JPS58159161A - Electronic device having self-diagnosing function - Google Patents

Electronic device having self-diagnosing function

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JPS58159161A
JPS58159161A JP57042131A JP4213182A JPS58159161A JP S58159161 A JPS58159161 A JP S58159161A JP 57042131 A JP57042131 A JP 57042131A JP 4213182 A JP4213182 A JP 4213182A JP S58159161 A JPS58159161 A JP S58159161A
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display
diagnosis
ram
cpu
self
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Hidemi Yokogawa
横川 秀美
Teruo Manome
馬目 輝夫
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Tektronix Japan Ltd
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Sony Tektronix Corp
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors

Abstract

PURPOSE:To simplify both the circuit constitution and a diagnosis program and to assure the display of the result of diagnosis, by allotting a display storage region over plural RAMs. CONSTITUTION:An ROM24 stores a program by which a CPU21 controls a device 22 to be controlled and the arithmetic processing is given to the signal supplied from the device 22. A diagnosis program of each block is stored in a diagnosis ROM26. A multiplexer 18 connects selectively RAM16 and 28 to a bus 10 or a display control circuit 20 in response to the control signal given from the circuit 20. A display RAM region covers the RAM16 and 28 consecutively. In case the CPU12 uses the CPURAM region and the display RAM region of the RAM16 and 28, the multiplexer 18 connects the RAM16 and 28 to a main bus 10.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は処理手段と、複数個のランダム・アクセス・メ
モリと、診断プログラムの記憶されたリード・オンリ・
メモリとを有し、自己診断結果を表示手段(二表示する
電子機器C1関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention comprises a processing means, a plurality of random access memories, and a read-only memory storing a diagnostic program.
The present invention relates to an electronic device C1 having a memory and displaying self-diagnosis results.

近年、種々の電子機器にはマイクロプロセッサ等の処理
手段(以下CPUという)が組込まれ、このCPUがリ
ード・オンリ・メモリ(読出し専用記憶回路二以下RO
Mという)に記憶されたプログラム(二従って種々の制
御及び演算を行っている。このような電子機器では、部
品の寿命、過大入力信号を供給したり、温度及び温度の
影響等によりROM、ランダム・アクセス・メモリ(以
下RAMという)及びキーボード等のCPU+二関連し
た回路に故障を行すことがあり、これが部分的τ 故障があっても、CPUは正確な制御及び演算が行えな
い。そこで、これら電子機器(二自己診断機能を付加し
、適宜自己診断を行ない、各回路が正常であることを確
認し、故障回路があった場合はその旨の表示を行なって
いる。
In recent years, various electronic devices have incorporated processing means (hereinafter referred to as CPU) such as microprocessors, and this CPU has read-only memory (read-only memory circuit 2 or below).
Accordingly, various controls and calculations are performed in the programs stored in the program (referred to as M).In such electronic devices, ROM, random - Access memory (hereinafter referred to as RAM) and circuits related to the CPU+2, such as the keyboard, may fail, and even if there is a partial failure, the CPU cannot perform accurate control and calculations.Therefore, These electronic devices (2) are equipped with a self-diagnosis function, perform self-diagnosis as appropriate, confirm that each circuit is normal, and display a message if there is a faulty circuit.

第1図は自己診断機能を有する従来の電子機器の、ブロ
ック図である。制御線、アドレス線及びデータ線を有す
るメイン・バス10には、例えばZ80A型マイクロ・
プロセッサであるCPU12゜入力装置としてのキーボ
ード14.RAM(1)16゜マルチプレクサ182表
示制御回路20.ロジック・アナライザ等の被制御装置
22.CPU12が被制御装置22を制御や被制御装置
22からの信号を演算処理するためのプログラムを記憶
したROM24.各ブロックを診断するためのプログラ
ムを記憶した診断ROM26が接続されている。
FIG. 1 is a block diagram of a conventional electronic device having a self-diagnosis function. The main bus 10, which has control lines, address lines, and data lines, includes, for example, a Z80A micro
A CPU 12 which is a processor; a keyboard 14 which is an input device; RAM (1) 16° multiplexer 182 display control circuit 20. Controlled device 22, such as a logic analyzer. A ROM 24 that stores a program for the CPU 12 to control the controlled device 22 and to process signals from the controlled device 22. A diagnostic ROM 26 storing a program for diagnosing each block is connected.

