JPS582726A - 液体螢光ｘ線分析装置における試料面決定方法 - Google Patents
液体螢光ｘ線分析装置における試料面決定方法Info
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- JPS582726A JPS582726A JP10172481A JP10172481A JPS582726A JP S582726 A JPS582726 A JP S582726A JP 10172481 A JP10172481 A JP 10172481A JP 10172481 A JP10172481 A JP 10172481A JP S582726 A JPS582726 A JP S582726A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
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- G—PHYSICS
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- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、液体試料の螢光ｘｉＩ分析に適し九試料面決
定方法に関する。
定方法に関する。
試料ＫＸ線を照射し、試料の成分元素から放出される螢
ｊｔｘｌＩＩを単線晶の回折作用を利用して、元素の定
性、定量分析を行なう螢光ＸＩＩＩ分析が知られている
。
ｊｔｘｌＩＩを単線晶の回折作用を利用して、元素の定
性、定量分析を行なう螢光ＸＩＩＩ分析が知られている
。
螢光Ｘ線分析でれ、第１図に示すようにＸＢ管４ａから
発生するＸ線は測定基準面詰に照射され、試料から放出
される螢光Ｘ線を検出する検出器４ｂが配置さ艶ている
が、試料面がム２、ム葛のように測定基準面にないとき
には、螢光Ｘ線は検出器４ｂの光軸からはずれる九め螢
光Ｘ線の強度は変動してしまう。 そζで、試料面の決
定は、精度のよい分析の丸めには必須の要件となってい
る。
発生するＸ線は測定基準面詰に照射され、試料から放出
される螢光Ｘ線を検出する検出器４ｂが配置さ艶ている
が、試料面がム２、ム葛のように測定基準面にないとき
には、螢光Ｘ線は検出器４ｂの光軸からはずれる九め螢
光Ｘ線の強度は変動してしまう。 そζで、試料面の決
定は、精度のよい分析の丸めには必須の要件となってい
る。
液体試料の元素分析、例えば石油中のイオウ分を分析す
る場合は、試料の石油は底部に窓のあゐ容器に入れ、下
方から分析している。
る場合は、試料の石油は底部に窓のあゐ容器に入れ、下
方から分析している。
これ拡、窓−）を如測定面の上下位置あわぜが簡単なた
めである。 しかし、窓の材質によっては螢光ｘＩｍが
吸収され、強度が低下し九）１窓Ｏ材質あるいは厚さ、
の異いによ〕強度が変化し測定精度を悪くしていた。
まえ、試料によりては、窓材が変質変形してしまうなど
の不都合も生じていた。
めである。 しかし、窓の材質によっては螢光ｘＩｍが
吸収され、強度が低下し九）１窓Ｏ材質あるいは厚さ、
の異いによ〕強度が変化し測定精度を悪くしていた。
まえ、試料によりては、窓材が変質変形してしまうなど
の不都合も生じていた。
本件発明者は、すでに特願昭５６−ｓｏｓｚｏ号により
、試料（一般には固体）の測定面を定めル方法、つま多
焦点深度の浅いレンズヲ用いた観察系により、試料表面
の像の焦点があうように試料を上下することによシ、±
０．１■以内まで測定面の上下位置の精度を保持する方
法を提案しているに の方法は一試料表面の像が目視できる限夛あらゆる試料
に対して有効であるが、前述のような液体試料の場合は
とんど像を認めることができず、前記方法だけでは液体
試料の分析紘行なえなかった。
、試料（一般には固体）の測定面を定めル方法、つま多
焦点深度の浅いレンズヲ用いた観察系により、試料表面
の像の焦点があうように試料を上下することによシ、±
０．１■以内まで測定面の上下位置の精度を保持する方
法を提案しているに の方法は一試料表面の像が目視できる限夛あらゆる試料
に対して有効であるが、前述のような液体試料の場合は
とんど像を認めることができず、前記方法だけでは液体
試料の分析紘行なえなかった。
本発明の目的は、液体試料を螢光ＸＩＩ分析できる試料
面決定方法を提供することにある。
面決定方法を提供することにある。
前記目的を達成するためにＪ□本発明による液体螢光ｘ
Ｉｗ分析装置における試料面決定方法は液体表面にＸ線
を照射し、表面からの螢光ＸＩｓを分析する液体螢光Ｘ
線分析装置において、液体試料が充填され九開放形の試
料容器と、前記試料容器の位置調節をする上下機構と、
焦点深度の浅いレンズを用い前記試料液面が測定基準面
にあるときに液体表面が観＊ｍＫ結像する観察系とを設
け、前記試料液面に粉体な浮遊させ前記上下機構で容器
位置を調節し、前記観察系に前記粉体を結像させること
により測定面を決定するように構成しである。
Ｉｗ分析装置における試料面決定方法は液体表面にＸ線
を照射し、表面からの螢光ＸＩｓを分析する液体螢光Ｘ
線分析装置において、液体試料が充填され九開放形の試
料容器と、前記試料容器の位置調節をする上下機構と、
焦点深度の浅いレンズを用い前記試料液面が測定基準面
にあるときに液体表面が観＊ｍＫ結像する観察系とを設
け、前記試料液面に粉体な浮遊させ前記上下機構で容器
位置を調節し、前記観察系に前記粉体を結像させること
により測定面を決定するように構成しである。
前記構成によれば、浮遊粉体を観察面に結像させるだけ
で測定基準面が決定でき、本発明の目的は完全に達成で
きる。
で測定基準面が決定でき、本発明の目的は完全に達成で
きる。
以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する。
第２図は、本発明方法を実施する装置の実施例を示した
正面図、第ｓ１ｇは同側面図である。
正面図、第ｓ１ｇは同側面図である。
試料容器１＃ｉ膜等の窓がない上面開放形の容器であり
、石油等の液体試料３が充填されてお参、この液面を２
分する分離部材ｌ＆が設けられている。 試料容器！は
、上下機構３に載置されている。
、石油等の液体試料３が充填されてお参、この液面を２
分する分離部材ｌ＆が設けられている。 試料容器！は
、上下機構３に載置されている。
螢光ＸＩｓ分析装置４は、ＸＩＩ管ａ’ｍ、検出器４ｂ
とからな抄、Ｘ線管４ａから□発生するＸ線は試料容器
４０分割され九−刃側に照射され、試料表面から発生す
