JPS58183146A - 投影デ−タ検出方式 - Google Patents

投影デ−タ検出方式

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Publication number
JPS58183146A
JPS58183146A JP57065066A JP6506682A JPS58183146A JP S58183146 A JPS58183146 A JP S58183146A JP 57065066 A JP57065066 A JP 57065066A JP 6506682 A JP6506682 A JP 6506682A JP S58183146 A JPS58183146 A JP S58183146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
projection data
detector
radiation source
ray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57065066A
Other languages
English (en)
Inventor
秀夫 長井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Yokogawa Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp, Yokogawa Electric Works Ltd filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP57065066A priority Critical patent/JPS58183146A/ja
Publication of JPS58183146A publication Critical patent/JPS58183146A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、X@などの放射@分用いた断層撮影装電の投
影データ検出方式に関し、詳しくはある開口幅の検出器
から得られるデータをもとにしてより狭い領域の放射線
投影データを得る検出方式%式% 一般に、空間分解能を上げるためには開口幅の小さい検
出器の存在を必要とするが、そのような検出器は作成が
極めて困難であり、8/N比(信号対雑音比)が低下し
たり歩留りが悪いとかの製造技術上の多くの問題を含ん
でいる。
本発明の目的は、このような点に鑑み、比較的広い開口
幅を有する検出器を用いながらもよゆ空間分解能の高い
放射線透過データの得られる投影データ検出方式を提供
することにある。
本発明は、放射線源と検出器分波検体に対して相対的に
移動させると共に各回転角において放射・線源に対して
検出器を相対的に微少変位させて放射線透過データを得
て、演篇により開口幅で決る幀埴よりも更に狭い領域に
おける透過データに得るようにしたことを特徴とする屯
のである。
μ下図面により本発明の詳細な説明するO第1図は本発
明をファンビーム方式のX@CTに適用した場合の実施
例を示す要部構成図である。同図において、XGViX
Il管などによりX線を発生するX線源で、扇状のX線
ビーム(ファンビーム)を被検体PAに投射する。Sけ
xs*XGt中心として円弧状に多数の検出素子を配列
してなるX線検出器で、被検体PAを透過したX線ビー
ムを検知し電気信号に変換するものである。各検出素子
はある一定の開口幅を有するように形成されている・こ
の検出器SとX線源XGとは一体となって被検体PA5
r中心に一定角度αごとに間欠回転駆動されるよう線発
生をも制御する。また、X線検出器Sは検出器位置制御
装置SMCによりX@源XGに対して微少回転し得るよ
うになっている。検出器8の各検出素子の出力信号はデ
ータ収集部DASによりそれぞれ検出され、ディジタル
変換された後データ処理部IPSを介してメモリESに
格納される。このようにして得られた透過Xiデータ(
投影データ)は再びデータ処理部IPSに読み取られ適
宜の処理が施され、断層儂に再構成される。再構成向傷
は画像表示部GDCにおいて可視儂として表示され、必
要に応じてカメラMFCにて写真撮影することができる
ようになっている。OPCは装置に必要な各種の情報を
入力する入力装置である。
このようなファンビーム方式のx@c’rの構成におい
て、通常のCTと同様に第2図に示すようにX線源XG
を検出器8と一体に回転させつつp+ 、 q’ 。
・・・の各位置において被検体PAにX1mを照射し、
透過X線データ群(VIEW)を得るが、本発明では更
にX線源の各位置PI、Q’、・・・に対し検出器st
−微小変位させて透過X線データを得る。すなわち、第
3図に示すようKPIのX線源に71 して検出器Sを
微小角δずつ回転しく PO+ Plr p21 p3
+ 00.) 、その位置で透過X線を検知する。例え
ば、第4図のように1/4開口幅ずつ微少変位させる。
第4図は簡略化のために平行ビームで例示した各位置で
の検出素子(1−1,i、 i+1番目の素子をC1−
□、 ci、 c1+□とする)と被検査領域を示した
ものであり、ここで、I (Po) : PoでのC1
の検知X線強度土 工□(pl):plでのC工の検知X線強度I、(P2
) : P2でのC□の検知X線強度工□(p3):P
3でのC□の検知X線強度I、(P4) : P、f 
(D C1)検知X1s強度また、 Jl(p□):A2o通過後のX線強度J□−、(Pl
):A1o通過後のX線強度Ji(P2) : A21
通過後のX!I強度Ji−1(p2):A1□通過後の
