JPS5829195A - Semiconductor memory - Google Patents

Semiconductor memory

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JPS5829195A
JPS5829195A JP56125186A JP12518681A JPS5829195A JP S5829195 A JPS5829195 A JP S5829195A JP 56125186 A JP56125186 A JP 56125186A JP 12518681 A JP12518681 A JP 12518681A JP S5829195 A JPS5829195 A JP S5829195A
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circuit
address
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column
memory
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堀 陵一
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store

Abstract

PURPOSE:To keep a cycle time and an access time almost equal and to improve the performance at page mode, by constituting a column selecting circuit and a circuit for readout or write with a static circuit. CONSTITUTION:The 1st dynamic circuit 5R having a dynamic memory cell to make row selection in response to the 1st address, a circuit 5C making column selection in response to the 2nd address inputted at the row selection, and a circuit which reads out a memory cell at cross points of the selected column and row and writes a data in the memory cell, are provided and the said 2nd address is changed over for the operation at the page mode. The column selection circuit 5C and the circuit for readout or write in the semiconductor memory like this are constituted with static circuits.

Description

【発明の詳細な説明】 不発明はMO8ダイナミックメモリ、特にアドレスマル
チ1式のメモリの性能改善に係る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The invention relates to improving the performance of MO8 dynamic memories, particularly address multi-type memories.

アドレス入力信号全行選択と列選択の2つの群に分けて
同一ビン群を使用して時間帯を分けて入力するメモリ、
いわゆるアトシスマルチ方式の半導体ダイナミックメモ
リにおいては、笑効的々アクセス時間とサイクル時間を
短縮する目的で、行選択アドレスは固定した11で、列
選択アドレスのみを連続的に変化させてメモリを動作さ
ぜるぺ〒ジモードと称される機能金有している。しかし
ながら、従来のメモリは、ダイナミック動作をするため
に、ベージモードと言えども、メモリ動作の後にメモリ
回路を初期状態に復帰させるいわゆるプリチャージ期間
が必要で、サイクル時間はアクセス時間のほぼ2倍の値
となり、その機能を生かしきれない欠点を有していた。
A memory that divides the address input signal into two groups, all row selection and column selection, and inputs them for different time periods using the same bin group;
In the so-called Atsys multi-type semiconductor dynamic memory, the row selection address is fixed at 11 and only the column selection address is continuously changed to operate the memory in order to effectively shorten the access time and cycle time. It has a feature called ``Page Mode''. However, in order to perform dynamic operation, conventional memory requires a so-called precharge period to return the memory circuit to its initial state after memory operation, even in page mode, and the cycle time is approximately twice the access time. It had the disadvantage that it could not take full advantage of its functions.

本発明は、ベージモードにおいて動作する回路金すべて
スタティック形の回路にしてサイクル時間とアクセス時
間をほぼ同一とし、ページモード時の性能を大幅改善し
ようとするものでめる。
The present invention aims to significantly improve performance in page mode by making all circuits operating in page mode static type, making the cycle time and access time almost the same.

第1図に本発明の実施例を示す。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.

同図でIR,、ICは外部からの制御クロックで主とし
て前者は行選択時の動作を、後者は列選択動作を制御す
る。以後図面内の記号において凡の添字のついたものは
行選択動作に、またCの添字のついたものは列選択動作
に係わること意味するものとする。2R,2Cはそnぞ
れIR,ICの入力を受けてメモリ内部の動作に必要な
複数のタイi7.グパルスを発生する回路である。図中
では代表的な出力線のみを記しており、他は省略してい
る。主として2Rの出力は行選択動作回路に、2Cの出
力列選択動作回路に供給されることは言う!でもない。
In the figure, IR, IC are external control clocks, and the former mainly controls row selection operations, and the latter controls column selection operations. Hereinafter, in the drawings, symbols with the suffix ``C'' will refer to the row selection operation, and symbols with the suffix ``C'' will refer to the column selection operation. 2R and 2C receive inputs from IR and IC, respectively, and are connected to a plurality of ties i7.2 which are necessary for internal operation of the memory. This is a circuit that generates pulses. In the figure, only typical output lines are shown, and the others are omitted. Mainly, the output of 2R is supplied to the row selection operation circuit, and the output of 2C is supplied to the output column selection operation circuit! not.

