、厳格な管理が
行われていてもなお、欠落はいくらかの割合で発生する
ものでＴｏシ、とくに高性能受像管の螢光面Ｋｎる程、
その傾向は増大する。
このような事情のもとに、螢光面の製造工程の最終検査
では欠落を確実に発見し、後の工程に流さないようＫす
ることが非常に重要な検査項目となる。この検査を行な
うための装置として、従来は第４図に示すものが用いら
れていえ。検査者は検査しようとする螢光面の被着を完
了したガラス′パネル（２）を検査台−に乗せ、螢光体
を発光させる丸めの、いわゆる殺菌ランプ＠を九はブラ
ックランプに）等を点灯して螢光面の発光状態により前
記欠落を目視によシ検出する方法、通常の白色光ランプ
■を用いて欠落部分の光透過率の高いことを利用して判
別する方法、あるいは白色光による反射光をチェックし
て検出するなどの方法により検査を行なっている。しか
しながら、これらの方法では、螢光体の種類による差、
すなわち緑の発光に対しては発見が容易であっても、赤
、青の発光に対しては困難であったり、また透過光では
方向により検出がむずかしくなるなど、作業性の上で欠
点が多く、確実な脱落の検査はなされ難いものであった
。この結果、規格上、不良品であっても後工程に流れ、
最終製品の検査において不良品となるものが多く、製造
工程の歩留と効率上きわめて損失の大きいものであった
。
では欠落を確実に発見し、後の工程に流さないようＫす
ることが非常に重要な検査項目となる。この検査を行な
うための装置として、従来は第４図に示すものが用いら
れていえ。検査者は検査しようとする螢光面の被着を完
了したガラス′パネル（２）を検査台−に乗せ、螢光体
を発光させる丸めの、いわゆる殺菌ランプ＠を九はブラ
ックランプに）等を点灯して螢光面の発光状態により前
記欠落を目視によシ検出する方法、通常の白色光ランプ
■を用いて欠落部分の光透過率の高いことを利用して判
別する方法、あるいは白色光による反射光をチェックし
て検出するなどの方法により検査を行なっている。しか
しながら、これらの方法では、螢光体の種類による差、
すなわち緑の発光に対しては発見が容易であっても、赤
、青の発光に対しては困難であったり、また透過光では
方向により検出がむずかしくなるなど、作業性の上で欠
点が多く、確実な脱落の検査はなされ難いものであった
。この結果、規格上、不良品であっても後工程に流れ、
最終製品の検査において不良品となるものが多く、製造
工程の歩留と効率上きわめて損失の大きいものであった
。
したがって、この発明は、上記欠点を除去し、螢光体の
欠落の発見を容易にするための新規な螢光面の検査方法
を提供するものである。
欠落の発見を容易にするための新規な螢光面の検査方法
を提供するものである。
発明者は、目視検査における視感性の重要なること、お
よび螢光体粒子には光散乱性があり、欠Ｎｏ部分、すな
わちガラス面のほぼ透明に近ｉとζろでは螢光体による
発光のないことを総合検討し、複数種の螢光体の発光を
それぞれの螢光体の発光スペクトル域の全体もしくは一
部分を透過させる色フィルタを用い、複数種の螢光体の
発光を一種ごとの螢光体の発光色に分解して検査すると
とに想到して実験を行った結果、非常に有効であること
を見い出した。すなわち、前記殺菌灯あるいはブラック
ランプの紫外線刺激によシ大抵の螢光体は励起され発光
して、複数種の螢光体による発光は合成色となシ、ある
一種の螢光体の発光の局部的な欠落は目の生理学上から
も非常に検出し難いものとなっている。九とえば前述の
カラー受像管螢光面の場合、紫外線による発光スペクト
ルは第５図に示すようなものであシ、合成色は白色とな
っている。
よび螢光体粒子には光散乱性があり、欠Ｎｏ部分、すな
わちガラス面のほぼ透明に近ｉとζろでは螢光体による
発光のないことを総合検討し、複数種の螢光体の発光を
それぞれの螢光体の発光スペクトル域の全体もしくは一
部分を透過させる色フィルタを用い、複数種の螢光体の
発光を一種ごとの螢光体の発光色に分解して検査すると
とに想到して実験を行った結果、非常に有効であること
を見い出した。すなわち、前記殺菌灯あるいはブラック
ランプの紫外線刺激によシ大抵の螢光体は励起され発光
して、複数種の螢光体による発光は合成色となシ、ある
一種の螢光体の発光の局部的な欠落は目の生理学上から
も非常に検出し難いものとなっている。九とえば前述の
カラー受像管螢光面の場合、紫外線による発光スペクト
ルは第５図に示すようなものであシ、合成色は白色とな
っている。
したがって、緑、青もしくは赤に発光するいずれかの螢
光体に発見のない部分、すなわちストライプの欠落があ
ったとしても非常に検出はｉＪＩなものであった。しか
しながらこの発ＷＲＫよる色フイルタを介して検出する
方法によればそれぞれの螢光体の発光に分解して検査で
きる結果、ストライプの欠落を発見することは非常に容
易となる。
光体に発見のない部分、すなわちストライプの欠落があ
ったとしても非常に検出はｉＪＩなものであった。しか
