JPS58149501A - 安全作動器引外しデバイス - Google Patents
安全作動器引外しデバイスInfo
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- JPS58149501A JPS58149501A JP57216763A JP21676382A JPS58149501A JP S58149501 A JPS58149501 A JP S58149501A JP 57216763 A JP57216763 A JP 57216763A JP 21676382 A JP21676382 A JP 21676382A JP S58149501 A JPS58149501 A JP S58149501A
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- G21C—NUCLEAR REACTORS
- G21C17/00—Monitoring; Testing ; Maintaining
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/16—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using saturable magnetic devices
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03K19/00392—Modifications for increasing the reliability for protection by circuit redundancy
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、安全作動器の引外しデバイスに係る。
本発明のデ／考イスは特に、安全作動器の引外しのため
に使用され、原子炉での防鏝作用を開始することが可能
な安全作動器に使用される。
に使用され、原子炉での防鏝作用を開始することが可能
な安全作動器に使用される。
例えば原子炉が、原子炉の作動を制御し得る多数の装置
を含むことは公知である。これ・らの装置は安全作動器
と相称される。事故又は事件が発生した場合前記の如き
作動器が緊急に引き外され防謹作用によって事故を阻止
し得る。原子炉に於いては、いくつかの物理量の値、例
えは圧力、温度、中性子束等の値がいくつかの箇所で測
定される。
を含むことは公知である。これ・らの装置は安全作動器
と相称される。事故又は事件が発生した場合前記の如き
作動器が緊急に引き外され防謹作用によって事故を阻止
し得る。原子炉に於いては、いくつかの物理量の値、例
えは圧力、温度、中性子束等の値がいくつかの箇所で測
定される。
次に、糧々のデバイスに於いてこれらの量の値が基準値
に比較される。これらのデバイスは通常、物理量の値が
原子炉の正常動作に対応する所定値域内にあるときは、
ゼロでない値の論理比較信号を供給する。物理量が前記
の安全値域外になるとデバイスは、例えばゼロの値の論
理出力信号を供給する。これらのデバイスの出力信号が
安全作動器の引外しデーくイスに供給される。ある場合
にはこれらの引外しデバイスは、緊急作用を開始し得る
信号を出力に供給する論理２７２タイプのデバイスであ
る。種々のデノセイスから供給された論理状態００制御
信号が引外しデバイスの２つの入力ＶＣ供給されると引
外しデバイスの出力信号は例えば論理状態１になる。
に比較される。これらのデバイスは通常、物理量の値が
原子炉の正常動作に対応する所定値域内にあるときは、
ゼロでない値の論理比較信号を供給する。物理量が前記
の安全値域外になるとデバイスは、例えばゼロの値の論
理出力信号を供給する。これらのデバイスの出力信号が
安全作動器の引外しデーくイスに供給される。ある場合
にはこれらの引外しデバイスは、緊急作用を開始し得る
信号を出力に供給する論理２７２タイプのデバイスであ
る。種々のデノセイスから供給された論理状態００制御
信号が引外しデバイスの２つの入力ＶＣ供給されると引
外しデバイスの出力信号は例えば論理状態１になる。
例えば、１つの反転出力オアデートを含んでおシ該デー
トの２つの入力の各々が２つの入力を有する２つのアン
ドデートの出力に接続されて成る安全作動器引外しデバ
イスは公知である。これらのアンドゲートの各々は、制
御入力の１つ１つに種々のデ、ｑ ４スから供給される
制御信号を受信し、別の入力にテスト信号を受信し得る
。核テスト信号は、２つのアンドゲートの各制御入力に
与えられた制御信号の論理状態に関わシ無くオアデート
の出力に所定の論理状態１の信号を生起し得る。
トの２つの入力の各々が２つの入力を有する２つのアン
ドデートの出力に接続されて成る安全作動器引外しデバ
イスは公知である。これらのアンドゲートの各々は、制
御入力の１つ１つに種々のデ、ｑ ４スから供給される
制御信号を受信し、別の入力にテスト信号を受信し得る
。核テスト信号は、２つのアンドゲートの各制御入力に
与えられた制御信号の論理状態に関わシ無くオアデート
の出力に所定の論理状態１の信号を生起し得る。
公知デバイスの主たる欠点は、低出力作動器しか制御で
