JPS5819994A - 光による測定情報多重伝送方式 - Google Patents
光による測定情報多重伝送方式Info
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- JPS5819994A JPS5819994A JP56118414A JP11841481A JPS5819994A JP S5819994 A JPS5819994 A JP S5819994A JP 56118414 A JP56118414 A JP 56118414A JP 11841481 A JP11841481 A JP 11841481A JP S5819994 A JPS5819994 A JP S5819994A
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- JP
- Japan
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- information
- time
- measurement
- light
- charging
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- Pending
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光多重伝送方式、さらに詳しくは現場(フィ
ール・ド)K設置畜れている複数の測定装置からの測定
情報を光7アイパおよびスターカプラ(商品名)と呼に
れる光結合1分配器を介して集中管理室(パネル)側の
処理装置へ多重化して伝送すゐようにした光による測定
情報多重伝送方式に関するものである。
ール・ド)K設置畜れている複数の測定装置からの測定
情報を光7アイパおよびスターカプラ(商品名)と呼に
れる光結合1分配器を介して集中管理室(パネル)側の
処理装置へ多重化して伝送すゐようにした光による測定
情報多重伝送方式に関するものである。
一般に針−システムKjPいては、フィール(側に多数
のセンナオたは一定装置を設置し、これら装置からの測
定データを遠隔の集中管理室へ伝送して適宜部層すゐこ
とにより、フィールド状況の監視、制御を行なうが、従
来これらのシステムの殆んど、のものが電気信号を使用
するものであるためノイズ中デージに弱(、かつ爆発性
雰囲気下では相応の対策を講じなければならないという
問題があった。オた、一般に上記の七ンtまたは測定装
置としてはアナログ式のものが多用されていゐため、必
然的にノイズ中温度等の外乱による変動を受は易く、し
たがって検出精度が低下するという欠点が6つえ。
のセンナオたは一定装置を設置し、これら装置からの測
定データを遠隔の集中管理室へ伝送して適宜部層すゐこ
とにより、フィールド状況の監視、制御を行なうが、従
来これらのシステムの殆んど、のものが電気信号を使用
するものであるためノイズ中デージに弱(、かつ爆発性
雰囲気下では相応の対策を講じなければならないという
問題があった。オた、一般に上記の七ンtまたは測定装
置としてはアナログ式のものが多用されていゐため、必
然的にノイズ中温度等の外乱による変動を受は易く、し
たがって検出精度が低下するという欠点が6つえ。
この発明は上記に鑑みなされ良もので、測定精度の向上
をはかると七もに、ノイズ中テージ等の影響を受けない
光を用%/%良測定情報の多重−過方式を提供すること
を目的とするものである。
をはかると七もに、ノイズ中テージ等の影響を受けない
光を用%/%良測定情報の多重−過方式を提供すること
を目的とするものである。
こO発明の特徴は、一定装置をディジタル化することに
よって測定精度を向上畜せゐとともに、上位処理装置′
と複数〇一定装置との間をltm貫九eta!IK光分
紋または結合する光分m、結合手段によって光結合し、
これらの間で光多重伝送を行なうこ七によりノイズtえ
はナージによる影響をなくし、あわせて光伝送路0@約
を図ろうとする点にある。
よって測定精度を向上畜せゐとともに、上位処理装置′
と複数〇一定装置との間をltm貫九eta!IK光分
紋または結合する光分m、結合手段によって光結合し、
これらの間で光多重伝送を行なうこ七によりノイズtえ
はナージによる影響をなくし、あわせて光伝送路0@約
を図ろうとする点にある。
以下、こO′1IIWsの実施角を開面を参照して説明
する。
する。
第1−はζ0斃明の実施角を示す全体構成図、H2図F
im定装置の概略構成を示すブロック図。
im定装置の概略構成を示すブロック図。
第3園は測定装置を詳細に示す囲路構成図、第41Il
#i機械的1に変位量を静電容量に変換して検出するI
/LIIを説明す、6J[珊図、第5閣は測定動作を説
―する九めのタイムチャート、第6Iaは容量検出部の
他の実施例を示すg1絡1である。
#i機械的1に変位量を静電容量に変換して検出するI
/LIIを説明す、6J[珊図、第5閣は測定動作を説
―する九めのタイムチャート、第6Iaは容量検出部の
他の実施例を示すg1絡1である。
第1図において、clは集中管履童、CPUは中央処m
麹量、Co紘電気−光変換Sおよび光−電気変換器等か
らなる麦換Iaま*轄伝送部%Ti1l〜TR。
麹量、Co紘電気−光変換Sおよび光−電気変換器等か
らなる麦換Iaま*轄伝送部%Ti1l〜TR。
は種々の物理量を一定するディジタル式O11定装f(
以下、トランスζツタ2もいう、)、acFi中央処理
装置CPUと測定装置!翼との間を光分岐1または光結
釡するスターカブラ(iI品名)、OFa。
以下、トランスζツタ2もいう、)、acFi中央処理
装置CPUと測定装置!翼との間を光分岐1または光結
釡するスターカブラ(iI品名)、OFa。
OFMは光ファイバである。なか、スメーカグ98Cは
複数の一定装置T11〜〒−Knell@れる光7アイ
バOFMの距離が余p長くならないように、経済性を考
慮してフィールドIIK設けられる・測定装置TRtj
第2W!JKそのブロック構成が示されるように検出I
S1.検出部選択胞路2、周液数変換gos s 、カ
ウンタ4、タイマーS%晶皐りaツク発生回路6.マイ
クロブc1竜ツデγ(以下、μmC0M演算圃路と%−
5・)、光伝送1路8゜バッチvKよる電f11回路9
′によびキーl−ド1゜等よp構成される・このaji
!装置はさらKJI311に示されるように1検出s1
蝶こ\ではコンダン?C1,Ct[よって構成され、検
出部選択回路2はコンダン?Cλlc2および欄温用□
スンデンデCg、?−1xIRs 0jlNt行e5C
−Mol (相補形MO8)タイプのアナログスイッチ
HW2(MYzt、8w22) よ〕構成され、容量
−周波数変換回路3#i=ンデンテC1aC1t)充放
電の切換えシよび7vツグフロツグQlt)クリアまた
はす竜ットを行&57fEl/ス(ッf#W1(IWI
l、aW12)と、コンテンナC1盲大はC,の充電々
圧が所定の電圧レベル(スレッV&ホールドレベル)を
超えたとtl−にクトされ、所定の時定数(抵抗1f
、Wンデン?Cf)Kよって決する一定時間11K V
*ットされる7vツグ7WツブQl (Dl! )と
から構成されているe!訃、従来の一般的なり形フリッ
グフaッグを使用する場合は、その前fiKスレッシェ
ホールドレベルを有期するためのtl路(例えば、シ為
々ット1路>が必要となるが、C−菫OB形の7リツプ
70ツグを使用する場*はこのような關路を必要とせず
、そ′の切〕替ゎ負電圧をそのままシエレッVエホール
ド電圧として使用することができるe ti[c%タイ
マー5は2段のカウンタCT2 、 C70カラ構J[
し、p−COM yLjlll路7 :6−らのリセッ
ト償奇pos o解除によりて基準クロック発生1路6
かも与えられるクロック信号の計数を開始し、カラン!