しながらこの発ＷＲＫよる色フイルタを介して検出する
方法によればそれぞれの螢光体の発光に分解して検査で
きる結果、ストライプの欠落を発見することは非常に容
易となる。
九とえは赤の螢光体の欠落をチェックする場合、赤色域
を透過する色フィルタ（たとえば東芝、ガラスフィルタ
ｖｏ５ｇ）を介して前記第６図の発光スペクトルを見る
と、透過光は第６図の曲線（２）に示すようなものであ
シ、完全に緑と青の発光は除かれ、ストライプの欠落部
分は黒点として非常に容ＡＫ検出される。他の緑、およ
び青くついても、同様にそれぞれ適尚なフィルタ（九と
えば、縁Ｗｒａｔｅｎフィルタ凪６１．青Ｗａｒｔｅｎ
フィルタ凪４７）を用いてそれぞれ第６図の曲線収）、
＠で示すよう♂に、それぞれ録、青の透過光を単独色と
して、検出することができる。したがって、この発明は
このような光学変換による光の分解により、欠落部分を
黒点化させて視感性のよい状態で螢光体ス゛ドライブの
欠落を検出するものである。
を透過する色フィルタ（たとえば東芝、ガラスフィルタ
ｖｏ５ｇ）を介して前記第６図の発光スペクトルを見る
と、透過光は第６図の曲線（２）に示すようなものであ
シ、完全に緑と青の発光は除かれ、ストライプの欠落部
分は黒点として非常に容ＡＫ検出される。他の緑、およ
び青くついても、同様にそれぞれ適尚なフィルタ（九と
えば、縁Ｗｒａｔｅｎフィルタ凪６１．青Ｗａｒｔｅｎ
フィルタ凪４７）を用いてそれぞれ第６図の曲線収）、
＠で示すよう♂に、それぞれ録、青の透過光を単独色と
して、検出することができる。したがって、この発明は
このような光学変換による光の分解により、欠落部分を
黒点化させて視感性のよい状態で螢光体ス゛ドライブの
欠落を検出するものである。
以下、この発明の一実施例を［１１１１！ したがって
説明する。
説明する。
第７図はこの発明による螢光面の検査方法を実施するた
めの検査装置の一例を示す、カラー受偉管螢光面として
３原色（緑、青、赤）に発光するそれぞれの螢光体スト
ライプを選択的に検査するための３種の色フィルタ■が
回転自在にかつ、引出し、収納自在に装着されている。
めの検査装置の一例を示す、カラー受偉管螢光面として
３原色（緑、青、赤）に発光するそれぞれの螢光体スト
ライプを選択的に検査するための３種の色フィルタ■が
回転自在にかつ、引出し、収納自在に装着されている。
このような検査装置を用いて通常の方法、すなわちパネ
ル（２）を置き、まず殺菌ランプゆもしくはブラックラ
ンプ輪で発光色の純度、混色をチェツークした後、ブラ
ックランプ■のみの刺激に切り替え、色フィルタ■を引
出し、手元の駆動スイッチのを押すことにより、順次色
フィルタ０を駆動モータ（至）によって回転させ、赤、
緑そして青く順次切り替え、螢光面のストライプの欠落
の有無を検出すゐ。これにより従来よりも検出率は上が
シ受像管の最終検査工程における欠落による不良率は１
１５以下に激減した。以上は螢光面として、螢光体の発
光域をグラファイトなどの光吸収性物質のパターンとし
九いわゆるブラックマトリックスタイプではないものＫ
ついて説明したが、ブラックマトリックスタイプの螢光
面は勿論、その他の螢光面、あるいは塗膜などの検査に
も用いることができる。ｔた、実施例において説明した
検査装置の螢光面発光色のフィルタリング手段は製造条
件、検査条件に合せて、たとえばメガネにフィルタを装
着するなど種々の形態があることは言うまでもない。
ル（２）を置き、まず殺菌ランプゆもしくはブラックラ
ンプ輪で発光色の純度、混色をチェツークした後、ブラ
ックランプ■のみの刺激に切り替え、色フィルタ■を引
出し、手元の駆動スイッチのを押すことにより、順次色
フィルタ０を駆動モータ（至）によって回転させ、赤、
緑そして青く順次切り替え、螢光面のストライプの欠落
の有無を検出すゐ。これにより従来よりも検出率は上が
シ受像管の最終検査工程における欠落による不良率は１
１５以下に激減した。以上は螢光面として、螢光体の発
光域をグラファイトなどの光吸収性物質のパターンとし
九いわゆるブラックマトリックスタイプではないものＫ
ついて説明したが、ブラックマトリックスタイプの螢光
面は勿論、その他の螢光面、あるいは塗膜などの検査に
も用いることができる。ｔた、実施例において説明した
検査装置の螢光面発光色のフィルタリング手段は製造条
件、検査条件に合せて、たとえばメガネにフィルタを装
着するなど種々の形態があることは言うまでもない。
以上のように、この発明０＊−＊面の検査方法によれば
、従来、検出が困難であった螢光体Ｏ欠落部分を色フィ
ルタを利用することによ〕各螢光体の単一色とし、黒く
して見え易くし九結果、検査者の負担を軽くして検出率
を上げ、最終製品の品質１歩留を向上させることがで暑
、製造コストを引き下げることができる等、優れた効果
が得られる。
、従来、検出が困難であった螢光体Ｏ欠落部分を色フィ
ルタを利用することによ〕各螢光体の単一色とし、黒く
