JPS5819994A - 光による測定情報多重伝送方式 - Google Patents

光による測定情報多重伝送方式

Info

Publication number
JPS5819994A
JPS5819994A JP56118414A JP11841481A JPS5819994A JP S5819994 A JPS5819994 A JP S5819994A JP 56118414 A JP56118414 A JP 56118414A JP 11841481 A JP11841481 A JP 11841481A JP S5819994 A JPS5819994 A JP S5819994A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
time
measurement
light
charging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56118414A
Other languages
English (en)
Inventor
安原 毅
鍋田 栄一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd, Fuji Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP56118414A priority Critical patent/JPS5819994A/ja
Priority to US06/402,377 priority patent/US4531193A/en
Priority to AU86518/82A priority patent/AU549860B2/en
Priority to CA000408285A priority patent/CA1220835A/en
Priority to BR8204472A priority patent/BR8204472A/pt
Priority to DE8484114777T priority patent/DE3279510D1/de
Priority to DE8282106917T priority patent/DE3274495D1/de
Priority to EP82106917A priority patent/EP0071912B1/en
Priority to DE19823229010 priority patent/DE3229010A1/de
Priority to EP84114777A priority patent/EP0159401B1/en
Publication of JPS5819994A publication Critical patent/JPS5819994A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は光多重伝送方式、さらに詳しくは現場(フィ
ール・ド)K設置畜れている複数の測定装置からの測定
情報を光7アイパおよびスターカプラ(商品名)と呼に
れる光結合1分配器を介して集中管理室(パネル)側の
処理装置へ多重化して伝送すゐようにした光による測定
情報多重伝送方式に関するものである。
一般に針−システムKjPいては、フィール(側に多数
のセンナオたは一定装置を設置し、これら装置からの測
定データを遠隔の集中管理室へ伝送して適宜部層すゐこ
とにより、フィールド状況の監視、制御を行なうが、従
来これらのシステムの殆んど、のものが電気信号を使用
するものであるためノイズ中デージに弱(、かつ爆発性
雰囲気下では相応の対策を講じなければならないという
問題があった。オた、一般に上記の七ンtまたは測定装
置としてはアナログ式のものが多用されていゐため、必
然的にノイズ中温度等の外乱による変動を受は易く、し
たがって検出精度が低下するという欠点が6つえ。
この発明は上記に鑑みなされ良もので、測定精度の向上
をはかると七もに、ノイズ中テージ等の影響を受けない
光を用%/%良測定情報の多重−過方式を提供すること
を目的とするものである。
こO発明の特徴は、一定装置をディジタル化することに
よって測定精度を向上畜せゐとともに、上位処理装置′
と複数〇一定装置との間をltm貫九eta!IK光分
紋または結合する光分m、結合手段によって光結合し、
これらの間で光多重伝送を行なうこ七によりノイズtえ
はナージによる影響をなくし、あわせて光伝送路0@約
を図ろうとする点にある。
以下、こO′1IIWsの実施角を開面を参照して説明
する。
第1−はζ0斃明の実施角を示す全体構成図、H2図F
im定装置の概略構成を示すブロック図。
第3園は測定装置を詳細に示す囲路構成図、第41Il
#i機械的1に変位量を静電容量に変換して検出するI
/LIIを説明す、6J[珊図、第5閣は測定動作を説
―する九めのタイムチャート、第6Iaは容量検出部の
