JPS58127367A - Shift register ic - Google Patents
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- JPS58127367A JPS58127367A JP57010371A JP1037182A JPS58127367A JP S58127367 A JPS58127367 A JP S58127367A JP 57010371 A JP57010371 A JP 57010371A JP 1037182 A JP1037182 A JP 1037182A JP S58127367 A JPS58127367 A JP S58127367A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプートストラップ形式のシフトレジスタ集積回
路に関し、特に1多結晶シリコン、アモルファスシリコ
ン岬を用いた薄膜集積回路として形成されたシフトレジ
スタ集積回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a shift register integrated circuit of the Pootstrap type, and more particularly to a shift register integrated circuit formed as a thin film integrated circuit using polycrystalline silicon or amorphous silicon cape.
近年、薄膜トランジスタC以下、T’FTと略記する。In recent years, a thin film transistor C is abbreviated as T'FT.
)をスイッチング素子として用いた液晶ディスプレイ(
%に、TIFTアレイを作シ込んだアクティブマトリク
ス基板と液晶表示体とから成る液晶ディスプレイ)の開
発が各所で行われている。) is used as a switching element for a liquid crystal display (
%, liquid crystal displays (liquid crystal displays consisting of an active matrix substrate on which a TIFT array is fabricated and a liquid crystal display body) are being developed in various places.
TFTアレイを用いたアクティブマトリクス基板は、単
結晶シリコン基板に作夛込まれたML)8)ランジスタ
を用い九アクティブマトリクス基板に比べて低コストで
製造工程が簡単であシ大面積化が容易であるという利点
を有する半面、TIFTのトランジスタ特性が単結晶シ
リコンM08トランジスタのそれに比べて劣る(例えば
、キャリア移動度が低い、しきい値電圧が高い勢)ため
にアクテイプマトリクス基板への駆動回路の作夛込みが
困難であるという欠点を有している。本発明は、アクテ
ィブマトリクス基板への適用を目的とし、上述の欠点を
補い優れ九性能を有する、薄膜トランジスタによるシフ
トレジスタ集積回路を提案するものである。Active matrix substrates using TFT arrays use ML transistors built into single-crystal silicon substrates.9) Compared to active matrix substrates, the manufacturing process is lower and the manufacturing process is simpler, and it is easier to increase the area. However, the transistor characteristics of TIFT are inferior to those of single-crystal silicon M08 transistors (e.g., low carrier mobility, high threshold voltage), making it difficult to connect the drive circuit to the active matrix substrate. It has the disadvantage that it is difficult to incorporate. The present invention proposes a shift register integrated circuit using thin film transistors, which is intended to be applied to an active matrix substrate, and which compensates for the above-mentioned drawbacks and has excellent performance.
従来、単結晶シリコン基板を用いたMOB集積回路にお
いて単一導電形のMO8トランジスタでシフトレジスタ
集積回路を形成する場合、十分大きな論理振幅と十分速
い応答速度を得るために、ゲート電圧に依存して容量値
が変化するMO8キャパシタを利用したプートストラッ
プ形式のシフトレジスタ回路がよく用いられている。第
1図1−は前記シフ)レジスタ回路の1段目の1ビット
分に相幽する回路例を示したものである。(この例では
、MO8トランジスタの導伝形はN形とする)MOS)
ランジスタ101は端子Bイに入力されるり四ツク信号
によってスイッチングされ、このタロツクがノーイとな
りたとき101を通してi−1段目の出力データが読み
込まれる。節点G(のデータが1のときに限#)M08
キャパシタ105のサブストレートが反転して105は
デートストラップ容量として動作する。更に、端子B(
のクロックが口、−となり端子C<<入力されるりpツ
クがハイとなると節点Gイの電位はクロック信号のハイ
レベルに比べて大きくオーバーシュートしMOS)ラン
ジスタ102の導通を促す。これに伴い、端子n<の電
位は高速でハイレベルに達する。次に再びクロックが反
転しB4がノ・イ、CイがローとなるとM08トツンジ
スタ103が導通することによって出力端子Di及び?
