JPS58190708A - Reference position deciding system in x-y two-dimensional picture - Google Patents

Reference position deciding system in x-y two-dimensional picture

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JPS58190708A
JPS58190708A JP57071498A JP7149882A JPS58190708A JP S58190708 A JPS58190708 A JP S58190708A JP 57071498 A JP57071498 A JP 57071498A JP 7149882 A JP7149882 A JP 7149882A JP S58190708 A JPS58190708 A JP S58190708A
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Japan
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coordinate
reference position
coordinates
scanning
image
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JP57071498A
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Matsuhiko Takatani
高谷 松彦
Koichi Oki
孝一 大木
Michiaki Miyagawa
宮川 道明
Naoto Fujiwara
直人 藤原
Tadayuki Yamada
忠幸 山田
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
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    • G06V10/40Extraction of image or video features
    • G06V10/50Extraction of image or video features by performing operations within image blocks; by using histograms, e.g. histogram of oriented gradients [HoG]; by summing image-intensity values; Projection analysis
    • G06V10/507Summing image-intensity values; Histogram projection analysis

Abstract

PURPOSE:To enhance the precision of determination of the reference position by a method wherein wind regions are set through selection of positions suitable for determination of coordinates in X and Y directions in view of the shape of the picture, and coordinates are determined by making use of binary-coded scanning output signals. CONSTITUTION:A wind region W2 (a,b,c,d) is set at a position suitable for determination of Y coordinates value, while another wind region W1 (e,f,g,h) is set at a position suitable for the determination of the X coordinates value. In the region W2, the picture 7 is scanned in the X-axis direction for each Y coordinates value, and the lengths of segments of this horizontal scanning are measured. The Y coordinates value YSY of the reference position is determined as the Y coordinates value which is the fourth as counted from the Y coordinates value at which a predetermined threshold value is exceeded from the first time. Then, X coordinates values of the rising points in the wind region W1, along the vertical scanning lines at both sides of a Y coordinates value YDX. The mean value of these X coordinate values is determined as the reference position.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、パターン検査などのために工業用テレビカメ
ラ(以下ITVカメラと記す)によ)撮像し之直交X−
Y2次元ij儂中の成る基準となる位置の座標を定義す
るX−72次元1ilii4a中の基準位置決定方式に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides orthogonal X-
This relates to a reference position determination method in the X-72 dimension 1ilii4a that defines the coordinates of a reference position in the Y2 dimension.

第11は撮像画面の説明図である。同一において、1#
′1iTVカメラによる撮1#画面、2は物体像である
。画面1は互いに直交するX座標、yi*により表わさ
れる。カメラによる走査は、X方向に水平走fが、Y方
向に垂直走査がなされる。
The eleventh is an explanatory diagram of the imaging screen. In the same, 1#
'1 Screen #1 taken by the iTV camera, #2 is an object image. Screen 1 is represented by mutually orthogonal X coordinates, yi*. The camera performs horizontal scanning f in the X direction and vertical scanning f in the Y direction.

Y座標がYlである直線りに沿って画面を走査 。Scan the screen along the straight line whose Y coordinate is Yl.

したときに得られる撮像信号の波形は第2図0)に示す
如くであり、またその2[E比出力は第2−←)に示す
如くである。
The waveform of the imaging signal obtained when doing so is as shown in FIG. 2 (0), and the E ratio output is as shown in (2).