して見え易くし九結果、検査者の負担を軽くして検出率
を上げ、最終製品の品質１歩留を向上させることがで暑
、製造コストを引き下げることができる等、優れた効果
が得られる。
第１図は螢光面の製造工程を示すブロックダイヤグラム
、第２図に）〜（Ｃ）は螢光面の製造過程を示す断面図
、第３図は欠落を示す部分拡大図、第４図は従来の検査
装置の一例を示す断面図、第Ｓ図は紫外線の刺激による
螢光面の発光スペクトル図、第６ｗＪＦｉ第５図の発光
スペクトルに色フィルタを介してｉられる各色螢光体の
透過光スペクトル図、第７図はこの発明の検査方法に用
いる検査装置の一例を示す断面図である。 釦・・ガラスパネル、（２）、＠、（２）・・・螢光体
ストライプ、（２）・・・欠落部、（２）・・・赤螢光
体の透過光スペクトル、曽・・・縁壁光体の透過光スペ
クトル、輸・・・青贅光体の透過光スペクトル、＠・・
・色フィルタ。 なお図中、同一符号は同一もしくは相癲部分を示す。 代理人 葛野信−（外１名） 第１図 第２図 第５図
、第２図に）〜（Ｃ）は螢光面の製造過程を示す断面図
、第３図は欠落を示す部分拡大図、第４図は従来の検査
装置の一例を示す断面図、第Ｓ図は紫外線の刺激による
螢光面の発光スペクトル図、第６ｗＪＦｉ第５図の発光
スペクトルに色フィルタを介してｉられる各色螢光体の
透過光スペクトル図、第７図はこの発明の検査方法に用
いる検査装置の一例を示す断面図である。 釦・・ガラスパネル、（２）、＠、（２）・・・螢光体
ストライプ、（２）・・・欠落部、（２）・・・赤螢光
体の透過光スペクトル、曽・・・縁壁光体の透過光スペ
クトル、輸・・・青贅光体の透過光スペクトル、＠・・
・色フィルタ。 なお図中、同一符号は同一もしくは相癲部分を示す。 代理人 葛野信−（外１名） 第１図 第２図 第５図
Claims (1)
- （１χ表偉管用ガラスパネルに複数種の螢光体を所定の
パターンに被着する螢光面形成工程で、前記螢光体の欠
落を螢光体に紫外光線を照射して発光させ、その発光の
前記ガラスパネルの透過光によって検出する螢光面の検
査方法において、前記透過光を、前記複４数種の螢光体
のそれぞれの発光波長域の全体もしくは一部分のみを透
過させる色フィルタを升して検出する、ことを特徴とす
る螢光面の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13523281A JPS5835445A (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 螢光面の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13523281A JPS5835445A (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 螢光面の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5835445A true JPS5835445A (ja) | 1983-03-02 |
Family
ID=15146894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13523281A Pending JPS5835445A (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 螢光面の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5835445A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5393255A (en) * | 1993-03-01 | 1995-02-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of inspection for cathode-ray tube component members and apparatus used for embodying the same |
-
1981
- 1981-08-27 JP JP13523281A patent/JPS5835445A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5393255A (en) * | 1993-03-01 | 1995-02-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of inspection for cathode-ray tube component members and apparatus used for embodying the same |
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