JPS58185493A - 単結晶製造装置 - Google Patents

単結晶製造装置

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Publication number
JPS58185493A
JPS58185493A JP6535682A JP6535682A JPS58185493A JP S58185493 A JPS58185493 A JP S58185493A JP 6535682 A JP6535682 A JP 6535682A JP 6535682 A JP6535682 A JP 6535682A JP S58185493 A JPS58185493 A JP S58185493A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crucible
plate
single crystal
crystallized
solution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6535682A
Other languages
English (en)
Inventor
Yushi Kato
加藤 雄史
Sadao Yasuda
安田 貞夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6535682A priority Critical patent/JPS58185493A/ja
Publication of JPS58185493A publication Critical patent/JPS58185493A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/30Mechanisms for rotating or moving either the melt or the crystal
    • C30B15/305Stirring of the melt

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は単結晶製造装置、特に外径の大きな単結晶を製
造するに適した単結晶製造装置に開する。
通常、ダイオード、トランジスタ、集積回銘素子(I 
C)のような半導体製品の製造には、シリコン等の半導
体単結晶が用いられ℃おり、とくに大直径の均質な単結
晶が9!梢されている。
このシリコン単結晶は石英製のるつぼを用いた引上法で
製造されているが、結晶直径の大型化に伴って、るつぼ
も大型化している。このため、るつぼ内の溶液の熱対流
が大きくなり、るつぼ中央の液面部の温度・組成が変動
し、均質な結晶の成長が難しくなっている。
上記の解決策として、磁力を利用する方法(K。
Ho5hi  et  al  197th ECS〜
1eeting)’PK磁誘導(より溶液を回転運1I
jJさせる方法などの工夫もあるが装置が非常に大型化
したり、複雑化する等の実用上の問題があるう また、シリコン中にドープ−rる不純物の側近による濃
度変化を低減する装置がある。これは、第1図に示すよ
うな大型るつぼ1の中に、連通孔2を設けた小型るつぼ
3を挿入し、この内側で結晶4をW収し外側の一定濃度
の液5が連通孔2を通じて供給されるようにして、前取
結晶4の不純物濃度の変化ン少なくすることン目的とし
ている。このため、この装置では外側大型るつぼ1の容
量と内側の小型るつぼ3との比を太き(、また連通孔2
は十分小さくする必要がある。しかし、この構造は熱対
流の抑制ン意図したものでな(かつ実用結晶の育成には
不具合である。
したがって、本発明の目的は、るつぼ内における被結晶
材料溶液の熱対流ケ防止し、均質な単結晶を安定して育
成することのできる単結晶製造装置7!1′提供するこ
とにある。
上記の目的を達成するためK、本発明は、るつぼ内に被
結晶材料溶液の熱対流防止用る邪単板を設けてなるもの
であって、以下実施例により本発明ケ説明する。
第2図は本発明によるシリコン単結晶製造装置の一実施
例の要部断面図で、多結晶原料X入れで溶解するるつぼ
6と、その外側に同心円状に設けられた加熱ヒータ(加
熱手段)7と、下部に撞結晶乞取付けた回転、昇降可能
な引上軸8とがらなっている。るつぼ6は石英製で、カ
ーボン裂のライナー黒鉛るつぼ9に偉人された構成であ
る。1゜はカーボン材料から取る断pP壁であり、11
は水冷されたチャンバーである。
前記るつぼ6の中には、被結晶材料溶g12の熱対流を
防止する邪車板13がチャンバ−11上部に設置された