きないことである。しかし乍ら多くの分野特に原子炉に
於いては、安全作動器が比較的高い出力レベルを必要と
してお９、半導体基板に集積された論理回路によってこ
のようなレベルを達成することはできない。
きないことである。しかし乍ら多くの分野特に原子炉に
於いては、安全作動器が比較的高い出力レベルを必要と
してお９、半導体基板に集積された論理回路によってこ
のようなレベルを達成することはできない。
本発明の課題は、前記の如き欠点を除去し、集積回路に
組込まれたデバイスよシも高い出カ、Ｑワーを有する安
全作動器引外しデバイスを提供することである。
組込まれたデバイスよシも高い出カ、Ｑワーを有する安
全作動器引外しデバイスを提供することである。
本発明によれば、引外し手段と前記引外し手段の試験及
び制御のための手段とが組込まれてお９、前記引外し手
段の出力は作動器の引外し及び作動器の引外し不在に各
々対応する２つの論理状態を有し得る出力信号を供給す
べく構成されており、前記試験制御手段は、引外し手段
の制御信号を受信し引外し手段の出力信号に２つの論理
状態のいずれか１つを与えるための２つの制御入力と、
制御信号によれば引外し不在に対応する出力信号が供給
される筈であるときにも作動器の引外しに対応する論理
状態の出力信号を前記出力に供給せしめるテスト信号を
受信するテスト入力とを有している型の安全作動器用外
しデバイスであり、試験制御手段が磁気増幅器の３つの
一次巻線から構成されておシ、そのうちの２つの一次巻
線が制御信号に対応する直流を受容しておｐ残りの１つ
の一次巻線がテスト信号に対応する直流を受容するテス
ト巻線であり、引外し手段が磁気増幅器の二次巻線から
構成されており、前記二次巻線は交流源に接続されてお
シ、作動器は整流ブリッジを介して二次巻線に接続され
ていることを特徴とする安全作動器用外しデバイスが提
供される。
び制御のための手段とが組込まれてお９、前記引外し手
段の出力は作動器の引外し及び作動器の引外し不在に各
々対応する２つの論理状態を有し得る出力信号を供給す
べく構成されており、前記試験制御手段は、引外し手段
の制御信号を受信し引外し手段の出力信号に２つの論理
状態のいずれか１つを与えるための２つの制御入力と、
制御信号によれば引外し不在に対応する出力信号が供給
される筈であるときにも作動器の引外しに対応する論理
状態の出力信号を前記出力に供給せしめるテスト信号を
受信するテスト入力とを有している型の安全作動器用外
しデバイスであり、試験制御手段が磁気増幅器の３つの
一次巻線から構成されておシ、そのうちの２つの一次巻
線が制御信号に対応する直流を受容しておｐ残りの１つ
の一次巻線がテスト信号に対応する直流を受容するテス
ト巻線であり、引外し手段が磁気増幅器の二次巻線から
構成されており、前記二次巻線は交流源に接続されてお
シ、作動器は整流ブリッジを介して二次巻線に接続され
ていることを特徴とする安全作動器用外しデバイスが提
供される。
本発明の別の特徴によれば、−次巻線のアンペアターン
数がＯのとき、引外しデバイスに与えられる出力信号に
対応する電流の平均強度が最大であって作動器の引外し
論理状態に対応しておｐ、制御巻線の双方又は一方のア
ンペアターン数が所定値より大きくテスト巻線のアンペ
アターン数が０のとき、前記強度が所定しきい値よｐ小
であり作動器の引外し不在の論理状態に対応し−Ｃ↓・
す、制御巻線の双方又は一方のアンペアターン数が所定
値より大きくテスト巻線のアンペアターン数が所定値よ
り大きいとき、前記強度が最大であって作動器の引外し
論理状態に対応するように巻線のアンペアターＹ数が選
択されている。
数がＯのとき、引外しデバイスに与えられる出力信号に
対応する電流の平均強度が最大であって作動器の引外し
論理状態に対応しておｐ、制御巻線の双方又は一方のア
ンペアターン数が所定値より大きくテスト巻線のアンペ
アターン数が０のとき、前記強度が所定しきい値よｐ小
であり作動器の引外し不在の論理状態に対応し−Ｃ↓・
す、制御巻線の双方又は一方のアンペアターン数が所定
値より大きくテスト巻線のアンペアターン数が所定値よ
り大きいとき、前記強度が最大であって作動器の引外し
論理状態に対応するように巻線のアンペアターＹ数が選
択されている。
本発明の別の特徴によれば、テスト巻線の巻き数が各制
御巻線の巻き数の２倍であり、制御巻線及びテスト巻線
のアンペアターン数が所定値より太きいときはこれらの
巻線に流れる電流の強度が等しく、テスト巻線内の電流
の方向は各制御巻線内の電流の方向の逆向きである。
御巻線の巻き数の２倍であり、制御巻線及びテスト巻線
のアンペアターン数が所定値より太きいときはこれらの
巻線に流れる電流の強度が等しく、テスト巻線内の電流
の方向は各制御巻線内の電流の方向の逆向きである。
別の特徴によれば、電力源は正弦波電圧源であり、整流
ブリッジは全波整流器である。
ブリッジは全波整流器である。
添付図面に示す非限定具体例に基いて本発明をよシ詳細
に以下に説明する。
に以下に説明する。
第１図は、半導体基板に集積された低出力論理回路を含
む従来技術の安全作動器用外しデバイスの概略睨明図で
ある。該デバイスな、１、オアゲート１から成る引外し
手段を含んでお９、該ゲートの出力Ｓは、２つの論理状
