JPS58202846A - スピ−カの特性測定装置 - Google Patents
スピ−カの特性測定装置Info
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- JPS58202846A JPS58202846A JP8692582A JP8692582A JPS58202846A JP S58202846 A JPS58202846 A JP S58202846A JP 8692582 A JP8692582 A JP 8692582A JP 8692582 A JP8692582 A JP 8692582A JP S58202846 A JPS58202846 A JP S58202846A
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- output
- converting
- wave signal
- speaker
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
- H04R29/00—Monitoring arrangements; Testing arrangements
- H04R29/001—Monitoring arrangements; Testing arrangements for loudspeakers
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Otolaryngology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｘ発明はスピーカの特性？測定する為の弄告及革装置Ｃ
：関するもので、更に詳説すると大入力時に？ける音圧
−周波数特性や畳重性の測定弄藷執チ装置に関するもの
である。
：関するもので、更に詳説すると大入力時に？ける音圧
−周波数特性や畳重性の測定弄藷執チ装置に関するもの
である。
従来、スピーカの特性（例えば、ｆ圧−周波数特性や歪
特性）？測定する場合、車−周波数の通読正弦波信号を
スピーカの入力とし、斯かる吻波数を掃引する方法が用
いられ・Ｃいる。第１図は従来のスピーカ特性測定装置
馨示すブロック図で。
特性）？測定する場合、車−周波数の通読正弦波信号を
スピーカの入力とし、斯かる吻波数を掃引する方法が用
いられ・Ｃいる。第１図は従来のスピーカ特性測定装置
馨示すブロック図で。
ｆｌ＋は連続した正弦波信号全出方する正弦波発振器。
（２１は正弦波発振器（【）の出カン増幅する増幅器、
（３１は増幅器（【１に”Ｃ駆動されるスピーカ、（４
Ｉはスピーカ１３）より放音さｎた音響を電気信号に変
換するマイクロホン、（５）はマイクロホン（４）の出
力信号？増幅する増幅器、（６）はヘテロダイン分析器
で、設定周波数！可変することにより通過し得る周波数
帯塘乞連続的に可変出来る狭帯域（設定周波数を含む）
のパンドパスフイルターン有するものである（７１はレ
ベルレコーダで、へｔログ４フ分析器（６）の設定周波
数に応じ°Ｃ記録レベルが変化するものである。、斯か
る装置によるスピーカの歪特性の測定は、ヘテロダイン
分析器（６）の設定周波数を正弦波発振器（【）の周波
数の２倍若しくは３倍の周波数とし、高調波成分ン取り
出すことにより達成出来る。
（３１は増幅器（【１に”Ｃ駆動されるスピーカ、（４