(C70)4251に&のカウントアツプ信号によって
計数を停止する。5−C0M演算回路7は基準クロック
発生回路6からのクロック信号によって朧動され種々の
演算 m御動作を行なう。例えば、検出部選択nagめ
アナ冒グスイツ? gW2 K ’I−ド選択信号Po
t 、 POZを送出して;ンデンデC工測定モード、
コンゾンデC,Itm令−ドま九は温度測定モード(抵
抗R8、コンダンtcBvcよる測定)の選択を行ない
、非測定時に― はカウンタ4sPよびタイ!−5に対してv−にット信
号PO3を与えてこれらのす七ットを行なうとともに1
測定時には該り竜ット備考P03を解除して計数動作を
行なわせ、カウy−タ4からのカウントアツプ信号を割
込信号I翼Qとし工受け、タイマー5からの計数出力を
端子PIG −PIII管介して読取り、所定の演算処
理を行なう。岸−COM演算回路7には、測定誤差を回
避すぺ(−に’■点會たはスパンの調整を行なうえめの
操作を指示するキーボード10%または省電力化管−る
べ(基準クロック発生回−6またはβ−COM演算−路
演算−路体1間欠的に動作させるためのスタンパイ令−
ド崗路12、1らには管理室側の上位計算機との間で光
による情報の授受を行なうためO光伝送鵡路S>よび該
回路8における発光ダイオードLIIDの異常検出回路
119が接続畜れている。なか、参は所要の各部へ電源
を供給するためOパッチシミ1mg5路である・ こOII施儒K)妙る11iI装置は圧力等の機械的な
変位量を容量値Km換して検出し、該検出結果をディジ
タに量Kl!IIシてm*するも0”eIj&Thら、
t>て、その検出層11についてJIIn■を参照して
I!嘴する。
複数の一定装置T11〜〒−Knell@れる光7アイ
バOFMの距離が余p長くならないように、経済性を考
慮してフィールドIIK設けられる・測定装置TRtj
第2W!JKそのブロック構成が示されるように検出I
S1.検出部選択胞路2、周液数変換gos s 、カ
ウンタ4、タイマーS%晶皐りaツク発生回路6.マイ
クロブc1竜ツデγ(以下、μmC0M演算圃路と%−
5・)、光伝送1路8゜バッチvKよる電f11回路9
′によびキーl−ド1゜等よp構成される・このaji
!装置はさらKJI311に示されるように1検出s1
蝶こ\ではコンダン?C1,Ct[よって構成され、検
出部選択回路2はコンダン?Cλlc2および欄温用□
スンデンデCg、?−1xIRs 0jlNt行e5C
−Mol (相補形MO8)タイプのアナログスイッチ
HW2(MYzt、8w22) よ〕構成され、容量
−周波数変換回路3#i=ンデンテC1aC1t)充放
電の切換えシよび7vツグフロツグQlt)クリアまた
はす竜ットを行&57fEl/ス(ッf#W1(IWI
l、aW12)と、コンテンナC1盲大はC,の充電々
圧が所定の電圧レベル(スレッV&ホールドレベル)を
超えたとtl−にクトされ、所定の時定数(抵抗1f
、Wンデン?Cf)Kよって決する一定時間11K V
*ットされる7vツグ7WツブQl (Dl! )と
から構成されているe!訃、従来の一般的なり形フリッ
グフaッグを使用する場合は、その前fiKスレッシェ
ホールドレベルを有期するためのtl路(例えば、シ為
々ット1路>が必要となるが、C−菫OB形の7リツプ
70ツグを使用する場*はこのような關路を必要とせず
、そ′の切〕替ゎ負電圧をそのままシエレッVエホール
ド電圧として使用することができるe ti[c%タイ
マー5は2段のカウンタCT2 、 C70カラ構J[
し、p−COM yLjlll路7 :6−らのリセッ
ト償奇pos o解除によりて基準クロック発生1路6
かも与えられるクロック信号の計数を開始し、カラン!
