JPS58178949A - 試料像表示装置 - Google Patents

試料像表示装置

Info

Publication number
JPS58178949A
JPS58178949A JP6309782A JP6309782A JPS58178949A JP S58178949 A JPS58178949 A JP S58178949A JP 6309782 A JP6309782 A JP 6309782A JP 6309782 A JP6309782 A JP 6309782A JP S58178949 A JPS58178949 A JP S58178949A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
signal
scanning
circuit
field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6309782A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0232741B2 (ja
Inventor
Kenji Obara
健二 小原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Nihon Denshi KK filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP6309782A priority Critical patent/JPS58178949A/ja
Publication of JPS58178949A publication Critical patent/JPS58178949A/ja
Publication of JPH0232741B2 publication Critical patent/JPH0232741B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は荷電粒子線装置に用いられる新規な試料像表示
装置に関する。
電子線やイオンのような照射ビームを用いて試料面1−
を走査し、該走査と同期したブラウン管(CRT)に試
料から検出される信号を輝度変調信号として用いてCR
T画面に試料像を表示することが従来から行われており
、その代表例として走査電子顕微鏡が挙げられる。この
走査電子顕微鏡においては、CRT画面に表示される試
料像の視野を頓繁に移動させるだけでなく、視野を回転
させることも庸々要求される。CRT画面における試料
像の視野を移動させるには、照射電子線に対して垂直な
面内の互いに直交する二方向へ試料を移動づる試料移動
機構が用いられるが、視野を回転させる手段としては、
試料を機械的に高精麿に回転させることが難しいので試
料照射電子線走査の方向を電気的手段によって回転させ
る装置が簡易な視野回転手段として広く用いられている
しかしながら、このような視野回転手段を用いると試料
移動機構による試料移動1ノ向とCRT画面における視
野移動り向の関係が変化してしまうため、視野選択の操
作が勤しくなる欠点があった。
本発明はこのような欠点を解決して、照射ビームによる
試料走査方向を回転させても試料移動操作とCRT画面
内における視野移動方向の関係を一定に保つことを目的
とするもので、その装置は照射ビームを試料面上で互い
に直交する二方向へ偏向するための二つの偏向素子から
なる偏向手段と、該偏向手段へ回転回路を介して走査偏
向信号を供給する走査信号回路と、該走査信号回路の出
力が供給される走査像表示手段と、前記試料を前記照射
ビームに垂直な平面内で豆いに直交する二方向へ移動さ
せるための二つの電気的移動手段とからなる試料移動機
構と、該試料移動機構による試料の移動方向と移動量を
指定する試料移動信号発生手段と、該試料移動信号発生
手段の出力信号と前記回転回路に印加される回転信号に
基づいて前記二つの電気的移動手段に駆動信号を与える
中央制御回路を備えたことを特徴とするものである。
第1図は本発明の一実施例装置を示す略図で、図中1は
試料を表わしており、光軸Z方向からの電子線によって
照射される。電子線に対する偏向コイル2x 、2yに
は走査信号回路3がらの走査信号が回転回路4を介して
供給されており、回転回路4へ回転イへ号が与えられて
いない状態では試料面は×、yh向に二次元走査される
。試FJ1を戟冒する試料移動機構5には電気的な移動
手段として二つのパルスモータ6H,6Vが取り付けら