Ｉはスピーカ１３）より放音さｎた音響を電気信号に変
換するマイクロホン、（５）はマイクロホン（４）の出
力信号？増幅する増幅器、（６）はヘテロダイン分析器
で、設定周波数！可変することにより通過し得る周波数
帯塘乞連続的に可変出来る狭帯域（設定周波数を含む）
のパンドパスフイルターン有するものである（７１はレ
ベルレコーダで、へｔログ４フ分析器（６）の設定周波
数に応じ°Ｃ記録レベルが変化するものである。、斯か
る装置によるスピーカの歪特性の測定は、ヘテロダイン
分析器（６）の設定周波数を正弦波発振器（【）の周波
数の２倍若しくは３倍の周波数とし、高調波成分ン取り
出すことにより達成出来る。
さ°Ｃ，一般にスピーカの特性は１Ｗ大入力の特性が明
示されＣいるが、スピーカのダイナミックレンジやりニ
アリティ特性（即ち、入力と音圧との百礫性）の測定に
は大入カンｎｍしたと六のスピーカの特性の測定が不可
欠なものである。
示されＣいるが、スピーカのダイナミックレンジやりニ
アリティ特性（即ち、入力と音圧との百礫性）の測定に
は大入カンｎｍしたと六のスピーカの特性の測定が不可
欠なものである。
ところで、スピーカに印加さｎた入力の大部分はボイス
コイルの抵抗成分によるジュール熱となル為、スピーカ
の人力の増大に伴いボイスコイルの温度が上昇し、接着
剤の軟化やコイルの断線によるボイスコイルの熱破壊ン
生じる惧ｎかある。
コイルの抵抗成分によるジュール熱となル為、スピーカ
の人力の増大に伴いボイスコイルの温度が上昇し、接着
剤の軟化やコイルの断線によるボイスコイルの熱破壊ン
生じる惧ｎかある。
尚、ボイスコイルの耐熱限度は２００−０位であるまた
。斯かるボイスコイルの温度を昇によりボイスコイルの
抵抗値か増卯し、第２図に示すようにスピーカのへカー
音田特性の１直線性乞劣化させ°Ｃし里う。
。斯かるボイスコイルの温度を昇によりボイスコイルの
抵抗値か増卯し、第２図に示すようにスピーカのへカー
音田特性の１直線性乞劣化させ°Ｃし里う。
然し、実際の楽音ソースにＢけるボイスコイルの温度は
入力信号の平均レベルに依存しＣいるものであり、入力
−音圧特注の直線性は瞬時的な大入力信号に２ける応答
が重要なものである。従つ・〔、連続正弦波信号を入力
とした場合のへカー音田特性だけでは不充分であり、ま
た斯かる連続正弦波信号を入力とし、、た場合ボイスコ
イルの幅度唱界によりスピーカの許容入力に限界があり
大入力時ノスピーカの応答測定は困惟であった、斯かる
問題を解決し、実際の楽音ソースに即した測定方法とし
Ｃは、入力信号とし°Ｃ＠Ｓ図１ａｌに示すようなトー
ンバースト彼ン用いる方法が考えらｎる。斯様に、トー
ンバースト波全入力信号としＣ用いれば、平均的な実効
入力は連続正弦波信号Ｗ用いる場合と北し”（ｔ／１ｏ
程度に下げることが出来ることによりボイスコイルの温
度上昇を抑制することか出来る為、ボイスコイルの熱破
壊やボイスコイルの温度上昇に伴うボイスコイルの抵抗
値の増加等の問題χ幅減出来、大人力時に８けるスピー
カの特注の測定を４成することが出来る。
入力信号の平均レベルに依存しＣいるものであり、入力
−音圧特注の直線性は瞬時的な大入力信号に２ける応答
が重要なものである。従つ・〔、連続正弦波信号を入力
とした場合のへカー音田特性だけでは不充分であり、ま
た斯かる連続正弦波信号を入力とし、、た場合ボイスコ
イルの幅度唱界によりスピーカの許容入力に限界があり
大入力時ノスピーカの応答測定は困惟であった、斯かる