(C70)4251に&のカウントアツプ信号によって
計数を停止する。5−C0M演算回路7は基準クロック
発生回路6からのクロック信号によって朧動され種々の
演算 m御動作を行なう。例えば、検出部選択nagめ
アナ冒グスイツ? gW2 K ’I−ド選択信号Po
t 、 POZを送出して;ンデンデC工測定モード、
コンゾンデC,Itm令−ドま九は温度測定モード(抵
抗R8、コンダンtcBvcよる測定)の選択を行ない
、非測定時に― はカウンタ4sPよびタイ!−5に対してv−にット信
号PO3を与えてこれらのす七ットを行なうとともに1
測定時には該り竜ット備考P03を解除して計数動作を
行なわせ、カウy−タ4からのカウントアツプ信号を割
込信号I翼Qとし工受け、タイマー5からの計数出力を
端子PIG −PIII管介して読取り、所定の演算処
理を行なう。岸−COM演算回路7には、測定誤差を回
避すぺ(−に’■点會たはスパンの調整を行なうえめの
操作を指示するキーボード10%または省電力化管−る
べ(基準クロック発生回−6またはβ−COM演算−路
演算−路体1間欠的に動作させるためのスタンパイ令−
ド崗路12、1らには管理室側の上位計算機との間で光
による情報の授受を行なうためO光伝送鵡路S>よび該
回路8における発光ダイオードLIIDの異常検出回路
119が接続畜れている。なか、参は所要の各部へ電源
を供給するためOパッチシミ1mg5路である・ こOII施儒K)妙る11iI装置は圧力等の機械的な
変位量を容量値Km換して検出し、該検出結果をディジ
タに量Kl!IIシてm*するも0”eIj&Thら、
t>て、その検出層11についてJIIn■を参照して
I!嘴する。
岡−員に&tjつom*電極ILy関に可動電極ILY
が配置1れ、骸可動電極ILVは圧力等の機械的な変位
に応じて因の左右(矢印!参照)方向に移動するaI−
0場舎、各電極間の容量CA1 * CA4は一方が増
大すれば他方は減少する、りtp差動的に変化す為。ζ
−で、各電極am積を8%電極間の卿電率を6.可動電
極罵しマと固定−II罵1.Fとの間隔を−とし、儒見
社岡園(2)O点線で示畜れる如(可動電極11LYが
Δdだけ変位し九とIiの容量cA1 、 CA2は CA1−#ム/d−)d CA2 = aA/ d +J 4 として求められる。こ\で、これら容量の和および差を
考えると、 Cムl+CA、−−ム・2d/〆−ΔCCムl−cA2
−gA・2Δd/−2−ノd2とll、L*がってその
比をとると、 CAI−Cム2/CA1+CA4−Δd/1が得られ、
変位量ノdを容量値6kl −CA4/CAl+CA2
K”よって求めることがで自る・同様にして、i3N4
図(至)では2つの固定電極MX、fに対して可動電極
wLyが図O如(配置され、外部圧力等の変位によって
図の点1位置[7−だけ変位しえ場合は次のようKなる
。この場合、容量CA□は固定、CA2は可変であって
、それぞれの値は上記と同様にして CA1−Cム/ d * CA2− 蓚ム/4+)dと
表わすことができる・そζで、これらの差を考えると、 CA1−CA、−1ム・ノd、4(4+)d)であり、
し九がりてCAI−CAjとCA2との比をとあと、 CA1−CA、701g−Δ4/d とな9、変位量ノーを静電容量値の変化として検出する
ことがで自る。これらの式からも明らかなように、変位
貴社静電容量のみの関数とiるから、電極間の霞電率中
浮遊容量の影響を受けず、このため容量によって機械的
な変位量を正確に検出すゐことが可能となる。
が配置1れ、骸可動電極ILVは圧力等の機械的な変位
に応じて因の左右(矢印!参照)方向に移動するaI−
0場舎、各電極間の容量CA1 * CA4は一方が増
大すれば他方は減少する、りtp差動的に変化す為。ζ
−で、各電極am積を8%電極間の卿電率を6.可動電
極罵しマと固定−II罵1.Fとの間隔を−とし、儒見
社岡園(2)O点線で示畜れる如(可動電極11LYが
Δdだけ変位し九とIiの容量cA1 、 CA2は CA1−#ム/d−)d CA2 = aA/ d +J 4 として求められる。こ\で、これら容量の和および差を
考えると、 Cムl+CA、−−ム・2d/〆−ΔCCムl−cA2
−gA・2Δd/−2−ノd2とll、L*がってその
比をとると、 CAI−Cム2/CA1+CA4−Δd/1が得られ、
変位量ノdを容量値6kl −CA4/CAl+CA2
K”よって求めることがで自る・同様にして、i3N4
図(至)では2つの固定電極MX、fに対して可動電極
wLyが図O如(配置され、外部圧力等の変位によって
図の点1位置[7−だけ変位しえ場合は次のようKなる
。この場合、容量CA□は固定、CA2は可変であって
、それぞれの値は上記と同様にして CA1−Cム/ d * CA2− 蓚ム/4+)dと
表わすことができる・そζで、これらの差を考えると、 CA1−CA、−1ム・ノd、4(4+)d)であり、
し九がりてCAI−CAjとCA2との比をとあと、 CA1−CA、701g−Δ4/d とな9、変位量ノーを静電容量値の変化として検出する
ことがで自る。これらの式からも明らかなように、変位
貴社静電容量のみの関数とiるから、電極間の霞電率中
浮遊容量の影響を受けず、このため容量によって機械的
な変位量を正確に検出すゐことが可能となる。
次に、このような検出層111にもとづく一定動作につ
いて、主に第3図およびgsaoを参照して説明する。
いて、主に第3図およびgsaoを参照して説明する。
初期状11K>%Aては、μmC0M演算1路7からは
モード選択信−jl) Pot 、 PO2t!与えら
れず、1ノセット信号P03 Kよってカウンタ(c’
ri)41Pよびタイ″v−5はリセット秋11に&る
。ここで、ll5IlI(へ)の如きコンデシ?C1O
測定モード信号が与えられ、第S@に)の如(す七ット
信号PO3が解除されると、コンデシtc1 、スイッ
チ8W21.ff1l、抵抗R%電@VDD1にる径路
が形成されるOて、コンデシ?C1がasssて示富れ
るように充電される=t1時°関iueこの充電々8E
が7vッグ7IwツブQl K)スレッシ凰ホールド電
圧−x t jlI JL &と、該7vツグ70ツグ
