JPS5829846B2 - 統計誤差判別装置 - Google Patents
統計誤差判別装置Info
- Publication number
- JPS5829846B2 JPS5829846B2 JP489678A JP489678A JPS5829846B2 JP S5829846 B2 JPS5829846 B2 JP S5829846B2 JP 489678 A JP489678 A JP 489678A JP 489678 A JP489678 A JP 489678A JP S5829846 B2 JPS5829846 B2 JP S5829846B2
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- Japan
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- value
- statistical error
- counter
- statistical
- circuit
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- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明はランダムに発生する信号を観察し、ランダム
な現象に特有の統計誤差が所望の値に達したとき信号を
送出する判別装置に関するもので、例えば放射線のよう
なランダムパルスを測定する場合、統計誤差が所望の値
に達したとき測定対象物を取り替えたり、その他種々の
制御を行う制御信号を送出する判別装置に関するもので
ある。
な現象に特有の統計誤差が所望の値に達したとき信号を
送出する判別装置に関するもので、例えば放射線のよう
なランダムパルスを測定する場合、統計誤差が所望の値
に達したとき測定対象物を取り替えたり、その他種々の
制御を行う制御信号を送出する判別装置に関するもので
ある。
一般にランダムな現象の統計誤差は標準偏差σで表わさ
れ、ある時間内に測定されるランダムパルス数をＮとし
たとき、近似的に で表わされる。
れ、ある時間内に測定されるランダムパルス数をＮとし
たとき、近似的に で表わされる。
したがって測定値とその誤差（標準偏差）は
で表わされる。
通常このＮは１０より大きく、この場合、この偏差の分
布は正規分布で近似できるので測定値Ｎの真の平均値Ｎ
。
布は正規分布で近似できるので測定値Ｎの真の平均値Ｎ
。
からのずれがＩＮ−Ｎ。
１以内にはいる確率は正規分布表から求めて標準偏差σ
（＝＃）のとき６８．３％であり、２σでは９５．４％
、３σでは９９．７％、また０、６７４５σでは５０％
である。
（＝＃）のとき６８．３％であり、２σでは９５．４％
、３σでは９９．７％、また０、６７４５σでは５０％
である。
放射線測定などでは、このσ、２σ、３σ、０．６７４
５σなどを用いて統計誤差を取扱う場合が多い。
５σなどを用いて統計誤差を取扱う場合が多い。
上記の説明では統計誤差は（１）式の形でのみ説明した
が、この他に統計誤差を比で計算したり、時間当りの計
数値（計数率）に対する統計誤差を計算したり、また複
数個の入力に対しての統計誤差を計算したりして種々の
形で統計誤差を表している。
が、この他に統計誤差を比で計算したり、時間当りの計
数値（計数率）に対する統計誤差を計算したり、また複
数個の入力に対しての統計誤差を計算したりして種々の
形で統計誤差を表している。
従来、放射線測定等において取扱うランダムパルス信号
を、上記で説明したような統計誤差を用いて、側らかの
処置を行う場合、次のような方法で行なっていた。
を、上記で説明したような統計誤差を用いて、側らかの
処置を行う場合、次のような方法で行なっていた。
ランダムパルス信号を計数した後に、この計数値に対す
る統計誤差を、上記に説明したような手法で計算して求
め、この統計誤差より、次の計測や制菌の動作を判断し
、その動作を行なっていた。
る統計誤差を、上記に説明したような手法で計算して求
め、この統計誤差より、次の計測や制菌の動作を判断し
、その動作を行なっていた。
この発明は上記のようにいちいち統計誤差を計算してそ
の結果を判断し、次の動作を行うという欠点をなくする
ためになされたもので、ランダム信号を計数して得られ
る計数値に対する統計誤差を演算し、この演算値があら
かじめ所望の統計誤差に設定した値に達したとき、各種
の制菌を行なわせるための出力信号を送出する統計誤差
判別装置を提供することを目的としている。
の結果を判断し、次の動作を行うという欠点をなくする
ためになされたもので、ランダム信号を計数して得られ
る計数値に対する統計誤差を演算し、この演算値があら
