JPS58161870A - 電力ケ−ブル絶縁層の水トリ−の検出方法 - Google Patents

電力ケ−ブル絶縁層の水トリ−の検出方法

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JPS58161870A
JPS58161870A JP57042790A JP4279082A JPS58161870A JP S58161870 A JPS58161870 A JP S58161870A JP 57042790 A JP57042790 A JP 57042790A JP 4279082 A JP4279082 A JP 4279082A JP S58161870 A JPS58161870 A JP S58161870A
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • G01R31/1227Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
    • G01R31/1263Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
    • G01R31/1272Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ポリエチレンケーブルに多く発生する水トリ
ーの有無を検出する検出方法に関する。
水トリーは、ケーブルにおいて絶縁体に浸透してくる水
分と、絶縁体中のホイド、半導電層の突起等の異常霜界
部が原因で発生し、ケーブルの絶縁特性を著しく劣化せ
しめる原因となるものである。
最近は、この水トリーによってポリエチレン絶縁ケーブ
ルの破壊事故が頻発し、大きな問題となってきている。
そこで、本発明者等は上記の問題を解決する方法として
、ケーブルの放電特性から水トリー〇発生の何無を検出
する方法を提案した。(特願昭50−115341号)
。具体的には直流電源で測定しようとするケーブルを充
電し1 しかる後放電せしめ、この放電電流を約30秒
間測定して積分することにより吸収電荷tQを求めこの
値を比較することによシ劣化を判定しようとするもので
ある。
しかし、この方法では測定しようとするケーブルが実布
設の長尺なケーブルの場合には、ケーブル自身の容量C
が大きいため、充放電時の電荷量Qが大きくなり、水ト
リー発生部の余効電流(時間的遅扛のある電流)がマス
クさnてしまい検出できないという欠点があった。
そこT゛放電初期の瞬間放ttmをバイパスさせた後、
所定時間の遅nをもって継続して放電する余効電流の放
電電流を測定して吸収電荷量を求めることを特徴とする
水トリーの検出方法が提案さfた。(特願昭52−21
779号) しかしながら実際の測定にあたっては、ケーブルは地中
に埋設さ扛ているためその終端のヘッド部を通して行な
うことになるのでケーブル自体の放電特性を測定するに
際し、ヘッド部が同時に測定さnることになるためケー
ブル部分の劣化判定即ち、ヘッド部vrはコンパウンド
が充填さ扛ているため劣化による\電数収電荷量の増加
はケーブル部に比べてはる力・に大きく充放電時の電荷
量を人きくするからである。
1ノ上の欠壱に鑑み本発明は、ケーブルヘッドから測シ
I!しても、ヘッド部の影響は受けずにケーブル部のみ
の劣化の判定ができるようにした水トリーの検出力法を
提供するもので、その要旨とするところは、導体上に絶
縁層、遮蔽層、シースを設けたケーブルを地中に埋設し
1その端部に前記遮蔽層と離間して接地さnたヘッドが
接続さnたケーブルをケーブルヘッドから充電し、しか
る後放市し1放電初期の瞬間放電電流をバイパスさせ、
その後所定時間の遅7″Lをもって余効電流の放電電流
を吸収電荷量として測定し、その吸収電荷量から水トリ
ーの有無を検出する検出方法において、最初(r(ケー
ブル遮蔽層を接地した後、所定時間訓電し、その後導体
を短絡して放電することによって、ヘッド部の吸収電荷
量Q1およびケーブル絶縁層の吸収電荷量Q2を測定し
、次にケーブル遮蔽層と導体を接続した後、同様にして
所定時間課電し、その後ケーブル遮蔽層を接地するとと
もに導体を短絡して放電することによシ、ケーブルヘッ
ドの吸収電荷量Q1を測定し、第1の測定による上記吸
収′電荷量Qt +Qzと第2の測定による吸収電荷量
Q1との差からケーブル絶縁層の吸収電荷量Q2を求め
て水トリーの検出を行なうことを特徴とするものである
以下、本発明を図面により詳細に脱骨する。
第1図は宵カケープルの電荷量の検出回路を示したもの
で、1は測定しようとするケープIしを示し、1aid
その導体、1bはその架橋ポリエチレン絶縁層、1Ct
riその遮蔽層、1dはそのシースで、このケーブル1
は地中2に埋設さ扛ている。
3けケーブルヘッドでケーブル端部が挿入さ扛る、とと
もに金属ケース3aFi接地さnている。
3bはケース内部に充填さ扛たコンパウンドである。4
は直流電源、5は電流測定器、例えばビ4アンメーター
で7はこの電流を時間でm分した亀荷喰として測定する
ための電荷量測定器である。
SIは直流電源4の切換スイッチ、例えば真空スイッチ
、SIは枚重電流測定用の切換スイッチ、S3t/″i
電流測定器5に並列に接続さlrしたバイパス回路Oバ
イパススイッチで、タイマー6によって作動する。こ【
らの切換スイッチS1 = SI 1 S3は相7iに
連動し、切換スイッチS、が入った時切換スイッチS2
が開き、また切換スイッチS1が開いた時、切換スイッ
チS2.S、が入る。
またスイッチS、けタイマー6によシ一定時間抜切、r
Lるよう作動する。
切換スイッチS4は遮蔽層1Cを接地し、又は導体1d
に接続するための切換スイッチである。
しかして実線路の測定回路を第2図乃至第5図の要部等
価回路に代えて示す。
図中、電1r 畢’ Q tは導体1aとヘッド3間の
容量01に、電荷量Q2は導体1aと遮蔽層10間の芥
計02に、電荷量Q、ta遮蔽層1cと地中2間の容量
C1にそ扛ぞn蓄えらγしる吸収電荷量をホす。
先ず第2図の如く切換スイッチS□を入扛でケーブル遮
蔽層1cを接地した後、切換スイッチS。
の可動接片af固定接漬b gA+1に入n直流電源4
によってたとえば2分間ヘッドの容量C1、ケーブルの
容量C2をそnkn充電する。
この結果、容量C1,C2にはQlおよびC2の電荷が
蓄えらnる。
次に第3図に示す如く切換スイッチS1を開き1 スイッチS2を入fると、測定器5を介して/C2〜1
a−82の放電回路を形成してC1,C2に充電さnた
電荷Q1− Qgが放電さnる。
実際には第1図に示すように初期の瞬間放電電流が流f
る期間(約3秒)はバイパススイッチS。
が人っているため電流は測定器には流nず、タイマー6
が作動してスイッチSaが開いた後時間的に遅nのある
余効電流が電流測定器5により約30秒測定さf1電荷
量測定器7に記録さfる。この曲:定値Qは吸収電荷量
Q、、Q2が加算さnたものが得らyする。
次に第4図の如く切換スイッチS4の可動接片・亀を固
定接、5% C側に人nで遮蔽層と導体1aを接続した
後、切換スイッチS1を入nて直流電源4VCよって容
量C,,C3を2分間充′出し電荷量Q1(23を蓄え
る。この場合、容量C2の両端は同電位であるたぬC2
への充電電荷量Q2は0である。
こうEて、充分充電した後、亮5図に示す如く切換スイ
ッチS1を開き切換スイッチS4の可動接Pi’ aを
固定接小bljllc入nると、容量C3が短絡さγL
″′C市荷量Q、が0となる。したがって電流測定55
には電荷i’ Q lが迎i定さrしる。
従って、前記電荷量Q(Q1+Q2  )と上記測定で
得らnた電荷量Q1 との差からケーブル絶縁、層の吸
収電荷量Q2が求めら扛る。
以上のように本発明によ扛はケーブルヘッドが接続ζn
た電カケープルのケーブル部分の劣化の測定にケーブル
ヘッドの劣化の影響を受けることなく行なうことができ
る。又測定はケーブルヘッドから行なうことができるの
そその作業は容易である。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示し、第1図はその検出回路の
一%を、第2図乃至第5図はその要部等価量8に代えた
検出11a序を示す。 1・・・ケーブル    1a・・・導体1b・・・絶
縁層    1c・・・遮蔽層1d・・・シース   
 2・・・地 中3・・・ヘッド     4・・・直
流電源5・・・電流測定器   6川タイマー札、s2
.s3.s↓ ・・・切換スイッチ特 許 出 願 人
    藤首電線株式会社第2図 第3図 第4図 第5図 CO