(の電位はローとなる。これと同時に節点D7+lには
データが連送されてIX+1の電位はハイとなる。一方
、端子Kj−1は端子D(+I K接続されておシ、前
述のDiがa −K低下されるのと同期間において節点
Gイに保持されていた電荷はi段目のMOEI )ラン
ジスタ101及びイーlR目のMO8トランジスタ10
4を通して放電されa6の電位はローとなる。第1図1
61は上述の基本回路を用いて構成されたシフトレジス
タ回路の一例を示し、第1図161は同シフトレジスタ
回路の各部の信号のタイミングチャートの一例を示す。Conventionally, when forming a shift register integrated circuit with MO8 transistors of a single conductivity type in a MOB integrated circuit using a single crystal silicon substrate, in order to obtain a sufficiently large logic amplitude and a sufficiently fast response speed, it is necessary to A Pootstrap type shift register circuit using an MO8 capacitor whose capacitance value changes is often used. FIG. 1-1 shows an example of a circuit that corresponds to one bit of the first stage of the shift register circuit. (In this example, the conduction type of the MO8 transistor is N type) MOS)
The transistor 101 is input to the terminal B and is switched by a four-way signal, and when this tarlock becomes NOI, the output data of the i-1st stage is read through the transistor 101. Node G (only when the data of it is 1) M08
The substrate of capacitor 105 is inverted and 105 operates as a date strap capacitor. Furthermore, terminal B (
When the clock signal becomes negative and input to terminal C<< or p becomes high, the potential at node G overshoots greatly compared to the high level of the clock signal, prompting conduction of transistor 102 (MOS). Accordingly, the potential at terminal n< reaches a high level at a high speed. Next, when the clock is inverted again and B4 becomes NO and C becomes low, the M08 transistor 103 becomes conductive, and the output terminals Di and ?
The potential of ( becomes low. At the same time, data is continuously transmitted to node D7+l, and the potential of IX+1 becomes high. On the other hand, terminal Kj-1 is connected to terminal D (+I), and the above-mentioned Di The electric charge held at node G during the same period as a −K is decreased is the i-th MOEI) transistor 101 and the IR-th MO8 transistor 10
4 and the potential of a6 becomes low. Figure 1 1
Reference numeral 61 shows an example of a shift register circuit constructed using the above-mentioned basic circuit, and FIG. 1 161 shows an example of a timing chart of signals of each part of the shift register circuit.
第1図161 において−凰、φskiクロック信号、
8Pはスタートパルスであり、G思e Flm Gm+
′?1pGsePst;jそれぞれ第1図g61にお
ける同一記号の端子の信号を示している。第1図(a+
の基本回路を従来の構造で単結晶シリコン基板上に集積
回路化した轡合の断面構造の一部を第2図に示す。第2
図は第1図1α1のMOS)ランジスク101.MO日
キャパシタ105及びそれらの接続部分を示しておfi
、201はP形単結晶シリコン基板、202はMO日ト
ランジスタ101のゲート、203.204はンース、
ドレイン、205はゲート絶縁膜であfi、206はM
O8キャパシタ105のゲート、207はM08キャパ
シタのサブストレート側電極、208はキャパシタ絶縁
膜、209は204と206とを結合する配線である。In FIG. 1 161 - 凰, φski clock signal,
8P is a start pulse, and it is a start pulse.
′? 1pGsePst;j each indicates the signal of the terminal with the same symbol in FIG. 1 g61. Figure 1 (a+
FIG. 2 shows a part of the cross-sectional structure of a circuit in which the basic circuit of the conventional circuit is integrated on a single-crystal silicon substrate. Second
The figure shows the MOS shown in FIG. The figure shows the MO capacitor 105 and its connection parts.
, 201 is a P-type single-crystal silicon substrate, 202 is the gate of the MO transistor 101, 203 and 204 are bases,
drain, 205 is a gate insulating film fi, 206 is M
The gate of the O8 capacitor 105, 207 is the substrate side electrode of the M08 capacitor, 208 is a capacitor insulating film, and 209 is a wiring connecting 204 and 206.