かじめ所望の統計誤差に設定した値に達したとき、各種
の制菌を行なわせるための出力信号を送出する統計誤差
判別装置を提供することを目的としている。
第１図はこの発明の統計誤差判別装置の一実施例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
図において、１はランダムな入力信号を計数する計数器
、２は演算器でその中に開平回路２１、所定の定数を設
定する設定回路２２、割算回路２３、掛算回路２４より
構成されている。
、２は演算器でその中に開平回路２１、所定の定数を設
定する設定回路２２、割算回路２３、掛算回路２４より
構成されている。
３は表示器で計数器１と演算器２の出力を表示する。
４は所望の統計誤差を設定する設定器、５は演算器２と
設定器４との出力を入力とする比較器である。
設定器４との出力を入力とする比較器である。
この判別装置は設定統計誤差にσ＝Ｘが
のとき出力信号を送出しようとするもので、計数器１で
計数された計数値Ｎを演算器２内の開平回路２１でＪＨ
を求め、この値を割算回路２３によＸ すＮで割算し−を求め、この値と設定回路２２で設定さ
れた定数ｋ（−１，２，３，０，６７４５・・・など）
ＦＵ とを掛算回路２４で掛算しにσ＝ｋ −Ｘ １０ Ｏを
求める。
計数された計数値Ｎを演算器２内の開平回路２１でＪＨ
を求め、この値を割算回路２３によＸ すＮで割算し−を求め、この値と設定回路２２で設定さ
れた定数ｋ（−１，２，３，０，６７４５・・・など）
ＦＵ とを掛算回路２４で掛算しにσ＝ｋ −Ｘ １０ Ｏを
求める。
表示器３では計数値Ｎと統計誤差にσの両者を表示する
。
。
設定器４では所望の統計誤差にσ−Ｘを設定し、比較器
５で、この設定値ＸとＶマ 演算値ｋ ｕ １００とを比較し、（３）式の条件で出
力信号を送出する。
５で、この設定値ＸとＶマ 演算値ｋ ｕ １００とを比較し、（３）式の条件で出
力信号を送出する。
判別動作開始時は計数値ＮＶ
が小なるためにσ＝に−の値は大きく、Ｎが増犬するに
したがってにσの値は順次小さくなり（３）式の条件で
出力信号を送出する。
したがってにσの値は順次小さくなり（３）式の条件で
出力信号を送出する。
この出力信号は例えば放射線測定において（３）式の条
件を満たしたとき所定の誤差内で測定が完了したことに
なるので、次の測定対象物の切換え信号に用いたり、放
射線測定用のサンプル捕集フィルタを取替えたり、また
遠隔地へ通報する信号などに用いることができる。
件を満たしたとき所定の誤差内で測定が完了したことに
なるので、次の測定対象物の切換え信号に用いたり、放
射線測定用のサンプル捕集フィルタを取替えたり、また
遠隔地へ通報する信号などに用いることができる。
第２図は、この発明の他の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
この装置は統計誤差かにσ−ｋＶＮになったとき、即ち
、 のとき出力信号を送出しようとするものである。
、 のとき出力信号を送出しようとするものである。
図において、演算器２以外は第１図の実症例と同一で、
演算器２では開平回路２１でＶＫを求め、これに設定回
路２２と掛算回路２３でｋを乗じ、ｋＪＦＺを演算して
出力する。
演算器２では開平回路２１でＶＫを求め、これに設定回
路２２と掛算回路２３でｋを乗じ、ｋＪＦＺを演算して
出力する。
比較回路５ではこの演算値ｋＶＮと設定値Ｘとを比較し
、（４）式の条件で出力信号を送出する。
、（４）式の条件で出力信号を送出する。
この場合、ｋσ＝ｋＶＮの値は判別動作開始時はＮが小
さくＮが増加するにしたがってｋＪマも大きくなり（４
）式の条件で出力することになる。
さくＮが増加するにしたがってｋＪマも大きくなり（４
）式の条件で出力することになる。
以上の実症例では統計誤差を（３）式と（４）式につい
て表わした場合の実施例を示、したが、統計誤差を表わ
す式は種々あり、これらの種々の式に対して判別装置を
提供することもできる。
て表わした場合の実施例を示、したが、統計誤差を表わ
す式は種々あり、これらの種々の式に対して判別装置を
提供することもできる。
例えば全計数値に対して単位時間当りの平均計数値（平
均計数率）とその統計誤差は で表わされる。
均計数率）とその統計誤差は で表わされる。
この（５）式の場合はのとき出力信号を送出するように
すればよい。
すればよい。
（６）式の場合は第１図の実症例でｋＶＲをＮで割算し
た代りにｋＶＫを計数に要した時間Ｔで割算しＶＸ ｋ−を求める演算器を構成すればよい。
た代りにｋＶＫを計数に要した時間Ｔで割算しＶＸ ｋ−を求める演算器を構成すればよい。
またこの他、２人力のランダムパルスの和または差を必
要とするときの計数値とその統計誤差はで求めればよい