Q1が七ット畜れ、その出力端子qより出力が得られゐ
、この出力は抵抗R1およびコンデシすC9に与えられ
るとと%に、アナaグ×イッチffl Kも与えられ為
・その結果、スイッチffl 2が開放されて抵抗凰f
とコンデシtcfによる充電回路が形成される。tkか
、このときスイッチl!Wl 1が点IsO位置へ切替
えられ、コンデシtc1 o放電が行なわれる。コンデ
シナC1の充電々圧が*5Sa(へ)で示畜れるように
、所定時間t(5後に所定の値Knると、717ツプ7
wツブQlはクリアされ、そO結果、7シツプ70ツブ
Qlからは第5図(へ)の如自一定幅(tC)の出力パ
ルスが得られる。なお、7リツグ70ツグQlのνセッ
トによってア?Wダスイッチ閉もオフとなるので、スイ
ッチay1震t!j1311の如■状mK復帰し、コン
デシナCfの放電絡路を形成する・上記の時間11はコ
ンデンナcl訃よび抵抗翼の大き一’gK移儒す為から
、7リツグ7窃ツグQl O出力からは=yfyすC1
の容量に比例した周波数のパルス信号が得られることに
なる@こOパルス信号はカウンタ4によって計数され、
所定黴に達す為と1111m1(へ)に示畜れる如きパ
ルス(カウントUP出力)を尭してメイ!−6を*5i
Il(ト)の如く計数停止させるmlタイマーは先0リ
セット信号POsの解歎とと4にパルス発生回路6かも
のタロツクパルスを計数してsPj、該計黴曽果がカウ
ンタ4からOカラン)UP信号を受妙えμ−COM演算
回路γによ)端子pt、o−pxxsを介して就職られ
る。
モード選択信−jl) Pot 、 PO2t!与えら
れず、1ノセット信号P03 Kよってカウンタ(c’
ri)41Pよびタイ″v−5はリセット秋11に&る
。ここで、ll5IlI(へ)の如きコンデシ?C1O
測定モード信号が与えられ、第S@に)の如(す七ット
信号PO3が解除されると、コンデシtc1 、スイッ
チ8W21.ff1l、抵抗R%電@VDD1にる径路
が形成されるOて、コンデシ?C1がasssて示富れ
るように充電される=t1時°関iueこの充電々8E
が7vッグ7IwツブQl K)スレッシ凰ホールド電
圧−x t jlI JL &と、該7vツグ70ツグ
Q1が七ット畜れ、その出力端子qより出力が得られゐ
、この出力は抵抗R1およびコンデシすC9に与えられ
るとと%に、アナaグ×イッチffl Kも与えられ為
・その結果、スイッチffl 2が開放されて抵抗凰f
とコンデシtcfによる充電回路が形成される。tkか
、このときスイッチl!Wl 1が点IsO位置へ切替
えられ、コンデシtc1 o放電が行なわれる。コンデ
シナC1の充電々圧が*5Sa(へ)で示畜れるように
、所定時間t(5後に所定の値Knると、717ツプ7
wツブQlはクリアされ、そO結果、7シツプ70ツブ
Qlからは第5図(へ)の如自一定幅(tC)の出力パ
ルスが得られる。なお、7リツグ70ツグQlのνセッ
トによってア?Wダスイッチ閉もオフとなるので、スイ
ッチay1震t!j1311の如■状mK復帰し、コン
デシナCfの放電絡路を形成する・上記の時間11はコ
ンデンナcl訃よび抵抗翼の大き一’gK移儒す為から
、7リツグ7窃ツグQl O出力からは=yfyすC1
の容量に比例した周波数のパルス信号が得られることに
なる@こOパルス信号はカウンタ4によって計数され、
所定黴に達す為と1111m1(へ)に示畜れる如きパ
ルス(カウントUP出力)を尭してメイ!−6を*5i
Il(ト)の如く計数停止させるmlタイマーは先0リ
セット信号POsの解歎とと4にパルス発生回路6かも
のタロツクパルスを計数してsPj、該計黴曽果がカウ
ンタ4からOカラン)UP信号を受妙えμ−COM演算
回路γによ)端子pt、o−pxxsを介して就職られ
る。
ζ〜で、上記ツリップツ■ツブQl Oスレッシエホー
ルド電圧をV慴1.!:すれば、1 VTII−VDDCl m″″18丁)として表わ
され、し友がってコンデンサC1の充の如(表わされる
0 また、上記の時間1c も同様にして tc−RfCfjag@(1−、、、−) 。
ルド電圧をV慴1.!:すれば、1 VTII−VDDCl m″″18丁)として表わ
され、し友がってコンデンサC1の充の如(表わされる
0 また、上記の時間1c も同様にして tc−RfCfjag@(1−、、、−) 。
として表わされる。なお、Rf=Cfの値は既知でTo
す、し九がって10社一定の値である・したがって、コ
ンデンサCIの充、放電動作を1回カウントする迄の基
準クロッ〜り発生回路6からのり回ツタパルスを数える
ことによ)、すなわちタイマー5からの出力によってコ
ンデンtc1による充放電時間Tlを求めることができ
ゐ・この充放電時間す1#i第5因に)からも明らかな
ように、充電(tl)は1回であるのに対して放電(t
c)は(31−1)回であるから T1− ail十(n −1)tc =・”・””−
・”(1)として求めることができる。なお、このよう
にa回カウントするのは、□・時間測定カウンタ(C’
r2 。
す、し九がって10社一定の値である・したがって、コ
ンデンサCIの充、放電動作を1回カウントする迄の基
準クロッ〜り発生回路6からのり回ツタパルスを数える
ことによ)、すなわちタイマー5からの出力によってコ
ンデンtc1による充放電時間Tlを求めることができ
ゐ・この充放電時間す1#i第5因に)からも明らかな
ように、充電(tl)は1回であるのに対して放電(t
c)は(31−1)回であるから T1− ail十(n −1)tc =・”・””−
・”(1)として求めることができる。なお、このよう
にa回カウントするのは、□・時間測定カウンタ(C’
r2 。
C70)の分屏能゛を上げるえめでToLその数鳳は基
準り關ツク発生i路60出力周波数、抵抗罵O抵抗値ま
た社ツンデν?C1の容量値等に′応じて適宜選択され
る。
準り關ツク発生i路60出力周波数、抵抗罵O抵抗値ま
た社ツンデν?C1の容量値等に′応じて適宜選択され
る。
このようにして、=ンデンナC1の充放電時間!1を求
め良後、μmC0M演算回路7は信号POIオたfdP
02によって不イツチlW21を切換えてコンデンサC
tの検出毫−ドとし、コンデンtc20充放電時間!!