問題を解決し、実際の楽音ソースに即した測定方法とし
Ｃは、入力信号とし°Ｃ＠Ｓ図１ａｌに示すようなトー
ンバースト彼ン用いる方法が考えらｎる。斯様に、トー
ンバースト波全入力信号としＣ用いれば、平均的な実効
入力は連続正弦波信号Ｗ用いる場合と北し”（ｔ／１ｏ
程度に下げることが出来ることによりボイスコイルの温
度上昇を抑制することか出来る為、ボイスコイルの熱破
壊やボイスコイルの温度上昇に伴うボイスコイルの抵抗
値の増加等の問題χ幅減出来、大人力時に８けるスピー
カの特注の測定を４成することが出来る。
斯かるトーンバースト波ン用いたスピーカの特性（音圧
−周波数特性や歪特性）の測定方法とし°Ｃは、スピー
カより収音された音響？マイクロホンに°Ｃ電気信号（
弔３図１ｂｌに示すトーンバースト応答波信号）に変換
し、この電気信号（トーンバースト応答波信号）から定
常状態（即ら、連続正弦波信号を入力とした場合にマイ
クロホンで得らｎる応答波形と同じ波杉）となっ°〔い
る波形ン抽出し、Ａ／Ｄ変換した後離散フーリエ変換Ｃ
ＤＦＴ）６理ン施こしＣスペクトル解析７行うようにす
るものが考えられる。然し乍ら、斯かる方法では高速フ
ーリエ変換が必要であり、よたＡ／Ｄ変換のサンプリン
グ数も精度￥考ＭＴると多数必要となる為、測定７行う
に際し°Ｃ演算晶埋金行うコンピュータが必要となつＣ
いた。
−周波数特性や歪特性）の測定方法とし°Ｃは、スピー
カより収音された音響？マイクロホンに°Ｃ電気信号（
弔３図１ｂｌに示すトーンバースト応答波信号）に変換
し、この電気信号（トーンバースト応答波信号）から定
常状態（即ら、連続正弦波信号を入力とした場合にマイ
クロホンで得らｎる応答波形と同じ波杉）となっ°〔い
る波形ン抽出し、Ａ／Ｄ変換した後離散フーリエ変換Ｃ
ＤＦＴ）６理ン施こしＣスペクトル解析７行うようにす
るものが考えられる。然し乍ら、斯かる方法では高速フ
ーリエ変換が必要であり、よたＡ／Ｄ変換のサンプリン
グ数も精度￥考ＭＴると多数必要となる為、測定７行う
に際し°Ｃ演算晶埋金行うコンピュータが必要となつＣ
いた。
そこで２本発明の目面は、演算処理の為のコンピュータ
全必要としないスビー１力の特性測定＃法要プ装置を提
供するものである。
全必要としないスビー１力の特性測定＃法要プ装置を提
供するものである。
以下１図面？挙照し゛Ｃ不発明の一実施例につぃ゛Ｃ説
明する。
明する。
第４図は本発明に係るスピーカ特性測定装置を示すブロ
ック図で、（冷冒運琥した正弦波信号を出力下る正弦波
発振器、（１１１は発振器■の発振層波数ｆｒ／Ｎに分
周する分周器、Ｌ５はトーンバー人ト波信号発生器で、
発振器ｉｌｌの出力か卵重さｎると共に分局器Ｑｌｌの
出力【二°Ｃゲート制御されるものである。ａ３はトー
ンペースト波信号を増幅する増幅器、０４はスピーカ、
Ｉ］５１は発振器部の発振周波数をＭ倍する逓倍器、
ａｅはマイクロホン、０７１はマイクロホン１ＩＦｉの
出力信号（スピーカのトーンバースト応答波信号）を増
幅する増幅器、 ｏＦｊｔｓ増幅器ａηの出力信号χデ
ジタル信号（二変換するＡ／Ｄ変換器で、逓倍器（Ｉ５
１の出力信号に°ＣサンプリングＴると共にクロック制
御される。ｕ■求Ａ／Ｄ変換器止の出力か書さ込まれる
ＲＡＭ （Ｒ２ｋｎＣＬＯｍ ＡＱＱｅＢＳＭｅｍｏｒ
ｙ）で、逓倍器０りの出力信号に°Ｃクロック制御され
る。嬰はカウンターで、書さ込み或い＃１読み出しの制