マルチプレクサ18は表示制御回路20の制御によりR
AM(If)28を選択的にメイーン・バス10または
表示制御回路20(−切換接続する。表示制御回路20
はバス10からの信号によりマルチプレクサ18を制御
すると共に、RAM28の表示RAM(記憶)領域から
の信号を表示手段である陰極線管(以下CRTという)
30に表示するの(二適当な信号に変換し、CRT 3
0の表示を制御する。
The multiplexer 18 is controlled by the display control circuit 20 to
AM (If) 28 is selectively connected to the main bus 10 or the display control circuit 20 (-).Display control circuit 20
The multiplexer 18 is controlled by the signal from the bus 10, and the signal from the display RAM (storage) area of the RAM 28 is transmitted to the cathode ray tube (hereinafter referred to as CRT) which is the display means.
Display on CRT 30 (2) Convert to appropriate signal and display on CRT 3
Controls the display of 0.

RAM16、RAM28、RO−M24及び診断ROM
26の割付けは第2図に示す如くなっている。即ち、全
記憶容量は65にバイトであるため、アドレスは000
0からFFFF(16進表示)までである。また、診断
ROM26は容量が4にバイトでありアドレス0000
から0FFFまでを占め、ROM24は容量カー53に
バイトでありアドレス1000からDFFFまでを占め
、RAM16は容量が4にバイトでありアドレスE00
0からEFFFまでを占め、RAM28は容量力14に
バイトでありアドレスF000力1らFFFFまで占め
る。RAM16及び28はCPU12の一時記憶回路と
してのCPURAM領域及び上述の表示RAM領域とし
て作用し、表示RAM領域はRAM28のアドレスF0
00からF3FFまでのIKバイト分割付けられてし)
る。よってCPURAM領域はアドレスgooo力1ら
E F F F及びF2O3からF F F Fまでの
7にノ(イトである。
RAM16, RAM28, RO-M24 and diagnostic ROM
The allocation of 26 is as shown in FIG. That is, the total storage capacity is 65 bytes, so the address is 000.
It ranges from 0 to FFFF (hexadecimal notation). The diagnostic ROM 26 has a capacity of 4 bytes and has an address of 0000.
ROM 24 has a capacity of 4 bytes and occupies addresses 1000 to DFFF, and RAM 16 has a capacity of 4 bytes and addresses E00.
The RAM 28 has a capacity of 14 bytes and occupies addresses F000 to FFFF. The RAMs 16 and 28 act as a CPU RAM area as a temporary storage circuit for the CPU 12 and the above-mentioned display RAM area, and the display RAM area is located at address F0 of the RAM 28.
IK bytes are divided from 00 to F3FF)
Ru. Therefore, the CPURAM area is 7 nodes from addresses gooo1 to EFFF and F2O3 to FFFF.

CPU 12が被制御装置22を制御したり、この装置
22からの信号の演算処理を行う場合、表示制御回路2
0を介してのCPU12力1らの市1]御信号(二より
、マルチプレクサ18はRAM28をメイン・バス10
(二接続する。よってRAM28のC)’URAM領域
がCPU12の一時記憶回路とビて動作し、またCPU
12の処理結果等はRAM28の表示RAM領域に記憶
される。この処理結果等をCRT30に表示する場合、
表示制御回路20を介してのCPU12からの制御信号
により、マルチプレクサ18はRAM+28を表示制御
回路20に接続する。表示制御回路20はRAM28の
表示RAM領域の内容を繰返し読出してCRT30に表
示する。尚、表示制御回路20がバス10を介さないで
直接RAM28の内容を読出すのは、CPtJのクロッ
ク周波数と表示制御回路のクロック周波数が異なるため
である。
When the CPU 12 controls the controlled device 22 or performs arithmetic processing on signals from the device 22, the display control circuit 2
0 to the CPU 12 via the main bus 10.
(Two connections are made. Therefore, the C of RAM28)'URAM area operates in conjunction with the temporary storage circuit of the CPU12, and the CPU
12 processing results etc. are stored in the display RAM area of the RAM 28. When displaying this processing result etc. on CRT30,
A control signal from CPU 12 via display control circuit 20 causes multiplexer 18 to connect RAM+28 to display control circuit 20 . The display control circuit 20 repeatedly reads out the contents of the display RAM area of the RAM 28 and displays them on the CRT 30. The reason why the display control circuit 20 directly reads the contents of the RAM 28 without going through the bus 10 is because the clock frequency of CPtJ and the clock frequency of the display control circuit are different.