他の実施例を示すg1絡1である。
第1図において、clは集中管履童、CPUは中央処m
麹量、Co紘電気−光変換Sおよび光−電気変換器等か
らなる麦換Iaま*轄伝送部%Ti1l〜TR。
は種々の物理量を一定するディジタル式O11定装f(
以下、トランスζツタ2もいう、)、acFi中央処理
装置CPUと測定装置!翼との間を光分岐1または光結
釡するスターカブラ(iI品名)、OFa。
OFMは光ファイバである。なか、スメーカグ98Cは
複数の一定装置T11〜〒−Knell@れる光7アイ
バOFMの距離が余p長くならないように、経済性を考
慮してフィールドIIK設けられる・測定装置TRtj
第2W!JKそのブロック構成が示されるように検出I
S1.検出部選択胞路2、周液数変換gos s 、カ
ウンタ4、タイマーS%晶皐りaツク発生回路6.マイ
クロブc1竜ツデγ(以下、μmC0M演算圃路と%−
5・)、光伝送1路8゜バッチvKよる電f11回路9
′によびキーl−ド1゜等よp構成される・このaji
!装置はさらKJI311に示されるように1検出s1
蝶こ\ではコンダン?C1,Ct[よって構成され、検
出部選択回路2はコンダン?Cλlc2および欄温用□
スンデンデCg、?−1xIRs 0jlNt行e5C
−Mol (相補形MO8)タイプのアナログスイッチ
HW2(MYzt、8w22)  よ〕構成され、容量
−周波数変換回路3#i=ンデンテC1aC1t)充放
電の切換えシよび7vツグフロツグQlt)クリアまた
はす竜ットを行&57fEl/ス(ッf#W1(IWI
l、aW12)と、コンテンナC1盲大はC,の充電々
圧が所定の電圧レベル(スレッV&ホールドレベル)を
超えたとtl−にクトされ、所定の時定数(抵抗1f 
、Wンデン?Cf)Kよって決する一定時間11K V
 *ットされる7vツグ7WツブQl (Dl! )と
から構成されているe!訃、従来の一般的なり形フリッ
グフaッグを使用する場合は、その前fiKスレッシェ
ホールドレベルを有期するためのtl路(例えば、シ為
々ット1路>が必要となるが、C−菫OB形の7リツプ
70ツグを使用する場*はこのような關路を必要とせず
、そ′の切〕替ゎ負電圧をそのままシエレッVエホール
ド電圧として使用することができるe ti[c%タイ
マー5は2段のカウンタCT2 、 C70カラ構J[
し、p−COM yLjlll路7 :6−らのリセッ
ト償奇pos o解除によりて基準クロック発生1路6
かも与えられるクロック信号の計数を開始し、カラン!
(C70)4251に&のカウントアツプ信号によって
計数を停止する。5−C0M演算回路7は基準クロック
発生回路6からのクロック信号によって朧動され種々の
演算 m御動作を行なう。例えば、検出部選択nagめ
アナ冒グスイツ? gW2 K ’I−ド選択信号Po
t 、 POZを送出して;ンデンデC工測定モード、
コンゾンデC,Itm令−ドま九は温度測定モード(抵
抗R8、コンダンtcBvcよる測定)の選択を行ない
、非測定時に― はカウンタ4sPよびタイ!−5に対してv−にット信
号PO3を与えてこれらのす七ットを行なうとともに1
測定時には該り竜ット備考P03を解除して計数動作を
行なわせ、カウy−タ4からのカウントアツプ信号を割
込信号I翼Qとし工受け、タイマー5からの計数出力を
端子PIG −PIII管介して読取り、所定の演算処
理を行なう。岸−COM演算回路7には、測定誤差を回
避すぺ(−に’■点會たはスパンの調整を行なうえめの
操作を指示するキーボード10%または省電力化管−る
べ(基準クロック発生回−6またはβ−COM演算−路
演算−路体1間欠的に動作させるためのスタンパイ令−
ド崗路12、1らには管理室側の上位計算機との間で光
による情報の授受を行なうためO光伝送鵡路S>よび該
回路8における発光ダイオードLIIDの異常検出回路
119が接続畜れている。なか、参は所要の各部へ電源
を供給するためOパッチシミ1mg5路である・ こOII施儒K)妙る11iI装置は圧力等の機械的な
変位量を容量値Km換して検出し、該検出結果をディジ
タに量Kl!IIシてm*するも0”eIj&Thら、
t>て、その検出層11についてJIIn■を参照して
I!嘴する。
岡−員に&tjつom*電極ILy関に可動電極ILY
が配置1れ、骸可動電極ILVは圧力等の機械的な変位
に応じて因の左右(矢印!参照)方向に移動するaI−
0場舎、各電極間の容量CA1 * CA4は一方が増
大すれば他方は減少する、りtp差動的に変化す為。ζ
−で、各電極am積を8%電極間の卿電率を6.可動電
極罵しマと固定−II罵1.Fとの間隔を−とし、儒見
社岡園(2)O点線で示畜れる如(可動電極11LYが
Δdだけ変位し九とIiの容量cA1 、 CA2は CA1−#ム/d−)d CA2 = aA/ d +J 4 として求められる。こ\で、これら容量の和および差を
考えると、 Cムl+CA、−−ム・2d/〆−ΔCCムl−cA2
