JPS58182548A - ピンホ−ル検出機 - Google Patents

ピンホ−ル検出機

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Publication number
JPS58182548A
JPS58182548A JP6499682A JP6499682A JPS58182548A JP S58182548 A JPS58182548 A JP S58182548A JP 6499682 A JP6499682 A JP 6499682A JP 6499682 A JP6499682 A JP 6499682A JP S58182548 A JPS58182548 A JP S58182548A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
electrodes
pinhole
dielectric
ampule
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6499682A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshio Miyahara
宮原 良夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikka Densok Ltd
Original Assignee
Nikka Densok Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikka Densok Ltd filed Critical Nikka Densok Ltd
Priority to JP6499682A priority Critical patent/JPS58182548A/ja
Publication of JPS58182548A publication Critical patent/JPS58182548A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/20Investigating the presence of flaws
    • G01N27/205Investigating the presence of flaws in insulating materials

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、導電性を有する中味を電気絶縁性の収容部材
によって密封して成る密封包装体を挾むようにして配置
される1対の電極を有し、それらの電極と上記中味との
間の収容部材にピンホールがあるとき、そのピンホール
を通してそれらの電極と上記中味との間に閃絡を生ぜし
め、この閃絡によって生ずる電流を検出することによっ
てピンホールの存在を知るようにした密封包装体のピン
ホール検出機に関する。
医薬品は生命に関わるものであるから、極めて高度な品
質管理のもとに生産されるが、これを収容する密封アン
プルは一見欠陥がないように見えても、実際にはピンホ
ールやクラッチ等の欠陥のある不良品がかなりあるのが
実情であり、布到状態が完全でない限り細菌等の侵入に
よる二次汚染は避けられない。もし汚染された薬品が人
体内に注射された場合は重大な結果をまねくことから、
密封アンプルのピンホールやクラッチ等を検出するリー
クテストは絶対か、\すことが出来ない。
又、同様の理由から、ソーセージその他の食品9ハでも
上記のリークテストは不可欠である。冒頭に述べた形式
のピンホール検出機は、密封アンプル、ソーセージ等と
いった密封包装体のピンホールを検出するためのもので
ある。
第1図は、上記形式のピンホール検出機の従来例を示す
図式図である。同図において、リークテストを受けるべ
きアンプル(密封包装体)1を挾むようにして、アンプ
ル1の枝先端部に先端表面積の小さい電極(第1電極)
2が配置され、他方アンプル1の胴部に表面積の大きい
電極(第2電極)3が配置されている。アンプルlは、
導電性のある薬液(中味)4とその薬液4を密封する電
気絶縁性の薄いガラス容器(収容部拐)5から成ってい
る。第1電極2と第2電極3との間には、電源6からの
高周波高圧交流電圧Vが印加できるようになっている。
第2図は交流電圧Vを印加した場合の電気的等価回路で
あり、ここで図示の各記号はそれぞれ次の事を示してい
る。
q:第1電極2と薬液4との間の静電容量C2:第2電
極3と薬液4との間の静電容量R:薬液4の電気抵抗 11:7ンプルlが良品の場合に回路に流れる微少電流 同図において、ガラス容器5(第1図)の厚さが均一で
あっても、対向する2つの電極2及び3の表面積は前述
の通りに異っているので、qはQより大きくなる。した
がって、高周波交流電圧Vが印加される場合、qのイン
ピーダンスはq及びRに比べて無視することができ、よ
って近イυ的に等節回路は第3図に示す如<、QとRと
の直列回路とみなすことができる。
そこで、電源電圧Vを、アンプルlにピンホールがあれ
ばQの放電間隙に閃絡が発生し、ピンホールがなければ
閃絡が起きないような電圧に設定しておけば、電極2.
3間にアンプルlを送入すると、ピンホールが電極2に
対向する位置に来たときに閃絡が起き、回路に放電電流
工、が流れる。
アンプルにピンホールがない場合は閃絡は発生しないの
で、コンデンサーとしての機能を有するC5にもとすく
微少電流I、Lか流れない。従って回路に流れる電流を
測定することによってピンホールの有無を判定すること
が出来るのである。
以上説明した従来のピンホール検出機において、印加さ
れる交流電圧Vが一定であれば、第1電極2によってピ
ンホールを検出できる領域は自と定まってしまう。した
がって、アンプルl全域に亘ってリークテストを行なう
場合には、第2電極が置かれるべき位置は1ケ所では不
十分であり、例えば第1図のA、B、Dで示すようにア
ンプルlの異った複数の個所でなければならない。しか
しながら、上記の如く複数の異った位置に電極を配して
検査を行なうということは、それだけ検査工程が増える
ことになり、検査時間が長くなること及び装置が複雑且
つ大型となること等の欠点がある。
この欠点を解消すべく、電極2と3との間に印加すべき
電圧を高くして、1つの電極によってピンホールを検出
することのできる領域をより広くする方法が考えられる
。これは、印加電圧を高くして電極からより離れた所に
あるピンホールにおいても閃絡が発生できるようにした
ものである。
この方法により、電極はより広い間隔をもって配置する
ことが可能となるので、配置すべき電極数、従って検査
工程が少なくて済むのである。しかしながら、この印加
電圧を高くする方法においては、電圧がある限界値を越
えると第1電極2、アングル1のガラス容器5及び第2
電極3との間にいわゆる沿面放電が発生する。この沿面
ルはピンホールの有無に関係なく生ずるので、この放電
が始まるようになっては最早正確などンホール検出はで
きない。したがって、従来においては、この印加電圧を
高くする方法をもってしても前述した欠点を有効に解消
することはできなかったのである。
本発明は、上記の点にがんがみて、電極間に高圧を印加
した場合であっても沿面放電が生ずることなく、1つの
電極によってより広い領域でのピンホール検出を可能と
し、もって少ない電極数、従って少ない検査工程でアン
プル全域のリークテストを可能とするピンホール検出機
を提供することを目的とする。
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて説明す
る。
第4図は本発明の1実施例を示す図式図であり、この実
施例が第1図に示した従来例と異なる点は、第2電極3
を誘電体11で覆ったことである。その他の部分は第1
図の従来例と同じであるので、同一部分は同一符号で示
しである。この実施例においては、ピンホール検出のた
めの作用は第1図の従来例と同様であるが、第2電極3
を覆う誘電体11の作用により、第1電極2、ガラス容
器5及び第2電極3の間で沿面放電が生ずることは防止
される。したがって、電源6からの高周波交流電圧Vを
高くした場合であっても沿面放電の心配なく有効にピン
ホール検出ができ、結果的に1つの電極(図では第1電
極2)でよシ広い範囲のピンホール検出が可能となる。
これによシ、アンプル1の全域についてリークテストを
行なう場合であっても必要とされる第1電極の数は少な
くても済むので、検査工程を少なくすることができ、よ
って検査時間の短縮化並びに装置の小型化及び簡単化が
達成される。
尚、上記実施例は被検査品として薬液を内包するアンプ
ルを対象としているが、ソーセージその他の食品が密封
された食品包装体を検査することができるのは言うまで
もない。
又、上記実施例では、第1電極2と薬液4との間に形成
される静電容量qが、第2電極3と薬液4との間に形成
される静電容量C2に比べて無視できる程度に小さくな
るようにしであるが、これは、両電極間に印加される交
流電圧Vが第1電極2と薬液4との間に効果的に分圧さ
れるようにするための1つの方法であり、し7たがって
本発明の実施に際しては必ずしも上記構成を−とらなけ
ればならないということはない。すなわち、第1電極2
を第2電極3と同様に表面積を広くして、両電極につい
ての静電容量C,、C2との間に極端な差を設けない場
合であっても本発明が達成されることは宮うまでもない
。但し、この場合には印加電圧VがC1,C2とによっ
て分圧されるので、必要に応じて印加電圧Vを高くする
ことが好ましい。又、この場合には誘電体で覆うべき電
極は、どちらか1方にのみ限定されることはなく、いず
れの方であっても良い。
【図面の簡単な説明】
第1図はビン糸−ル検出機の従来例を示す図式図、第2
図及び第3図は第1図に示した従来例の電気的等価回路
を示す図、第4図は本発明の実施例を示す図である。 4・・・中味(薬液) 5・・・収容部材(ガラス容器) l・・・密封包装体(アンプル) 2・・・第1電極 3・・・第2電極 11・・・誘電体 第4図 昭和57手 6 月 2 11 特許庁長官 島 1)春樹 殿 l 事件の表示 昭和57年 特 許   願第64996  ;フ2発
明の名称 ピンホール検出機 3 補正をする者 事件との関係  特許     出馳人区所X叩胴 氏名4称)二ツカ電測株式会社 4代理人 住 所   東京都港区西新橋2丁目32番4号 梶工
業ビJし6、補正の対象 発明の詳細な説明の欄 7、補正の内容 (1)  明細書第2頁9行目及び14行目の記載「ク
ラッチコを「クラック」に補正します。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 導電性を有する中味を電気絶縁性の収容部材によって密
    封して成る密封包装体を挾むようにして配置される1対
    の電極を有し、それらの電極と上記中味との間の収容部
    材にピンホールがあるとき、そのピンホールを通してそ
    れらの電極と上記中味との間に閃絡を生ぜしめ、この閃
    絡によって生ずる電流を検出することによってピンホー
    ルの存在を知るようにした密封包装体のピンホール検出
    機において、上記1対の電極のうちqいずれか1方を誘
    電体で覆ったことを特徴とするピンホール検出機。
JP6499682A 1982-04-19 1982-04-19 ピンホ−ル検出機 Pending JPS58182548A (ja)

