JPS58185493A - 単結晶製造装置 - Google Patents
単結晶製造装置Info
- Publication number
- JPS58185493A JPS58185493A JP6535682A JP6535682A JPS58185493A JP S58185493 A JPS58185493 A JP S58185493A JP 6535682 A JP6535682 A JP 6535682A JP 6535682 A JP6535682 A JP 6535682A JP S58185493 A JPS58185493 A JP S58185493A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- plate
- single crystal
- crystallized
- solution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/30—Mechanisms for rotating or moving either the melt or the crystal
- C30B15/305—Stirring of the melt
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は単結晶製造装置、特に外径の大きな単結晶を製
造するに適した単結晶製造装置に開する。
造するに適した単結晶製造装置に開する。
通常、ダイオード、トランジスタ、集積回銘素子(I
C)のような半導体製品の製造には、シリコン等の半導
体単結晶が用いられ℃おり、とくに大直径の均質な単結
晶が9!梢されている。
C)のような半導体製品の製造には、シリコン等の半導
体単結晶が用いられ℃おり、とくに大直径の均質な単結
晶が9!梢されている。
このシリコン単結晶は石英製のるつぼを用いた引上法で
製造されているが、結晶直径の大型化に伴って、るつぼ
も大型化している。このため、るつぼ内の溶液の熱対流
が大きくなり、るつぼ中央の液面部の温度・組成が変動
し、均質な結晶の成長が難しくなっている。
製造されているが、結晶直径の大型化に伴って、るつぼ
も大型化している。このため、るつぼ内の溶液の熱対流
が大きくなり、るつぼ中央の液面部の温度・組成が変動
し、均質な結晶の成長が難しくなっている。
上記の解決策として、磁力を利用する方法(K。
Ho5hi et al 197th ECS〜
1eeting)’PK磁誘導(より溶液を回転運1I
jJさせる方法などの工夫もあるが装置が非常に大型化
したり、複雑化する等の実用上の問題があるう また、シリコン中にドープ−rる不純物の側近による濃
度変化を低減する装置がある。これは、第1図に示すよ
うな大型るつぼ1の中に、連通孔2を設けた小型るつぼ
3を挿入し、この内側で結晶4をW収し外側の一定濃度
の液5が連通孔2を通じて供給されるようにして、前取
結晶4の不純物濃度の変化ン少なくすることン目的とし
ている。このため、この装置では外側大型るつぼ1の容
量と内側の小型るつぼ3との比を太き(、また連通孔2
は十分小さくする必要がある。しかし、この構造は熱対
流の抑制ン意図したものでな(かつ実用結晶の育成には
不具合である。
1eeting)’PK磁誘導(より溶液を回転運1I
jJさせる方法などの工夫もあるが装置が非常に大型化
したり、複雑化する等の実用上の問題があるう また、シリコン中にドープ−rる不純物の側近による濃
度変化を低減する装置がある。これは、第1図に示すよ
うな大型るつぼ1の中に、連通孔2を設けた小型るつぼ
3を挿入し、この内側で結晶4をW収し外側の一定濃度
の液5が連通孔2を通じて供給されるようにして、前取
結晶4の不純物濃度の変化ン少なくすることン目的とし
ている。このため、この装置では外側大型るつぼ1の容
量と内側の小型るつぼ3との比を太き(、また連通孔2
は十分小さくする必要がある。しかし、この構造は熱対
流の抑制ン意図したものでな(かつ実用結晶の育成には
不具合である。
したがって、本発明の目的は、るつぼ内における被結晶
材料溶液の熱対流ケ防止し、均質な単結晶を安定して育
成することのできる単結晶製造装置7!1′提供するこ
とにある。
材料溶液の熱対流ケ防止し、均質な単結晶を安定して育