−gA・2Δd/−2−ノd2とll、L*がってその
比をとると、 CAI−Cム2/CA1+CA4−Δd/1が得られ、
変位量ノdを容量値6kl −CA4/CAl+CA2
K”よって求めることがで自る・同様にして、i3N4
図(至)では2つの固定電極MX、fに対して可動電極
wLyが図O如(配置され、外部圧力等の変位によって
図の点1位置[7−だけ変位しえ場合は次のようKなる
。この場合、容量CA□は固定、CA2は可変であって
、それぞれの値は上記と同様にして CA1−Cム/ d * CA2− 蓚ム/4+)dと
表わすことができる・そζで、これらの差を考えると、 CA1−CA、−1ム・ノd、4(4+)d)であり、
し九がりてCAI−CAjとCA2との比をとあと、 CA1−CA、701g−Δ4/d とな9、変位量ノーを静電容量値の変化として検出する
ことがで自る。これらの式からも明らかなように、変位
貴社静電容量のみの関数とiるから、電極間の霞電率中
浮遊容量の影響を受けず、このため容量によって機械的
な変位量を正確に検出すゐことが可能となる。
次に、このような検出層111にもとづく一定動作につ
いて、主に第3図およびgsaoを参照して説明する。
初期状11K>%Aては、μmC0M演算1路7からは
モード選択信−jl) Pot 、 PO2t!与えら
れず、1ノセット信号P03 Kよってカウンタ(c’
ri)41Pよびタイ″v−5はリセット秋11に&る
。ここで、ll5IlI(へ)の如きコンデシ?C1O
測定モード信号が与えられ、第S@に)の如(す七ット
信号PO3が解除されると、コンデシtc1 、スイッ
チ8W21.ff1l、抵抗R%電@VDD1にる径路
が形成されるOて、コンデシ?C1がasssて示富れ
るように充電される=t1時°関iueこの充電々8E
が7vッグ7IwツブQl K)スレッシ凰ホールド電
圧−x t jlI JL &と、該7vツグ70ツグ
Q1が七ット畜れ、その出力端子qより出力が得られゐ
、この出力は抵抗R1およびコンデシすC9に与えられ
るとと%に、アナaグ×イッチffl Kも与えられ為
・その結果、スイッチffl 2が開放されて抵抗凰f
とコンデシtcfによる充電回路が形成される。tkか
、このときスイッチl!Wl 1が点IsO位置へ切替
えられ、コンデシtc1 o放電が行なわれる。コンデ
シナC1の充電々圧が*5Sa(へ)で示畜れるように
、所定時間t(5後に所定の値Knると、717ツプ7
wツブQlはクリアされ、そO結果、7シツプ70ツブ
Qlからは第5図(へ)の如自一定幅(tC)の出力パ
ルスが得られる。なお、7リツグ70ツグQlのνセッ
トによってア?Wダスイッチ閉もオフとなるので、スイ
ッチay1震t!j1311の如■状mK復帰し、コン
デシナCfの放電絡路を形成する・上記の時間11はコ
ンデンナcl訃よび抵抗翼の大き一’gK移儒す為から
、7リツグ7窃ツグQl O出力からは=yfyすC1
の容量に比例した周波数のパルス信号が得られることに
なる@こOパルス信号はカウンタ4によって計数され、
所定黴に達す為と1111m1(へ)に示畜れる如きパ
ルス(カウントUP出力)を尭してメイ!−6を*5i
Il(ト)の如く計数停止させるmlタイマーは先0リ
セット信号POsの解歎とと4にパルス発生回路6かも
のタロツクパルスを計数してsPj、該計黴曽果がカウ
ンタ4からOカラン)UP信号を受妙えμ−COM演算
回路γによ)端子pt、o−pxxsを介して就職られ
る。
ζ〜で、上記ツリップツ■ツブQl Oスレッシエホー
ルド電圧をV慴1.!:すれば、1 VTII−VDDCl   m″″18丁)として表わ
され、し友がってコンデンサC1の充の如(表わされる
0 また、上記の時間1c も同様にして tc−RfCfjag@(1−、、、−)  。
として表わされる。なお、Rf=Cfの値は既知でTo
す、し九がって10社一定の値である・したがって、コ
ンデンサCIの充、放電動作を1回カウントする迄の基
準クロッ〜り発生回路6からのり回ツタパルスを数える
ことによ)、すなわちタイマー5からの出力によってコ
ンデンtc1による充放電時間Tlを求めることができ
ゐ・この充放電時間す1#i第5因に)からも明らかな
ように、充電(tl)は1回であるのに対して放電(t
c)は(31−1)回であるから T1− ail十(n −1)tc  =・”・””−
・”(1)として求めることができる。なお、このよう
にa回カウントするのは、□・時間測定カウンタ(C’
r2 。
C70)の分屏能゛を上げるえめでToLその数鳳は基
準り關ツク発生i路60出力周波数、抵抗罵O抵抗値ま
た社ツンデν?C1の容量値等に′応じて適宜選択され
る。
このようにして、=ンデンナC1の充放電時間!1を求
め良後、μmC0M演算回路7は信号POIオたfdP
02によって不イツチlW21を切換えてコンデンサC
tの検出毫−ドとし、コンデンtc20充放電時間!!