さて、w&1図において、画面1内における物体像2の
ジは、例えば該像2の左上の角の点8によって代表して
表わすことができる。すなわちS点のX座標、X座標が
求まれば、物体像2の形状自体は一定で既知であるとす
ると、[2内のどの位置も求めることができる・ 所で1jiifa技術の応用として検ll:がある。例
tげ第1囮の2で示すような四角な同一形状の物体がコ
ンベヤベルトにょシ順次搬送されているものとする。こ
のとき、最初ITVカメラにより、成る良品の物体を撮
像して撮像結果をメモリに記憶しておき、次に搬送され
てきた物体を撮像したとき、その撮像結果とメモリに記
憶されている撮像結果とを比較することによp1搬送さ
れてきた物体が傷のない良品であるか否かを検査するこ
とができる。
Now, in the w&1 diagram, the angle of the object image 2 within the screen 1 can be represented, for example, by a point 8 at the upper left corner of the image 2. In other words, if the X coordinate and : There is. For example, let us assume that rectangular objects of the same shape as shown by 2 of the first decoy are being sequentially conveyed on a conveyor belt. At this time, the ITV camera first takes an image of a good object and stores the imaging result in the memory, and when the next time the transported object is imaged, the imaging result and the imaging result stored in the memory are used. By comparing p1 with p1, it is possible to inspect whether the transported object is a good product with no scratches or not.

このような検査のための比較の際、*?71に良品を撮
像したときの一面内儂位置と、次に搬送されてきた物体
を撮像したときの画面円像位置とかずれていると、単純
な比較では良品を不良品と誤判定することが起こりうる
。このようなとき、第1因における物体像20基準点と
してのS点の座標が搬送されてきた物体の像において容
易に求まれば、この座標?用いて像位置を修正すること
ができるから、同一の画面内像位tVCあるものとして
前述の比較を行ない、1判定を避けることができる口 このような次第で必要となる1iii面内の[Kおける
成る基準位置の決定は、従来は、例えば第1図において
、iTVカメラにょ勺水平走査、垂直走査を行なって最
初に画像信号が走fm上に出現する点をとらえ、この点
のX座標X、とY座標Y8を基準位置となるS点の座標
として定義する方式によるものであった。
When comparing for such tests, *? If there is a discrepancy between the in-plane position when a non-defective product is imaged at 71 and the screen circular image position when the next image of the transported object is taken, a simple comparison may incorrectly determine a non-defective product as a defective product. It can happen. In such a case, if the coordinates of the point S as the reference point of the object image 20 in the first factor can be easily found in the image of the transported object, then these coordinates? Since the image position can be corrected by using Conventionally, the reference position is determined by scanning the iTV camera horizontally and vertically as shown in FIG. , and the Y coordinate Y8 is defined as the coordinate of point S, which is the reference position.

しかし、かかる従来の方式には次のような欠点があった
。先ず、物体像の始点SのX座標を撮像信号の立上り位
置の検出により決定しているので、撮像信号にノイズが
含まれていると、そのノイズの出現した位置を始点Sの
X座標と#4刊定してしまい、ノイズに弱いという欠点
がある。このことを第3−を参照して説明する。
However, this conventional method has the following drawbacks. First, the X coordinate of the starting point S of the object image is determined by detecting the rising position of the imaging signal, so if noise is included in the imaging signal, the position where the noise appears is determined as the X coordinate of the starting point S. It has been published in four editions and has the disadvantage of being sensitive to noise. This will be explained with reference to No. 3-.

第3図はノイズを含む撮fa画面の一例を示す説tj8
図である。同図において、3はノイズを、4は物体像を
示す。同図で明らかなように、撮像Iii面内に物体@
40外にノイズ3が図示O如き位置にあると、ノイズ3
t−走査し九ときに得られるY座標Y1とX座標a1 
(alはノイズ3の先端のX座標を示す)を物体像の始
点の座標と誤決足してしまう。
Figure 3 shows an example of a photographed fa screen containing noise.
It is a diagram. In the figure, 3 indicates noise and 4 indicates an object image. As is clear from the figure, there is an object @
If Noise 3 is located outside 40 at a position such as O shown in the diagram, Noise 3
Y coordinate Y1 and X coordinate a1 obtained when performing t-scanning
(al indicates the X coordinate of the tip of noise 3) is mistakenly determined to be the coordinate of the starting point of the object image.