電源スィッチがオンされた際、またはキーボードから自
己診断命令が入力された際、CPU12は診断ROM2
6のプログラムにより自己診断を行なう。ただし、CP
’U12及びROM26は故障していないものとする。
When the power switch is turned on or when a self-diagnosis command is input from the keyboard, the CPU 12
Perform self-diagnosis using program 6. However, C.P.
'It is assumed that U12 and ROM26 are not malfunctioning.

この自己診断は第3図の流れ図に従って行われる。まず
ステップ40によりRAM28をバス10に接続し、R
AM16及び28の診断を行う。この診断はCPUI 
2がカウンタの出力等の所定のデータをRAM16及び
28の各アドレスに書込み、次に書込んだデータを読出
して所定のデータと比較して行なう。ステップ42にお
いて、RAMに誤り(故障)かあ(5) つた場合はステップ44に移り誤りの内容をCPUI2
のレジスタに記憶し、ステップ46に移る。
This self-diagnosis is performed according to the flowchart shown in FIG. First, in step 40, the RAM 28 is connected to the bus 10, and the R
Diagnose AM16 and AM28. This diagnosis is CPU
2 writes predetermined data such as the output of a counter to each address of the RAMs 16 and 28, and then reads out the written data and compares it with the predetermined data. In step 42, if there is an error (failure) in the RAM (5), the process moves to step 44 and the content of the error is displayed on the CPU 2.
Then, the process moves to step 46.

ステップ42において誤りがなかった場合もステップ4
6に移り、ROM24の診断を行なう。ROM24の内
容はあらかじめ定められているので、CPU12はRO
M24の各アドレスの内容を順次加算し、最終値が所定
値と等しいか否かを比較して、ROMの診断を行なう。
Even if there is no error in step 42, step 4
6, the ROM 24 is diagnosed. Since the contents of the ROM 24 are predetermined, the CPU 12
The contents of each address of M24 are sequentially added and compared to see if the final value is equal to a predetermined value, thereby diagnosing the ROM.

ステップ48において、)<0M24に誤り(故障)が
あればステップ50に移り、その誤りの内容をCPU1
2のレジスタに記憶してステップ52(1移る。ステッ
プ48で誤りがない場合もステップ52に移り、キーボ
ード14の診断を行う。この診断はキーボード14の各
キーが全部押されていないか、操作者が所定順序でキー
を押した場合所定のキー・コードが発生しているかを調
べる。ステップ54において、キーボード14(二誤り
(故障)があればステップ56(1移り誤りの内容をC
PU12のレジスタに記憶して、ステップ−38(1移
る。ステップ54で誤りのない場合もステップ58に移
る。ヌ(6) テップ58ではCPU12のレジスタに記憶された誤り
の内容または誤りなしという情報をRAM28の表示R
AM領域に転送し、RAM28を表示制御回路20に接
続して、自己診断結果をCRT30に表示する。
In step 48, if there is an error (failure) in )<0M24, the process moves to step 50, and the content of the error is
2 and moves to step 52 (1). Even if there is no error in step 48, the process moves to step 52 and diagnoses the keyboard 14. This diagnosis checks whether all keys on the keyboard 14 are pressed or not. When the person presses the keys in a predetermined order, it is checked whether a predetermined key code is generated.In step 54, if there is a second error (failure) on the keyboard 14, step 56 (changes the content of the first shift error to C) is checked.
It is stored in the register of the CPU 12 and moves to step -38 (1. If there is no error in step 54, the process moves to step 58. (6) In step 58, the content of the error or the information that there is no error stored in the register of the CPU 12 is stored. Display R of RAM28
The self-diagnosis results are transferred to the AM area, the RAM 28 is connected to the display control circuit 20, and the self-diagnosis results are displayed on the CRT 30.