。
要とするときの計数値とその統計誤差はで求めればよい
。
一般にＮ１．Ｎ２．Ｎ３．・・・、Ｎｎ個の入力があり
、これらの和または差の値を求める場合は となる。
、これらの和または差の値を求める場合は となる。
また時間当りの平均計数値で表わす場合は、となる。
上記ｆｆＸ８Ｘ９）式に対してもそれぞれの判別を行え
ばよい。
ばよい。
前述した如くこれらの判別装置を実現させることは上記
実施例より容易であり、また、その他の統計誤差を求め
る式に対しても同様の判別装置を提供することも容易に
できる。
実施例より容易であり、また、その他の統計誤差を求め
る式に対しても同様の判別装置を提供することも容易に
できる。
第３図はこの発明の判別装置の他の実症例を示すブロッ
ク図で、この図は統計誤差の判別結果より得られる出力
信号によってこの判別装置の計数動作を停止しようとす
る制御回路を設けたものである。
ク図で、この図は統計誤差の判別結果より得られる出力
信号によってこの判別装置の計数動作を停止しようとす
る制御回路を設けたものである。
図において、′６の停止回路以外は第１図の実症例と同
一である。
一である。
この停止回路６はアンド回路６１ノット回路６２より構
成されていて比較回路５からの出力信号を受けるとノッ
ト回路６２の出力は「１」から「Ｏ」となり、このｒＯ
Ｊ出力によりアンド回路６１は入力信号を阻止し、計数
回路１は計数を停止する。
成されていて比較回路５からの出力信号を受けるとノッ
ト回路６２の出力は「１」から「Ｏ」となり、このｒＯ
Ｊ出力によりアンド回路６１は入力信号を阻止し、計数
回路１は計数を停止する。
このようにすると、この判別装置は自動的に停止され且
つその時の計数値と統計誤差とが表示されるので便利で
ある。
つその時の計数値と統計誤差とが表示されるので便利で
ある。
第４図はこの発明の他の実症例を示したブロック図で繰
返し動作を行なう制御回路を設けたものである。
返し動作を行なう制御回路を設けたものである。
図において、７は切替スイッチよりなるリセット回路で
、比較器５または外部側画信号の入力端子８からの信号
を受けて計数装置をリセットするものである。
、比較器５または外部側画信号の入力端子８からの信号
を受けて計数装置をリセットするものである。
リセット回路γ、入力端子８以外は第１図と同じである
。
。
今、リセット回路Ｉのスイッチをａ側に入れると、比較
回路５からの出力信号が送出されたとき計数回路はリセ
ットされ、計数値Ｎ＝Ｏ１演算器出力も０となり出力信
号は出なくなるので再び計数器１は計数動作を開始する
。
回路５からの出力信号が送出されたとき計数回路はリセ
ットされ、計数値Ｎ＝Ｏ１演算器出力も０となり出力信
号は出なくなるので再び計数器１は計数動作を開始する
。
またリセット回路Ｔのスイッチをｂ側に入れると、外部
信号の出力で計数器１はリセット、・され、るので再び
動作する。
信号の出力で計数器１はリセット、・され、るので再び
動作する。
この外部信号は手動で入れてもよいし、また比較回路５
からの出力信号で外部の機器を動作させてその機器の動
作後、外部信号を端子８に入力すればこの装置は再び動
作を行なう。
からの出力信号で外部の機器を動作させてその機器の動
作後、外部信号を端子８に入力すればこの装置は再び動
作を行なう。
例えば、比較回路５の出力信号で放射線測定の対象物を
取替えたり、測定用フィルタを取替えた後、この取替装
置からの信号を入力端子８より受は再動作させるように
してもよい。
取替えたり、測定用フィルタを取替えた後、この取替装
置からの信号を入力端子８より受は再動作させるように
してもよい。
上記の実症例では表示器を判別装置内に設けたが必要と
される外部に設けてもよく、また表示器はプリンタを使
用してプリントアウトしたり、記録計で記録させるよう
にしてもよい。
される外部に設けてもよく、また表示器はプリンタを使
用してプリントアウトしたり、記録計で記録させるよう
にしてもよい。
以上のようにこの発明の統計誤差判別装置はランダム信
号を計数して、この計数値の統計誤差を演算し、この演
算値が所望の統計誤差に達したとき出力信号を送出する
ようにしたので、いちいち計算で統計誤差を求めて判断
する必要がなく、自動的に判別を行うことができる。
号を計数して、この計数値の統計誤差を演算し、この演
算値が所望の統計誤差に達したとき出力信号を送出する
ようにしたので、いちいち計算で統計誤差を求めて判断
する必要がなく、自動的に判別を行うことができる。
第１図はこの発明の統計誤差判別装置の一実症例を示す
ブロック図、第２図、第３図、第４図はこの発明の他の
実症例を示すブロック図である。 図において、１は計数器、２は演算器、３は表示器、４