を測定する。ζO場場合動作態様は上記と食(同様で6
9、そのタイムチャートは落!S図の右半分に示されて
いる。なか、充放電時間Tlは<1)式と同様にして Tl−跪tR+(m−1)tc ==”””−一■と
なる・ J−COM 演算gi路?M#i、上1e(1) 、
(1)式より次の如き演算を行なう・ と01式は先O鳳珊閣にシける説明からも明らかなよう
に、変位に比例するから、μmC0M演算回路7では上
記の如き演算を行なうことによってその変位を測定する
ことが17きる。
め良後、μmC0M演算回路7は信号POIオたfdP
02によって不イツチlW21を切換えてコンデンサC
tの検出毫−ドとし、コンデンtc20充放電時間!!
を測定する。ζO場場合動作態様は上記と食(同様で6
9、そのタイムチャートは落!S図の右半分に示されて
いる。なか、充放電時間Tlは<1)式と同様にして Tl−跪tR+(m−1)tc ==”””−一■と
なる・ J−COM 演算gi路?M#i、上1e(1) 、
(1)式より次の如き演算を行なう・ と01式は先O鳳珊閣にシける説明からも明らかなよう
に、変位に比例するから、μmC0M演算回路7では上
記の如き演算を行なうことによってその変位を測定する
ことが17きる。
なお、上鮎ではコンデン?C1,C,0容量を差動的に
変化させることによ)機械的な変位量、例えば差圧JP
を測定するようにしたが、第611に示されるように、
コンデンサの一方(C2)を固定とし、他方(C1)を
可変とするもOKついても同様に適用しうみこと#i、
先OMH4rllJの説明からも明らかである。ただし
、この場合は上記の差圧JPのかわ〕に圧力Pを求める
こととなplその演算式〜 はよ記と同様にして次のよ
うに表わされる舜C1−c、T1−T象 C2T2−(ト1)t(””””°″″″′(至)上記
の実施例においては、機械的な変位量を静電容量値に変
換して横巾するようにし九が、こりを抵抗、周波数1+
は電圧に変換して検出すゐことも可能である。
変化させることによ)機械的な変位量、例えば差圧JP
を測定するようにしたが、第611に示されるように、
コンデンサの一方(C2)を固定とし、他方(C1)を
可変とするもOKついても同様に適用しうみこと#i、
先OMH4rllJの説明からも明らかである。ただし
、この場合は上記の差圧JPのかわ〕に圧力Pを求める
こととなplその演算式〜 はよ記と同様にして次のよ
うに表わされる舜C1−c、T1−T象 C2T2−(ト1)t(””””°″″″′(至)上記
の実施例においては、機械的な変位量を静電容量値に変
換して横巾するようにし九が、こりを抵抗、周波数1+
は電圧に変換して検出すゐことも可能である。
第7〜9図は検出部の他の!施例を示す回路図で、第7
脂は抵抗値に変換する場合、第8図は周波数−変換する
場合、そして第9図は電圧値に変換して検出する場合を
それでれ示すものであるにれら0111に&いて、ラン
ダン?Cの容量値および抵抗RCの抵抗値はともに一定
でるp%オたスイッチIW1tJW!1および7リツプ
フロツグQ1は第3111IIJIIf#に示される虻
のと同様のものである・ 第7図(&)〜(・)Kおける検出M通はいずれも容量
による検出1ullと金(同様であって、充放電時間が
抵抗とコンデンサとのIIK比例することを利用して、
ここでは抵抗値を検出するようにしたものである・すな
わち、岡!pH伽)に示されるものはスイッチff!
1をlx*に倒してその充放電時間!1を測定(なお、
一定され10社厳密には充電時間だけであゐ・)し、次
KRc94′に@して同様に充放電時間T2を求め、 なる演算によりてIX o@抗値を求める・同じく同1
%il(・)に示1れるも0は、先の実#RKおけるコ
ンデンサ01 a CHを抵抗R1e RHK Jfp
11か克たものに相当するから、その演算式もの如く
全く同様に表わされることになる。
脂は抵抗値に変換する場合、第8図は周波数−変換する
場合、そして第9図は電圧値に変換して検出する場合を
それでれ示すものであるにれら0111に&いて、ラン
ダン?Cの容量値および抵抗RCの抵抗値はともに一定
でるp%オたスイッチIW1tJW!1および7リツプ
フロツグQ1は第3111IIJIIf#に示される虻
のと同様のものである・ 第7図(&)〜(・)Kおける検出M通はいずれも容量
による検出1ullと金(同様であって、充放電時間が
抵抗とコンデンサとのIIK比例することを利用して、
ここでは抵抗値を検出するようにしたものである・すな
わち、岡!pH伽)に示されるものはスイッチff!