また203.204.207は不純物ドープされたN形
シリコン層、210,211はP形にドープされたスト
ッパ層、212,213は層間絶縁膜である。第2図に
示す構造を有する従来のシフトレジスタ集積回路は、I
llシリコン基板に形成された複数の能動素子間を電気
的に分離するためにPM接合(第2図における201−
203,201−204.201−207)を設けなく
てはならない。また、シリコン基板の反転による素子間
の導通を防ぐためにストツノく層(第2図における21
O,211)を設けなくてはならない。従って製造工程
が複雑化し製造コストが上昇する。(21前述のpN接
合のため、ドレイン204とシリコン基板201との間
に寄生容量cmlが、また配線209とシリコン基板2
01との間に寄生容量C#lが存在する。ca、は1μ
−当り1(1−’ P F程度、cslは1μ−当りt
o−’〜lO″″″PF程度であるため全体として相当
大きな値となる。これら寄生容量は、回路内では第1図
(α1の106の形で表わされるため、ブートストラッ
プ容量1050働きを阻害し、回路動作の高速化を妨げ
る。131 T F Tアレイを用いたディスプレイの
駆動回路への応用を考えた場合、TFTアレイと同一の
基板上に作り込むことが著しく困難である。−という欠
点を有する。本発明を用いることにより前述の欠点は克
服され、TνTアレイを用いたディスプレイの駆動回路
へのブートストラップ形シフトレジスタ回路の適用が可
能となる。第3図に本発明の実施例として、第2図に示
すものと同一部分(第1図Cα1のトランジスタ101
.キャパシタ105及びそれらの結合s)゛の断面構造
を示す。本発明においては、従来のMO8キャパシタの
代わシにサブストレートを多結晶シリコン、アモルファ
スシリコン勢のシリコン薄膜で形成したTPTキャパシ
タを、また従来のM08トランジスタの代わシにソース
、ドレイン、?コストレートを多結晶シリコン、アモル
ファスシリコン等のシリコン薄膜で形成したTFiを用
いてプートストラップ形式のシフトレジスタ回路を構成
する。第3図において、301は透明な絶縁基板(石英
ガラス郷)、302はTNTlolのゲート、303,
304はソース、ドレイン、305はサブストレート、
306はゲート絶縁膜であり、307はTIFTキャパ
シタ105のゲート、308.309FiそれぞれTν
Tキャパシタのサブストレート、サブストレー)II電
極の取り出し部、31Oはキャパシタ絶縁H2311は
304と307とを結合する配線である。また、314
,315,316,317はスルーホール、−318、
319、320、321,322は層間絶縁膜である。Further, 203, 204, and 207 are N-type silicon layers doped with impurities, 210 and 211 are P-type stopper layers, and 212 and 213 are interlayer insulating films. A conventional shift register integrated circuit having the structure shown in FIG.
PM junction (201- in FIG. 2) is used to electrically isolate multiple active elements formed on a silicon substrate.
203, 201-204, 201-207) must be provided. In addition, in order to prevent conduction between elements due to the inversion of the silicon substrate, a thick layer (21 in Fig. 2) is added.
O, 211) must be provided. Therefore, the manufacturing process becomes complicated and the manufacturing cost increases. (21) Due to the pN junction described above, there is a parasitic capacitance cml between the drain 204 and the silicon substrate 201, and there is also a parasitic capacitance cml between the wiring 209 and the silicon substrate 201.