を測定する。ζO場場合動作態様は上記と食(同様で6
9、そのタイムチャートは落!S図の右半分に示されて
いる。なか、充放電時間Tlは<1)式と同様にして Tl−跪tR+(m−1)tc  ==”””−一■と
なる・ J−COM 演算gi路?M#i、上1e(1) 、 
(1)式より次の如き演算を行なう・ と01式は先O鳳珊閣にシける説明からも明らかなよう
に、変位に比例するから、μmC0M演算回路7では上
記の如き演算を行なうことによってその変位を測定する
ことが17きる。
なお、上鮎ではコンデン?C1,C,0容量を差動的に
変化させることによ)機械的な変位量、例えば差圧JP
を測定するようにしたが、第611に示されるように、
コンデンサの一方(C2)を固定とし、他方(C1)を
可変とするもOKついても同様に適用しうみこと#i、
先OMH4rllJの説明からも明らかである。ただし
、この場合は上記の差圧JPのかわ〕に圧力Pを求める
こととなplその演算式〜 はよ記と同様にして次のよ
うに表わされる舜C1−c、T1−T象 C2T2−(ト1)t(””””°″″″′(至)上記
の実施例においては、機械的な変位量を静電容量値に変
換して横巾するようにし九が、こりを抵抗、周波数1+
は電圧に変換して検出すゐことも可能である。
第7〜9図は検出部の他の!施例を示す回路図で、第7
脂は抵抗値に変換する場合、第8図は周波数−変換する
場合、そして第9図は電圧値に変換して検出する場合を
それでれ示すものであるにれら0111に&いて、ラン
ダン?Cの容量値および抵抗RCの抵抗値はともに一定
でるp%オたスイッチIW1tJW!1および7リツプ
フロツグQ1は第3111IIJIIf#に示される虻
のと同様のものである・ 第7図(&)〜(・)Kおける検出M通はいずれも容量
による検出1ullと金(同様であって、充放電時間が
抵抗とコンデンサとのIIK比例することを利用して、
ここでは抵抗値を検出するようにしたものである・すな
わち、岡!pH伽)に示されるものはスイッチff! 
1をlx*に倒してその充放電時間!1を測定(なお、
一定され10社厳密には充電時間だけであゐ・)し、次
KRc94′に@して同様に充放電時間T2を求め、 なる演算によりてIX o@抗値を求める・同じく同1
%il(・)に示1れるも0は、先の実#RKおけるコ
ンデンサ01 a CHを抵抗R1e RHK Jfp
 11か克たものに相当するから、その演算式もの如く
全く同様に表わされることになる。
また、同図伽)に示されるものはライン抵抗Rjが変動
する場合である・したがって、スイッチ8W21を順次
切替えることによりてRX+ 2RL。
2R4sI−よびRCKよるそれぞれの充放電時間Tl
T2°およびT5 を求め、′ なる演算式よp抵抗値RXを測定する。
第8図においては、検出部にてすでに周波数に変換され
ているから、第3図実施例の如き周波数変換回路は不要
となp11重部からの出力は適宜増巾されて直接カウン
タへ導入される。この場合、カウンタが所定数N4計数
する迄にどれだけの時間Tがか\るかを演算することに
よってその周波数(N/T )を求めることができる。
第**は電圧11に変換して検出する場合であって、コ
ンデンtOK一定の電流(1)を流して充電を行ない、
該充電による電圧を演算増巾a opz 。
一方に4え、tラ一方には演算増巾110PIKよって
増巾畜れえ入力電圧M!を導入し、該入力電圧′111
光電々圧f超え九とき7リツプ7■ツグQ1を七ットす
ゐようにし良ものである・コンデンサCKよる充電は一
定OSmで行なわれるOK対し入力電圧レベル鳶!が変
動するので、電圧値に応じた時間信号を得ることがで自
る・ζこで、スイ゛ツチ1lW21′が図示O状1にあ
るときの時間l1li!出力をT−1図示とは反対側の
状態に切替ええときのそれをilとすると。
?、 −Tl −CIC/I @’ 111なる演算に
よって電圧値鳶lを求めることができる。ζ−に、鳶1
は一定電圧、!はコンダン?Cに卑見られる電流、Cx
は;ンデン?Cの容量値で豪る・  ′ このように−構成される一定装置と中央処理装置($1
111参照)との情報伝送にりいて、以下に説明する。
第10図は測定装置と中央処理装置CPUとの間で授受
される情報の形式を示す構成図で、(a)は制御情報C
1B′を示し、am>はCPUから測定装置に対して測
定レンジ設定を行なう場合(以下、レンジ゛設定モード
と4いう・)の情報形式を示し、(@)は測定データを
一定装置からcpυへ送出する場合(1111定モード
ともい、う。)の情報形式、(d)はCPUよシレンジ
設定情報を受は九ことをチェツタのために測定装置から
CPUへ返送する場合の情報形式をそれぞれ示すもので
ある。また、第11図は測定装置とCPUとの間で行な
われる情報の送、受信動作を示す・IイムチャートでT
oす、Ill 21!1は測定装置の送、受信動作を説
明するフローチャートである。  ・ 第1oa(a)に示される如く、゛制御情報C8はスタ