態Ｏ又は１を有し得る出力信号を供給する。これらの状
態の１つ（例えば論理状態１）は、出力Ｓにより供給さ
れた信号を受信する安全作動器の引外しに対応してお９
、別の状態（例えばＯ）は、前記作動器の引外し不在に
対応している。該デバイスは更に、引外し手段に対する
試験及び制御のだめの手段を含む。この場合、試験制御
手段は論理アンドゲート１及び２から成る。これらのゲ
ートは制御人力ＥｌとＥ２とを有しておシ、これらの入
力は夫々、引外し手段（オアゲート１）の制御信号を受
信する。これらの制御信号は、変換器によって供給され
たパラメータの値を基準値に比較し得る種々のデバイス
から供給される。これらのゲートの第２人力Ｅ３はテス
ＨＮ号を受信するテスト入力である。該テスト信号の論
理状態は、入力Ｅｌ、Ｅ２に受信した制御信号の論理状
態に関わシ無くデバイスの出力Ｓが作動器の引外しく対
応する論理状態（例えばｌ）の信号を供給するように選
択されている。
む従来技術の安全作動器用外しデバイスの概略睨明図で
ある。該デバイスな、１、オアゲート１から成る引外し
手段を含んでお９、該ゲートの出力Ｓは、２つの論理状
態Ｏ又は１を有し得る出力信号を供給する。これらの状
態の１つ（例えば論理状態１）は、出力Ｓにより供給さ
れた信号を受信する安全作動器の引外しに対応してお９
、別の状態（例えばＯ）は、前記作動器の引外し不在に
対応している。該デバイスは更に、引外し手段に対する
試験及び制御のだめの手段を含む。この場合、試験制御
手段は論理アンドゲート１及び２から成る。これらのゲ
ートは制御人力ＥｌとＥ２とを有しておシ、これらの入
力は夫々、引外し手段（オアゲート１）の制御信号を受
信する。これらの制御信号は、変換器によって供給され
たパラメータの値を基準値に比較し得る種々のデバイス
から供給される。これらのゲートの第２人力Ｅ３はテス
ＨＮ号を受信するテスト入力である。該テスト信号の論
理状態は、入力Ｅｌ、Ｅ２に受信した制御信号の論理状
態に関わシ無くデバイスの出力Ｓが作動器の引外しく対
応する論理状態（例えばｌ）の信号を供給するように選
択されている。
アンドゲート１．２のテスト入力は反転入力であり、オ
アゲートの出力は反転出力である。
アゲートの出力は反転出力である。
下記の論理図表は、デバイスの動作をより十分に理解す
るためにデバイスの種々の箇所での毎号の論理状態を示
す。
るためにデバイスの種々の箇所での毎号の論理状態を示
す。
ＥＩ Ｅ２ Ｅ３ Ｓｌ
１ ０ ０ ０ １ ０ ０ １ ０ ０ ０ ０ ０ ０ １ １ ０ １ １ ０ １ １ １ １ １ １ １ ０ ０ １ １ 図表中、論理状態０は情報即ち電圧の不在を示し、論理
状態１は情報即ち電圧の存在を示す。テスト人力Ｅ３が
論理レベル００信号を受信し２つの制御人力１ｆｆ１．
Ｅ２の双方又は一方が薗理状態１の信号を受信すると、
デバイスの出力Ｓが論理状態Ｏに維持されることが表よ
り理解されよう。
１ ０ ０ ０ １ ０ ０ １ ０ ０ ０ ０ ０ ０ １ １ ０ １ １ ０ １ １ １ １ １ １ １ ０ ０ １ １ 図表中、論理状態０は情報即ち電圧の不在を示し、論理
状態１は情報即ち電圧の存在を示す。テスト人力Ｅ３が
論理レベル００信号を受信し２つの制御人力１ｆｆ１．
Ｅ２の双方又は一方が薗理状態１の信号を受信すると、
デバイスの出力Ｓが論理状態Ｏに維持されることが表よ
り理解されよう。
デバイスの出力１信号Ｓが作動器の引外しに対応する論
理状態１に移行するためには、２つの入力Ｅ１及びＥ２
が論理状態０の信号を同時に受信することが必要である
。この状態が表の第４行及び第８行に示されている。こ
の場合、２つの入力Ｅ１及びＥ２が論理状態００制御信
号を受信するとデバイスのテスト人力Ｅ３に受信したテ
スト信号の論理状態に関わシ無くデバイスの出力Ｓに論
理状態１の引外し信号が得られることが理解されよう。
理状態１に移行するためには、２つの入力Ｅ１及びＥ２
が論理状態０の信号を同時に受信することが必要である
。この状態が表の第４行及び第８行に示されている。こ
の場合、２つの入力Ｅ１及びＥ２が論理状態００制御信
号を受信するとデバイスのテスト人力Ｅ３に受信したテ
スト信号の論理状態に関わシ無くデバイスの出力Ｓに論
理状態１の引外し信号が得られることが理解されよう。
表の第５行、第６行及び第７行は、テスト人力Ｅ３が論
理状態１の信号を受信すると２つの制御人力１ｔｌ、Ｅ
２又は少くともその一方が論理状態１（／］Ｉ号を受信
しでもデバイスの出力Ｓが論理状態ｌに維持されること
を示す。従って、デバイスのテスト入力Ｅ３に論理状態
１のテスト信号が供給されると入力Ｅｌ、１Ｃ２に受信
した制御信号の論理状態に関わり無くデバイスの出力に
論理状態ｌの引外し信号が出現する。
理状態１の信号を受信すると２つの制御人力１ｔｌ、Ｅ
２又は少くともその一方が論理状態１（／］Ｉ号を受信
しでもデバイスの出力Ｓが論理状態ｌに維持されること
を示す。従って、デバイスのテスト入力Ｅ３に論理状態
１のテスト信号が供給されると入力Ｅｌ、１Ｃ２に受信
した制御信号の論理状態に関わり無くデバイスの出力に
論理状態ｌの引外し信号が出現する。
第２図は本発明の安全作動器列外（，７デバイスの概略
説明図である。該デバイスの動作は前出の論理図表に従