御を行う上位力ワンター飢と（正弦波−波のサンプリン
グ数）Ｘ（抽出波数）χ−同周期する下位力ワンターの
≦ニーＣ構成され、逓倍器Ｏ９の出力信号に゛Ｃクロッ
ク制御される。下位カウンタＣＧｔｔ ＲＡ Ｍ（１９
の番地を指定するアドレス用のカウンタである。ｃ！３
に上位カウンタ１２１１に゛Ｃ制御される入力選択回路
で、上位カウンタ―よりＲＡＭａ９へ読み出ｌ、制御信
号が印Ｗされた時にはＲＡＭ０９の出カン選択し、また
上位カウンタ（２１＋よりＲＡＭ０９へ書込み制御信号
が印加・された時にはＡ／Ｄ変換器０８１の出力？選択
する。Ｉ２４１に入力選択回路のに°〔選択されたＡ／
Ｄ変換器０８又はＲＡＭ１１９の出力信号であるデジタ
ル信号ｔアナログ信号に変換するＤ／Ａ５ｉ換器で、逓
倍器０９の出力信号に゛Ｃクロック制御される。ＧはＤ
／Ａ変換器−の出力信号χ増幅する増幅器、ＣＩ！６１
ｔｌへｔログ４フ分析器。
ック図で、（冷冒運琥した正弦波信号を出力下る正弦波
発振器、（１１１は発振器■の発振層波数ｆｒ／Ｎに分
周する分周器、Ｌ５はトーンバー人ト波信号発生器で、
発振器ｉｌｌの出力か卵重さｎると共に分局器Ｑｌｌの
出力【二°Ｃゲート制御されるものである。ａ３はトー
ンペースト波信号を増幅する増幅器、０４はスピーカ、
Ｉ］５１は発振器部の発振周波数をＭ倍する逓倍器、
ａｅはマイクロホン、０７１はマイクロホン１ＩＦｉの
出力信号（スピーカのトーンバースト応答波信号）を増
幅する増幅器、 ｏＦｊｔｓ増幅器ａηの出力信号χデ
ジタル信号（二変換するＡ／Ｄ変換器で、逓倍器（Ｉ５
１の出力信号に°ＣサンプリングＴると共にクロック制
御される。ｕ■求Ａ／Ｄ変換器止の出力か書さ込まれる
ＲＡＭ （Ｒ２ｋｎＣＬＯｍ ＡＱＱｅＢＳＭｅｍｏｒ
ｙ）で、逓倍器０りの出力信号に°Ｃクロック制御され
る。嬰はカウンターで、書さ込み或い＃１読み出しの制
御を行う上位力ワンター飢と（正弦波−波のサンプリン
グ数）Ｘ（抽出波数）χ−同周期する下位力ワンターの
≦ニーＣ構成され、逓倍器Ｏ９の出力信号に゛Ｃクロッ
ク制御される。下位カウンタＣＧｔｔ ＲＡ Ｍ（１９
の番地を指定するアドレス用のカウンタである。ｃ！３
に上位カウンタ１２１１に゛Ｃ制御される入力選択回路
で、上位カウンタ―よりＲＡＭａ９へ読み出ｌ、制御信
号が印Ｗされた時にはＲＡＭ０９の出カン選択し、また
上位カウンタ（２１＋よりＲＡＭ０９へ書込み制御信号
が印加・された時にはＡ／Ｄ変換器０８１の出力？選択
する。Ｉ２４１に入力選択回路のに°〔選択されたＡ／
Ｄ変換器０８又はＲＡＭ１１９の出力信号であるデジタ
ル信号ｔアナログ信号に変換するＤ／Ａ５ｉ換器で、逓
倍器０９の出力信号に゛Ｃクロック制御される。ＧはＤ
／Ａ変換器−の出力信号χ増幅する増幅器、ＣＩ！６１
ｔｌへｔログ４フ分析器。
＠はレベルレコーダ、 ＋２８１はマイクロホンＯｅの
出力信号（トーンバースト応答波信号〕の立上り全検出
する立上り検出回路で、出力にてカワンタ遵の内容をリ
セットする。
出力信号（トーンバースト応答波信号〕の立上り全検出
する立上り検出回路で、出力にてカワンタ遵の内容をリ
セットする。
次（二斯かる装置の動作について説明する。
正弦波発振器ＣＩ（ｌの連続正弦波信号ントーンバース
ト波信号発生器０２に印加Ｔると共にトーンバースト波
信号発生器０２のゲートン正弦波発振器１Ｇの発振周波
数４Ｉ／Ｎに分周する分周器０１１の出力Ｃ二て制御す
ることによりトーンバースト波信号全作成し、このトー