3はアトVス入力でろる。通常は複数本の入力となるが
、ここでは簡単のため1人力として示しである。行選択
アドレス′FilRに同期して゛入力され、列選択アド
レスはICに同期して入力嘔nる。この入力はアトVス
パツファ回路4R,4Cに入力され、それぞれ12R,
120の制御に従がい14R[定)、14a(否定)。
3 is input at Ato Vs. Normally, multiple inputs are required, but here, for simplicity, it is shown as being done by one person. It is input in synchronization with the row selection address 'FilR, and the column selection address is input in synchronization with the IC. This input is input to the atto V spatula circuits 4R and 4C, which are 12R and 12R, respectively.
Following the control of 120, 14R [Confirmation], 14a (Negation).

14C,14でに出力される。14R,14Rは行選択
動作に係わる行デコーダ、ワード線Wo。
It is output at 14C, 14. 14R, 14R are row decoders and word lines Wo related to row selection operations.

Wsの駆動回路などがらな不ブロック5Rに供給さn、
他方14C,14Cは列デコーダ、列選択M OS Q
m −Q4の制御1Ij15の駆動回路などからなるブ
ロック5Cに供給さnる。100はメモリセルアレ一部
であり、ビット線Bo、Bolのビット線は省略)とワ
ード1iJWo −Wt  (他のワードIIlダミー
ワード線は省略)の交点に例えばIMO8形式などのメ
モリセルMCが配置されている。6RはMCからの微小
信号検出用の検知回路であり、Ql * Qtから構成
され、13Rの指示により動作する。6Rにより検知増
幅された信号は、Qs = Q−全通して入出力データ
#I10゜Iloに伝達されて、増幅器7C?介して出
力端子8に出力される。−万データの書き込みは、デー
タ人力9から入力されたデータがデータ人カバ  ・ツ
プア10C’i介してIlo、Iloに接続され、上述
し九読み出しと逆の経路を通って行なわれる。
The drive circuit of Ws, etc. is supplied to the unblocked 5R,
On the other hand, 14C and 14C are column decoders and column selection M OS Q
m-Q4 is supplied to a block 5C consisting of a control circuit 1Ij15 and a drive circuit. 100 is a part of the memory cell array, and a memory cell MC of, for example, IMO8 format is arranged at the intersection of the word 1iJWo -Wt (the bit lines Bo and Bol are omitted) and the word 1iJWo -Wt (the dummy word line of other words IIl is omitted). has been done. 6R is a detection circuit for detecting minute signals from the MC, which is composed of Ql*Qt and operates according to instructions from 13R. The signal detected and amplified by 6R is transmitted to input/output data #I10°Ilo through Qs = Q-, and then to amplifier 7C? The signal is output to the output terminal 8 via the signal line. Writing of 10,000 data is performed through the reverse path to the above-mentioned reading, with the data input from the data driver 9 being connected to Ilo and Ilo via the data driver 10C'i.

さて、上に述べた動作のうちおおむね6Rによる検知増
幅動作までが、行選択動作に係わり、そn以降が列選択
動作に係わると言える。
Now, of the operations described above, it can be said that roughly up to the detection amplification operation by 6R is related to the row selection operation, and the subsequent operations are related to the column selection operation.