う。よシ詳細に後述する該デバイスは、引外し手段と、
前記引外し手段の制御及び試験のための手段とを含む。
説明図である。該デバイスの動作は前出の論理図表に従
う。よシ詳細に後述する該デバイスは、引外し手段と、
前記引外し手段の制御及び試験のための手段とを含む。
試験手段は、Ｆ９ｒ定の論理状態を有するテストイに号
を受信すると引外しす段を制御し、引外し手段の出力に
安全作動器の引外し２に対応する信号を供給せしめるこ
とが口］能である。
を受信すると引外しす段を制御し、引外し手段の出力に
安全作動器の引外し２に対応する信号を供給せしめるこ
とが口］能である。
前記状態のテスト信号が存在する限り、通常は作動器１
外しの不在に対応する制御信号が制御手段に供給されて
も、前記の引外し信号が出現する。
外しの不在に対応する制御信号が制御手段に供給されて
も、前記の引外し信号が出現する。
該デバイスに於いて、試験制御手段と引外し手段とはい
ずれも、矩形ヒステリシスリーイクルを有−する等しい
２つのトロイダル変成器’Ｉ’ｌ 、 ｌ”２から成る
磁気増幅器の一部である。これらの各変成器の一次巻線
のうちの直列に接続された２つの一次巻線は、人力Ｅｌ
に制御信号を受信する巻線Ｐ１を形成し、でいる。同様
にしで変成器の各々の一次巻線のうちの直列に接続され
た別の２つの一次巻線は入力Ｅ２に制御信号を受信する
巻線Ｐ２を廊形成している。６１Ｓ起の制御信号は電流
ＩＣＩ 、 ＩＣ２に対応する。変成器の第３の一次巻
線Ｐ３はテスト巻線であり人力Ｅ３に前記テスト偏力に
対応するアスト電流ＩＣ３を受容する。該電流は図示し
ない電力源により供給され得る。図中、狙、旦。
ずれも、矩形ヒステリシスリーイクルを有−する等しい
２つのトロイダル変成器’Ｉ’ｌ 、 ｌ”２から成る
磁気増幅器の一部である。これらの各変成器の一次巻線
のうちの直列に接続された２つの一次巻線は、人力Ｅｌ
に制御信号を受信する巻線Ｐ１を形成し、でいる。同様
にしで変成器の各々の一次巻線のうちの直列に接続され
た別の２つの一次巻線は入力Ｅ２に制御信号を受信する
巻線Ｐ２を廊形成している。６１Ｓ起の制御信号は電流
ＩＣＩ 、 ＩＣ２に対応する。変成器の第３の一次巻
線Ｐ３はテスト巻線であり人力Ｅ３に前記テスト偏力に
対応するアスト電流ＩＣ３を受容する。該電流は図示し
ない電力源により供給され得る。図中、狙、旦。
２
、狼は磁気増幅器を構成する各変成器の一次巻線の巻き
数を示す。領外１〜手段は磁気増幅器の二次巻＃ｊＰｉ
から構成されており、この場合には変成器’Ｉ”ｌ 、
’ｌ’２の等しい２つの二次巻線を含も・。
数を示す。領外１〜手段は磁気増幅器の二次巻＃ｊＰｉ
から構成されており、この場合には変成器’Ｉ”ｌ 、
’ｌ’２の等しい２つの二次巻線を含も・。
図中、１ユは変成器Ｔｌ、Ｔ２の各々の二次巻線の巻き
数を示す。磁気増幅器の二次巻線は正弦波交流源■に接
続されでいる。源Ｖは変成器ＴＩ。
数を示す。磁気増幅器の二次巻線は正弦波交流源■に接
続されでいる。源Ｖは変成器ＴＩ。
′■゛２の二次巻線の共有点０とダイオードＩ）１．ｉ
）２゜］）３．１）４ を含む整流ブリッジの端子の
１つとの間に接続されており、前記ブリッジの対角線内
に符号りで概略的に示される安全作動器が接続はれてい
る。
）２゜］）３．１）４ を含む整流ブリッジの端子の
１つとの間に接続されており、前記ブリッジの対角線内
に符号りで概略的に示される安全作動器が接続はれてい
る。
符号工は整流電流の平均値を示しており、符号Ｃ１及び
Ｃ２は変成器Ｔ１及びＴ２の磁気ケーシングを示す。巻
線内の電流の方向は図中の矢印で示される。テスト巻線
内の電流ＩＣ３の方向は制御巻線内の電流ＩＣＩ及びＩ
Ｃ２の方向の逆向きである。
Ｃ２は変成器Ｔ１及びＴ２の磁気ケーシングを示す。巻
線内の電流の方向は図中の矢印で示される。テスト巻線
内の電流ＩＣ３の方向は制御巻線内の電流ＩＣＩ及びＩ
Ｃ２の方向の逆向きである。
第３図よｐ本発明のデバ・ｆスの動作をより十分に理解
することができる。第３図は作動器り内での整流’ｌｉ
ｔ流Ｉの平均値の変化を、磁気増幅器の一次巻線のアン
ペアターン数ＮｌｌＣｌ −Ｎ２ＩＣ２−Ｎ３ＩＣ３の
和の関数として示す伝達ダイヤグラムである（ＩＣＩ
、 ＩＣ２、ＩＣ３は正である）。好捷しい具体例によ
れば、増幅器の二次巻線の巻き数Ｎ１と作動器りの整流
電流■の強度の平均値との積に一致する前記二次巻線の
アンペアターン数が、−次巻線のアンペアタ−ンの代数
和に等しいと仮定する。
することができる。第３図は作動器り内での整流’ｌｉ
ｔ流Ｉの平均値の変化を、磁気増幅器の一次巻線のアン
ペアターン数ＮｌｌＣｌ −Ｎ２ＩＣ２−Ｎ３ＩＣ３の
和の関数として示す伝達ダイヤグラムである（ＩＣＩ
、 ＩＣ２、ＩＣ３は正である）。好捷しい具体例によ
れば、増幅器の二次巻線の巻き数Ｎ１と作動器りの整流
電流■の強度の平均値との積に一致する前記二次巻線の
アンペアターン数が、−次巻線のアンペアタ−ンの代数
和に等しいと仮定する。
また、テスト巻線の巻き数Ｎ３は各制御巻線の巻き数の
２倍であり、Ｎ３二２Ｎ１＝２Ｎ２と仮定する。
２倍であり、Ｎ３二２Ｎ１＝２Ｎ２と仮定する。
最後に、３つの一次巻線の各々を流れる制御及び試験用
直流 ＩＣＩ 、ＩＣ２、ＩＣ３０強度の絶対値は尋し