A parasitic capacitance C#l exists between C#1 and C#1. ca is 1μ
-1 (about 1-' P F, csl is t per 1 μ-)
o-'~lO''''''PF, so the value as a whole is quite large.In the circuit, these parasitic capacitances are represented in the form of 106 of α1 (Fig. 1), so they inhibit the bootstrap capacitance 1050 131 TFT When considering the application of TFT arrays to display drive circuits, it is extremely difficult to fabricate them on the same substrate as the TFT arrays. By using the present invention, the above-mentioned drawbacks are overcome and it becomes possible to apply a bootstrap type shift register circuit to a drive circuit of a display using a TνT array. , the same part as that shown in FIG. 2 (transistor 101 of FIG. 1 Cα1)
.. A cross-sectional structure of a capacitor 105 and their coupling s) is shown. In the present invention, instead of the conventional MO8 capacitor, a TPT capacitor whose substrate is made of polycrystalline silicon or amorphous silicon thin film is used, and instead of the conventional M08 transistor, the source, drain, ? A Pootstrap type shift register circuit is constructed using TFi whose cost rate is formed from a silicon thin film such as polycrystalline silicon or amorphous silicon. In FIG. 3, 301 is a transparent insulating substrate (quartz glass), 302 is a TNTlol gate, 303,
304 is a source, a drain, 305 is a substrate,
306 is a gate insulating film, 307 is the gate of the TIFT capacitor 105, and 308 and 309 Fi are each Tν.
T capacitor substrate, substrate) II electrode take-out part, 31O is capacitor insulation H2311 is wiring connecting 304 and 307. Also, 314
, 315, 316, 317 are through holes, -318,
319, 320, 321, and 322 are interlayer insulating films.
本実施例において、303.304,309は不純物ド
ープされたシリコン薄膜層、305.308は不純物ド
ープされていないか屯しくけ、303,304,309
よりも低濃度に不純物ドーグされているシリコン薄膜層
、302.307は不純物ドープされたシリコン薄膜層
であり311 、.312 、313は金属である。In this example, 303, 304, 309 are silicon thin film layers doped with impurities, 305, 308 are not doped with impurities, 303, 304, 309
302, 307 is a silicon thin film layer doped with impurities at a lower concentration than 311, . 312 and 313 are metals.
本発明を用いたことにより素子間を分離するためのPM
接合及び基板の反転を防ぐためのストッパ層が不要とな
る。従って、従来構造に比べて製造工程が簡略化される
。また、ドレインと透明基板の間並びに配線と透明基板
の間には寄生容量が全く存在しない。PM for separating elements by using the present invention
A stopper layer for preventing bonding and substrate inversion becomes unnecessary. Therefore, the manufacturing process is simplified compared to the conventional structure. Further, there is no parasitic capacitance between the drain and the transparent substrate and between the wiring and the transparent substrate.
即ち、第1図(alにおける寄生容量106の値が非常
に小さい。このため、プートストラップ容量105はパ
ターン上小面積でも第1図1cLlの節点Giの電位を
大きくオーバーシュートさせ回路の高速化を促進するこ
とが可能となる。更に、TPTプレイをスイッチとして
用いたディスプレイの駆動回路に本発明を適用すること
を考えた場合、本発明のシフトレジスタ集積回路を、T
′IPTアレイと同一の透明基板上)(TNTアレイと
同一の製造プロセスで作シ込むことによって容易に目的
が達せられる。TFτプレイを用いたディスプレイの駆
動にはシフトレジスタが不可欠であるため、本発明の適
用によってシフトレジスタ集積回路がTPTプレイと同
一基板上に作シ込まれることはディスプレイ装置の製造
工程を簡略化し製造コストを低減するという意味で大き
な効果をもたらす。第4図に本発明の他の実施例を示す
。同図もまた、第2図及び第3図と同一部分(第1図1
a1.のトランジスタ101.キャパシタ105及びそ
れらの結合部)の断面構造を示している。第4図におい
て401は透明な絶縁基板、402は第1図(α1のT
FTlolのゲート、403,404はソース、ドレイ
ン、405はサブストレート、406はゲート絶縁膜で
あり、407はT1PTキャノくシタ105のゲート、
408はサブストレート、409はサブストレート側電
極の取り出し部、41Oはキャパシタ絶縁膜、411は
404と407とを結合する配線である。また、414
,415,416はスルーホールである。403,40
4,409は不純物ドープされたシリコン薄膜層、40
5.408は不純物ドープされていないかもしくは、4
03,404,409よシも低濃度に不純物ドープされ
ているシリコン薄膜層であシ、402.407,411
,412,413ti金属である。That is, the value of the parasitic capacitance 106 in FIG. Further, when considering the application of the present invention to a display drive circuit using TPT play as a switch, the shift register integrated circuit of the present invention can be
'On the same transparent substrate as the IPT array) (This objective can be easily achieved by fabricating it in the same manufacturing process as the TNT array. Since a shift register is essential for driving a display using TFτ play, this By applying the invention, the shift register integrated circuit is fabricated on the same substrate as the TPT playback, which has a great effect in the sense of simplifying the manufacturing process of the display device and reducing the manufacturing cost. This figure also shows the same parts as FIGS. 2 and 3 (FIGS. 1 and 1).