ンバースト波信号ｌ増幅器０３に°Ｃ増幅した後、スピ
ーカ０４に印加し−Ｃ晋響を発生させる。この音ｌｊ７
マイクロホン１１６１にて電気信号（トーンバースト応
答波信号） ｒａＩ（第５図（ａｌｌ参照−変換し、増
幅器（１７） Ｉ４で増幅した後、Ａ／Ｄ変換器０８１
にてデジタル信号に変換する。
ト波信号発生器０２に印加Ｔると共にトーンバースト波
信号発生器０２のゲートン正弦波発振器１Ｇの発振周波
数４Ｉ／Ｎに分周する分周器０１１の出力Ｃ二て制御す
ることによりトーンバースト波信号全作成し、このトー
ンバースト波信号ｌ増幅器０３に°Ｃ増幅した後、スピ
ーカ０４に印加し−Ｃ晋響を発生させる。この音ｌｊ７
マイクロホン１１６１にて電気信号（トーンバースト応
答波信号） ｒａＩ（第５図（ａｌｌ参照−変換し、増
幅器（１７） Ｉ４で増幅した後、Ａ／Ｄ変換器０８１
にてデジタル信号に変換する。
また、斯かるトーンバースト応答波信号１ａｌの立上り
！立上り検出回路啜に”Ｃ検出し、その検出出力（ｂ）
（第５図参照）に゛Ｃカフンタ空の内容ツクリアする。
！立上り検出回路啜に”Ｃ検出し、その検出出力（ｂ）
（第５図参照）に゛Ｃカフンタ空の内容ツクリアする。
さ−Ｃ１逓倍器０９の出力信号に゛Ｃサンプリングした
場合、正弦波−波【；３けるサンプリング数はＭ個であ
り、トーンバースト応答波信号１ａｌより定常状態Ｃ二
あるＲ波を抽出すると丁れば、カウンタ！の下位カウン
タ■の周期ｆ−ＩＭ−Ｒであり、その−周期毎にキャリ
ー信号χ上位カワンタＺＩＩＣ人力する。
場合、正弦波−波【；３けるサンプリング数はＭ個であ
り、トーンバースト応答波信号１ａｌより定常状態Ｃ二
あるＲ波を抽出すると丁れば、カウンタ！の下位カウン
タ■の周期ｆ−ＩＭ−Ｒであり、その−周期毎にキャリ
ー信号χ上位カワンタＺＩＩＣ人力する。
ここで、デジタル信号のＲＡＭ０９への豊さ込み及びＲ
ＡＭ１１９からの読み出し動作並び！二人力選択回路の
動作！＝つい°〔説明する。
ＡＭ１１９からの読み出し動作並び！二人力選択回路の
動作！＝つい°〔説明する。
立上り検出回路啜の検出出力１ｂｌに゛Ｃカウンタ倭の
内容ンクリ７すると、下位力ワンプのはクロック信号〔
逓倍器１１９の出力信号〕に゛〔再び０番地よりカウン
トχ開始し１Ｍ−Ｒ個カワントすると上位カワンタ翻の
値が１となる。斯様ｆ二し゛〔カウントが進み、上位カ
ウンタ２１１の内容がＫＯ（ＫＯは整数で通常２〜５）
になった時、上位カウンタ１２１１よりＲＡＭｕ９へ書
さ込み制ａ信号が印加さｎ（第５図（ｄｉ参照）、カワ
ンタ倭のリャブト後Ｒ−Ｍ・ＫＯ＋１個目からＲ−Ｍ−
（Ｋｏ−ｔ−ｔ ）個目までのサンプリング値をＡ／Ｄ
変換器０８に°Ｃ変換さｎたデジタル信号がＲＡ Ｍｕ
引：０番地力１ら書さ込まれるつ同時に、入力選択回路
ＧがＡ／Ｄ変換器０８出力ン選択する為（第５図面ｌ参
照）、Ａ／Ｄ変換器０８に゛〔デクタル信号に変換され
た信号は入力選択回路Ｑ３ｙ２介してＤ／Ａ変襖器＠盛
二人力さｎ、アナログ信号Ｃ：変換される（第５図び）
参照）。
内容ンクリ７すると、下位力ワンプのはクロック信号〔
逓倍器１１９の出力信号〕に゛〔再び０番地よりカウン
トχ開始し１Ｍ−Ｒ個カワントすると上位カワンタ翻の
値が１となる。斯様ｆ二し゛〔カウントが進み、上位カ
ウンタ２１１の内容がＫＯ（ＫＯは整数で通常２〜５）
になった時、上位カウンタ１２１１よりＲＡＭｕ９へ書
さ込み制ａ信号が印加さｎ（第５図（ｄｉ参照）、カワ