従来方式の第2の欠点は、物体像の始点のX座標を、T
座標を見出した位置で決定しているので、物体像O形状
によってはX座標の誤差が大きくなることである。この
ことをJR5図を参照して説明する◎ 第5allに見られるように、物体像5が、X方向に入
p組んだ針山状の形状を上端部に有している場合、X方
向走査線のX座標位置がYlからYlへと、僅か一本ず
れただけで4.X座標位置はxlからxlへと大幅に変
動している。この丸め、このような形状の物体像におい
ては、−tの始点のX座標の誤差が大きくなる可能性が
ある。なお、かかる形状に近い物体としては、多数のビ
ンを突出させているコネクタとかIC(集積回路)部品
とか、或いは羽毛のような物品とか、色々のものを挙げ
ることができる。
The second drawback of the conventional method is that the X coordinate of the starting point of the object image is
Since the coordinates are determined at the found position, the error in the X coordinate becomes large depending on the shape of the object image O. This will be explained with reference to Figure JR5.◎ As seen in 5th all, when the object image 5 has a convoluted pincushion shape in the X direction at its upper end, the X direction scanning line If the X coordinate position of is shifted by just one line from Yl to Yl, 4. The X coordinate position varies significantly from xl to xl. In this rounded object image with such a shape, there is a possibility that the error in the X coordinate of the starting point of -t becomes large. Objects similar to this shape include various objects such as connectors with a large number of protruding bottles, IC (integrated circuit) parts, and feather-like objects.

X座標の誤差が大きくなるという欠点は、第5図に示し
た形状ばかシでなく、N6図に示した如き、円形の物体
像6についてもあてtitまる・累6図において、X座
標の僅かな変化量ノYに対してX座標の変化量jXが大
きい仁とに注意されたい。
The drawback that the error in the X coordinate becomes large applies not only to the shape of the object shown in Fig. 5, but also to the circular object image 6 as shown in Fig. N6. Please note that the amount of change jX in the X coordinate is large compared to the amount of change Y.

一般に、カメラ視野(撮像画面)内の照駅を全体に均一
化することは困難である0このような事情によシ、物体
像領域内の場所によっては、儂の信号レベルと背景の信
号レベル或いはノイズの信号レベルとが同程度の所があ
り、このような場所でFi儂と背景とO境をなす縁部の
検出が困難である。他方、逆Kmの信号レベルと背景の
信号レベルが大きく相違し、縁部の検出が容易な部分も
どこかにある場合が多い。しかるに従来の方式でtit
、物体像の始点のX座標を、必ずY座標検出位置で決定
しておシ、場所的に固足したや9方であったから、その
場所が上述の如き、縁の検出し難い場所にあったときF
i誤差が大きくなるという欠点があった。
In general, it is difficult to uniformize the illumination throughout the camera field of view (imaging screen).Due to these circumstances, depending on the location within the object image area, the signal level of oneself and the signal level of the background may differ. Alternatively, there are places where the signal level of the noise is about the same, and in such places it is difficult to detect the edge that forms the boundary between Fi, the background, and O. On the other hand, there is often a large difference between the signal level of the reverse Km and the signal level of the background, and there is also a portion somewhere where the edge can be easily detected. However, the conventional method
, the X-coordinate of the starting point of the object image must be determined at the Y-coordinate detection position, and since the location was fixed on the 9th direction, the location may be at a location on the edge where it is difficult to detect, as described above. Tatoki F
This has the disadvantage that the i error increases.

かかる欠点を改善するための撮am面1こおける儂の基
準位置決定装置が、特願昭56年第195671号にお
いて提案されている。
In order to improve this drawback, a device for determining a reference position within one AM plane has been proposed in Japanese Patent Application No. 195671 of 1982.

