JPS582640A - 非分散型赤外分析計 - Google Patents
非分散型赤外分析計Info
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- JPS582640A JPS582640A JP10164981A JP10164981A JPS582640A JP S582640 A JPS582640 A JP S582640A JP 10164981 A JP10164981 A JP 10164981A JP 10164981 A JP10164981 A JP 10164981A JP S582640 A JPS582640 A JP S582640A
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- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/37—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発鴨は、非分散型赤外分析計（以） ＮＤ Ｉ Ｒ
と称する）に関する。
と称する）に関する。
ＮＤ Ｉ ａｔ−１、従来から広い分野で応用されてき
ているが、従来においては、被測定ガスが導入される測
定セルと、比較用の参照セルとを有し、これらのセルに
光源よシ光を照射したときの透過光量を検出器によって
測定するようにし、測定セルと参照セルとに照射する光
を一時に断続し、その結果検出器より糊定餉と参照側の
光量差に対応する出力が倫られるという構ｆｉ、ｔ−採
用したものが殆んどであった０そのため光源の震動にも
とづく零点ドリフトＦｉ除くことができず、こＯ零−ｆ
ｈ Ｖ ’Ｊラフト電入の欠点となっていた。
ているが、従来においては、被測定ガスが導入される測
定セルと、比較用の参照セルとを有し、これらのセルに
光源よシ光を照射したときの透過光量を検出器によって
測定するようにし、測定セルと参照セルとに照射する光
を一時に断続し、その結果検出器より糊定餉と参照側の
光量差に対応する出力が倫られるという構ｆｉ、ｔ−採
用したものが殆んどであった０そのため光源の震動にも
とづく零点ドリフトＦｉ除くことができず、こＯ零−ｆ
ｈ Ｖ ’Ｊラフト電入の欠点となっていた。
本発明は１配に鑑み、零点ドリフトの間ｉ＠を改善した
ＮＤＩＲを提供することを目的とする。
ＮＤＩＲを提供することを目的とする。
以１、本発明の一実施例について区面管参照しながら説
明する。第１図において、元＄１から、被測定ガスが導
入される観足七ル２と、参照セル８とに元管照射するの
であるが、測定充に２に照射する光と参照セル８に照射
する光とが交互に断続するように、第２図で示す回転セ
クタ４が、その光路中Ｋｔ＆Ｉｆ’ｊられている。この
回転セクタ４はモータ勢の回転駆動機構５により駆動さ
れ、−」足輪光源１ｍと参照側光源１ｂとが交互に＃Ｔ
続する。このとき、検出器６の出力は第３図に示すよう
に、御］足仙のピークＰ、と参照側のビーりＰ２とを持
っ２峰性の波形となる。
明する。第１図において、元＄１から、被測定ガスが導
入される観足七ル２と、参照セル８とに元管照射するの
であるが、測定充に２に照射する光と参照セル８に照射
する光とが交互に断続するように、第２図で示す回転セ
クタ４が、その光路中Ｋｔ＆Ｉｆ’ｊられている。この
回転セクタ４はモータ勢の回転駆動機構５により駆動さ
れ、−」足輪光源１ｍと参照側光源１ｂとが交互に＃Ｔ
続する。このとき、検出器６の出力は第３図に示すよう
に、御］足仙のピークＰ、と参照側のビーりＰ２とを持
っ２峰性の波形となる。
そこで、たとえ・ば励転躯動機構６内に般社た同期パル
ス発生回路より、醐定餞と参照側のそれぞｈの照射期間
中に生じる神」期パルスを得て、Ｍｉ＋ １１増幅器７
によシ増幅した検出器６の出力を、ＡＤ笈侠器８におい
て上記同期・母ルスのタイミングでムＤｉ換することに
より、各峰のビークＰ＋ ” ２を抽出する。