は設定器、５は比較器、６は停止回路、７はリセット回
路、８は入力端子、２１は開平回路、２２は設定回路、
２３は割算回路、２４は掛算回路である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
ブロック図、第２図、第３図、第４図はこの発明の他の
実症例を示すブロック図である。 図において、１は計数器、２は演算器、３は表示器、４
は設定器、５は比較器、６は停止回路、７はリセット回
路、８は入力端子、２１は開平回路、２２は設定回路、
２３は割算回路、２４は掛算回路である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ランダムに発生する信号を計数する計数器、この計
数器の計数値に対応した統計誤差を演算する演算器、所
望の統計誤差を設定する設定器、上記演算器の演算値が
上記設定器の設定値に達すると出力信号を発生する比較
器を設けた統計誤差判別装置。 ２ 演算器は統計誤差として標準偏差値を演算すること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の統計誤差判別
装置。 ３ 演算器は統計誤差として標準偏差値に所定の係数を
乗じた値を演算することを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の統計誤差判別装置。 ４ 演算器は計数器の計数値の開平値と計数器の計数値
との比から相対的な標準偏差値を演算することを特徴と
する特許請求の範囲第２項または第３項記載の統計誤差
判別装置。 ５ 演算器は計数器の計数値の開平値から標準偏差値を
演算することを特徴とする特許請求の範囲第２項または
第３項記載の統計誤差判別装置。 ６ ランダムに発生する信号を計数する計数器、この計
数器の計数値に対応した統計誤差を演算する演算器、所
望の統計誤差を設定する設定器、上記演算器の演算値が
上記設定器の設定値に達すると出力信号を発生する比較
器、この出力信号により上記計数器を停止または繰返し
動作させる側聞回路、上記計数器の計数値と上記演算器
の演算値とを表示する表示器を設けた統計誤差判別装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP489678A JPS5829846B2 (ja) | 1978-01-19 | 1978-01-19 | 統計誤差判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP489678A JPS5829846B2 (ja) | 1978-01-19 | 1978-01-19 | 統計誤差判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5498262A JPS5498262A (en) | 1979-08-03 |
| JPS5829846B2 true JPS5829846B2 (ja) | 1983-06-25 |
Family
ID=11596423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP489678A Expired JPS5829846B2 (ja) | 1978-01-19 | 1978-01-19 | 統計誤差判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5829846B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0578184B2 (ja) * | 1983-11-25 | 1993-10-28 | Hitachi Ltd |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5981797A (ja) * | 1982-06-16 | 1984-05-11 | 三菱鉱業セメント株式会社 | ばらつきのある測定値を処理する制御装置 |
-
1978
- 1978-01-19 JP JP489678A patent/JPS5829846B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0578184B2 (ja) * | 1983-11-25 | 1993-10-28 | Hitachi Ltd |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5498262A (en) | 1979-08-03 |
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