れており、該パルスモータ6H,6Vの駆動によって試
料1は互いに直交する丁り向1]、■へ移動するが、こ
の]]、■の方向は前記x、■の方向と一致するように
調整されている。又、走査像表示手段として用いられる
CRT7の偏向コイル7X7Yには前記走査信号回路3
がらの走査信号が供給され、CRT画面の輝度変調信号
として試料からの検出信号が与えられるのでCRT画面
には試料走査像が表示される。前記回転回路4へは回転
信号光り手段8からの信号が供給されており、該回転信
号発生手段8を操作することにより試料上にお()る試
料走査方向を同転させCRT画面内の視野を任意に回転
させることができる。一方CRT画面の視野を移動ざぜ
る/=めには、]1方向とV方向への試料移動信号を発
生する移動信号発生手段9を操作し、該移動信号発生手
段9からの出力信号を中央制御回路10を介してパルス
モータの駆動回路11H,11Vに供給する。中央制御
回路10には回転信号発生手段8からの回転信号も供給
されており、移動信号発生手段9がらの入力信号と回転
信号とに基づいて駆動回路118.11vに供給する制
°御信号を決定する。第2図は、回転信号発生回路8の
出力を零とした場合におけるCRT画面走査の方向X、
Yを基準として、試料面上における照射ビームの走査方
向x、yとパルスモータ6H,6Vによる試料移動方向
H,Vの関係を表わしたものであり、前述したように方
向H,Vは夫々方向x、yと一致しており、従っC方向
X、Yとも一致する。このことはパルスモータ6Hを駆
動させればCRT画面内の視野が横(11)方向へ移動
し、パルスモータ6Vを駆動させればCR4画面内の視
野が縦(V)方向へ移動することを意味づる。
第3図は第2図の状態から回転信号発生回路8を操作し
て照射ビームによる試料走査方向を角度θ回転させたと
きの変化を表ねりものであり、パルス七−夕による移動
方向H,Vが照射ビームの走査り向×、vと平行でなく
なり、角度−θをなす。従っC1パルスモータ6Hのみ
によって試料を移動させるとCRT画面にお【ブる視野
は画面の横方向には移動せずに横方向Xと角度−〇をな
す方向べ移動することになる。第1図の装置においては
移動信号発生手段9がらの出力信号が直接パルス七−夕
の駆動回路11F1.11Vに供給されるのではなく、
中央制御回路1oにおいて回転信号光重・1段8からの
回転信号によって処理された移動信号が駆動回路11H
,IIVに供給される例えば、移動信号発生手段9のl
 H1方向ポテンシヨメータのツマミを任意の方向へ任
意の角度回転させて第4図中ベクトルE1で表わされる
信号が発生づると、該ベクトルト1と角度−〇をなすメ
Vh向の成分HX 、 l−1yに相当づる信号に変換
されて人々駆動回路11x、11yに(U給、!れる。
その結果、試料1は× (×)方向へ移動しCRT画面
中の視野は横方向へ移動する。同様に、移動信号発生手
段9のl V 1方向ポテンシヨメータのツマミを任意
の方向へ任意の角度回転させて、第5図中ベクトル■で
表わされる信号が発生すると、該ベクトル■と角度−θ
をなす×、■方向の成分Vx 、Vyに相当する信号が
中央制御回路10より発生して駆動回路11H,11V
に供給される。
その結果、試料1はy  (Y)方向へ移動しCRT画
面中の視野は縦り向へ移動する。即ち、第1図の実施例
装置では移動信号発生手段9における°H′方向と゛V
′方向ポテンショメータのツマミ操作によるCRT画面
内の視野移動方向が視野同転操作に拘わりなく常に一定
に保たれるので、試料面内の所望とする視野を捜す操作
が従来よりも容易になる。
尚、本発明は第1図の実施例装置に限定されるものでは
なく、例えば移動信号発生手段9に二つのボデンショメ
ータを設ける代わりにジョイステイクを用い、該ジョイ
ステイクの倒れ方に応じて二種類の試料移動信号を発生
するようにしてもよい。
以トにgT説した如く、本発明によれば照射ビームによ
る試料走査の方向を回転させても試料移動操作と試FA
Il!表示手段における視野移動とを常に一定に保つこ
とができるので、試料像表示装置におれる視野選択の操
作性を著しく向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置を示す略図、第2図乃至
第5図は第1図の装置の動作を説明するための略図であ
る。 1:試料、2x 、 2V :偏向」イル、3:走査信
号回路、4:回転回路、5:試料移動機構、6l−L6
V:パルスE−夕、7:CRT、7X、7Y:偏向コイ