ンタ倭のリャブト後Ｒ−Ｍ・ＫＯ＋１個目からＲ−Ｍ−
（Ｋｏ−ｔ−ｔ ）個目までのサンプリング値をＡ／Ｄ
変換器０８に°Ｃ変換さｎたデジタル信号がＲＡ Ｍｕ
引：０番地力１ら書さ込まれるつ同時に、入力選択回路
ＧがＡ／Ｄ変換器０８出力ン選択する為（第５図面ｌ参
照）、Ａ／Ｄ変換器０８に゛〔デクタル信号に変換され
た信号は入力選択回路Ｑ３ｙ２介してＤ／Ａ変襖器＠盛
二人力さｎ、アナログ信号Ｃ：変換される（第５図び）
参照）。
更Ｃ二、カワントが進み、上位力ワンプＱ１Ｊの方つン
ト数がＫＯ＋１となった時、上位力、ワンプｔｌｌより
ＲＡＭ（１９へ読み出し制御イぎ号が印加され（第５図
山雰照）、力ヴンダ翅のりしツク信号〔逓倍器ｔ＋Ｓの
出力信号〕に従い、ＲＡＭｔ１９に棗さ込よまたデジタ
ル信号乞０番地から読み吊子と共Ｃ二土位カフツタＣ２
１１の制御信号（：より入力選択回路ツはＲＡＭｔ１９
の読み出し出カン選択する為（第５図ｔｅ＋参照）、斯
かるＲＡＭ（１９出力がＤ／Ａ変換器Ｃ引二Ｃアナログ
信号に変換される（第５図（ψ参照）。尚。
ト数がＫＯ＋１となった時、上位力、ワンプｔｌｌより
ＲＡＭ（１９へ読み出し制御イぎ号が印加され（第５図
山雰照）、力ヴンダ翅のりしツク信号〔逓倍器ｔ＋Ｓの
出力信号〕に従い、ＲＡＭｔ１９に棗さ込よまたデジタ
ル信号乞０番地から読み吊子と共Ｃ二土位カフツタＣ２
１１の制御信号（：より入力選択回路ツはＲＡＭｔ１９
の読み出し出カン選択する為（第５図ｔｅ＋参照）、斯
かるＲＡＭ（１９出力がＤ／Ａ変換器Ｃ引二Ｃアナログ
信号に変換される（第５図（ψ参照）。尚。
カワンタ■の内容かりセットされＣから、上位カワンタ
シＤの刀ワンド数がＫＯ（第５図の場合Ｋ。
シＤの刀ワンド数がＫＯ（第５図の場合Ｋ。
社３）となった時だけＲＡｌ１９に書さ込み制御信号を
印Ｗすると共に人力選択回路ΩがＡ／Ｄ変換器ａａの出
力Ｙ選択Ｔるように設定し〔３く（第５図１８１ｖ１Ｊ
１８） ） 。従ッテ、ＲＡ Ｍ（１９カ６ （７）読
みＪ、及び入力選択回路θのＲＡＭ０９出力選択は、立
上り検出回路■の次の出力山にて力ワンタ空の内容がク
リアされてから上位力ワンタ（２１１のカウント数がＫ
Ｏとなるまで継続さｎる。
印Ｗすると共に人力選択回路ΩがＡ／Ｄ変換器ａａの出
力Ｙ選択Ｔるように設定し〔３く（第５図１８１ｖ１Ｊ
１８） ） 。従ッテ、ＲＡ Ｍ（１９カ６ （７）読
みＪ、及び入力選択回路θのＲＡＭ０９出力選択は、立
上り検出回路■の次の出力山にて力ワンタ空の内容がク
リアされてから上位力ワンタ（２１１のカウント数がＫ
Ｏとなるまで継続さｎる。
故【二、斯かる入力選択回路＠（二て選択さｎ ／３
Ａ／Ｄ変換器０８及びＲＡＭ（１９の出力信号であるデ
ジタル信号χＤ／Ａ変換器（２）にてアナログ信号に変
換Ｔることにより連続した正弦波信号（第５図回参照）
（即ち、トーンバースト応答波信号の定常状態とみなせ
る波形のｉ！４続波倍波信号得ることが出来る。斯かる
連続正弦波信雫χ増幅器のに°ｃ増幅した後ヘテロゲイ
ン分析器ｆ２Ｇに印加し、スピーカの特性を測定する。
Ａ／Ｄ変換器０８及びＲＡＭ（１９の出力信号であるデ
ジタル信号χＤ／Ａ変換器（２）にてアナログ信号に変
換Ｔることにより連続した正弦波信号（第５図回参照）
（即ち、トーンバースト応答波信号の定常状態とみなせ
る波形のｉ！４続波倍波信号得ることが出来る。斯かる
連続正弦波信雫χ増幅器のに°ｃ増幅した後ヘテロゲイ