1をlx*に倒してその充放電時間!1を測定(なお、
一定され10社厳密には充電時間だけであゐ・)し、次
KRc94′に@して同様に充放電時間T2を求め、 なる演算によりてIX o@抗値を求める・同じく同1
%il(・)に示1れるも0は、先の実#RKおけるコ
ンデンサ01 a CHを抵抗R1e RHK Jfp
11か克たものに相当するから、その演算式もの如く
全く同様に表わされることになる。
また、同図伽)に示されるものはライン抵抗Rjが変動
する場合である・したがって、スイッチ8W21を順次
切替えることによりてRX+ 2RL。
する場合である・したがって、スイッチ8W21を順次
切替えることによりてRX+ 2RL。
2R4sI−よびRCKよるそれぞれの充放電時間Tl
。
。
T2°およびT5 を求め、′
なる演算式よp抵抗値RXを測定する。
第8図においては、検出部にてすでに周波数に変換され
ているから、第3図実施例の如き周波数変換回路は不要
となp11重部からの出力は適宜増巾されて直接カウン
タへ導入される。この場合、カウンタが所定数N4計数
する迄にどれだけの時間Tがか\るかを演算することに
よってその周波数(N/T )を求めることができる。
ているから、第3図実施例の如き周波数変換回路は不要
となp11重部からの出力は適宜増巾されて直接カウン
タへ導入される。この場合、カウンタが所定数N4計数
する迄にどれだけの時間Tがか\るかを演算することに
よってその周波数(N/T )を求めることができる。
第**は電圧11に変換して検出する場合であって、コ
ンデンtOK一定の電流(1)を流して充電を行ない、
該充電による電圧を演算増巾a opz 。
ンデンtOK一定の電流(1)を流して充電を行ない、
該充電による電圧を演算増巾a opz 。
一方に4え、tラ一方には演算増巾110PIKよって
増巾畜れえ入力電圧M!を導入し、該入力電圧′111
光電々圧f超え九とき7リツプ7■ツグQ1を七ットす
ゐようにし良ものである・コンデンサCKよる充電は一
定OSmで行なわれるOK対し入力電圧レベル鳶!が変
動するので、電圧値に応じた時間信号を得ることがで自
る・ζこで、スイ゛ツチ1lW21′が図示O状1にあ
るときの時間l1li!出力をT−1図示とは反対側の
状態に切替ええときのそれをilとすると。
増巾畜れえ入力電圧M!を導入し、該入力電圧′111
光電々圧f超え九とき7リツプ7■ツグQ1を七ットす
ゐようにし良ものである・コンデンサCKよる充電は一
定OSmで行なわれるOK対し入力電圧レベル鳶!が変
動するので、電圧値に応じた時間信号を得ることがで自
る・ζこで、スイ゛ツチ1lW21′が図示O状1にあ
るときの時間l1li!出力をT−1図示とは反対側の
状態に切替ええときのそれをilとすると。
?、 −Tl −CIC/I @’ 111なる演算に
よって電圧値鳶lを求めることができる。ζ−に、鳶1
は一定電圧、!はコンダン?Cに卑見られる電流、Cx
は;ンデン?Cの容量値で豪る・ ′ このように−構成される一定装置と中央処理装置($1
111参照)との情報伝送にりいて、以下に説明する。
よって電圧値鳶lを求めることができる。ζ−に、鳶1
は一定電圧、!はコンダン?Cに卑見られる電流、Cx
は;ンデン?Cの容量値で豪る・ ′ このように−構成される一定装置と中央処理装置($1
111参照)との情報伝送にりいて、以下に説明する。
第10図は測定装置と中央処理装置CPUとの間で授受
される情報の形式を示す構成図で、(a)は制御情報C
1B′を示し、am>はCPUから測定装置に対して測
定レンジ設定を行なう場合(以下、レンジ゛設定モード
と4いう・)の情報形式を示し、(@)は測定データを
一定装置からcpυへ送出する場合(1111定モード
ともい、う。)の情報形式、(d)はCPUよシレンジ
設定情報を受は九ことをチェツタのために測定装置から
CPUへ返送する場合の情報形式をそれぞれ示すもので
ある。また、第11図は測定装置とCPUとの間で行な
われる情報の送、受信動作を示す・IイムチャートでT
oす、Ill 21!1は測定装置の送、受信動作を説
明するフローチャートである。 ・ 第1oa(a)に示される如く、゛制御情報C8はスタ
ートピッ)8T(Dg)、各測定装置に領有な誉号な示
すアドレス情報AD(D’l〜Ds )、II定モ′−
ドであるかレンジ設定モードであるかを示すモード情報
MO(f)、)、予備情報ムv(o5〜Di)およびパ
リティビットPA(D7) より構成される・測定モ
−ドの場合は、岡II←)の情報をCPUから一定装置
へ送ることにより%アドレス指定された所定の測定装置
から阿II(・)O加電制御情報CBと測定データDム
とがCPUへ送られる・なシ、スタートビット8!によ
ってすべての測定装置が同11Kjllli畜れるが、
アドレス指定を受けなかった一定装置はJ5fii時間
INK動作を停止する。盲た、レンジ設定毫−rの場合
は、IIji!装置に岡110t)0如自制御情報CM
が与えられたのち、さらに所定の時間経遥后にスター)
ビット■!を含訃ゼ■点情@zlとスパン情報IIPと
が4見られ、・これによって測定装置は開園(句の如(
同様の情報を返送することによりレンジ微意情報を正し
く受信し良旨Cデυへ報告する。
される情報の形式を示す構成図で、(a)は制御情報C
1B′を示し、am>はCPUから測定装置に対して測
定レンジ設定を行なう場合(以下、レンジ゛設定モード
と4いう・)の情報形式を示し、(@)は測定データを
一定装置からcpυへ送出する場合(1111定モード
ともい、う。)の情報形式、(d)はCPUよシレンジ
設定情報を受は九ことをチェツタのために測定装置から
CPUへ返送する場合の情報形式をそれぞれ示すもので
ある。また、第11図は測定装置とCPUとの間で行な
われる情報の送、受信動作を示す・IイムチャートでT
oす、Ill 21!1は測定装置の送、受信動作を説
明するフローチャートである。 ・ 第1oa(a)に示される如く、゛制御情報C8はスタ
ートピッ)8T(Dg)、各測定装置に領有な誉号な示
すアドレス情報AD(D’l〜Ds )、II定モ′−
ドであるかレンジ設定モードであるかを示すモード情報
MO(f)、)、予備情報ムv(o5〜Di)およびパ
リティビットPA(D7) より構成される・測定モ
−ドの場合は、岡II←)の情報をCPUから一定装置
へ送ることにより%アドレス指定された所定の測定装置
から阿II(・)O加電制御情報CBと測定データDム
とがCPUへ送られる・なシ、スタートビット8!によ
ってすべての測定装置が同11Kjllli畜れるが、
アドレス指定を受けなかった一定装置はJ5fii時間
INK動作を停止する。盲た、レンジ設定毫−rの場合
は、IIji!装置に岡110t)0如自制御情報CM
が与えられたのち、さらに所定の時間経遥后にスター)
ビット■!を含訃ゼ■点情@zlとスパン情報IIPと
が4見られ、・これによって測定装置は開園(句の如(
同様の情報を返送することによりレンジ微意情報を正し
く受信し良旨Cデυへ報告する。
第111IK示畜れるように、 CPUから同図(へ)
のような制御情報が与えられ、制御情報Cl1lKよっ
て例えば一定装置!11 声、11次制御償号Catに
よって橢i!羨置1肱事選択されるもめとすると、調定
装置T翼l訃よびガ区は同図(ロ)の如く所定の時間後
に情報Ca1l 、 C#Kを受信し、これによって一
定装置TE1は同図f−ウの如く動作し、また一定装置