ートピッ)8T(Dg)、各測定装置に領有な誉号な示
すアドレス情報AD(D’l〜Ds )、II定モ′−
ドであるかレンジ設定モードであるかを示すモード情報
MO(f)、)、予備情報ムv(o5〜Di)およびパ
リティビットPA(D7)  より構成される・測定モ
−ドの場合は、岡II←)の情報をCPUから一定装置
へ送ることにより%アドレス指定された所定の測定装置
から阿II(・)O加電制御情報CBと測定データDム
とがCPUへ送られる・なシ、スタートビット8!によ
ってすべての測定装置が同11Kjllli畜れるが、
アドレス指定を受けなかった一定装置はJ5fii時間
INK動作を停止する。盲た、レンジ設定毫−rの場合
は、IIji!装置に岡110t)0如自制御情報CM
が与えられたのち、さらに所定の時間経遥后にスター)
ビット■!を含訃ゼ■点情@zlとスパン情報IIPと
が4見られ、・これによって測定装置は開園(句の如(
同様の情報を返送することによりレンジ微意情報を正し
く受信し良旨Cデυへ報告する。
第111IK示畜れるように、 CPUから同図(へ)
のような制御情報が与えられ、制御情報Cl1lKよっ
て例えば一定装置!11 声、11次制御償号Catに
よって橢i!羨置1肱事選択されるもめとすると、調定
装置T翼l訃よびガ区は同図(ロ)の如く所定の時間後
に情報Ca1l 、 C#Kを受信し、これによって一
定装置TE1は同図f−ウの如く動作し、また一定装置
TRKは情報CIIIKては所定時間T5後に動作を停
止し、情報C3KKよって始めて同図に)のように動作
する。この場合、CPUからの情報送出間隔τ(同E(
へ)参照)が、測定装置の受信完了動作時間11(同図
(ハ)参照)よ)も大きく、かつ同一アドレスの測定装
置を呼出す1ナイタルの時間丁2 (測定装置1台8え
りの測定演算時間)よりも大きければ、測定装置のアク
セス時間々隔または選択順序を自由に設定して情報の伝
送を行なうことがで自るtのである・ なお1.si定装置における送、受信動作を含む動作の
詳IImは次の如くである。
以下、l11211を参照して測定装置(トランス建ツ
タ)の動作にりいて説−する、 。
トランス電ツタ内の処理装置声−COMは上位計算機C
PUの割込み信号(スタート信号)Kよって起動され■
)、第10図の如自入力信号(制御情報)を読取り(■
)、該入力信号によって自分のアドレスが指定されてい
るか否かを調ぺ(@)、自分Oアドレスてない場合は、
伽のトランス電ツタへ与りられるレンジ設定情報を受信
して誤動作しないように、所定の時間を確保して・01
次の割込み待ち状態とする頓ω・一方、上配入力信4#
によって自分のアドレスが指定されている場合には、測
定毫−ドであるか否かを調ぺ■)、測定モードでtk%
fh場合はレンジ変更のための入力データを読取# (
@)、 ll[職りえデータo*gのためにパネル儒o
 cpuへ返送し唾v1傭の入力信号によって誤動作し
ないように、偽の入力信号があり良tとを確認し良Oち
−、所定O11間を確保してφv1割込み待ち状態とす
尋0)・上記(0)Kかいて測ji!噌−ドであると判
定されたと@は、前園の演算結果を直列に伝送する(■
)とともに、所定の演算を行なうぺ(充放電時間!1の
測定を行な−C@)、必要に応じて時間!tを測定しく
■)1これら測定結果にもとづ−て所定O演算を行なう
(■)・次いで、ゼElおよびスパン補正を行ない0)
、また、同様に温度による4msスパン補正を行なう@
)。
その後、パネル儒CPUから既に送られて来て−るレン
ジ設定情報にもとづいてレンジの調整をしく0、會えメ
ンピングが生じていれば所定の演算式にもとづ(メンピ
ングの補正を折々う@)。次いで温度を測定し0)%パ
ッチシミ圧の測定を行ない@)、以下上述の如く傭の入
力信号によう″C轟該トランス建ツタが誤動作しないよ
うに1他の入力信号がめり良ことを確認して@)から、
所定の時間を確保したのち@)1、割込み待ちとすゐ[
相])。
以上のように、この発明によれば、一定装置をディジタ
ル化することによって測定精度の向上をはかることが可
能とな9、まえ、一定装置と上位処理装置との間を光伝
送路にて結合し、咳伝送路を介して光伝送を行なうよう
にし九からノイズ中ナージ等の影響を受けない高信頼度
の伝送がで自る。tた。一定装置と上位処理装置との間
をスターカブa)Kよって光結合するようにしたので、
伝送路の本数または距離を低減させるこ七がで自為ため
経済的な効果が大であるとともに、測定装置が績続釣に
結合されるものに比べて、1台の測定装置の故障による
影響が−に及ばないという刹点を有するものである。
オた、cpυから測定装置へ伝送する情報形式を費える
ことによeiw定レンジ設定またはダンピングの設定、
場合によりてはゼa、スパンの調整をCPU儒から行な
うことも可能である・
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例を示す全体構成■、第2図は