ス発生回路より、醐定餞と参照側のそれぞｈの照射期間
中に生じる神」期パルスを得て、Ｍｉ＋ １１増幅器７
によシ増幅した検出器６の出力を、ＡＤ笈侠器８におい
て上記同期・母ルスのタイミングでムＤｉ換することに
より、各峰のビークＰ＋ ” ２を抽出する。
こうして測定餞出力と参照側出力とがデノタル出力とし
て得られる。そして零点校正時に、測定翻出力Ｍ１と参
照負出力Ｍ２とを得、Ｍ、 ＝Ｍ２（１）ときに光学的
には完全に四等の光量となってパラノスするが、通電は
Ｍ２＞ Ｍ、の状態になるよう各九ｍを駒整する。この
理由Ｆｉ側足時の安定性と直線性とを向上させるためで
ある。このＭ、 、 Ｍ、は切換回路９を経てＲＡＭ勢
のメモリ１０．１ｌｒ（（れぞれ記憶される。
て得られる。そして零点校正時に、測定翻出力Ｍ１と参
照負出力Ｍ２とを得、Ｍ、 ＝Ｍ２（１）ときに光学的
には完全に四等の光量となってパラノスするが、通電は
Ｍ２＞ Ｍ、の状態になるよう各九ｍを駒整する。この
理由Ｆｉ側足時の安定性と直線性とを向上させるためで
ある。このＭ、 、 Ｍ、は切換回路９を経てＲＡＭ勢
のメモリ１０．１ｌｒ（（れぞれ記憶される。
掬定時においては、このときに得られた参照側出力Ｍ、
と淘ｊ定翻出力Ｍ４とを−Ｈメモリ１８゜１４に記憶す
ると陶時に、演Ｘ−路１２が、先のＭ、 、 Ｍ２ｆメ
モリ１０．１１から絖み出し、２ Ｋｏ−一＞１ Ｉ ３ ４−一 Ｏ を求めてこのときの掬足出力Ｍ４ｆ：袖止するが、ある
いは ３ に１−一 ２ を計算し、このに、と上記のＫ。とからに１ ”ｌ”−ＸＭ２ Ｏ を計算し、測定翻出力Ｍ４を、 １ Ｍ４−− Ｘ Ｍ２ Ｏ で補正する。
と淘ｊ定翻出力Ｍ４とを−Ｈメモリ１８゜１４に記憶す
ると陶時に、演Ｘ−路１２が、先のＭ、 、 Ｍ２ｆメ
モリ１０．１１から絖み出し、２ Ｋｏ−一＞１ Ｉ ３ ４−一 Ｏ を求めてこのときの掬足出力Ｍ４ｆ：袖止するが、ある
いは ３ に１−一 ２ を計算し、このに、と上記のＫ。とからに１ ”ｌ”−ＸＭ２ Ｏ を計算し、測定翻出力Ｍ４を、 １ Ｍ４−− Ｘ Ｍ２ Ｏ で補正する。
こうして紳」足中常に零点補正を行なっていることにな
り零点ドリフトのない測定が可能となる・この袖止恢の
出力はＤＡ変換器１５奢経て°ｆナログ侶号に変換され
た後指示１ｉｔ１６に送らｔする他、必要に応じてｒノ
タル伯号の′１１で〕４フレルー（あるいはシリアルに
伝送装置１７によってａＬ録装電鰹の他の根拠に送られ
る０以上、実施例について述べたように、本発明Ｖｃよ
れは６１１Ｉ足中に常に零点補正しているので零漬トリ
ットの除去が可能となり、これによって安定性の増大を
図ることができる。また波及的な効果と１−で、光源の
歩留りが向上し、さらに測′ｉＥ鎗の加算平均状勢を採
用することによってＳ／Ｎを良好にすることができる。
り零点ドリフトのない測定が可能となる・この袖止恢の
出力はＤＡ変換器１５奢経て°ｆナログ侶号に変換され
た後指示１ｉｔ１６に送らｔする他、必要に応じてｒノ
タル伯号の′１１で〕４フレルー（あるいはシリアルに
伝送装置１７によってａＬ録装電鰹の他の根拠に送られ
る０以上、実施例について述べたように、本発明Ｖｃよ
れは６１１Ｉ足中に常に零点補正しているので零漬トリ
ットの除去が可能となり、これによって安定性の増大を
図ることができる。また波及的な効果と１−で、光源の
歩留りが向上し、さらに測′ｉＥ鎗の加算平均状勢を採
用することによってＳ／Ｎを良好にすることができる。
なお ４発明は上！ｌ［ｌ：実施例に限定されるもので
なく 回転セクタ４の形状は第２図に示す以外に榛々の
）し状が場えらｔｌ、！２は、測定側光量と参照軸元閂
とが蝕立して交互に成る時間だけ−」定できｔＬはよい
。
なく 回転セクタ４の形状は第２図に示す以外に榛々の
）し状が場えらｔｌ、！２は、測定側光量と参照軸元閂
とが蝕立して交互に成る時間だけ−」定できｔＬはよい
。
第１−は本発明の一実施例のプロ、り図、第１＄
２１礫回転セクタの一例を示す概略平面４、第８−は検