X線強度J1(P3):A22通過後(DX@強度J□
−□(P3): A□2通過後のXII強度J1(P4
 ) : A23通過後のX線強度Ji−1(p4):
 A13通過後のX線強度とし、更にまた、 I□(Pl) −I、(PO) −M□(1)zl(p
2) −11(Pl) −Ml(2)11(P3) −
I、(P2戸町(3)11(P、) −11(P3)冨
M□(4)(1) とする。なお、この場合1 、y□(P、) −J、−1(Pl) −町(1)J、
(P2) −Jl−1(P2) −M工(2)Jl(P
3) −Jl−1(P3)鵡M1(3)J、(P4)−
J、1(P、)−Ml(4)と表わすこともできる。従
って、一般にPj位置に関して′首検体PA中の鳳番目
の検出素子に対応する領域を通過したX線強度Jn(P
j)は、で表わされる。(2)式によれば検出素子の開
口幅よりも更に狭い幅での透過xll)強度tそれぞれ
検出することができる。なお、(1)式及び(2)式の
演算は検出素子よりデータ収集後IP8において行なわ
れる。
このようにして演算により求められた投影データJn(
pj)をもとに像の再構成を行ない空間分解能の高い骨
を得ることができる。
なお、 Po、P□、p2.・・・ような検出器Sの相
対運動はR−R運動と共に連続的に又はR−R運動の終
了時に不連続的に(瞬時的に)行なうことができる。
以上説明したように、本発明によれば、検出器を放射線
源と一体的に移動すると共に、検出器のみ相対的に変位
させ、あるタイミングでの検出領緘と他のタイミングで
の検出領埴を互いにオーバラップさせて検出し、得られ
た投影データに特有の演算処理を施すことによって、検
出器の開口幅より4よシ狭い開口幅で得られるような投
影データを得ることができる。
また、本発明の方式によれば、製造困難な開口幅の狭い
検出器を必要とすることなく、もしそのような開口幅の
狭い検出器があったとしてもそれに比してS/Nに優れ
、そのため画質の向上が保証される。また空間分解能の
高い儂が得られ細かいものが明瞭に識別できるようにな
るため診断に大いに役立つという効果もある。
なお、本発明はX線断層撮影装置に限らず他の断層撮影
装置にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を使用したX線コンピュータ断層撮影装
置の実施例構成図、第2図ないし第4図は本発明の方式
の説明をするための図である。 XG・・・X@源、PA・・・被検体、S・・・X線検
出器、SMC・・・検出器位置制御装置、IPC・・・
データ処理部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検体に対して間欠的に放射線を照射するための
    放射at−発生する放射線源と、前記被検体を挾むよう
    にして前記放射線源に対向配置し被検体を中心として放
    射線源と一体的に移動すると共に別個に微小変位するよ
    うに形成され、ある一定の開口幅を有し入射放射線を電
    気信号に変換する多数の検出素子を配列してなる放射線
    検出器と、該放射線検出器を微小変位させるための検出
    器位置制御装置と、前記放射線検出器で得られた投影デ
    ータに適宜の演算処理を施すデータ処理部を備え、ある
    タイミングでの検出領域と他のタイミングでの検出領域
    を互いにオーバラップさせて投影データを得、この投影
    データを基にして検出素子の開口幅よ秒もより狭い領域
    における投影データを演算により求めるよう圧したこと
    を特許とする投影データ検出方式。
JP57065066A 1982-04-19 1982-04-19 投影デ−タ検出方式 Pending JPS58183146A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57065066A JPS58183146A (ja) 1982-04-19 1982-04-19 投影デ−タ検出方式

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JP57065066A JPS58183146A (ja) 1982-04-19 1982-04-19 投影デ−タ検出方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58183146A true JPS58183146A (ja) 1983-10-26

Family

ID=13276204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57065066A Pending JPS58183146A (ja) 1982-04-19 1982-04-19 投影デ−タ検出方式

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JP (1) JPS58183146A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1988002239A1 (en) * 1986-09-30 1988-04-07 Yokogawa Medical Systems, Ltd. Radiation ct

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1988002239A1 (en) * 1986-09-30 1988-04-07 Yokogawa Medical Systems, Ltd. Radiation ct

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