TRKは情報CIIIKては所定時間T5後に動作を停
止し、情報C3KKよって始めて同図に)のように動作
する。この場合、CPUからの情報送出間隔τ(同E(
へ)参照)が、測定装置の受信完了動作時間11(同図
(ハ)参照)よ)も大きく、かつ同一アドレスの測定装
置を呼出す1ナイタルの時間丁2 (測定装置1台8え
りの測定演算時間)よりも大きければ、測定装置のアク
セス時間々隔または選択順序を自由に設定して情報の伝
送を行なうことがで自るtのである・ なお1.si定装置における送、受信動作を含む動作の
詳IImは次の如くである。
のような制御情報が与えられ、制御情報Cl1lKよっ
て例えば一定装置!11 声、11次制御償号Catに
よって橢i!羨置1肱事選択されるもめとすると、調定
装置T翼l訃よびガ区は同図(ロ)の如く所定の時間後
に情報Ca1l 、 C#Kを受信し、これによって一
定装置TE1は同図f−ウの如く動作し、また一定装置
TRKは情報CIIIKては所定時間T5後に動作を停
止し、情報C3KKよって始めて同図に)のように動作
する。この場合、CPUからの情報送出間隔τ(同E(
へ)参照)が、測定装置の受信完了動作時間11(同図
(ハ)参照)よ)も大きく、かつ同一アドレスの測定装
置を呼出す1ナイタルの時間丁2 (測定装置1台8え
りの測定演算時間)よりも大きければ、測定装置のアク
セス時間々隔または選択順序を自由に設定して情報の伝
送を行なうことがで自るtのである・ なお1.si定装置における送、受信動作を含む動作の
詳IImは次の如くである。
以下、l11211を参照して測定装置(トランス建ツ
タ)の動作にりいて説−する、 。
タ)の動作にりいて説−する、 。
トランス電ツタ内の処理装置声−COMは上位計算機C
PUの割込み信号(スタート信号)Kよって起動され■
)、第10図の如自入力信号(制御情報)を読取り(■
)、該入力信号によって自分のアドレスが指定されてい
るか否かを調ぺ(@)、自分Oアドレスてない場合は、
伽のトランス電ツタへ与りられるレンジ設定情報を受信
して誤動作しないように、所定の時間を確保して・01
次の割込み待ち状態とする頓ω・一方、上配入力信4#
によって自分のアドレスが指定されている場合には、測
定毫−ドであるか否かを調ぺ■)、測定モードでtk%
fh場合はレンジ変更のための入力データを読取# (
@)、 ll[職りえデータo*gのためにパネル儒o
cpuへ返送し唾v1傭の入力信号によって誤動作し
ないように、偽の入力信号があり良tとを確認し良Oち
−、所定O11間を確保してφv1割込み待ち状態とす
尋0)・上記(0)Kかいて測ji!噌−ドであると判
定されたと@は、前園の演算結果を直列に伝送する(■
)とともに、所定の演算を行なうぺ(充放電時間!1の
測定を行な−C@)、必要に応じて時間!tを測定しく
■)1これら測定結果にもとづ−て所定O演算を行なう
(■)・次いで、ゼElおよびスパン補正を行ない0)
、また、同様に温度による4msスパン補正を行なう@
)。
PUの割込み信号(スタート信号)Kよって起動され■
)、第10図の如自入力信号(制御情報)を読取り(■
)、該入力信号によって自分のアドレスが指定されてい
るか否かを調ぺ(@)、自分Oアドレスてない場合は、
伽のトランス電ツタへ与りられるレンジ設定情報を受信
して誤動作しないように、所定の時間を確保して・01
次の割込み待ち状態とする頓ω・一方、上配入力信4#
によって自分のアドレスが指定されている場合には、測
定毫−ドであるか否かを調ぺ■)、測定モードでtk%
fh場合はレンジ変更のための入力データを読取# (
@)、 ll[職りえデータo*gのためにパネル儒o
cpuへ返送し唾v1傭の入力信号によって誤動作し
ないように、偽の入力信号があり良tとを確認し良Oち
−、所定O11間を確保してφv1割込み待ち状態とす
尋0)・上記(0)Kかいて測ji!噌−ドであると判
定されたと@は、前園の演算結果を直列に伝送する(■
)とともに、所定の演算を行なうぺ(充放電時間!1の
測定を行な−C@)、必要に応じて時間!tを測定しく
■)1これら測定結果にもとづ−て所定O演算を行なう
(■)・次いで、ゼElおよびスパン補正を行ない0)
、また、同様に温度による4msスパン補正を行なう@
)。
その後、パネル儒CPUから既に送られて来て−るレン
ジ設定情報にもとづいてレンジの調整をしく0、會えメ
ンピングが生じていれば所定の演算式にもとづ(メンピ
ングの補正を折々う@)。次いで温度を測定し0)%パ
ッチシミ圧の測定を行ない@)、以下上述の如く傭の入
力信号によう″C轟該トランス建ツタが誤動作しないよ
うに1他の入力信号がめり良ことを確認して@)から、
所定の時間を確保したのち@)1、割込み待ちとすゐ[
相])。
ジ設定情報にもとづいてレンジの調整をしく0、會えメ
ンピングが生じていれば所定の演算式にもとづ(メンピ
ングの補正を折々う@)。次いで温度を測定し0)%パ
ッチシミ圧の測定を行ない@)、以下上述の如く傭の入
力信号によう″C轟該トランス建ツタが誤動作しないよ
うに1他の入力信号がめり良ことを確認して@)から、
所定の時間を確保したのち@)1、割込み待ちとすゐ[
相])。
以上のように、この発明によれば、一定装置をディジタ
ル化することによって測定精度の向上をはかることが可
能とな9、まえ、一定装置と上位処理装置との間を光伝
送路にて結合し、咳伝送路を介して光伝送を行なうよう
にし九からノイズ中ナージ等の影響を受けない高信頼度
の伝送がで自る。tた。一定装置と上位処理装置との間
をスターカブa)Kよって光結合するようにしたので、
伝送路の本数または距離を低減させるこ七がで自為ため
経済的な効果が大であるとともに、測定装置が績続釣に
結合されるものに比べて、1台の測定装置の故障による
影響が−に及ばないという刹点を有するものである。
ル化することによって測定精度の向上をはかることが可
能とな9、まえ、一定装置と上位処理装置との間を光伝
送路にて結合し、咳伝送路を介して光伝送を行なうよう
にし九からノイズ中ナージ等の影響を受けない高信頼度
の伝送がで自る。tた。一定装置と上位処理装置との間
をスターカブa)Kよって光結合するようにしたので、
伝送路の本数または距離を低減させるこ七がで自為ため
経済的な効果が大であるとともに、測定装置が績続釣に
結合されるものに比べて、1台の測定装置の故障による
影響が−に及ばないという刹点を有するものである。
オた、cpυから測定装置へ伝送する情報形式を費える
ことによeiw定レンジ設定またはダンピングの設定、
場合によりてはゼa、スパンの調整をCPU儒から行な
うことも可能である・
ことによeiw定レンジ設定またはダンピングの設定、
場合によりてはゼa、スパンの調整をCPU儒から行な
うことも可能である・
第1図はこの発明の実施例を示す全体構成■、第2図は
測定装置の概略構成を示すブロック閣、第3因は測定装
置の詳細構成を示す回路図、第4図は変位量を容量値に
変換して検出する検出原理を説明する原理図、第511
は第3図の動作を説明するためのタイムチャート、第6
図は容量検出部OIkの実施例を示す回路図、117W
J1!抵抗検出部の実施例を示す絡路図、第811Iは
周波数検出部の実施例を示す回路go、ms図は電圧検
出部の実施例を示す回路図、1110因は測定装置と中
央鵡理装置との間で授受される情報の形式を示す構成図
。 第11図は測定装置と中央麩理装置との間の送−受信動