それによれば、物体偉の基準位置を表わす点の座標Xと
Yを、画像上の同一点に対応するX座標、Y座標とする
のでなく、両者を分離し、それぞれ形状によって誤差の
少ない位置を選んでxisとY座標を別aK定めるよう
にし、しかもY座標の決定は、X方向l走査期間におい
て所足期間長を超えて、所定の#!1のしきい値レベル
を超える像信号レベルが検出されたとき、6該走査のY
l!標をもって行ない、X座標の決定は、誤差の少ない
場所、縁の検出が容易な場所を選んで、X方向走査時に
おける撮像信号が第2のしきい値レベルを超える立上9
位置のX座標をもって行なうようにしている。
According to this, instead of setting the coordinates X and Y of the point representing the reference position of the object as the X and Y coordinates corresponding to the same point on the image, they are separated and each position is determined with less error depending on the shape. The xis and Y coordinates are determined separately aK, and the determination of the Y coordinate exceeds the required period length in the X direction l scanning period, and the predetermined #! When an image signal level exceeding the threshold level of 1 is detected, 6 Y of the scan is detected.
l! The X coordinate is determined by selecting a location with little error and a location where edges can be easily detected, and determining the X coordinate at a point where the imaging signal during scanning in the X direction exceeds the second threshold level.
This is done using the X coordinate of the position.

上記提案にかかる像の基準位置決定装置の原理をもう少
し具体的に説明する。
The principle of the image reference position determination device proposed above will be explained in more detail.

第4図fm、第3鵬におけるY座標がYlである水″v
2インLl に沿って走査したとき得られる撮像信号の
2H化出力の波形図であり、纂4図仲)は同じく、ym
*がYlである水平フィン(8点、b5点を含む)に沿
って走査し九ときに得られる撮gI!信号の2値化出力
の波形囚である。tた第3図において、Y座標を求むべ
き始点8は、該8点を含む水平走査ラインに沿って走査
することによシ得られる撮壕信号のレベルが、少なくも
距離Nにわ念ってPfr定しきい値を超える点と足めて
おく。
Figure 4 fm, water whose Y coordinate in the third peng is Yl ″v
This is a waveform diagram of the 2H output of the imaging signal obtained when scanning along the 2-in Ll.
Photograph gI obtained when scanning along the horizontal fin (including 8 points and b5 points) where * is Yl! This is the waveform of the binary output of the signal. In FIG. 3, the starting point 8 for which the Y coordinate is to be determined is determined by scanning along a horizontal scanning line that includes the 8 points. Let us consider that the point where Pfr exceeds the fixed threshold value.

このようにすれば、第4図(イ)から分かるように1第
3内におけるノイズ3や像の突出部a2− b2を始点
と誤決足することはなくなる。以上が、上記提案に&け
るY座標の決定の手法である。
In this way, as can be seen from FIG. 4(a), there is no possibility that the noise 3 or the protruding portions a2-b2 of the image in the first third are mistakenly determined as the starting point. The above is the method for determining the Y coordinate according to the above proposal.

次に第7図を参照され逢い。今、物体g17が内示の如
き形状であるとすると、光漏領域81においては、Y座
標は上述の手法を用いることによシ、例えばY、と決定
できるが、X座標は誤差が大きくな9求め崩いことは、
すでに第5mAを参照して詳述した。そこで物体儂7の
形状を見ると、S1領域からY座標にしてYLだけ離れ
′fic&2領域においては、Y座標の変化に対してX
座標は一定であシ、誤差なしにXI!M標を求め得るこ
とが有る。そこで82領域に$Pいて、水平走査を行な
うことによ)得られる撮像信号の立ち上夛が所定のしき
い値レベルを超えた点の座標Xtを求めてX座標とすれ
ば誤差の少ない値を得ることができる。しかも、Y座標
を決定するときに用いるしきい値レベルと、X座標を決
定するときに用いるしきい値レベルとを、それぞれの領
域の信号レベルの実態に応じて別個に定められるように
すれば、より適切な座標位置の決定が′Cきるというも
のである0本発明は、上述の如き既提案にかかる基準位
置決定装置の11w度を更に高めるためになされたもの
であp1従って本発明の目的は、従来よシ一段と精度の
高いX−Y2次元画像中の基準位置決定方式を提供する
ことにある。
Next, please refer to Figure 7. Now, assuming that the object g17 has a shape as shown, in the light leakage region 81, the Y coordinate can be determined as Y, for example, by using the method described above, but the X coordinate has a large error. What you don't want is
It has already been detailed with reference to No. 5 mA. If we look at the shape of object 7, we can see that in the 'fic&2 area, which is separated by YL from the S1 area in terms of Y coordinate, the X
The coordinates are constant and XI without error! Sometimes it is possible to find the M mark. Therefore, if we calculate the coordinate Xt of the point where the rising edge of the imaging signal obtained by placing $P in the 82 area and performing horizontal scanning) and exceeds a predetermined threshold level, and use it as the X coordinate, we can obtain a value with less error. can be obtained. Moreover, if the threshold level used when determining the Y coordinate and the threshold level used when determining the X coordinate can be determined separately according to the actual signal level of each area. , a more appropriate coordinate position can be determined.The present invention has been made to further increase the 11w degree of the reference position determining device according to the above-mentioned proposal. An object of the present invention is to provide a method for determining a reference position in an X-Y two-dimensional image that is more accurate than the conventional method.