ル、8:回転信号発生手段、9:移動信号発生手段、1
0:中央制卸回路、11H111V:駆動回路。 手続禎j正書 (自発) 昭和57年 7月16日 、特罰庁長官  若杉 和夫 殿 1、事aの表示 昭和57年特許願第63097号 2、発明の名称 試料像表示装置 3、補正を覆る者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都昭島市中神町1418番地(T E 1.
0425 (43) 1165)4、補正の対象 明細書の全文及び図面 5、補正の内容 発明の名称 試料像表示装置 特許請求の範囲 照射ビームを試料面上で互いに直交する二方向へ偏向す
るための二つの偏向素子からなる偏向手段と、該偏向手
段へ回転回路を介して走査偏向信号を供給する走査信号
回路と、前記回転回路に回転信号を供給する回転信号発
生手段と、前記走査信号回路の出力が供給される走査像
表示手段と、前記試料を前記照射ビームに垂直な平面内
で互いに直交する二方向へ移動させるための二つの電気
的移動手段からなる試料移動機構と、該試料移動機構に
よる試料の移動方向と移動速度を指定する試料移動信号
発生手段と、該試料移動信号発生手段の出力信号と前記
回転信号発生手段から供給される回転信号に基づいて前
記二つの電気的移動手段に駆動信号を与える中央処理回
路を備えた試料像表示装置。 発明の詳細な説明 本発明は?Ji電粒子粒子線装置いられる新規な試1’
l像人不装置に関づる。 電r線やイオンのようh照射ビームを用いて試r1面1
4走舎し、該走査と同期したブラウン管(CRT)に試
料から検出される信号を輝度変調信号とし−C用い(C
RT画面に試料像を表示することがt″L来がら行われ
ており、その代表例として走査“重子顕微鏡が挙げられ
る。この走査電子顕微鏡においては、CRT画面に表示
される試料像の視野を頓繁に移動させるだ(プでなく、
視野を回転させることも閘々要求される。(’: f<
 T画面における試料像の視野を移動さけるには、照射
電子線に処IL、C申白41面内の勾いに直交する二方
向へ試料を移動りる試料移動i構が用いられるが、視野
を回転さける手段としては、試料を機械的に高精度に回
転させることがガしいので試料照rA電子線走査の/′
i向を電気的1段によって回転させる装置が簡窮な?J
J、!野回転′:T段としく広く用いられている。 しかしながら、このようlj視野回転手段を用いると試
料移動機構(Jよる試穿ζl移動fj向とCR1−画布
における視野移動方向の関係が変化してしまうため、視
野選択の操作が難しくなる欠点があった。 本発明はこのような欠点を解決して、照射ビームによる
試料走査方向を回転させても試料移動操作とCR7画面
内における視野移動方向の関係を一定に保つことを目的
とするもので、その装置は照射ビームを試料面上でnい
に直交する二方向へ偏向するためのヨつの偏向糸量から
なる偏向1段と、該偏向手段へ同転回路を介して走査偏
向信8を供給する走査信号回路と、前記回転回路に回転
信号を供給覆る回転信号発生手段と、前甜走査イハ号回
路の出力が供給される走査像表示手段と、前記試料を前
記照射ビー11に重ii’、iな平面内で万いに直交J
る二り向へ移動させるための一つの電気的移動手段とか
らl: 2.試料移動機構と、該試料移動機構による試
料の移動方向と移動達磨を指定する試料移動信号発(1
一手段と、該試料移動侶@光重丁段の出力信号と前記四
転イ8号発生手段から供給される回転仏舅に基づいて前
記一つの電気的移動手段に駆動信号を与える中央制御回
路を備え1こことを特徴とするしのである。 第1図は本発明の 実施例装置を示す略図で、図中1は
試料を人わしており、光軸7方向からの電子線(Jよつ
(照射される。電子線に対する偏向二1イル2×、2V
には走査信号回路3からの走査信号が回転回路4を介し
て供給されており、回転111路4へ回転イス号が与え
られていない状態では試料面は°X 、 V j)向に
一次元走査される。試料1を数置づる試料移動信号5に
は電気的な移動手段としz ′)のパルスモータ6tl
、6Vが取り付けられ(おり、該パルスを一ター6N、
6Vの駆動によつ(試料1は1jいに自交づる 方向1
−1.Vへ移動するが、この11.■の7’J向は前記
x、■の方向と一致りるJ、うに調整され(いる。又、
走査像表示手段として用いられるCRT7の偏向]イル
7X7 Y IJ11前記走査信号回路3からの走査信
号が供給され、CRTR面の+evt変調信号として試