い。
直流 ＩＣＩ 、ＩＣ２、ＩＣ３０強度の絶対値は尋し
い。
従ってアンペアターン数は、（電流強度ＩＣＩ。
ＩＣ２、ＩＣ３が０なので）アンペアターン数Ｎ１１ｃ
１．Ｎ２ＩＣ２，Ｎ５ＩＣ３がＯであるときに作動器内
の平均電流■の強度の値即ち引外し手段の出力Ｓでの値
が最大になるように選択されている。
１．Ｎ２ＩＣ２，Ｎ５ＩＣ３がＯであるときに作動器内
の平均電流■の強度の値即ち引外し手段の出力Ｓでの値
が最大になるように選択されている。
この最大強度は論理状態１を有する作動器側外し信号の
出現に対応しておシ、この間、制御及び試験用−次巻線
の各々の電流強度 ＩＣＩ 、ＩＣ２。
出現に対応しておシ、この間、制御及び試験用−次巻線
の各々の電流強度 ＩＣＩ 、ＩＣ２。
ＩＣ３の値Ｏは論理状態０に対応している。従ってこの
状態は前出の論理図表の第４行に対応し−Ｃおり制御信
号による作動器の引外しに対応しでいる。第３図の伝達
ダイヤグラム上の動作点はＣである。
状態は前出の論理図表の第４行に対応し−Ｃおり制御信
号による作動器の引外しに対応しでいる。第３図の伝達
ダイヤグラム上の動作点はＣである。
制御巻線（入力１〕１及びＥ２）のアンペアターン数
ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２の一方又は双方が所定値よ
り大でありテスト巻線（入力Ｅ３ ）のアンペアターン
数Ｎ５ＩＣ３がＯであるときは、作動器り内に流れる整
流電流■の平均強度値は所定しきい値ＩＳより小さい。
ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２の一方又は双方が所定値よ
り大でありテスト巻線（入力Ｅ３ ）のアンペアターン
数Ｎ５ＩＣ３がＯであるときは、作動器り内に流れる整
流電流■の平均強度値は所定しきい値ＩＳより小さい。
この状態は前出の論理図表の最初の３行に対応している
。
。
テスト巻線内の電流強度ＩＣ３が０でおり、従ってテス
ト巻線のテスト信号は論理状態Ｏである。
ト巻線のテスト信号は論理状態Ｏである。
電流ＩＣＩ及びＩＣ２の強度は、２つの制御巻線内のア
ンペアターン数ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２の一方又は
双方が所定値より大きくなるような値である。従って例
えばアンペアターン数ＮｌＩＣ１だけが所定値より犬で
ありアンペアターン数Ｎ２ＩＣ２、Ｎ５ＩＣ３がＯに等
しいならば作動器内の電流工の強度がしきい値Ｉｓを下
回り、動作点は第３図のダイヤグラムの符号Ｂに位置す
る。
ンペアターン数ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２の一方又は
双方が所定値より大きくなるような値である。従って例
えばアンペアターン数ＮｌＩＣ１だけが所定値より犬で
ありアンペアターン数Ｎ２ＩＣ２、Ｎ５ＩＣ３がＯに等
しいならば作動器内の電流工の強度がしきい値Ｉｓを下
回り、動作点は第３図のダイヤグラムの符号Ｂに位置す
る。
この状態は、出力Ｓの信号の論理状態が論理状態０と考
えられるので第２図の表の第３行に対応する。
えられるので第２図の表の第３行に対応する。
Ｎ２ＩＣ２が所定値よｐ犬でお９Ｎ３ＩＣ３とＮｌｌＣ
ｌ とがＯに等しい場合にも同じ理論を使用すること
ができる。この状態は論理図表の第２行に対応する。
ｌ とがＯに等しい場合にも同じ理論を使用すること
ができる。この状態は論理図表の第２行に対応する。
テスト巻線のアンペアターン数Ｎ５ＩＣ３が依然として
０に尋しいが制御巻線のアンペアターン数ＮｌｌＣｌ
及びＮ２ＩＣ２が所定値より大になると、動作点は第３
図のＡに位置する。作動器１）内の平均整流電流の値は
しきい値Ｉｓより小でありこの状態もまたデバイスの出
力Ｓに論理状態０を有する信号に対応する（前出の論理
図表の第１行）。
０に尋しいが制御巻線のアンペアターン数ＮｌｌＣｌ
及びＮ２ＩＣ２が所定値より大になると、動作点は第３
図のＡに位置する。作動器１）内の平均整流電流の値は
しきい値Ｉｓより小でありこの状態もまたデバイスの出
力Ｓに論理状態０を有する信号に対応する（前出の論理
図表の第１行）。
次に、テスト巻線のアンペアターン数Ｎ５ＩＣ３か所定
値より大であり動作点が伝達ダイヤグラムのＣ，Ｆ”又
はＧに存在するような榴々の動作状態に関して説明する
。この場合、作動器り内の平均整流電流の値は最大であ
る。この値のとき作動器１）の入力は論理状態１の信号
を受信する。この論理状態は、制御巻線のアンペアター
ン数ＮＩ ＩＣＩ 。
値より大であり動作点が伝達ダイヤグラムのＣ，Ｆ”又
はＧに存在するような榴々の動作状態に関して説明する
。この場合、作動器り内の平均整流電流の値は最大であ
る。この値のとき作動器１）の入力は論理状態１の信号
を受信する。この論理状態は、制御巻線のアンペアター
ン数ＮＩ ＩＣＩ 。
Ｎ２ＩＣ２の値に関わ９無く維持される。アンペアター
ン数 ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２が所定しきい値よシ
小さいと入力Ｅｌ、Ｅ２に供給された信号は論理状態Ｏ
を有すると考えることができる。動作点は伝達ダイヤグ