本発明の構成の要点は、画面に訃ける画1#!の形状か
ら見て基準位置のY座標を決定するに適し九場所とX座
標金決足するに適した場所を選んでそれぞれウィンド領
域を設定し、該領域内を走査して得られる走査出力の2
@[化信号を用いて座標を定義するようにした点にある
The main point of the configuration of the present invention is that the image 1# that appears on the screen! Select a location suitable for determining the Y coordinate of the reference position and a location suitable for determining the X coordinate based on the shape of 2
@[It is at the point where the coordinates are defined using the conversion signal.

耐8図を参照して本発明の原理を詳しく説明する。The principle of the present invention will be explained in detail with reference to Figure 8.

第8囚は本発明の動作原理を説明するための第7図と同
様な貌明図である。Y座標を決定するのに適した場所に
ウィンド領域W2 (a 、 b r cr rd)を
、X座標を決定するのに適した場所にウィンド領域W1
(・、f、g、h)を内示の如く設定する。
The eighth figure is a perspective view similar to FIG. 7 for explaining the operating principle of the present invention. Wind area W2 (a, b r cr rd) at a location suitable for determining the Y coordinate, and wind area W1 at a location suitable for determining the X coordinate.
(., f, g, h) are set as indicated.

ウィンド領域W2において、像7を各Y座標位置毎にX
軸方向に走査して得られる水平走査出力のセグメント長
(例えばYSYというY座標位置に2いてはN)tut
測し、NO値が、それまでのY座標位置ではどの位置で
も所定のしきい値を超兄なかつ次のに、始めて所定のし
きい値を超えるに至ったY座標位置から、例えば連続し
て四つの座標位置において前記しきい値を超えたとする
と、その四つ目の座標位置(ここを仮にYSYならYS
Yとする)を131に位置のYJi像と足義する(唯今
の場合は、Y座標位置の進み方は、ウィンド領域W2に
おいて、下から上へ進むものと仮冗している)。
In the window area W2, the image 7 is
Segment length of the horizontal scanning output obtained by scanning in the axial direction (for example, N at the Y coordinate position YSY)tut
If the NO value exceeds a predetermined threshold value at any previous Y coordinate position, then the NO value exceeds the predetermined threshold value for the first time, for example, continuously. If the threshold value is exceeded at four coordinate positions, then the fourth coordinate position (if YSY, YS
Y) is assumed to be the YJi image located at 131 (in this case, the Y coordinate position is assumed to advance from bottom to top in the window area W2).

四つとし九のは、これに限るわけではなく、唯複数にす
る方が、ノイズに強いからである。しきい僅の足め方は
、儂の形状などによ多任意、適宜でよい。
The reason for ``four'' and ``9'' is not limited to this, but it is because it is more resistant to noise if there is only one number. The threshold value may be determined arbitrarily and appropriately depending on the shape of the object.