る螢光Ｘ＠は検出器４にで検出される。・ 観察系Ｓは
焦点深度の浅いレンズｓａ、 ミ５−ｓ’ｂ、 観察
面であ不ビントグラス５ｃとからなり、試料容器４０分
割された他方側の試料液面に対向して設けられており、
液面が測定基準面に達したとき、結像するように配置さ
れている。
とからな抄、Ｘ線管４ａから□発生するＸ線は試料容器
４０分割され九−刃側に照射され、試料表面から発生す
る螢光Ｘ＠は検出器４にで検出される。・ 観察系Ｓは
焦点深度の浅いレンズｓａ、 ミ５−ｓ’ｂ、 観察
面であ不ビントグラス５ｃとからなり、試料容器４０分
割された他方側の試料液面に対向して設けられており、
液面が測定基準面に達したとき、結像するように配置さ
れている。
観察系５が配置された前記他方＠□の試料液面には、試
料液に浮く物質の粉末、例えば発泡ポリスチロール等の
粉末である浮遊粉体６を浮遊させ、上下ｉ横３で容器位
置を上下に調節することにより、浮遊粉体６を観察面で
あるピントグラス５ｅＫ結像させて、容器内で連通して
いる測定面の位置を正確に決定するようにしである。
料液に浮く物質の粉末、例えば発泡ポリスチロール等の
粉末である浮遊粉体６を浮遊させ、上下ｉ横３で容器位
置を上下に調節することにより、浮遊粉体６を観察面で
あるピントグラス５ｅＫ結像させて、容器内で連通して
いる測定面の位置を正確に決定するようにしである。
以上説明したように、本発明によれば測定面を決定する
窓を設けなくとも正確に試料聞を決定でき、精度のよい
液体試料の分析が可能となつ九。
窓を設けなくとも正確に試料聞を決定でき、精度のよい
液体試料の分析が可能となつ九。
第１図は螢光Ｘ線分析装置の原理を示す略図、第２図は
本発明方法を実施する装置の実施例を示した正面図、第
３図は同側面図である。 １・・・試料容器 ２−・液体試料３・−上下機
構 ４−螢光Ｘ線分析装置５−・観察系
６・・・浮遊粉体特許出藤人 理学電機工業株式金社
本発明方法を実施する装置の実施例を示した正面図、第
３図は同側面図である。 １・・・試料容器 ２−・液体試料３・−上下機
構 ４−螢光Ｘ線分析装置５−・観察系
６・・・浮遊粉体特許出藤人 理学電機工業株式金社
Claims (1)
- 液体表面ＫＸ鐘を照射し、表面からの螢光Ｘ線を分析す
る液体螢光ＸＩｍ分析装置において、液体試料が充填さ
れた開放形の試料容器と、前記試料容器の位置調節をす
る上下機構と、焦点深度の浅いレンズを用い前記試ｉ液
面が測定基準面にあるときに液体表面が観察面に結像す
る観察系とを設け、前記試料液ｌ１ｉＫｌ）体を浮遊さ
せ、前記上下機構で容器位置を調節し、前記観察系に前
記粉体な結像させることによ〉測定面を決定するように
構成したことを特徴とする液体螢光Ｘ線分析装置におけ
る試料面決定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10172481A JPS582726A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | 液体螢光ｘ線分析装置における試料面決定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10172481A JPS582726A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | 液体螢光ｘ線分析装置における試料面決定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS582726A true JPS582726A (ja) | 1983-01-08 |
| JPS6352699B2 JPS6352699B2 (ja) | 1988-10-19 |
Family
ID=14308236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10172481A Granted JPS582726A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | 液体螢光ｘ線分析装置における試料面決定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS582726A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5339868A (en) * | 1987-01-07 | 1994-08-23 | Nippon Steel Corporation | Bent pipe having sectional form of high strength |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5114812U (ja) * | 1974-07-18 | 1976-02-03 | ||
| JPS5440132U (ja) * | 1977-08-25 | 1979-03-16 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5114812B2 (ja) * | 1972-08-30 | 1976-05-12 | ||
| JPS5440132B2 (ja) * | 1974-05-27 | 1979-12-01 |
-
1981
- 1981-06-30 JP JP10172481A patent/JPS582726A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5114812U (ja) * | 1974-07-18 | 1976-02-03 | ||
| JPS5440132U (ja) * | 1977-08-25 | 1979-03-16 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5339868A (en) * | 1987-01-07 | 1994-08-23 | Nippon Steel Corporation | Bent pipe having sectional form of high strength |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6352699B2 (ja) | 1988-10-19 |
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