ラムのＧに存在する。この状態は論理図表の第８行に対
応する。出力Ｓの信号の論理状態はｌ′ｃある。しかし
乍ら、アンペアターン数ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２が
所定値より犬であるとデバイスの入力Ｅｌ 、 Ｉ２２
に供給された信号は論理状態ｌの信号であると考えるこ
とができ、これは論理図表の第７行に対応する。出力Ｓ
での信−号の論理状態は１であり動作点はＣである。
ン数 ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２が所定しきい値よシ
小さいと入力Ｅｌ、Ｅ２に供給された信号は論理状態Ｏ
を有すると考えることができる。動作点は伝達ダイヤグ
ラムのＧに存在する。この状態は論理図表の第８行に対
応する。出力Ｓの信号の論理状態はｌ′ｃある。しかし
乍ら、アンペアターン数ＮｌｌＣｌ 、Ｎ２ＩＣ２が
所定値より犬であるとデバイスの入力Ｅｌ 、 Ｉ２２
に供給された信号は論理状態ｌの信号であると考えるこ
とができ、これは論理図表の第７行に対応する。出力Ｓ
での信−号の論理状態は１であり動作点はＣである。
最後に、アンペアターン数 ＮＩ ＩＣ１、Ｎ２Ｉ（、
’２のいずれか１つが所定値よｐ大でおるとデバイスの
制御人力Ｅ１及びＥ２のいずれかに論理状態１の信号が
供給され別の制御入力に論理状態Ｏの信号が供給される
か、又は、前記の逆の状態の信号が夫々供給される。こ
の状態は論理図表の第５行及び第６行に対応する。出力
Ｓでの信号の論理状態は１でオシ動作点はＦである。
’２のいずれか１つが所定値よｐ大でおるとデバイスの
制御人力Ｅ１及びＥ２のいずれかに論理状態１の信号が
供給され別の制御入力に論理状態Ｏの信号が供給される
か、又は、前記の逆の状態の信号が夫々供給される。こ
の状態は論理図表の第５行及び第６行に対応する。出力
Ｓでの信号の論理状態は１でオシ動作点はＦである。
従って、デバイスのテスト人力Ｅ３に所定の論理レベル
１のテスト信号が供給きれると、該デバイスの制御入力
に供給された信号の論理状態に関わり無くデバイスの出
力Ｓに論理状態１の引外し７信号が出現する。
１のテスト信号が供給きれると、該デバイスの制御入力
に供給された信号の論理状態に関わり無くデバイスの出
力Ｓに論理状態１の引外し７信号が出現する。
前記のデ・虜イスは、従来の論理回路によって供給され
得る出力よりも尚い引外し出力を要する安全作動器の引
外しを生起することが可能でおる。
得る出力よりも尚い引外し出力を要する安全作動器の引
外しを生起することが可能でおる。
史に、いかなる制御信号を受信したかに関わシ無く作動
器の引外しに対応する＠層状態のテスト信号によで〕で
作動器の引外しを確保することが可能である。最後に、
このデバイスによればテストが″トランスピアレント′
”である。従って、テスト人力Ｅ３に受信したテスト信
号に関わシ無く入力Ｅ１．．Ｅ２に引外し信号を供給し
て安全作用（作動置引外し）を生起し得る。
器の引外しに対応する＠層状態のテスト信号によで〕で
作動器の引外しを確保することが可能である。最後に、
このデバイスによればテストが″トランスピアレント′
”である。従って、テスト人力Ｅ３に受信したテスト信
号に関わシ無く入力Ｅ１．．Ｅ２に引外し信号を供給し
て安全作用（作動置引外し）を生起し得る。
第１図は半導体基板上に集積回路を有する公知の安全作
動器側斜しデバイスの説明図、第２図は本発明の引外し
デバイスの概略説明図、第３図は作動器を流れる整流電
流の平均強度の変化を、本発明のデバイスの磁気増幅器
の一次巻線のアンペアターン数の関数として示すダイヤ
グラムでおる。 Ｅ・・・入力、 Ｓ・・・出力、 Ｐ・・・巻線、 Ｔ
・・・変成器、 Ｉ）ｌ 、Ｄ２ 、 Ｄ３ 、 Ｄ４
・・・ダイオード、■〕・・・作動器。
動器側斜しデバイスの説明図、第２図は本発明の引外し
デバイスの概略説明図、第３図は作動器を流れる整流電
流の平均強度の変化を、本発明のデバイスの磁気増幅器
の一次巻線のアンペアターン数の関数として示すダイヤ
グラムでおる。 Ｅ・・・入力、 Ｓ・・・出力、 Ｐ・・・巻線、 Ｔ
・・・変成器、 Ｉ）ｌ 、Ｄ２ 、 Ｄ３ 、 Ｄ４
・・・ダイオード、■〕・・・作動器。
Claims (4)
- （１）引外し手段と前記引外し手段の試験及び制御のだ
めの手段とゆく組込まれており、前記引外し手段の出力
は作動器の引外し及び作動器の引外し不在に各々対応す
る２つの論理状態を有し得る出力信号を供給すべく構成
されており、前記試験制御手段は、引外し手段の制御信
号を受信し引外し手段の出力信号に２つの論理状態のい
ずれか１つを与えるための２つの制御入力と、制御信号
にぶれば引外し不在に対応する出力信号が供給される筈
であるときにも作動器の引外しに対応する論理状態の出
力信号を前記出力に供給せしめるテスト信号を受信する
テスト入力とを有している型の安全作動器側外（−デバ
イスで６９、試験制御手段が磁気増幅器の３つの一次巻
線から構成されてお）、そのうちの２つの一次巻線が制
御信号に対応する直流を受容しており残りの１つの一次
巻線がテスト信号に対応する直流を受容するテスト巻線
であや、引外し手段が磁気増幅器の二次巻線から構成さ
