JPS58130500A - 予防診断方式 - Google Patents
予防診断方式Info
- Publication number
- JPS58130500A JPS58130500A JP57013006A JP1300682A JPS58130500A JP S58130500 A JPS58130500 A JP S58130500A JP 57013006 A JP57013006 A JP 57013006A JP 1300682 A JP1300682 A JP 1300682A JP S58130500 A JPS58130500 A JP S58130500A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contents
- storage
- memory
- error
- memory element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
- G06F11/0763—Error or fault detection not based on redundancy by bit configuration check, e.g. of formats or tags
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
本発明は電子計算機システムの、半導体、集積回路の如
き記憶素子集合体で構成されている主記憶装置より、記
憶内容を読出し誤シを検出した時、該誤シビットを内包
する記憶素子集合体について全記憶内容を検定する予防
診断方式に関する。
き記憶素子集合体で構成されている主記憶装置より、記
憶内容を読出し誤シを検出した時、該誤シビットを内包
する記憶素子集合体について全記憶内容を検定する予防
診断方式に関する。
（ｂ） 技術の背景
最近の電子計算機システムの主記憶装置は、半導体、集
積回路の如き記憶素子集合体で構成されている。該記憶
素子集合体の障害は基材の欠陥や使用環境（放射線紫外
線等による汚染）に原因することが多いため学独のビッ
トというより記憶素子集合体琳位等構造上近接するビッ
ト群が集団的に障害を起す可能性が強い。即ちビット位
置の相互関係は主記憶装置における記憶素子集合体の組
立構造によシ決まり、例えばワード番地情報の特定部分
ビットを共有するものは同じ記憶素子集合体である如く
、規則化することが出来る。
積回路の如き記憶素子集合体で構成されている。該記憶
素子集合体の障害は基材の欠陥や使用環境（放射線紫外
線等による汚染）に原因することが多いため学独のビッ
トというより記憶素子集合体琳位等構造上近接するビッ
ト群が集団的に障害を起す可能性が強い。即ちビット位
置の相互関係は主記憶装置における記憶素子集合体の組
立構造によシ決まり、例えばワード番地情報の特定部分
ビットを共有するものは同じ記憶素子集合体である如く
、規則化することが出来る。
本発明は主記憶装置を使用中にコード誤りを検出した時
、素子劣化の徴候としてとらえ誤りビットを内包する記
憶素子集合体全部の内容を洗うことにより事前に障害を
摘出しようとするものである。
、素子劣化の徴候としてとらえ誤りビットを内包する記
憶素子集合体全部の内容を洗うことにより事前に障害を
摘出しようとするものである。
（ｅ） 従来技術と問題点
従来主記憶装置において、誤シを自己検出又は訂正する
ためにＥＣＣ（ｅｒｒｏｒＩＩＣｈｅＣｋｌｎｇ＠ａｎ
ｄ・ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ）コードが使用されている。
ためにＥＣＣ（ｅｒｒｏｒＩＩＣｈｅＣｋｌｎｇ＠ａｎ
ｄ・ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ）コードが使用されている。
この場合訂正時はもとよ石検出時再読出し等の手段で正
常コート９冬徂りげ葎Ｔ未伽萌λつ奔とふシＩイ士ロー
檜装置はそのまま正常として放置される。また、同一素
子集合体の別のビット群の中に障害が起っていたとして
も該ビット群を使用する迄発見出来ないから障害は埋れ
たま＼放置される結果、被害を拡げ、手遅れになりかね
ない。劣化障害を発見する方法として定期的に総洗い方
式でチェックする方法もあるが、これは−律的であり診
断効率が悪い上、チェック周期まで障害の発見が遅れる
という欠陥がある。
常コート９冬徂りげ葎Ｔ未伽萌λつ奔とふシＩイ士ロー
檜装置はそのまま正常として放置される。また、同一素
子集合体の別のビット群の中に障害が起っていたとして
も該ビット群を使用する迄発見出来ないから障害は埋れ
たま＼放置される結果、被害を拡げ、手遅れになりかね
ない。劣化障害を発見する方法として定期的に総洗い方
式でチェックする方法もあるが、これは−律的であり診
断効率が悪い上、チェック周期まで障害の発見が遅れる
という欠陥がある。
（ｄ） 発明の目的
本発明の目的は上記の欠点をなくするために主記憶装置
の記憶素子集合体の劣化により発生する障害をより早く
、事前に発見出来る予防診断方式の提供にある。
の記憶素子集合体の劣化により発生する障害をより早く