料からの検出飢シJが′ノλ−られるのでCRTR面に
は試料走査像が表示される。前記同転回路4へは回転化
号発〈1手段8からの111号が供給されており、該回
転信号発生手段8を操作することにより試料りにおける
試料走査方向を回転させCRT画面内の視野を任意に回
転させることができる。一方CRT画面の視野を移動さ
せるためには、X方向とY方向への試料移動信号を発生
する移動信号発生手段9を操作し、該移動信号発生手段
9からの出力伝号を中央制御回路10を介してパルスモ
ータの駆動回路11H,11Vに供給する。中央制御回
路10には回転信号発生手段8からの回転信号も供給さ
れており、移動(8号発生手段9からの入力信号と回転
信号とに基づいて駆動回路11N、11Vに供給する制
m信号を決定する。第2図(ま、回転信号弁1回路8の
出力を零とした場合にJj LJるCR王両画面走査方
向X、Yを基準として、試料面上における照射ビームの
走査方向×、yとパルスモータ6H,6Vによる試料移
動方向ト1.■の関係を表わしたーしのであり、前述し
たように方向+1.Vは夫々方向x、■と一致しており
、従って方向X、Yとも一致する。このことはパルスモ
ータ6Hを駆動させればCRT画面内の視野が横(×)
ノ“ノ向へ移11 L、パルスモータ6vを駆動させれ
ばCRT画面内の視野が縦(Y)方向へ移動4ることを
息味I)る。 第3図は第2図の1人態から回転信号発生回路8を操作
して照射ビームによる試料走査方向を角度θ回転させた
ときの変化を表ねづものであり、パルスを一タによる移
動方向]」、■が照射ビームの走査す向x、yと平行で
イjくなり、角度−〇をなり。従って、パルスモークロ
11のみによって試料を移動させるとCRT画面にJj
ける視野は画面の横方向には移動Uずに横り向×ど角度
−〇をなすIJ向へ移動づることCL l、;る。第1
図の装置においては移動f九月発9手段9からの出力信
号が直接パルス[−夕の駆りJ回路111−1.11V
に供給されるので・はなく、中央制御回路1・Oにおい
て回転イ5¥3 fl生−1段8からの回転信号によっ
て処理された移動(+”; ;”rが駆動回路11H,
11Vに供給される例えば、移初信′p: R4−1段
9の゛X′方向のツマミを仔J3の方向I\任意の角f
α同転させて第4図中ベクトルA−(・表わされる信″
P号が発生すると、該ベクトルAと角度−〇をなす目、
Y方向の成分Ah。 AVに相当する信号に変換されて大々駆動回路11H,
11Vに供給される。その結束、試111はX方向へ移
動しCRT画面中の視野は横(X)73而へ移動する。 同様に、移動信号発生手段9の′Y′方向ツマミを任意
の方向へ任意の角度回転させて、第5図中ベクトルf3
1′表わされる信号が発生すると、該ベク[−ルBと角
度−θをなすト1゜Y方向の成分Bh 、Bvに相当す
る信号が中央制御回路10より発生して駆動回路11N
、11Vに供給される。その結宋、試料1はX方向へ移
動しCRT画面中の視野は縦(Y)7’j向へ移動づる
。 即ち、第1図の実施例装置では移動信号発生手段9にお
ける゛X′方向とl Y +方向ツマミ操作によるCR
T画面内の視野移動方向が視野回転操作に拘わりなく常
に一定に保たれるので、試料面内の所望と覆る視野を捜
1操作が従来よりも容易になる。 尚、本発明は第1図の実施例装置に限定されるものでは
なく、例えば移動信号発生手段9に]つのつまみを設け
る代わりにジョイステイクを用い、該ジョイステイクの
倒れ方に応じて一種類の試料移動信号を発生するように
してもよい。また、例えばX’IJ向つまみの代わりに
−(×、−Xスイッチを、% Y / 方向つまみの代
わりに+Y、−Yスイッチを使用してもよい。 以上に詳説した如く、本発明によれば照射ビームによる
試料走査の方向を回転させても試料像表示手段における
視野移動方向を常に一定に保つことがぐきるので、試料
像表示手段における視野選択の操作性を著しく向上さ口
ることが可能となる。 図面の簡単な説明 第1図は本発明の一実施例装置を示す略図、第2図乃〒
第5図は第1図の装置の動作を説明するための略図ぐあ
る。 1:試料、2X 、 2V :偏向]イル、3:走査信
号回路、/′I:回転回路、5:試料移動機構、6t1
,6v:パルスを一タ、7:にRT、7X、7Y:偏向
:]イル、8:回転イh号fl−1手段、9:移動信号
発生手段、10:中央制御回路、111111v:駆動
回路。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊藤 −夫