れており、前記二次巻線は交流源に接続されており、作
動器は整流ブリッジを介して二次巻線に接続されている
ことを特徴とする安全作動器側外しデバイス。 - （２） −次巻線のアンペアターン数が００とき、引
外しデバイスに与えられる出力信号に対応する電流のコ
ヒ均強度が最大であって作動器の引外し。 論理状態に対応しておシ、制御巻線の双方又は一方のア
ンペアターン数がＨ１定値より大きくテスト巻線のアン
ペアターン数がＯのとき、前ｉ己強度が所定しきい値よ
り小であり作動器の引外し不在の論理状態に対応してお
シ、制御巻線の水力又は一方のアンペアターン数がｎｔ
”Ｍ ｆ＋（ｉより太キ＜テスト巻線のアンペアター
ン数が所定値よシ大きいとき、前記強度が最大であって
作動器の引外し論理状態に対応するように巻線のアンペ
アターン数が選択されていることを特徴とする特許請求
の範囲第１項に記載のデバイス。 - （３）テスト巻線の庖き数が各制御巻線の巻き数の２倍
であり、制御巻線及びテスト巻線のアンペアターン数が
所定値より太きいときはこれらの巻線に流れる電流の強
度が等しく、テスト巻線内の電流の方向は各制御巻線内
の電流の方向の逆向きであることを特徴とする特許請求
の範囲第２項に記載のデバイス。 - （４）整流ブリッジが全波整流器であることを特徴とす
る特許請求の範囲第２項に記載のデバイス。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8123203A FR2518288A1 (fr) | 1981-12-11 | 1981-12-11 | Dispositif de declenchement d'un actionneur de surete |
| FR8123203 | 1981-12-11 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58149501A true JPS58149501A (ja) | 1983-09-05 |
Family
ID=9264928
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57216763A Pending JPS58149501A (ja) | 1981-12-11 | 1982-12-10 | 安全作動器引外しデバイス |
| JP026935U Pending JPH0587599U (ja) | 1981-12-11 | 1991-04-19 | 安全作動器の取外しデバイス |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP026935U Pending JPH0587599U (ja) | 1981-12-11 | 1991-04-19 | 安全作動器の取外しデバイス |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4587077A (ja) |
| EP (1) | EP0082065B1 (ja) |
| JP (2) | JPS58149501A (ja) |
| KR (1) | KR900009066B1 (ja) |
| DE (1) | DE3264946D1 (ja) |
| FR (1) | FR2518288A1 (ja) |
| ZA (1) | ZA829069B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4683105A (en) * | 1985-10-31 | 1987-07-28 | Westinghouse Electric Corp. | Testable, fault-tolerant power interface circuit for normally de-energized loads |
| US4696785A (en) * | 1985-10-31 | 1987-09-29 | Westinghouse Electric Corp. | Testable voted logic power circuit and method of testing the same |
| EP0604651B1 (en) * | 1992-07-16 | 1998-03-04 | The Nippon Signal Co. Ltd. | Fail-safe logical operation circuit using electromagnetic coupling |
| US10755825B2 (en) * | 2018-10-31 | 2020-08-25 | Ge-Hitachi Nuclear Energy Americas Llc | Passive electrical component for safety system shutdown using Faraday's law |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB838809A (en) * | 1958-10-17 | 1960-06-22 | Standard Telephones Cables Ltd | Improvements in or relating to magnetic switching circuits |