成することのできる単結晶製造装置7!1′提供するこ
とにある。
上記の目的を達成するためK、本発明は、るつぼ内に被
結晶材料溶液の熱対流防止用る邪単板を設けてなるもの
であって、以下実施例により本発明ケ説明する。
結晶材料溶液の熱対流防止用る邪単板を設けてなるもの
であって、以下実施例により本発明ケ説明する。
第2図は本発明によるシリコン単結晶製造装置の一実施
例の要部断面図で、多結晶原料X入れで溶解するるつぼ
6と、その外側に同心円状に設けられた加熱ヒータ(加
熱手段)7と、下部に撞結晶乞取付けた回転、昇降可能
な引上軸8とがらなっている。るつぼ6は石英製で、カ
ーボン裂のライナー黒鉛るつぼ9に偉人された構成であ
る。1゜はカーボン材料から取る断pP壁であり、11
は水冷されたチャンバーである。
例の要部断面図で、多結晶原料X入れで溶解するるつぼ
6と、その外側に同心円状に設けられた加熱ヒータ(加
熱手段)7と、下部に撞結晶乞取付けた回転、昇降可能
な引上軸8とがらなっている。るつぼ6は石英製で、カ
ーボン裂のライナー黒鉛るつぼ9に偉人された構成であ
る。1゜はカーボン材料から取る断pP壁であり、11
は水冷されたチャンバーである。
前記るつぼ6の中には、被結晶材料溶g12の熱対流を
防止する邪車板13がチャンバ−11上部に設置された
回転・昇降な棒状物14により支持された状態で設けら
れている。
防止する邪車板13がチャンバ−11上部に設置された
回転・昇降な棒状物14により支持された状態で設けら
れている。
本実施例によれば、邪単板13をるつぼ6内に設けたこ
とにより、るつぼ6日の被結晶材料溶液12が外fil
lから加熱ヒータ7で加熱された場合でも複結晶材料溶
液12がるつぼ6内で熱対流することは、邪摩板13に
より阻止さねるうその結果熱対流による液温変動が抑制
され、均質な単結晶を安定して育成することが可能とな
る。
とにより、るつぼ6日の被結晶材料溶液12が外fil
lから加熱ヒータ7で加熱された場合でも複結晶材料溶
液12がるつぼ6内で熱対流することは、邪摩板13に
より阻止さねるうその結果熱対流による液温変動が抑制
され、均質な単結晶を安定して育成することが可能とな
る。
第3図は本発明の他の実施例の要部を示す断面図である
。本5j!施例は、第2図のるつぼ6の中に設ける邪摩
板13ヶ引上軸8と同様の駆wJヲする軸15に支持し
た構造である。
。本5j!施例は、第2図のるつぼ6の中に設ける邪摩
板13ヶ引上軸8と同様の駆wJヲする軸15に支持し
た構造である。
本実施例の場合にも、良好な熱対流防止効果があり、均
質な単結晶を安定して製造することがoJ′ 能となる
。
質な単結晶を安定して製造することがoJ′ 能となる
。
第4図は本発明により熱対流防止用の邪岸板13ンろつ
は6内に設けた場合(下側の温度変動の小さい曲線)と
、熱対流防止用の邪摩板13を設けない従来技術(上側
の温度変動が太ぎい曲線)とにおける液温変動ン比較し
て示すグラフである。
は6内に設けた場合(下側の温度変動の小さい曲線)と
、熱対流防止用の邪摩板13を設けない従来技術(上側
の温度変動が太ぎい曲線)とにおける液温変動ン比較し
て示すグラフである。
これから明らかなように本発明では従来技術に比較して
液温変動は非tK小さくなった。このため、均質なNL
結晶の製造が行なえる。なお、るつぼ6内の被結晶材料
溶液12に設けろ邪摩板13の形態は、平行円形板に限
らず、わん曲円形板。
液温変動は非tK小さくなった。このため、均質なNL
結晶の製造が行なえる。なお、るつぼ6内の被結晶材料
溶液12に設けろ邪摩板13の形態は、平行円形板に限
らず、わん曲円形板。
波板、角板、穴あき板、網目状板1円筒物でも有効であ
る。
る。
また、本発明Z利用した結晶製造において、結晶製造の
全過程に適用することが最も有効であるが、結晶製造の
初期過8−fなわちネック形成のみに適用することもき
わめて有効である。
全過程に適用することが最も有効であるが、結晶製造の
初期過8−fなわちネック形成のみに適用することもき
わめて有効である。
さらに、本発明の実施例とじ℃、シリコン結晶の場合乞
述べたが、本発明はシリコン結晶に限らず、広く溶液か
らの引上結晶製造一般に応用できろものである。
述べたが、本発明はシリコン結晶に限らず、広く溶液か