Priority Applications (1)

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JP6499682A JPS58182548A (ja) 1982-04-19 1982-04-19 ピンホ−ル検出機

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6499682A JPS58182548A (ja) 1982-04-19 1982-04-19 ピンホ−ル検出機

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Publication Number Publication Date
JPS58182548A true JPS58182548A (ja) 1983-10-25

Family

ID=13274180

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6499682A Pending JPS58182548A (ja) 1982-04-19 1982-04-19 ピンホ−ル検出機

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JP (1) JPS58182548A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1267157A2 (en) 2001-06-15 2002-12-18 Rieckermann (Japan) Ltd. Method and apparatus for leakage inspection of a sealed container
JP2021012031A (ja) * 2019-07-03 2021-02-04 ニッカ電測株式会社 ピンホール検査方法及びピンホール検査装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1267157A2 (en) 2001-06-15 2002-12-18 Rieckermann (Japan) Ltd. Method and apparatus for leakage inspection of a sealed container
US6694268B2 (en) 2001-06-15 2004-02-17 Rieckermann (Japan) Ltd. Leakage inspection method for sealed container and apparatus for carrying out the method
EP1267157A3 (en) * 2001-06-15 2004-10-06 Rieckermann (Japan) Ltd. Method and apparatus for leakage inspection of a sealed container
JP2021012031A (ja) * 2019-07-03 2021-02-04 ニッカ電測株式会社 ピンホール検査方法及びピンホール検査装置

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