出器出力波形を示すグラフである。 １・・・光源、 ２・・・絢足セル、８・・
・参照セル、 ４・・・回転セクタ、５・・・回
転部ＩＩＩＪ機構、 ６・・・検出器、’Ｉ−・・＃
ｒｉＪｋ増＆器、 ８・ＡＤｇＬｌｌｌ器、９・・・
切換回路、１０．１１．１８．１４・・・メモリ、１２
・・・演算回路、 １６・・・Ｄム涙換溢、１６・
・・指示計、 １７・・・伝送装置。 出 願 人 株式会社島＃Ｌ製作所 ＄ｌ呻 ＋ 続 補 正 省（自発） 裕６＋斤知′目島出春慟厳 り事件の表示 船和５６年特許如第１０１６４９号 ２発明の名称 非分散娶赤外分析耐 ａ補止をする者 事件とｑノ関係 ％軒出願人 名 称 （１９９）株式会社鳥津製作所表代 理 人 住 坊 東京都渋谷区千駄ケ谷１−２０−トクーク・ア
ベニ、−・アノや〜トメン）５０４（１５補止紡餉のＨ
付（自発） ６輛止Ｖ（まり増力１する発明の数 なしく１）特許
請求の範囲を別紙の通り補止する。 ４負鮫終竹の「 ・・・・・補止す２１．」の故に、［
一般に光量の灰化Ｖ（対する出力の灰化祉ランベルト・
ベールの吸収則にしたがうが、零ドリント補正の際を（
はその変化率が一般に小さいので、上記のように入出力
の胸係を直−と４えて補止した。もちろん上記法則を過
用して補正してもよい。」を加入する口（３）同第５頁
第７？Ｔの「他の＠、益」を１他の尚辺機器」と補正す
る。 以上 ｌｌ ％詐艙求の範囲 １１） 被釧定ガスが導入される測置セルと比較用の
参照セルとに光源よシ光を照射し、検出器ｒｃより各透
過光の光量に対応する出力を得る非分散型赤外分析ｔｔ
において、前記細定セルと参照セルとに交互にＩｌｒ続
的にｙｔ、を照射するとともに、各々のセルの照射期間
中の前記検出器出力音それぞれ抽出して＃ｌ１足側出力
と参照側出力とｔ侍るようにし、零点校正時において測
定能出力と参照側出力との比をとってこの比を記憶し、
測定時における参照側出力と前記の比を利用することに
よって測定中の測定側出力を常に零点補正するようＫし
たことｔ％黴とする非分散型赤外分析計。
出器出力波形を示すグラフである。 １・・・光源、 ２・・・絢足セル、８・・
・参照セル、 ４・・・回転セクタ、５・・・回
転部ＩＩＩＪ機構、 ６・・・検出器、’Ｉ−・・＃
ｒｉＪｋ増＆器、 ８・ＡＤｇＬｌｌｌ器、９・・・
切換回路、１０．１１．１８．１４・・・メモリ、１２
・・・演算回路、 １６・・・Ｄム涙換溢、１６・
・・指示計、 １７・・・伝送装置。 出 願 人 株式会社島＃Ｌ製作所 ＄ｌ呻 ＋ 続 補 正 省（自発） 裕６＋斤知′目島出春慟厳 り事件の表示 船和５６年特許如第１０１６４９号 ２発明の名称 非分散娶赤外分析耐 ａ補止をする者 事件とｑノ関係 ％軒出願人 名 称 （１９９）株式会社鳥津製作所表代 理 人 住 坊 東京都渋谷区千駄ケ谷１−２０−トクーク・ア
ベニ、−・アノや〜トメン）５０４（１５補止紡餉のＨ
付（自発） ６輛止Ｖ（まり増力１する発明の数 なしく１）特許
請求の範囲を別紙の通り補止する。 ４負鮫終竹の「 ・・・・・補止す２１．」の故に、［
一般に光量の灰化Ｖ（対する出力の灰化祉ランベルト・
ベールの吸収則にしたがうが、零ドリント補正の際を（
はその変化率が一般に小さいので、上記のように入出力
の胸係を直−と４えて補止した。もちろん上記法則を過
用して補正してもよい。」を加入する口（３）同第５頁
第７？Ｔの「他の＠、益」を１他の尚辺機器」と補正す
る。 以上 ｌｌ ％詐艙求の範囲 １１） 被釧定ガスが導入される測置セルと比較用の
参照セルとに光源よシ光を照射し、検出器ｒｃより各透
過光の光量に対応する出力を得る非分散型赤外分析ｔｔ
において、前記細定セルと参照セルとに交互にＩｌｒ続
的にｙｔ、を照射するとともに、各々のセルの照射期間
中の前記検出器出力音それぞれ抽出して＃ｌ１足側出力
と参照側出力とｔ侍るようにし、零点校正時において測
定能出力と参照側出力との比をとってこの比を記憶し、
測定時における参照側出力と前記の比を利用することに
よって測定中の測定側出力を常に零点補正するようＫし