本発明は上述の中で、Cの添字の何てれた列選択動作に
係わる回路をスタティック動作化するものである。この
スタティック化において最大の障害となるのはビット線
と入出力データ線間の信号の授受、すなわち読み出し動
作時にビット線B0゜B0上の信号を破壊することなし
にスタティック的にIlo、Iloに取り田し、また書
き込み時には逆にB(+ 、 BoにIlo、Iloか
ら信号を正しく転送することでるる。
The present invention is to statically operate the circuit related to the column selection operation with the subscript C in the above description. The biggest obstacle in making this static is the transmission and reception of signals between the bit line and the input/output data line, that is, the static transfer of Ilo and Ilo without destroying the signal on the bit line B0°B0 during read operation. In addition, when writing, it is possible to correctly transfer signals from Ilo and Ilo to B(+, Bo).

1FEZ図は良く知らnている6MO8形のスタティッ
ク形メモリセルの構成を示している。同図で103.1
04はビット線、105はワード線で、106は電源1
st−示している。第1図と第2図を比較すると明らか
なように、Qs   Qs ’ * QtQt’*Qs
−Qs’eQ、a     Q4’l   101Be
 、102  Be 、103  Ilo、104−I
loFiそ牡ぞれ対応関係にある。したがって、第1図
のQw −Q−−Qs −Q−の定数全第2図の従来か
ら知らnているメモリセルと同様に設計しておけば、ス
タティック的な信号の授受が可能になる。
The 1FEZ diagram shows the configuration of a well-known 6MO8 type static memory cell. 103.1 in the same figure
04 is the bit line, 105 is the word line, 106 is the power supply 1
st-showing. As is clear from comparing Figures 1 and 2, Qs Qs ' * QtQt' * Qs
-Qs'eQ, a Q4'l 101Be
, 102 Be , 103 Ilo, 104-I
They are both compatible with loFi. Therefore, if the constants Qw -Q--Qs-Q- in FIG. 1 are designed in the same way as the conventionally known memory cell shown in FIG. 2, static signals can be sent and received.

すなわち、スタティック型メモリセルの最重要点の−°
つでるる。読み出し動作時に記憶情報の反転現象r生じ
ないように、Qs / Qr −Q−/ Q、tのオン
抵抗の比〉1〜2のように設定しておけば良い。なお、
この値は回路の寄生i量、信号電圧他と密接な関連があ
るため、多少上記値より異なるように設定する場合もめ
りうることは言うまでもない。
In other words, the most important point of a static memory cell is −°
Tsururu. In order to prevent the inversion phenomenon of stored information from occurring during a read operation, the on-resistance ratio of Qs/Qr-Q-/Q, t may be set to 1 to 2. In addition,
Since this value is closely related to the amount of parasitic i in the circuit, the signal voltage, etc., it goes without saying that it is often possible to set it to be slightly different from the above value.

その他の周辺回路5C,7C,IOCなどの設計も同様
に従来から使用されているスタティック型の回路技術に
よって容易に実現可能である。
The design of other peripheral circuits 5C, 7C, IOC, etc. can also be easily realized using conventionally used static type circuit technology.

第1図において第2図の負荷MO8であるQssQ、に
相当するものがないが、これも第3図に示すような近来
良く使わnている高レベル補償回路を付加すnば−Q−
、QaがQs −Qaに相当する働き金し、動作も安定
となる。
In FIG. 1, there is no equivalent to QssQ, which is the load MO8 in FIG.
, Qa corresponds to Qs - Qa, and the operation is stable.

なお、第2図で述べた如きメモリセルの設計法について
は既に公知となっており、「Y。
Note that the memory cell design method described in FIG. 2 is already known, and is known as "Y.

TARUI  etal  :A  4O−as  1
44−Bitn−channel  MC8−LSI 
 Memoly :IEEE  Journal  o
f 5olid−,3tateCiranits 、 
vol、 8C−4,No、5. QCl :69Jな
どに詳しい。
TARUI etal :A 4O-as 1
44-Bitn-channel MC8-LSI
Memory: IEEE Journal o
f5olid-,3tateCiranits,
vol, 8C-4, No, 5. QCl: Familiar with 69J etc.