このようにして基準位置のY座標位置YSYが足義され
たとする。すると次は、Y座標位置YSYからY軸に沿
って、予め設定されている所足距@N8(N8の選び方
は、像の形状等により任意に足める)だけ離れたY座標
位置YDX において、X軸方向に走査して得られる水
平走査出力のウィンド領域Wl内における出力を調べ、
それが立上る点(gIのNk)のX座mt求める。例え
ば、Y座標位@YDXを中心としてその上下方向、つま
シ±方向各8本の走査線上におけるウィンド領域Wl 
内の上記立上シ点の%Xjiilt求め、そo平M[(
mxナラxsxとする)を基準位置のX座標と定義する
。平均をとったのは1こうすることに1cm度が向上す
るからである。画111!がなければ、その分、平均を
とる走食線の数を減らす。このようにして基準位置のX
座標とY座標が定義される。
Assume that the Y coordinate position YSY of the reference position is established in this way. Then, at the Y coordinate position YDX, which is a preset distance @N8 (N8 can be added arbitrarily depending on the shape of the image, etc.) along the Y axis from the Y coordinate position YSY. , examine the output within the window area Wl of the horizontal scanning output obtained by scanning in the X-axis direction,
Find the point at which it rises (Nk of gI), mt. For example, the window area Wl is centered on the Y coordinate position @YDX on eight scanning lines each in the vertical and horizontal directions.
Find the %Xjiilt of the above rising point in
mx oak xsx) is defined as the X coordinate of the reference position. The reason for taking the average is that doing this will improve the degree by 1 cm. Picture 111! If there are no eclipses, the number of eclipses to be averaged will be reduced accordingly. In this way, the reference position
Coordinates and Y coordinates are defined.

ウィンド領域W1.W2のとり方により、画像における
適当な任意の場所を選んで、高n度に1準位置の座標を
定義することができる。
Window area W1. Depending on how W2 is taken, it is possible to select a suitable arbitrary location in the image and define the coordinates of the 1st quasi-position at a high n degree.

以上で本発明の動作原理が明らかになったと思われる。It is believed that the operating principle of the present invention has been clarified above.

WJ9幽は本発明の一実施例を示すブロック図である。WJ9Y is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

同図において、13Fi2m[化のためのコンパレータ
、14は4ImiILフィルタ、15はカウンタ、16
はラッチ回路、17はメモリ、18は変化点検出部、1
9はラッチ回路、20はメモリ、21はCPU、22F
iウィンド領域発生部、23ii’画素分割回路、であ
る。
In the same figure, 13 is a comparator for Fi2m[, 14 is a 4ImiIL filter, 15 is a counter, and 16
1 is a latch circuit, 17 is a memory, 18 is a change point detector, 1
9 is a latch circuit, 20 is a memory, 21 is a CPU, 22F
i window area generation section, 23ii' pixel division circuit.

次に動作を説明する。図示せざるiTVカメラからのア
ナログ信号ムがコンパレータ13へ入力され、適宜に設
定されたしきい値に従って2儀化され、ディジタル信号
Bとな9.1iii素分1111回路23を介して「と
して4@素フイルタ4に入力され、Cが出力される。4
1圃累フイルタというのは、4個の画素が連続してハイ
レベルにあるときだけ、出力するディジタルフィルタで
ある。かかるフィルタを設けることにより、4画素以下
の画素により構成されるノイズを除去することができる
Next, the operation will be explained. An analog signal from an iTV camera (not shown) is input to the comparator 13, converted into a digital signal B according to an appropriately set threshold value, and is converted into a digital signal B via the circuit 23. @Input to elementary filter 4, and C is output. 4
A one-field cumulative filter is a digital filter that outputs only when four pixels are continuously at a high level. By providing such a filter, it is possible to remove noise composed of four or fewer pixels.

4′m素フィルタ14からのこの出力Cを用いて被写体
(像)における基準位置のY座標ysy 、 x座標X
SXを発見する。まず4画素フィルタ14よ)出力され
た信号Cは、カウンタ15及び変化点検出部18に各々
入力される。カウンタ15には、第8図に示すウィンド
W2を作成する信号がウィンド領域発生部22よシ供給
され、ウィンド前2内の画像信号のみがカウンタ15に
入力される。
Using this output C from the 4'm element filter 14, determine the Y coordinate ysy and the x coordinate X of the reference position in the subject (image).
Discover SX. First, the signal C output from the 4-pixel filter 14 is input to the counter 15 and the change point detection section 18, respectively. The counter 15 is supplied with a signal for creating the window W2 shown in FIG.