、事前に発見出来る予防診断方式の提供にある。
（ｅ） 発明の構成
本発明は、上記の目的を達成するために電子計算機シス
テムの記憶素子集合体で構成された主記憶装置よ如記憶
内容を読出し誤りを検出した時、該誤りビットを内包す
る記憶素子集合体について全記憶内容を検定することに
より該記憶素子集合体の障害の有無を検出することを特
徴とする予防診断方式である。
テムの記憶素子集合体で構成された主記憶装置よ如記憶
内容を読出し誤りを検出した時、該誤りビットを内包す
る記憶素子集合体について全記憶内容を検定することに
より該記憶素子集合体の障害の有無を検出することを特
徴とする予防診断方式である。
（ｆ） 発明の実施例
以下本発明の実施例につき図に従って説明する。
図は本発明の実施例のフローチャートである。
図に示す如く主記憶装置よりｘ＃−ｒＥｃｃコードによ
り、読出したコードが正常か異常かを検出し、正常なら
読出コードの解読など次のステップに進む。異常があれ
ば訂正するし又訂正が不可能であれば再読出しをし同じ
く異常があれば回復不可の永久障害とみて記録素子集合
体取替要求のアラームを出す。この場合従来は訂正可な
らば訂正し又訂正不可の場合再読出しをし異常がなけれ
ば何も無かったこと＼して次のステップに進んでいた。
り、読出したコードが正常か異常かを検出し、正常なら
読出コードの解読など次のステップに進む。異常があれ
ば訂正するし又訂正が不可能であれば再読出しをし同じ
く異常があれば回復不可の永久障害とみて記録素子集合
体取替要求のアラームを出す。この場合従来は訂正可な
らば訂正し又訂正不可の場合再読出しをし異常がなけれ
ば何も無かったこと＼して次のステップに進んでいた。
本発明の場合は誤りの自己訂正や再読出しが成功した場
合、たとえ誤如の発生が一時的な現象であったにせよ、
それは劣化で発生した固定障害や集団障害の前兆でない
かと疑うことにし、その誤シビットの構造上の近傍のビ
ット（同じ記憶素子集合体内）に同じような症状（誤り
発生）が出ていれば、３− この誤シビットを含む記憶素子集合体に原因することが
明らかであるので、予め個々の記憶素子集合体全部のビ
ットのアドレスの関連性を認知しておき、（ビット位置
の相互関係は主記憶装置における記憶素子集合体の組立
構造により決ｔｂ、例えばワード番地情報の特定部分ビ
ットを共有するものは同じ記憶素子集合体である如く規
則化することが出来る。）誤りの発生がおれば誤りビッ
トを内包する記憶素子集合体全部の記憶内容を逐次読出
して内容を検定し類似の症状を呈すようであれば該記憶
素子集合体取替要求のアラームを出し、正常であれば先
のｔｔａｂの原因は素子にあるよシもむしろ突発的な雑
音等による一時的なものであったとして次のステップへ
進むプログラムを作成しておく。
合、たとえ誤如の発生が一時的な現象であったにせよ、
それは劣化で発生した固定障害や集団障害の前兆でない
かと疑うことにし、その誤シビットの構造上の近傍のビ
ット（同じ記憶素子集合体内）に同じような症状（誤り
発生）が出ていれば、３− この誤シビットを含む記憶素子集合体に原因することが
明らかであるので、予め個々の記憶素子集合体全部のビ
ットのアドレスの関連性を認知しておき、（ビット位置
の相互関係は主記憶装置における記憶素子集合体の組立
構造により決ｔｂ、例えばワード番地情報の特定部分ビ
ットを共有するものは同じ記憶素子集合体である如く規
則化することが出来る。）誤りの発生がおれば誤りビッ
トを内包する記憶素子集合体全部の記憶内容を逐次読出
して内容を検定し類似の症状を呈すようであれば該記憶
素子集合体取替要求のアラームを出し、正常であれば先
のｔｔａｂの原因は素子にあるよシもむしろ突発的な雑
音等による一時的なものであったとして次のステップへ
進むプログラムを作成しておく。
（ｇ） 発明の効果
以上詳細に説明した如く本発明によれば主記憶装置より
記憶内容を読出し中にコード誤シを検出した時、簡≠な
方法で劣化障害を事前に摘出出来４− 診断であシ障害の検出に遅延がなく、又、疑わしい個所
に限って診断するので極めて効率的であシ予防診断の方
法として極めて有効である。
記憶内容を読出し中にコード誤シを検出した時、簡≠な
方法で劣化障害を事前に摘出出来４− 診断であシ障害の検出に遅延がなく、又、疑わしい個所
に限って診断するので極めて効率的であシ予防診断の方
法として極めて有効である。
Claims (1)
- 電子計算機システムの、記憶素子集合体で構成された主
記憶装置より記憶内容を読出し１０を検出した時、該誤
りビットを内包する記憶素子集合体について全記憶内容
を検定することによ多核記憶素子集合体の障害の有無を
検出することを特徴とする予防診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57013006A JPS58130500A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 予防診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57013006A JPS58130500A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 予防診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58130500A true JPS58130500A (ja) | 1983-08-03 |