作を説明するタイムチャート、*xzaは@足装置の全
体動作を示す70−チャートである・符号説明 1・・・検出部、2−・検出部選択−路、3−周波数変
換園路%電−・カウンタ、5−タイーt−%s−a準ク
ロック発生−路、7−μmcoalljlllj1.8
・・・光伝送−路、9・・・パッチV電源口路、10−
キーボード、11・−り罵り異常ON検出回路、12−
・スタンバイ毫−ド1路、 cii−集中管理室、CP
U・−・中央smut%CO−・変換部、8C−スター
カプラ、i翼−・測定装置、0FII 、 OFM−・
・光ファイバ、Ql−79ツグ70ツブ、IIWI、8
W2−7すll/スイッチ、CTI−CTS−カウンタ
、ILy a ILy −”電極、OPI 、 OF2
−・演算増巾器代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清
測定装置の概略構成を示すブロック閣、第3因は測定装
置の詳細構成を示す回路図、第4図は変位量を容量値に
変換して検出する検出原理を説明する原理図、第511
は第3図の動作を説明するためのタイムチャート、第6
図は容量検出部OIkの実施例を示す回路図、117W
J1!抵抗検出部の実施例を示す絡路図、第811Iは
周波数検出部の実施例を示す回路go、ms図は電圧検
出部の実施例を示す回路図、1110因は測定装置と中
央鵡理装置との間で授受される情報の形式を示す構成図
。 第11図は測定装置と中央麩理装置との間の送−受信動
作を説明するタイムチャート、*xzaは@足装置の全
体動作を示す70−チャートである・符号説明 1・・・検出部、2−・検出部選択−路、3−周波数変
換園路%電−・カウンタ、5−タイーt−%s−a準ク
ロック発生−路、7−μmcoalljlllj1.8
・・・光伝送−路、9・・・パッチV電源口路、10−
キーボード、11・−り罵り異常ON検出回路、12−
・スタンバイ毫−ド1路、 cii−集中管理室、CP
U・−・中央smut%CO−・変換部、8C−スター
カプラ、i翼−・測定装置、0FII 、 OFM−・
・光ファイバ、Ql−79ツグ70ツブ、IIWI、8
W2−7すll/スイッチ、CTI−CTS−カウンタ
、ILy a ILy −”電極、OPI 、 OF2
−・演算増巾器代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清
Claims (1)
- 一履量を一定する鳳個のディジタル測定装置と、上位I
&処理装置の間で双方向の光伝送路を介して光情報の伝
送を行ないうるようにし九光による一定情報伝送方式で
番って、光伝送路を介して双方向に伝送畜れ為光情報を
1;鳳に光分岐し、かりm!IK光結合する光分紋、結
合手段を介して1つの魁理装置とallO測定装置とを
光結合し、これら偵置間で測定情報を時分割多重化して
伝送するようにし九ことを特徴とする光によゐ測定情報
多重伝送方式。
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56118414A JPS5819994A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 光による測定情報多重伝送方式 |
US06/402,377 US4531193A (en) | 1981-07-30 | 1982-07-27 | Measurement apparatus |
AU86518/82A AU549860B2 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-28 | Measurement apparatus |
CA000408285A CA1220835A (en) | 1981-07-30 | 1982-07-28 | Measurement apparatus |
BR8204472A BR8204472A (pt) | 1981-07-30 | 1982-07-29 | Aparelho para medir uma quantidade fisica e fornecer dados de medicao correspondentes |
DE8484114777T DE3279510D1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
DE8282106917T DE3274495D1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
EP82106917A EP0071912B1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
DE19823229010 DE3229010A1 (de) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Digitale messeinrichtung fuer eine physikalische groesse |
EP84114777A EP0159401B1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56118414A JPS5819994A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 光による測定情報多重伝送方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5819994A true JPS5819994A (ja) | 1983-02-05 |
Family
ID=14736052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56118414A Pending JPS5819994A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 光による測定情報多重伝送方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5819994A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59231994A (ja) * | 1983-06-14 | 1984-12-26 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 光信号による遠隔制御装置 |
JPS603099A (ja) * | 1983-06-20 | 1985-01-09 | 株式会社エスジ− | アブソリユ−ト位置検出装置 |
JPS60109940A (ja) * | 1983-11-18 | 1985-06-15 | Kinki Denki Koji Kk | 光多重伝送方法並びにそのシステム |
JPH0398200A (ja) * | 1989-09-11 | 1991-04-23 | Fuji Electric Co Ltd | 分離形信号表示装置 |
-
1981
- 1981-07-30 JP JP56118414A patent/JPS5819994A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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