しかし、従来のこの電子機器においては、表示に割付っ
ているため、RAM28全体またはRAM28の表示R
AM領域が故障していた場合に、診断結果はCRT30
に表示されず、少くともRAM28が故障していること
しか推定できなかった。よって、他のブロックの診断を
行ったのにもかかわらず、その診断結果を入手できなか
った。
However, in this conventional electronic device, since it is allocated to the display, the entire RAM 28 or the display R of the RAM 28
If the AM area is out of order, the diagnosis result is CRT30
was not displayed, and we could only assume that at least RAM 28 was out of order. Therefore, even though other blocks were diagnosed, the diagnosis results could not be obtained.

このような欠点を改善するため、少くとも自己診断の際
の表示においては、表示RAM領域の割付け(アドレス
)を可変として、正常なRAMに表示RAM領域を割付
けることが考えられる。しかし、表示RAM領域のアド
レスを可変とするためには、RAMの診断結果に応じて
表示RAM領域用のアドレス信号をシフトする機能が必
要となる。CPUI 2と表示制御回路20のクロック
周波数が異なる場合、このアドレス信号のシフト機能は
CPU12では行えず、新たな可変アドレス・シフト回
路が必要となり、構成が複雑になるとイ艮 共に高価となる欠点がある。また、桝えCPUI2と表
示制御のクロック周波数を等しくして、アドレス信号の
シフト機能をCPU12で行うとしても、このためのプ
ログラムを診断ROM26f二記憶させなければならず
、プログラム開発の費用が増すと共に、ROM26の容
量が増大するという欠点がある。
In order to improve this drawback, it is conceivable to make the allocation (address) of the display RAM area variable, at least in the display during self-diagnosis, and to allocate the display RAM area to a normal RAM. However, in order to make the address of the display RAM area variable, a function is required to shift the address signal for the display RAM area in accordance with the RAM diagnosis result. If the clock frequencies of the CPU 2 and the display control circuit 20 are different, this address signal shift function cannot be performed by the CPU 12, and a new variable address shift circuit is required, which has the disadvantage of becoming expensive if the configuration becomes complicated. be. Furthermore, even if the clock frequencies of the CPU 2 and the display control are made equal and the shift function of the address signal is performed by the CPU 12, the program for this must be stored in the diagnostic ROM 26f, which increases the cost of program development and , there is a disadvantage that the capacity of the ROM 26 increases.

従って本発明の目的は上述の従来技術の欠点を克服した
自己診断機能を有する電子機器の提供にある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide an electronic device having a self-diagnosis function that overcomes the drawbacks of the prior art described above.

本発明の他の目的は回路構成及び診断プログラムが簡単
であり、表示RAM領域を有する少くとも1個のRAM
が故障しても診断結果を表示できる電子機器の提供にあ
る。
Another object of the present invention is that the circuit configuration and diagnostic program are simple, and that at least one RAM having a display RAM area is used.
The purpose of the present invention is to provide electronic equipment that can display diagnostic results even if the equipment malfunctions.