Family
ID=11821086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57013006A Pending JPS58130500A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 予防診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58130500A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016030992A1 (ja) * | 2014-08-27 | 2016-03-03 | 株式会社日立製作所 | 記憶デバイスおよびストレージ装置 |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP57013006A patent/JPS58130500A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016030992A1 (ja) * | 2014-08-27 | 2016-03-03 | 株式会社日立製作所 | 記憶デバイスおよびストレージ装置 |
| US10204003B2 (en) | 2014-08-27 | 2019-02-12 | Hitachi, Ltd. | Memory device and storage apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR920005297B1 (ko) | 고장 방지 컴퓨터 메모리 시스템 | |
| US7599235B2 (en) | Memory correction system and method | |
| EP0166217B1 (en) | Error logging memory system for avoiding miscorrection of triple errors | |
| EP0032957B1 (en) | Information processing system for error processing, and error processing method | |
| US6751769B2 (en) | (146,130) error correction code utilizing address information | |
| US8327222B2 (en) | Mechanism for adjacent-symbol error correction and detection | |
| US3735105A (en) | Error correcting system and method for monolithic memories | |
| US6408417B1 (en) | Method and apparatus for correcting soft errors in digital data | |
| US6842867B2 (en) | System and method for identifying memory modules having a failing or defective address | |
| US7139942B2 (en) | Method and apparatus for memory redundancy and recovery from uncorrectable errors | |
| CN103942119A (zh) | 一种存储器错误的处理方法和装置 | |
| KR920010972B1 (ko) | 고장 방지 컴퓨터 메모리 시스템 | |
| JPS58130500A (ja) | 予防診断方式 | |
| JPS6051142B2 (ja) | ロギングエラ−制御方式 | |
| JP2930239B2 (ja) | 記憶装置の障害検出方法及び記憶制御装置 | |
| JPH06274421A (ja) | データ保証方式 | |
| JPH04153757A (ja) | 記憶装置 | |
| JPS6356751A (ja) | メモリパトロ−ル制御方式 | |
| JPS6155131B2 (ja) | ||
| WO1985002925A1 (en) | Computer controlled systems | |
| JPS6010661B2 (ja) | 誤り検査方式 | |
| JPS61202254A (ja) | 記憶装置 | |
| JPS6017136B2 (ja) | 障害処理方式 | |
| JPS6134648A (ja) | 記憶装置 | |
| JPH0254356A (ja) | 記憶装置 |