第4図は上述した実1s例の主要部の動作波形を示して
いる。以下不発明の動作の概略を説明しよう。まず、行
選択クロックIRが入力されると、内部動作に必要な複
数のクロック、ここでは代表として示した12Hのクロ
ックが発生され、外部からのアドレス信号3の■で示し
九部分の信号全内部に取り込み、14R,14Rt出力
する。ここでのメモリはアドレスマルチ方式であるから
、−3には行0列そn(Jnのアドレス信号が時間帯を
分けて多重化さnて入力さnl[F]は行選択、■。
FIG. 4 shows operating waveforms of the main parts of the above-mentioned actual 1s example. An outline of the uninvented operation will be explained below. First, when the row selection clock IR is input, multiple clocks necessary for internal operations, 12H clock shown here as a representative, are generated, and all the signals of the 9 parts indicated by ■ of address signal 3 from the outside are internally and outputs 14R and 14Rt. Since the memory here is of the multi-address type, -3 is input with the address signal of row 0 column son (Jn divided into time zones and multiplexed), nl [F] is row selection, and (2).

■、■、■は後で述べる列選択アドレス信号である。ハ
ツチング部は、こnらの信号の切換時間帯を示しており
、どのような信号になってもメモリ動作には影響しない
ようになっている。
■, ■, ■ are column selection address signals to be described later. The hatched portion indicates the switching time period of these signals, and no matter what kind of signal it is, it does not affect the memory operation.

14R,14Rが出力さ扛ると、第1図の5Rが動作し
ワード線の1本、たとえばWoが選ばれ信号管出力され
る。次いでMCからBo 、Boに微小信号が読み出さ
れる。13Rが低電位になると、検知回路6Rが動作し
%  Be * BOの微小信号が増幅さnる。前に述
べたように、この動作を持って、おおむね、行選択動作
を完了する訳でめる。
When 14R and 14R are output, 5R in FIG. 1 is activated and one of the word lines, for example, Wo, is selected and output from the signal tube. Next, minute signals are read out from the MC to Bo and Bo. When 13R becomes a low potential, the detection circuit 6R operates and the minute signal of %Be*BO is amplified. As mentioned earlier, this operation essentially completes the row selection operation.

一万、列選択クロックICが入力されると、前と同様に
、内部動作に必要な複数のクロック、ここでは代表とし
て示し九12Cが発生される。これ以降の動作が本発明
に係わり、前に述べた行選択動作とは異なる。
When the column selection clock IC is inputted, as before, a plurality of clocks necessary for internal operations, here representatively shown as 912C, are generated. The subsequent operation is related to the present invention and is different from the row selection operation described above.

すなわち、3の■、■、■、■、・・・・・・、■が連
続して入力されると、14C,14Cにはこれに対応し
て、■、■、■、■、・・・・・・、■が連続して出力
される。次いで、5Cが動作し、複数の15(第1図で
は1不を代表として示している)のうちの1不が選ばれ
る。すなわち、14C,14Cの■、■、■、■、・・
・・・・、■に対応した15の各々の■、■、■、■、
・・・・・・■に信号が出される。
In other words, if 3 ■, ■, ■, ■, ..., ■ are input continuously, 14C, 14C will correspond to ■, ■, ■, ■, ... ..., ■ are output continuously. Next, 5C operates, and 1 out of a plurality of 15 (1 out is shown as a representative in FIG. 1) is selected. That is, 14C, 14C ■, ■, ■, ■,...
..., each of the 15 corresponding to ■, ■, ■, ■,
・・・・・・A signal is sent to ■.

これによって、Bow爪とIlo、IloがMO8TQ
s = Q4を介して接続嘔れ、データが転送され、こ
の信号は、7Ct−通して出力8に3のアドレス信号に
応じた箇所に記憶さ扛ていたデータカ、■、■、■、■
、・・・・・・、■とじて連続的に出力される。
By this, Bow claw, Ilo, Ilo are MO8TQ
s = Connected via Q4, data is transferred, and this signal is transferred to output 8 through 7Ct- to the data stored in the location corresponding to the address signal of 3,
, . . . , ■ are output continuously.