以下、本発明の好適な一実施例(二ついて詳細に説明す
る、。第4図は本発明の好適な一実施例のブロック図で
あり、このブロック図は第1図のブロック図と一部類似
しているので同様のブロックには同じ参照番号が符しで
ある。第4図の本発明の実施例が第1図の従来例と異な
る点は、RAM16が直接パス10に接続されず、マル
チプレクサ18に接続されている点である。マルチプレ
クサ18は表示制御回路20からの制御信号に応じてR
AM16及び28をバス10または表示制御回路20に
選択的に接続する。また、RAM16及び28、ROM
24並び(−診断ROM26の割付けは第5図のように
なっている。即ち、診断ROM26、ROM24、RA
M16及び28のアドレスの割付けは第2図に示した従
来例と同じであるが、表示RAM領域がRAM16及び
28に連続してまたがっている。RAM16のアドレス
E000からEDFFまでの3.5にバイトはCPUR
AM領域として作用し、アドレスEEOOからEFFF
の0.5 Kバイトは表示RAM領域の一部として作用
し、例えばCRT30の表示画面の上(9) 半分(第6A図参照)を担当する。またRAM28のア
ドレスF200からFFFFの3.5にバイトはCPU
RAM領域として作用し、アドレスFO00からFIF
Fまでの0.5 Kバイトは表示RAM領域の一部とし
て作用し、例えばCRT30の表示画面の下半分(第6
A図参照)を担当する。
Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention (two will be explained in detail). Fig. 4 is a block diagram of a preferred embodiment of the present invention, and this block diagram is partially the same as the block diagram of Fig. 1. Like blocks are given the same reference numerals because of their similarity.The embodiment of the present invention shown in FIG. 4 differs from the prior art example shown in FIG. The point is that the multiplexer 18 is connected to the multiplexer 18.The multiplexer 18 is connected to the R
AMs 16 and 28 are selectively connected to bus 10 or display control circuit 20. In addition, RAM16 and 28, ROM
24 array (-The layout of the diagnostic ROM 26 is as shown in FIG. 5. That is, the diagnostic ROM 26, ROM 24, RA
The allocation of addresses for M16 and M28 is the same as in the conventional example shown in FIG. 2, but the display RAM area spans RAM16 and M28 consecutively. 3.5 bytes from RAM16 address E000 to EDFF are CPU
Acts as an AM area, from address EEOO to EFFF
The 0.5 Kbytes act as part of the display RAM area, and are responsible for, for example, the upper (9) half of the display screen of a CRT 30 (see FIG. 6A). Also, the bytes from address F200 to FFFF 3.5 of RAM28 are CPU
Acts as a RAM area, from address FO00 to FIF
The 0.5K bytes up to
(see Figure A).

よって表示RAM領域はRAM16及び28のアドレス
EEOOからFIFFまでの連続したIKバイトである
Therefore, the display RAM area is continuous IK bytes from addresses EEOO to FIFF in RAMs 16 and 28.

CPU12がRAM16及び28のCPURAM領域を
一時記憶回路として利用したり、RAM16及び28の
診断を行ったり、演算処理結果及び自己診断結果をRA
M16及び28の表示RAM領域に記憶する場合、表示
制御回路20を介したCPU12からの制御信号により
、マルチプレクサ18はRAM16及び28をメイン・
パス10に接続する。CPU12による演算処理及び第
3図の流れ図(二従った自己診断は上述の従来例の場合
と同様に行うが、CPURAM領域のアドレスは第2図
の従来例と異っているだけである。アト(10) レスが異なってもこれらアドレスは固定されているので
動作に問題はない。しかし、自己診断の際の診断結果は
RAM16及び28の表示RAM領域の各々に記憶され
る。即ち同じ内容がRAM16及び28の表示RAM領
域の各々に記憶される。
The CPU 12 uses the CPU RAM areas of RAMs 16 and 28 as temporary storage circuits, diagnoses the RAMs 16 and 28, and sends arithmetic processing results and self-diagnosis results to RA.
When storing data in the display RAM areas M16 and M28, the multiplexer 18 stores the RAMs 16 and 28 as the main memory area according to a control signal from the CPU 12 via the display control circuit 20.
Connect to path 10. The arithmetic processing by the CPU 12 and the self-diagnosis according to the flowchart in FIG. 3 are performed in the same way as in the conventional example described above, except that the address of the CPU RAM area is different from the conventional example in FIG. (10) Even if the responses are different, there is no problem in operation since these addresses are fixed. However, the diagnosis results during self-diagnosis are stored in each of the display RAM areas of RAM 16 and 28. In other words, the same contents are It is stored in each of the display RAM areas of RAMs 16 and 28.