測定装置の概略構成を示すブロック閣、第3因は測定装
置の詳細構成を示す回路図、第4図は変位量を容量値に
変換して検出する検出原理を説明する原理図、第511
は第3図の動作を説明するためのタイムチャート、第6
図は容量検出部OIkの実施例を示す回路図、117W
J1!抵抗検出部の実施例を示す絡路図、第811Iは
周波数検出部の実施例を示す回路go、ms図は電圧検
出部の実施例を示す回路図、1110因は測定装置と中
央鵡理装置との間で授受される情報の形式を示す構成図
。 第11図は測定装置と中央麩理装置との間の送−受信動
作を説明するタイムチャート、*xzaは@足装置の全
体動作を示す70−チャートである・符号説明 1・・・検出部、2−・検出部選択−路、3−周波数変
換園路%電−・カウンタ、5−タイーt−%s−a準ク
ロック発生−路、7−μmcoalljlllj1.8
・・・光伝送−路、9・・・パッチV電源口路、10−
キーボード、11・−り罵り異常ON検出回路、12−
・スタンバイ毫−ド1路、 cii−集中管理室、CP
U・−・中央smut%CO−・変換部、8C−スター
カプラ、i翼−・測定装置、0FII 、 OFM−・
・光ファイバ、Ql−79ツグ70ツブ、IIWI、8
W2−7すll/スイッチ、CTI−CTS−カウンタ
、ILy a ILy −”電極、OPI 、 OF2
−・演算増巾器代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎   清

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一履量を一定する鳳個のディジタル測定装置と、上位I
    &処理装置の間で双方向の光伝送路を介して光情報の伝
    送を行ないうるようにし九光による一定情報伝送方式で
    番って、光伝送路を介して双方向に伝送畜れ為光情報を
    1;鳳に光分岐し、かりm!IK光結合する光分紋、結
    合手段を介して1つの魁理装置とallO測定装置とを
    光結合し、これら偵置間で測定情報を時分割多重化して
    伝送するようにし九ことを特徴とする光によゐ測定情報
    多重伝送方式。
JP56118414A 1981-07-30 1981-07-30 光による測定情報多重伝送方式 Pending JPS5819994A (ja)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56118414A JPS5819994A (ja) 1981-07-30 1981-07-30 光による測定情報多重伝送方式
US06/402,377 US4531193A (en) 1981-07-30 1982-07-27 Measurement apparatus
AU86518/82A AU549860B2 (en) 1981-07-30 1982-07-28 Measurement apparatus
CA000408285A CA1220835A (en) 1981-07-30 1982-07-28 Measurement apparatus
BR8204472A BR8204472A (pt) 1981-07-30 1982-07-29 Aparelho para medir uma quantidade fisica e fornecer dados de medicao correspondentes
DE8484114777T DE3279510D1 (en) 1981-07-30 1982-07-30 Measurement apparatus
DE8282106917T DE3274495D1 (en) 1981-07-30 1982-07-30 Measurement apparatus
EP82106917A EP0071912B1 (en) 1981-07-30 1982-07-30 Measurement apparatus
DE19823229010 DE3229010A1 (de) 1981-07-30 1982-07-30 Digitale messeinrichtung fuer eine physikalische groesse
EP84114777A EP0159401B1 (en) 1981-07-30 1982-07-30 Measurement apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56118414A JPS5819994A (ja) 1981-07-30 1981-07-30 光による測定情報多重伝送方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5819994A true JPS5819994A (ja) 1983-02-05

Family

ID=14736052