らの引上結晶製造一般に応用できろものである。
以上のように本発明によrば、砿結晶材料溶液の温度・
組成変動が防止できるため、結晶育成全般にわたり、均
質に安定した結晶製造が可能となる。さらにシリコン結
晶の育成では、石英るつぼがシリコン溶液に溶解し、結
晶中に酸素が入るが、本発明でを工この面でも効果があ
り、従来技術に比較して本発明では結晶中に混入する酸
素濃度が減少し、かつ均一化する。
組成変動が防止できるため、結晶育成全般にわたり、均
質に安定した結晶製造が可能となる。さらにシリコン結
晶の育成では、石英るつぼがシリコン溶液に溶解し、結
晶中に酸素が入るが、本発明でを工この面でも効果があ
り、従来技術に比較して本発明では結晶中に混入する酸
素濃度が減少し、かつ均一化する。
このため、酸素に起因して発生する微小欠陥が侭減する
。
。
第1図は従来の単結晶製造装置の要部乞示す断面図、第
2図は本発明の一実施例による単結晶製造装置の要部γ
示す断面図、第3図は同じく他の実施例の要部断面図、
第4図は本発明装置と従来装置との液温変動状況ン示す
グラフである。 4・・・結晶、6・・るつぼ、7 ・加熱ヒータ、8°
゛引上軸、11・・・チャンバー、12・・・被結晶材
料溶液、13・・・邪雄板、14・・・神状物、15・
・・軸。 代理人 弁理士 薄 1)利 辛 第 1 ス 第2図 第 3 図 / 第 4「°1 →l −1゜ // ’−70 /分
2図は本発明の一実施例による単結晶製造装置の要部γ
示す断面図、第3図は同じく他の実施例の要部断面図、
第4図は本発明装置と従来装置との液温変動状況ン示す
グラフである。 4・・・結晶、6・・るつぼ、7 ・加熱ヒータ、8°
゛引上軸、11・・・チャンバー、12・・・被結晶材
料溶液、13・・・邪雄板、14・・・神状物、15・
・・軸。 代理人 弁理士 薄 1)利 辛 第 1 ス 第2図 第 3 図 / 第 4「°1 →l −1゜ // ’−70 /分
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被結晶材料溶液乞保持するるつぼと、このろつぼY
加熱する加熱手段と、種単結晶の下部を前記るつぼ内に
入れるようにして穐結晶を保持する回転および昇降可能
な引上軸と、を有する単結晶製造装置において、前記る
つぼ内に被結晶材料溶液の熱対流防止用の邪摩板を設け
ろことを待りとする単結晶製造装置。 2、前記熱対流防止用の邪摩板は、平行円形板・角板、
わん曲円板・角板、波板、穴あき板、綱目状板1円筒状
物のいずれも可能とする特許請求の範囲第1項記載の単
結晶製造装置。 3、上記邪摩板乞るつぼ内の所望位置に保持するととも
に、必要に応じ℃ろつぼ外上側方への移動ン可能にする
気密駆動軸?備えることン!!!!像とする特許請求の
範囲第1項記載の単結晶製造装置っ
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6535682A JPS58185493A (ja) | 1982-04-21 | 1982-04-21 | 単結晶製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6535682A JPS58185493A (ja) | 1982-04-21 | 1982-04-21 | 単結晶製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58185493A true JPS58185493A (ja) | 1983-10-29 |
Family
ID=13284590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6535682A Pending JPS58185493A (ja) | 1982-04-21 | 1982-04-21 | 単結晶製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58185493A (ja) |
-
1982
- 1982-04-21 JP JP6535682A patent/JPS58185493A/ja active Pending
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