表示RAM領域の内容をeRT30に表示するには、マ
ルチプレクサ18がRAM16及び28を表示制御回路
20に接続し、表示制御回路20は表示RAM領域の内
容を繰返し読出す。よって診断結果はCRT30の表示
画面に第6図(二示す如く表示される。尚、RAM16
、RAM28、ROM24及びキーボード14が夫々故
障の場合には、EOI、BO2,EO3及びEO4と表
示される。第6B図の表示の場合はROM24が故障し
ているが、RAM16及び28は故障していない。第6
C図の表示の場合はRAM28が故障しているが、RA
M16が故障していないのでRAM16の表示RAM領
域の内容のみが表示されている。第6D図は第6C図の
場合と逆でRAM16が故障しているがRAM28は故
障していない。第6E図の場合はキーボード14及びR
AM28が故障しており、RAM16の表示RAM領域
が表示に利用されている。表示RAM領域を含むRAM
28が故障しても、他のブロックの診断結果も表示から
判断できる点に留意されたい。
To display the contents of the display RAM area on the eRT 30, multiplexer 18 connects RAMs 16 and 28 to display control circuit 20, which repeatedly reads the contents of the display RAM area. Therefore, the diagnosis result is displayed on the display screen of the CRT 30 as shown in FIG.
, RAM 28, ROM 24, and keyboard 14 are respectively displayed as EOI, BO2, EO3, and EO4. In the case of the display shown in FIG. 6B, the ROM 24 is out of order, but the RAMs 16 and 28 are not out of order. 6th
In the case of the display in figure C, RAM28 is faulty, but RA
Since M16 is not out of order, only the contents of the display RAM area of RAM16 are displayed. In FIG. 6D, the case of FIG. 6C is reversed, and RAM 16 is out of order, but RAM 28 is not out of order. In the case of Figure 6E, the keyboard 14 and R
AM28 is out of order, and the display RAM area of RAM 16 is being used for display. RAM including display RAM area
It should be noted that even if block 28 fails, the diagnostic results of other blocks can also be determined from the display.

第6B〜第6E図では第3図の流れ図(二従い各診断の
結果をまとめて表示していたが、第3図のステップ42
.48及び54において、各診断が終わる毎にその診断
結果を表示してもよい。第6F図はステップ48後の表
示でありl’−ERROR8: EO3Jの表示からR
OM24が故障していることが判ると共に、CRT30
の表示画面の下半分にしか表示されていないことからR
AM16が故障していることも判断できる。第6G図は
RAM16及び28が共に故障しているか、または/及
び表示制御回路20が故障している場合の表示である。
In Figures 6B to 6E, the results of each diagnosis are collectively displayed in accordance with the flowchart in Figure 3 (step 42 in Figure 3).
.. At 48 and 54, the diagnosis results may be displayed each time each diagnosis is completed. Figure 6F shows the display after step 48, and l'-ERROR8: R from the display of EO3J.
It turns out that the OM24 is broken, and the CRT30
Since it is only displayed in the lower half of the display screen, R
It can also be determined that AM16 is out of order. FIG. 6G shows a display when both RAMs 16 and 28 are out of order and/or the display control circuit 20 is out of order.

しかし、RAM16及び28が共に故障する確率は非常
に小さいこと(二留意されたい。
However, it should be noted that the probability that both RAMs 16 and 28 fail is very small.

上述の如く、本発明の自己診断機能を有する電子機器に
よれば、表示1(AM領領域複数個のRAM(二またが
っており、また診断結果を各RAMの表示RAM領域に
記憶しているので、仮えRAMの故障により表示RAM
領域の一部が動作しなくとも、他のRAMの表示RAM
領域に記憶された診断結果が表示される。よって、複数
個のRAMの一部が故障しても、他のブロックの診断も
含めたすべての診断結果を表示できる。また、表示手段
の診断結果表示位置よりRAMの故障を判断できる。更
に複数個のRAMに分れた表示1(AM領領域アドレス
は常(二固定であり、且つ連続しているので、表示RA
M領域の連続的繰返し読出しが容易である。
As described above, according to the electronic device having the self-diagnosis function of the present invention, since the display 1 (AM area spans multiple RAMs (two) and the diagnosis results are stored in the display RAM area of each RAM) , temporarily due to a RAM failure.
Even if part of the area does not work, display RAM of other RAM
The diagnostic results stored in the area are displayed. Therefore, even if some of the plurality of RAMs fail, all diagnosis results including those of other blocks can be displayed. Further, it is possible to determine whether the RAM is malfunctioning from the diagnosis result display position on the display means. Furthermore, since the display 1 (AM area address is always fixed and continuous) divided into multiple RAMs, the display RA
Continuous and repeated reading of the M area is easy.