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56118414A Pending JPS5819994A (ja) 1981-07-30 1981-07-30 光による測定情報多重伝送方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5819994A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59231994A (ja) * 1983-06-14 1984-12-26 Shin Meiwa Ind Co Ltd 光信号による遠隔制御装置
JPS603099A (ja) * 1983-06-20 1985-01-09 株式会社エスジ− アブソリユ−ト位置検出装置
JPS60109940A (ja) * 1983-11-18 1985-06-15 Kinki Denki Koji Kk 光多重伝送方法並びにそのシステム
JPH0398200A (ja) * 1989-09-11 1991-04-23 Fuji Electric Co Ltd 分離形信号表示装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59231994A (ja) * 1983-06-14 1984-12-26 Shin Meiwa Ind Co Ltd 光信号による遠隔制御装置
JPS603099A (ja) * 1983-06-20 1985-01-09 株式会社エスジ− アブソリユ−ト位置検出装置
JPH059839B2 (ja) * 1983-06-20 1993-02-08 Esu Jii Kk
JPS60109940A (ja) * 1983-11-18 1985-06-15 Kinki Denki Koji Kk 光多重伝送方法並びにそのシステム
JPH0398200A (ja) * 1989-09-11 1991-04-23 Fuji Electric Co Ltd 分離形信号表示装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4531193A (en) Measurement apparatus
Holland When are item response models consistent with observed data?
US20170300148A1 (en) Capacitance measurement circuit
JPS5990197A (ja) フイ−ルド計装システム
JPS5819994A (ja) 光による測定情報多重伝送方式
JPS5829096A (ja) プロセス変数伝送器
CN1731207A (zh) 无源隔离的蓄电池电压监测电路
US20190310296A1 (en) Sense circuit for piezoresistive sensor, circuit including array of piezoresistive sensors, and operation method thereof
WO1987006035A1 (en) Parity detection system for wide bus circuitry
US3105883A (en) Pressure transducer testing circuit
CN112887047B (zh) 一种计算机集群中传递时钟信号的系统和方法
RU2363963C1 (ru) Многоканальная система для предупреждения о возникновении сейсмических толчков и цунами
TWI459268B (zh) 觸控感測裝置
CN211504356U (zh) 防作弊电子秤
TW201246040A (en) Touch sensing apparatus
JPS5819997A (ja) 測定装置
JPH0332954B2 (ja)
WO2018112861A1 (zh) 电容检测电路及电子装置
JPS6322696B2 (ja)
SU1474664A2 (ru) Устройство дл сопр жени вычислительной машины с каналами св зи
SU1476478A1 (ru) Устройство дл подключени абонента к общей магистрали
SU1256074A1 (ru) Информационно-измерительное устройство
SU432572A1 (ru) Многоступенчатое устройство для телеконтроля
RU11887U1 (ru) Базисный фотометр
SU1136333A1 (ru) Многоканальное резервированное устройство