以上は読み出し動作でろるが、書き込み動作についても
同様に、9→10C→I10→Boあ経路全通って、連
続的な書き込み動作が行なわれる。
Although the above is a read operation, the write operation is similarly performed continuously through the entire path 9→10C→I10→Bo.

従来のページモード動作はIRt−人力した筐まで、I
 CtONloff  さぞ、これに同期してアドレス
を入力させることによって行なわれたが、上述した本発
明では、11’L、ICとも入力した1まで、アドレス
のみを順次切換えるいわゆる通常のスタティック型メモ
リと全て同一の動作をするようになシ、前に述べたよう
に、サイクル時間をアクセス時間とほぼ同程度にするこ
とができ、大幅な性能改善が可能となる。
Conventional page mode operation is
CtONloff This was done by inputting an address in synchronization with this, but in the present invention described above, it is all the same as a so-called normal static type memory in which only the address is sequentially switched up to 1 inputted in both 11'L and IC. As mentioned above, the cycle time can be made almost the same as the access time, which can significantly improve performance.

第1図に示し九メモリセルアレーはピッli?折りたた
んだ形式のいわゆるpolded  B自1ineの形
式で示しであるが、他の形式のメモリセルアレー、たと
えば、検知回路6R1−はさんで左右にビット線が配置
される方式などでもその筒筐本発明が適用できることは
言う1でもない。また、ここでは、アドレスが2分割ざ
nて入力されるアドレスマルチ方式について述べ九が、
さらに分割数の多い場合にも、不発明の考えはその筐ま
適用できる。
The nine memory cell array shown in FIG. Although the cylindrical housing of the present invention is shown in a folded form, that is, a so-called folded B-1ine type, other types of memory cell arrays, such as a type in which bit lines are arranged on the left and right sides across the detection circuit 6R1, can be used. There is no need to say that this is applicable. In addition, here we will discuss the address multi-method in which the address is divided into two parts and input.
Furthermore, even when the number of divisions is large, the idea of non-invention can be applied to the case.

さて、一般にスタティックメモリはダイナミックメモリ
に比し、消費電力の大きいことが知られている。これは
前者ではメモリセル自体が電力を消費することが主要因
となっているが、この他に周辺回路においても電力消費
の大きいことも原因となっている。こ扛は、スタティッ
クメモリでは、外部から制御クロックが入力さnないた
めに、各種の消費電力低減の施策が採れないことに起因
する。これと類似の問題が不発明においても生じるが、
不発明ではスタティック動作をする部分が少ないため罠
上記のような大きい問題とはならない。
Now, it is generally known that static memory consumes more power than dynamic memory. In the former case, the main reason for this is that the memory cell itself consumes power, but another reason is that the peripheral circuitry also consumes a large amount of power. This problem is caused by the fact that in static memory, no control clock is input from the outside, so various measures to reduce power consumption cannot be taken. A similar problem arises in non-invention,
In non-inventive devices, there are only a few parts that operate statically, so traps do not pose such a big problem as described above.

なお、本発明においてさらに消費電力を低減する方法と
して以下の如き方法がある。すなわち、この問題上解決
すべく、回路の低消費電力化に用いる制御クロックを内
部で自動的に発生する方法である。以下すの実施例を述
べる。
In the present invention, there are the following methods for further reducing power consumption. That is, in order to solve this problem, there is a method of automatically generating a control clock internally for use in reducing the power consumption of the circuit. An example will be described below.

本発明になるメモリのページモードにおいて#i。#i in the page mode of the memory according to the present invention.

入力信号において主に変化するのはアドレス入力であり
、またアドレス入力が変化した時にのみ新たな動作を開
始すればよい。したがって、アドレス入力の変化部を検
出してこnt制御クロックとして用いnばよい。
The main thing that changes in the input signal is the address input, and a new operation only needs to be started when the address input changes. Therefore, it is sufficient to detect the changing part of the address input and use it as the control clock.