上述は本発明の好適な一実施例(二ついて説明したが、
当業者には本発明の要旨を逸脱することなく種々の変更
変形を可能なことが理解されよう。
The above is a preferred embodiment of the present invention (although it has been described as two).
It will be understood by those skilled in the art that various modifications can be made without departing from the spirit of the invention.

例えば、複数個のRAMに分けた表示RAM領域の担当
を表示手段の上半分及び下半分ではなく、右半分及び左
半分にしてもよい。またCPU及び表示制御回路のクロ
ック周波数が等しいときはマルチプレクサを省略し、表
示制御回路はメイン・(13) パスまたはメイン・パス及びCPUの一方を介してて表
示RAM領域の内容を読出してもよい。更(二表示手段
はCRT以外に、液晶、プラズマ等のフラット・ディス
プレイ装置を用いてもよい。
For example, the display RAM area divided into a plurality of RAMs may be assigned to the right half and left half of the display means instead of the upper and lower halves. Furthermore, when the clock frequencies of the CPU and the display control circuit are the same, the multiplexer may be omitted and the display control circuit may read the contents of the display RAM area via the main (13) path or one of the main path and the CPU. . Furthermore, the display means may be a flat display device such as a liquid crystal display or a plasma display device in addition to the CRT.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は自己診断機能を有する従来の電子機器のブロッ
ク図、第2図は第1図の各メモリの割付けを示す図、第
3図は自己診断を説明する流れ図、第4図は本発明の好
適な一実施例のブロック図、第5図は第4図の各メモリ
の割付けを示す図、第6図は第4図の表示手段の表示を
示す図である。 12:処理手段 16.28:ランダム・アクセス串メモリ26:診断プ
ログラムの記憶されたリード・オンリ・メモリ 30:表示手段 特許出願人二ソニー・テクトロニクス株式会社(14) FIG、2         FIG、5FIG、6A
Fig. 1 is a block diagram of a conventional electronic device with a self-diagnosis function, Fig. 2 is a diagram showing the allocation of each memory in Fig. 1, Fig. 3 is a flowchart explaining self-diagnosis, and Fig. 4 is a diagram of the present invention. FIG. 5 is a diagram showing the allocation of each memory in FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram showing the display of the display means in FIG. 4. 12: Processing means 16. 28: Random access memory 26: Read-only memory in which a diagnostic program is stored 30: Display means Patent applicant 2 Sony Tektronix Corporation (14) FIG, 2 FIG, 5 FIG, 6A

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 処理手段と、複数個のランダム・アクセス・メモリと、
診断プログラムの記憶されたリード・オンリ・メモリと
を有し、上記処理手段が上記診断プログラムに従って自
己診断を行ない、診断結果を表示手段に表示する電子機
器において、上記複数個のランダム・アクセス・メモリ
の各々の領域の一部が上記診断結果を表示するための表
示記憶領域に割当られたことを特徴とする自己診断機能
を有する電子機器。
a processing means; a plurality of random access memories;
and a read-only memory storing a diagnostic program, wherein the processing means performs a self-diagnosis according to the diagnostic program and displays the diagnosis result on a display means, wherein the plurality of random access memories An electronic device having a self-diagnosis function, characterized in that a part of each area is allocated to a display storage area for displaying the diagnosis results.
JP57042131A 1982-03-17 1982-03-17 Electronic device having self-diagnosing function Granted JPS58159161A (en)

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