ン分析器ｆ２Ｇに印加し、スピーカの特性を測定する。
尚、第５図ではトーンバースト応答波信号の７波目と８
波目の２波が抽出され、デジタル信号に変換され゛（Ｒ
Ａ Ｍ（１！Ｊｌ：書さ込まれるか或い一１直接人力選
択回路［有］に印加する場合全示しＣいるが、実際に）
１ ）−ンバースト応答波信号の位相特性−Ｐ立上り検
出の時刻ずれの為。
波目の２波が抽出され、デジタル信号に変換され゛（Ｒ
Ａ Ｍ（１！Ｊｌ：書さ込まれるか或い一１直接人力選
択回路［有］に印加する場合全示しＣいるが、実際に）
１ ）−ンバースト応答波信号の位相特性−Ｐ立上り検
出の時刻ずれの為。
入力選択回路（号に印加又はｌＲＡＭｕ引二畜さ込よれ
る波形は７波目や８波目から少許ずｎ心波形となるｅ然
し１本発明ではＲ周波分の波形￥書き込み時、直接入力
選択回路０に印１すると共＋二ＲＡＭｆ１９に書き込み
、読み出し時、ＲＡＭ（１９からの読み出し出力？入力
選択回路りに印加するようにし。
る波形は７波目や８波目から少許ずｎ心波形となるｅ然
し１本発明ではＲ周波分の波形￥書き込み時、直接入力
選択回路０に印１すると共＋二ＲＡＭｆ１９に書き込み
、読み出し時、ＲＡＭ（１９からの読み出し出力？入力
選択回路りに印加するようにし。
斯かる入力選択同格■Ｙ介したＡ／ＤＪ換器１８出力及
びＲＡＭ（１９出力のＤ／Ａｖ換？反復して行う１−工
波形の初期値は問題とならない。
びＲＡＭ（１９出力のＤ／Ａｖ換？反復して行う１−工
波形の初期値は問題とならない。
の分周ｔＮｖｇｉ数にしＣχくことにより確保出来る。
１１
以上、詳述・した通り′本発明ｌ二価れば、ボイスコイ
ルの熱破壊Ｚ生じることもなく且つ演算処理の為のコン
ピュータ！必要とせず、簡亀な構成で大人力時のスピー
カの音圧周波数特性や歪特性？測定することが出来る。
ルの熱破壊Ｚ生じることもなく且つ演算処理の為のコン
ピュータ！必要とせず、簡亀な構成で大人力時のスピー
カの音圧周波数特性や歪特性？測定することが出来る。
′１ｆ１１図に従来のスピーカの特ｇ、測定装置ン示す
ブロック図、第２図はスピーカの入カー晋圧特性Ｙ示す
図、第３図１ａｌはトーンバースト波信号を示Ｔ図、第
３図（ｂ＋にトーンバースト応答波信号ン示す図、第４
図は本発明の一実施例〉示すプａツク図、第５図は波形
図である。 ０２・−トーンバースト波信号発生器、 （１８１・・
・Ａ／Ｄ変換器、 （１９−・・ＲＡＭ、 ■・・・
入力選択回路。 ＠・−Ｄ／Ａ変換器。
ブロック図、第２図はスピーカの入カー晋圧特性Ｙ示す
図、第３図１ａｌはトーンバースト波信号を示Ｔ図、第
３図（ｂ＋にトーンバースト応答波信号ン示す図、第４
図は本発明の一実施例〉示すプａツク図、第５図は波形
図である。 ０２・−トーンバースト波信号発生器、 （１８１・・
・Ａ／Ｄ変換器、 （１９−・・ＲＡＭ、 ■・・・
入力選択回路。 ＠・−Ｄ／Ａ変換器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （」）トーンパースト波信号音発生するトーンバースト
波信号発生手段と、前記トーンバースト波信号が印７Ｘ
］さｎる電気−音＃Ｊ変換手段と、Ｈ電カー音響変換手
段の音饗出力を電気信号に変換する音響−電気変換手段
と、Ｂ音響−電気変換手段の出力信号であるトーンバー
スト応答波信号をデジタル信号に変換する第１変換手段
と、該第１変換手段にてデジタル信号に変換さｎる前記