このウィンドW2 Fi、先にも述べたように、画像を
より正確にとれる位置に設定できる。そしてこのウィン
ド前2内の画像を物足査線ごとにカウンタ15によって
画累数の計数を行ない、そのfilをラッチ16によっ
てラッチする。このラッチされたデーターは物足査線の
終シにメモリ17に入力される。11面分画像を走査し
た後このデーターによって、CPU21において、先に
説明したW理に従って基準位置のY座標Y8Yを求める
。また変化点検出部18にも@8図に示すウィンドWl
を作成する信号がウィンド領域発生部22より供給され
、ウィンドWl内のii!ii像信号のみが変化点検出
s18に入力され、そしてこのウィンドWl内の画gl
を物足査線ごとに走査することによp、変化点検出部1
8によって白/黒の変化点のX座標を求めラッチ19に
よって保持し、メモリlOに物足査線ごとに書込み、一
画面分走査した後このデータによって先に説明した原理
に従い、CPU21において、基準位置のX座@ XS
Xを求める。
As mentioned earlier, this window W2 Fi can be set at a position where an image can be taken more accurately. The number of strokes of the image in front of the window 2 is counted by the counter 15 for each scan line, and the fil is latched by the latch 16. This latched data is input to the memory 17 at the end of the scan line. After scanning the 11 images, the CPU 21 uses this data to determine the Y coordinate Y8Y of the reference position according to the W principle described above. In addition, the change point detection unit 18 also has a window Wl shown in Figure @8.
A signal for creating ii! in the window Wl is supplied from the window area generator 22, and ii! Only the image signal ii is input to the change point detection s18, and the image gl within this window Wl
By scanning p for each physical scan line, change point detection unit 1
8, the X coordinate of the point of change between white and black is determined and held by the latch 19, and written to the memory IO for each scanning line. After scanning one screen, the CPU 21 uses this data to determine the reference point according to the principle explained earlier. Position X @ XS
Find X.

以上説明した通り、本発BAICよれば、検査の対象と
なる画像の基準位置を、ウィンド領域を設けたことによ
り、高n度に定義できるという利点がある。
As explained above, the BAIC of the present invention has the advantage that the reference position of the image to be inspected can be defined to a high degree by providing a window area.