回転・昇降な棒状物14により支持された状態で設けら
れている。
本実施例によれば、邪単板13をるつぼ6内に設けたこ
とにより、るつぼ6日の被結晶材料溶液12が外fil
lから加熱ヒータ7で加熱された場合でも複結晶材料溶
液12がるつぼ6内で熱対流することは、邪摩板13に
より阻止さねるうその結果熱対流による液温変動が抑制
され、均質な単結晶を安定して育成することが可能とな
る。
第3図は本発明の他の実施例の要部を示す断面図である
。本5j!施例は、第2図のるつぼ6の中に設ける邪摩
板13ヶ引上軸8と同様の駆wJヲする軸15に支持し
た構造である。
本実施例の場合にも、良好な熱対流防止効果があり、均
質な単結晶を安定して製造することがoJ′ 能となる
第4図は本発明により熱対流防止用の邪岸板13ンろつ
は6内に設けた場合(下側の温度変動の小さい曲線)と
、熱対流防止用の邪摩板13を設けない従来技術(上側
の温度変動が太ぎい曲線)とにおける液温変動ン比較し
て示すグラフである。
これから明らかなように本発明では従来技術に比較して
液温変動は非tK小さくなった。このため、均質なNL
結晶の製造が行なえる。なお、るつぼ6内の被結晶材料
溶液12に設けろ邪摩板13の形態は、平行円形板に限
らず、わん曲円形板。
波板、角板、穴あき板、網目状板1円筒物でも有効であ
る。
また、本発明Z利用した結晶製造において、結晶製造の
全過程に適用することが最も有効であるが、結晶製造の
初期過8−fなわちネック形成のみに適用することもき
わめて有効である。
さらに、本発明の実施例とじ℃、シリコン結晶の場合乞
述べたが、本発明はシリコン結晶に限らず、広く溶液か
らの引上結晶製造一般に応用できろものである。
以上のように本発明によrば、砿結晶材料溶液の温度・
組成変動が防止できるため、結晶育成全般にわたり、均
質に安定した結晶製造が可能となる。さらにシリコン結
晶の育成では、石英るつぼがシリコン溶液に溶解し、結
晶中に酸素が入るが、本発明でを工この面でも効果があ
り、従来技術に比較して本発明では結晶中に混入する酸
素濃度が減少し、かつ均一化する。
このため、酸素に起因して発生する微小欠陥が侭減する
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の単結晶製造装置の要部乞示す断面図、第
2図は本発明の一実施例による単結晶製造装置の要部γ
示す断面図、第3図は同じく他の実施例の要部断面図、
第4図は本発明装置と従来装置との液温変動状況ン示す
グラフである。 4・・・結晶、6・・るつぼ、7 ・加熱ヒータ、8°
゛引上軸、11・・・チャンバー、12・・・被結晶材
料溶液、13・・・邪雄板、14・・・神状物、15・
・・軸。 代理人 弁理士  薄 1)利 辛 第  1  ス 第2図 第  3  図 / 第  4「°1 →l −1゜ // ’−70 /分

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被結晶材料溶液乞保持するるつぼと、このろつぼY
    加熱する加熱手段と、種単結晶の下部を前記るつぼ内に
    入れるようにして穐結晶を保持する回転および昇降可能
    な引上軸と、を有する単結晶製造装置において、前記る
    つぼ内に被結晶材料溶液の熱対流防止用の邪摩板を設け
    ろことを待りとする単結晶製造装置。 2、前記熱対流防止用の邪摩板は、平行円形板・角板、
    わん曲円板・角板、波板、穴あき板、綱目状板1円筒状
    物のいずれも可能とする特許請求の範囲第1項記載の単
    結晶製造装置。 3、上記邪摩板乞るつぼ内の所望位置に保持するととも
    に、必要に応じ℃ろつぼ外上側方への移動ン可能にする
    気密駆動軸?備えることン!!!!像とする特許請求の
    範囲第1項記載の単結晶製造装置っ
JP6535682A 1982-04-21 1982-04-21 単結晶製造装置 Pending JPS58185493A (ja)

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JP6535682A JPS58185493A (ja) 1982-04-21 1982-04-21 単結晶製造装置

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JPS58185493A true JPS58185493A (ja) 1983-10-29

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