トーンバースト応答波信号から抽出した数波のデジタル
信号ン記憶する記憶手段と、該記憶手段全書込み若しく
は読出し状態に切換える切換え手段と、該＋ｇＪ換え手
段の出力に基づさ前記第１変換手段の出力又は前記記憶
手段の読み出し出力を選択する選択手段と、該選択手段
に゛〔選択される前記＠１変換手段若しくは記憶手段の
出力信号であるデジタル信号ンアナログ信号に変換する
第２変換手段と７備え。 前記切換え手段に゛Ｃ朋記記憶手段が読み出し状態Ｃ二
設定不れた際には、前記選択手段に°Ｃ削把記憶手段の
反復読み出し出７１’Ｙ選択し、また前記切換手段に゛
Ｃ前記記憶手段が書込み状態に設定さｎた際には、前記
選択手段に゛Ｃ前記第１変換手段の出カン選択し、これ
ら選択された出力を前記第２変換手段（：゛Ｃアナログ
信号に変換することにより得られる連続正弦波信号χス
ピーカの応答信号とし°Ｃ用いるようにしたこと７特徴
とするスピーカの特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8692582A JPS58202846A (ja) | 1982-05-21 | 1982-05-21 | スピ−カの特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8692582A JPS58202846A (ja) | 1982-05-21 | 1982-05-21 | スピ−カの特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58202846A true JPS58202846A (ja) | 1983-11-26 |
Family
ID=13900434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8692582A Pending JPS58202846A (ja) | 1982-05-21 | 1982-05-21 | スピ−カの特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58202846A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2529152A (en) * | 2014-08-05 | 2016-02-17 | Sontia Logic Ltd | Determining the characteristics of a device under test |
-
1982
- 1982-05-21 JP JP8692582A patent/JPS58202846A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2529152A (en) * | 2014-08-05 | 2016-02-17 | Sontia Logic Ltd | Determining the characteristics of a device under test |
| GB2529152B (en) * | 2014-08-05 | 2016-08-17 | Sontia Logic Ltd | Determining characteristics of a device under test |
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