第5図はこの実施例を示している。アドレス入力は低電
位(@0”)から高電位(@1’)に変化する場合と、
その逆の場合があるが一同図ではそのいずれも検出する
構成となっている。
FIG. 5 shows this embodiment. Address input changes from low potential (@0") to high potential (@1'), and
Although there are cases where the opposite is true, the configuration shown in the figure is such that both cases are detected.

同図で3はアドレス入力、201は遅延回路、202は
排他的論理和回路、203は論理和商略でめる。201
,202で構成される回路はアドレスの入力ビン数に対
応して複数個設けらnるが、簡単の九め省略しである。
In the figure, 3 is an address input, 201 is a delay circuit, 202 is an exclusive OR circuit, and 203 is an OR quotient. 201
, 202 are provided corresponding to the number of address input bins, but this is simply omitted.

動作は同図(b)に示すとおシでろる。すなわち、3の
入力は201によって時間rだけ遅延し、204に出力
される。排他的論理和は、入力が異なる場合にのみ信号
を出力するから、205には同図に示すjうに、3の信
号が変化する時に信号が現われる。その時のパルス幅は
、はぼTと等しくなるが、この値はそのメモリの動作速
度に応じて適宜定められる。203は、各アドレス入力
の変化時に出力信号(205に対応)の論理和を取るも
ので、したがってアドレス入力の1つでも変化すると2
06に信号が表われるようになる。この出力を制御クロ
ックとして使用することにより、消費電力の低減を図る
ことが可能になり、またこのパルスは他の高速化のため
のタイミングパルスとしても使用できる。
The operation can be seen as shown in Figure (b). That is, the input of 3 is delayed by time r by 201 and output to 204. Since the exclusive OR outputs a signal only when the inputs are different, a signal appears in 205 when the signal 3 changes, as shown in j in the figure. The pulse width at that time is approximately equal to T, but this value is determined as appropriate depending on the operating speed of the memory. 203 takes the logical sum of the output signals (corresponding to 205) when each address input changes, so if even one of the address inputs changes, 2
A signal begins to appear at 06. By using this output as a control clock, it is possible to reduce power consumption, and this pulse can also be used as a timing pulse for other speed-up purposes.

第5図<a>で使用した、排他的論理和、論理和の回路
は良く知られたもので容易に実現可能でめ9、また遅延
回路は、単純な抵抗と容量によって構成できるし、その
他通常のインバータ回路を多段接続して構成することも
可能である。
The exclusive OR and OR circuits used in FIG. It is also possible to configure the inverter circuit by connecting ordinary inverter circuits in multiple stages.

以上述べた実施例は不発明のみでなく、通常のスタティ
ック型メモリでも使用可能である。
The embodiments described above can be used not only in the invention but also in ordinary static type memories.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、ダイナミックメモリセルを有し、第1のアドレスに
応答して行選択上する九めの第1のダイナミック回路と
、核行選択を行った状態で入力される第2のアドレスに
応答して列選択する回路と、選択さ扛た行と列の交点に
あるメモリセルを読出し又はそれに書込む回路と?有し
、該第2のアドレスを切換えてページモードにて動作さ
せる半一体メモリにおいて、骸列選択回路および読出し
又は書込みのための回路をスタチック回路にて構成し九
ことを特徴とする半導体メモリ。
1. A ninth first dynamic circuit that has a dynamic memory cell and selects a row in response to a first address, and a ninth dynamic circuit that selects a row in response to a first address; A circuit that selects a column and a circuit that reads or writes to a memory cell at the intersection of the selected row and column? 1. A semi-integral memory comprising: a half-integral memory which operates in page mode by switching the second address, wherein a column selection circuit and a reading or writing circuit are constructed of static circuits.
JP56125186A 1981-08-12 1981-08-12 Semiconductor memory Granted JPS5829195A (en)

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JPH0213394B2 JPH0213394B2 (en) 1990-04-04

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