なお、本発明は、iTVカメラ画像画像液写体の基準位
置の位置決めは、パターン認識等による被写体の検査に
必要であるため、移動物体から成る製品等をiTVカメ
ラで検査する場合に応用される。
Note that the present invention is applicable to the case where a product consisting of a moving object is inspected with an iTV camera, since positioning of the reference position of the liquid object in the iTV camera image is necessary for inspecting the subject by pattern recognition etc. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は撮イ象画面の説明図、第2図に撮像信号の波形
とその2値化した結果を示す波形図、第3図はノイズを
含む撮像画面の−fIlt−示す説明図、第4図は第3
図の画面に対する撮儂出力の2値化信号の波形図、第5
図および第6図はそれぞれ従来技術の欠点を説明するの
に必要な物体像の形状を示した説明図、第7図は既提案
にかかる基準位置決定装置の動作原理を説明するのに必
要な物体儂の形状を示した説明図、第8図は本発明の動
作原理を説明するための第7図と同様な説明図、第9図
は本発明の一実施例を示すブロック図、である。 符号説明 13・・・コンパレータ、14・・・4画素フィルタ、
15・・・カウンタ、16.19・・・ラッチ回路、1
7゜20・・・メモリ、18・・・変化点検出部、21
・・・CPU、22・・・ウィンド領域発生部、23・
・・画素分割回路代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎   渭 第1図 館3!l 第2図 84図 S       b3 FA I’l−乙り62−4 禦5図        第6図 Aχ 11117図 特開昭5858−190708( 5)図
Fig. 1 is an explanatory diagram of the captured image screen, Fig. 2 is a waveform diagram showing the waveform of the imaging signal and its binarized result, and Fig. 3 is an explanatory diagram showing -fIlt- of the captured image including noise. Figure 4 is the third
Waveform diagram of the binarized signal of the camera output for the screen shown in Figure 5.
6 and 6 are explanatory diagrams showing the shape of the object image necessary to explain the shortcomings of the prior art, respectively, and FIG. FIG. 8 is an explanatory diagram showing the shape of the object, FIG. 8 is an explanatory diagram similar to FIG. 7 for explaining the operating principle of the present invention, and FIG. 9 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. . Code explanation 13... Comparator, 14... 4 pixel filter,
15...Counter, 16.19...Latch circuit, 1
7゜20...Memory, 18...Change point detection unit, 21
. . . CPU, 22 . . . Window area generation unit, 23.
...Pixel division circuit agent Patent attorney Akio Namiki Agent Patent attorney Akira Matsuzaki 1st museum 3! l Figure 2 84 Figure S b3 FA I'l-Otori 62-4 Figure 5 Figure 6 Aχ 11117 Figure JP-A-5858-190708 (5) Figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)犀いに直交するX座標とY゛座標より表わされる撮
像画面において儂の基準となる位置の座標信号を、前記
座標に沿って走査することにより得られる撮像信号の2
値化出力から求めて出力するX−72次元画像中の基準
位置決定方式であって、当該1m儂の形状から見て前記
基準位置のY座標を決定するに適した場所を含む第1の
ウィンド領域と同じくX座標を決定するに適した場所を
含む第2のウィンド領域を前記画像面に設足する手1′ 段と、(前記第1のウィンド領域においてX@方向走査
により得られる画像の一走査線毎のセグメント長を計測
し、計測された該セグメント長に基いて前記基準位置の
Y座標を定義する手段と、定義されたY座標位置からY
座標に白って所足距離だけ離れたY座標位置において前
記第2のウィンド領塘内t−x軸方向走査して得られる
帥紀2厘化出力の変化点からM記基準位置のX座標を定
義する手段と、を有して成ることを%徴とするX−Y2
次元画像中の基準位置決定方式。
[Claims] 1) An imaging signal obtained by scanning a coordinate signal of a reference position on an imaging screen represented by an X coordinate and a Y coordinate that are perpendicular to the rhinoceros, along said coordinates. 2
A first window that is a method for determining a reference position in an X-72-dimensional image obtained from the value output and output, and that includes a location suitable for determining the Y coordinate of the reference position when viewed from the 1 meter shape. step 1' of establishing a second window area in the image plane, which includes a location suitable for determining the X coordinate as well as the area; means for measuring the segment length for each scanning line and defining the Y coordinate of the reference position based on the measured segment length;
The X coordinate of the reference position M is calculated from the change point of the output of the second winding, which is obtained by scanning the second window area in the t-x axis direction at the Y coordinate position that is a certain distance away from the coordinates. and a means for defining X-Y2.
Reference position determination method in dimensional images.
JP57071498A 1982-04-30 1982-04-30 Reference position deciding system in x-y two-dimensional picture Granted JPS58190708A (en)

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DE19833315109 DE3315109A1 (en) 1982-04-30 1983-04-27 PATTERN DISCRIMINATOR
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60256004A (en) * 1984-06-01 1985-12-17 Matsushita Electric Works Ltd Testing device of soldered condition of chip part

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50124668A (en) * 1974-03-06 1975-09-30

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50124668A (en) * 1974-03-06 1975-09-30

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60256004A (en) * 1984-06-01 1985-12-17 Matsushita Electric Works Ltd Testing device of soldered condition of chip part
JPH0437923B2 (en) * 1984-06-01 1992-06-22 Matsushita Electric Works Ltd

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