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 導体上に絶縁層、遮蔽層、シースを設けたケーブルを地
    中に埋設し、その端部に前記遮蔽層と離間して接地さn
    たヘラ+゛が接続さnたケーブルをケーブルヘッド力・
    ら充電し、しかる後放電し、放電初期の瞬間放電電流を
    バイパスさせ1その後所定時間の遅nをもって余効電流
    の放!電流を吸収電荷量として測定し、その吸収電荷量
    力・ら水トリーの有無を検出する検出方法において、最
    初に、ケーブル遮蔽層を接地した後、所定時間課寛し、
    その後導体を短絡して放電することによってケーブルヘ
    ッドの吸収電荷量Q□と、ケーブル絶縁層の吸収電荷量
    Q2を測定し、次にケーブル遮蔽層と導体を接続した後
    、同様にして所定時間課電し、その後ケーブル遮蔽層を
    接地するとともに導体を短絡して放電することによシケ
    ーブルヘッドの吸収電荷量Q、を測定し1上記第1の測
    定による吸収電荷量cp、t+Q2と第2の測定による
    吸収電荷m’ Q 1との差力・らケーブル絶縁層の吸
    収電荷量Q2を求めて水トリーの検出を行なうことを特
    徴とする市カケープル絶縁層の水トリー検出方法。
JP57042790A 1982-03-19 1982-03-19 電力ケ−ブル絶縁層の水トリ−の検出方法 Granted JPS58161870A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6824846B1 (en) 1989-03-16 2004-11-30 Pi-Patente Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung (Gmbh) Entwicklung Und Verwertung Packaging envelope
WO2017150691A1 (ja) * 2016-03-03 2017-09-08 住友電気工業株式会社 絶縁体の絶縁性能の評価方法
CN108445341A (zh) * 2018-03-01 2018-08-24 华南理工大学 一种电缆护套多点接地下各段泄露电流的计算方法

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JPWO2017150691A1 (ja) * 2016-03-03 2018-12-27 住友電気工業株式会社 絶縁体の絶縁性能の評価方法
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