| GB901215A (en) * | 1960-02-25 | 1962-07-18 | Standard Telephones Cables Ltd | Improvements in or relating to a fail safe electrical circuit |
| US3424652A (en) * | 1966-04-26 | 1969-01-28 | Kernforschung Gmbh Ges Fuer | Method and device for the supervision of installations,in particular safety switching system of nuclear reactors |
| US3437556A (en) * | 1967-10-23 | 1969-04-08 | Combustion Eng | Test circuit for reactor safety control system |
| GB1336296A (en) * | 1970-12-02 | 1973-11-07 | Molekularelektronik | Integrated circuit arrangments |
| US3855590A (en) * | 1972-04-04 | 1974-12-17 | Westinghouse Electric Corp | Cyclic or monitoring system for displaying the output of two substantially similar trains of logic |
| FR2294473A1 (fr) * | 1974-12-11 | 1976-07-09 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif electronique de commande a securite positive |
| GB1546587A (en) * | 1974-12-11 | 1979-05-23 | Commissariat Energie Atomique | Positive-safety units haveing the functions of control relay and current regulation |
| US4308099A (en) * | 1979-01-22 | 1981-12-29 | The Babcock & Wilcox Company | Nuclear reactor safety system |
| US4434132A (en) * | 1981-04-09 | 1984-02-28 | Westinghouse Electric Corp. | Power supply with nuclear reactor |
-
1981
- 1981-12-11 FR FR8123203A patent/FR2518288A1/fr active Granted
-
1982
- 1982-12-07 DE DE8282402234T patent/DE3264946D1/de not_active Expired
- 1982-12-07 EP EP82402234A patent/EP0082065B1/fr not_active Expired
- 1982-12-09 ZA ZA829069A patent/ZA829069B/xx unknown
- 1982-12-10 US US06/448,626 patent/US4587077A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-12-10 JP JP57216763A patent/JPS58149501A/ja active Pending
- 1982-12-11 KR KR8205554A patent/KR900009066B1/ko active
-
1991
- 1991-04-19 JP JP026935U patent/JPH0587599U/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0082065B1 (fr) | 1985-07-24 |
| DE3264946D1 (en) | 1985-08-29 |
| EP0082065A1 (fr) | 1983-06-22 |
| ZA829069B (en) | 1983-10-26 |
| KR900009066B1 (ko) | 1990-12-20 |
| FR2518288A1 (fr) | 1983-06-17 |
| US4587077A (en) | 1986-05-06 |
| KR840003091A (ko) | 1984-08-13 |
| JPH0587599U (ja) | 1993-11-26 |
| FR2518288B1 (ja) | 1984-04-06 |
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