たことｔ％黴とする非分散型赤外分析計。
Claims (1)
- （１１被細定ガスが尋人される測定セルと比較用のｈＨ
セルとに光源より元管照射し、検出器により各透過光の
光量に対応する出力を得る非分散型赤外分析計において
、前配徒定セルと参照セルとに交互に断続的に党を照射
するとともに、各々のセルの照射期間中の＠記検出益出
力をそれぞれ抽出して測定側出力と参照側出力とを侍る
ようにし、零点校正時において測定翻出力とに照髄出力
との比をとってこの比を記憶し、−」定時における参照
側出力と前記の比によって−」足甲の測定輪出力を常に
零点補正するようにしたことを特徴とする非分散型赤外
分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10164981A JPS582640A (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 非分散型赤外分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10164981A JPS582640A (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 非分散型赤外分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS582640A true JPS582640A (ja) | 1983-01-08 |
Family
ID=14306221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10164981A Pending JPS582640A (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 非分散型赤外分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS582640A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60198435A (ja) * | 1984-03-22 | 1985-10-07 | Shimadzu Corp | 赤外線ガス分析計 |
| JPS60250233A (ja) * | 1984-05-26 | 1985-12-10 | Shimadzu Corp | 赤外線ガス分析計 |
| US6227054B1 (en) | 1997-05-26 | 2001-05-08 | Sumitomo Metal Industries Limited | Vibration wave detecting method and vibration wave detector |
-
1981
- 1981-06-29 JP JP10164981A patent/JPS582640A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60198435A (ja) * | 1984-03-22 | 1985-10-07 | Shimadzu Corp | 赤外線ガス分析計 |
| JPS60250233A (ja) * | 1984-05-26 | 1985-12-10 | Shimadzu Corp | 赤外線ガス分析計 |
| JPH0552456B2 (ja) * | 1984-05-26 | 1993-08-05 | Shimadzu Corp | |
| US6227054B1 (en) | 1997-05-26 | 2001-05-08 | Sumitomo Metal Industries Limited | Vibration wave detecting method and vibration wave detector |
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