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 照射ビームを試料面上で互いに直交する二方向へ偏向す
    るための二つの偏向素子からなる偏向手段と、該偏向手
    段へ回転回路を介して走査偏向信号を供給する走査信号
    回路と、該走査信号回路の出力が供給される走査像表示
    手段と、前記試料を前記照射ビームに垂直な平面内で互
    いに直交する一方向へ移動させるための二つの電気的移
    動手段からなる試料移動機構と、該試料移動機構による
    試料の移動方向と移動量を指定する試料移動信号発生手
    段と、該試料移動信号発生手段の出力信号と前記回転回
    路に印加される回転信号に基づいて/′前記二つの電気
    的移動手段に駆動信号を与える中央処理回路を備えた試
    料像表示装置。
JP6309782A 1982-04-15 1982-04-15 試料像表示装置 Granted JPS58178949A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6309782A JPS58178949A (ja) 1982-04-15 1982-04-15 試料像表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6309782A JPS58178949A (ja) 1982-04-15 1982-04-15 試料像表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58178949A true JPS58178949A (ja) 1983-10-20
JPH0232741B2 JPH0232741B2 (ja) 1990-07-23

Family

ID=13219452

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6309782A Granted JPS58178949A (ja) 1982-04-15 1982-04-15 試料像表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58178949A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63266745A (ja) * 1987-04-24 1988-11-02 Nikon Corp 試料像の視野移動装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54114171A (en) * 1978-02-27 1979-09-06 Jeol Ltd Sample shifting device for electronic microscope

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54114171A (en) * 1978-02-27 1979-09-06 Jeol Ltd Sample shifting device for electronic microscope

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63266745A (ja) * 1987-04-24 1988-11-02 Nikon Corp 試料像の視野移動装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0232741B2 (ja) 1990-07-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2306862A (en) Television remote control
JP3101114B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JP2001035433A (ja) 走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法
JPS58178949A (ja) 試料像表示装置
US3801784A (en) Scanning electron microscope operating in area scan and angle scan modes
US4125772A (en) Scanning electron microscope with eddy-current compensation
US4439681A (en) Charged particle beam scanning device
US4937848A (en) X-ray examination apparatus with referencing system for the video display
JPH057817B2 (ja)
GB1465518A (en) Scanning charged particle microprobe apparatus
JP2726538B2 (ja) 電子顕微鏡
US6727911B1 (en) Method and apparatus for observing specimen image on scanning charged-particle beam instrument
JPS59201354A (ja) 電子顕微鏡
JPS6039749A (ja) 走査電子顕微鏡
JPS5858779B2 (ja) 電子顕微鏡等用視野移動装置
JPS59148255A (ja) 走査電子顕微鏡
US5438196A (en) Scanning tunneling microscope
JPH0232739B2 (ja)
JPS59201352A (ja) 電子顕微鏡における観察視野の記録及び表示装置
JPS63266745A (ja) 試料像の視野移動装置
JPS58169763A (ja) 定移動ズ−ム装置
JP2647949B2 (ja) 走査型電子顕微鏡のアライメント装置
JPH01211843A (ja) 荷電粒子ビーム装置
JPH0238368Y2 (ja)
JPS6056343A (ja) 荷電粒子線装置