a1. transistor 101. 3 shows a cross-sectional structure of a capacitor 105 and a coupling portion thereof. In FIG. 4, 401 is a transparent insulating substrate, and 402 is the T of FIG.
FTlol gate, 403 and 404 are sources and drains, 405 is a substrate, 406 is a gate insulating film, 407 is a gate of T1PT canister 105,
408 is a substrate, 409 is a lead-out portion of the electrode on the substrate side, 41O is a capacitor insulating film, and 411 is a wiring connecting 404 and 407. Also, 414
, 415, 416 are through holes. 403,40
4,409 is an impurity-doped silicon thin film layer, 40
5.408 is not doped with impurities or 4
03,404,409 is also a silicon thin film layer doped with impurities at a low concentration, 402.407,411
, 412, 413ti metal.
本発明は、適用範囲が第1図Ca)のシフトレジスタ回
路に限定されるものでなく、第1図161に示す基本回
路の概念を利用してキャパシタ105のサブストレート
をシリコン薄膜で形成したシフトレジスタ集積回路すべ
てに適用される。The scope of application of the present invention is not limited to the shift register circuit shown in FIG. 1 Ca), but the present invention utilizes the concept of the basic circuit shown in FIG. Applies to all register integrated circuits.
以上述べたごとく、本発明を用いることによシ十分大き
な論理振幅と十分速い動作速度を有するシフトレジスタ
集積回路が簡単な製造プロセスと安価な製造コストで製
造可能となる。また、液晶等のディスプレイをTFTス
イッチアレイを用いて駆動する場合には、前記TIFT
スイッチアレイと同一基板に本発明のシフトレジスタ集
積回路を作り込むととKより、ディスプレイの実装工程
の簡略化、ディスプレイ装置の製造コストの低減勢に大
きな効果を発揮する。As described above, by using the present invention, a shift register integrated circuit having sufficiently large logic amplitude and sufficiently high operating speed can be manufactured using a simple manufacturing process and at low manufacturing cost. In addition, when driving a display such as a liquid crystal using a TFT switch array, the TIFT
When the shift register integrated circuit of the present invention is fabricated on the same substrate as the switch array, it is more effective in simplifying the display mounting process and reducing the manufacturing cost of the display device.
第1図(α1.第1図(h+ 、第1図1clはそれぞ
れM08キャパシタを用いたプートストラップ形シフト
レジスタの基本回路の一例、シフトレジスタのブロック
図、各部の動作を示すタイミングチャート。
第2図は従来の構造を有するシフトレジスタ集積回路。
第3図は本発明の第一の実施例を説明するための図。
#!4図は本発明の第二の実施例を説明するための図。
。、r l
第2目
怖1
H]】Figure 1 (α1. Figure 1 (h+) and Figure 1 (1cl) are an example of a basic circuit of a Pootstrap type shift register using an M08 capacitor, a block diagram of the shift register, and a timing chart showing the operation of each part. The figure shows a shift register integrated circuit having a conventional structure. Figure 3 is a diagram for explaining the first embodiment of the present invention. Figure #!4 is a diagram for explaining the second embodiment of the present invention. ., r l 2nd eye fear 1 H]]
Claims (1)
日キャパシタ及び複数個のMO8)ランジスタを用いて
構成されたプートストラップ形式のシフトレジスタ集積
回路において、前記MO8キャパシタのサブストレート
側電極をシリコン薄膜で形成したことを特徴とするシフ
トレジスタ集積回路。 121 前記シフトレジスタ集積回路を構成するすべ
てのM08トランジスタのソース、ドレイン及びサブス
トレートをシリコン薄膜で形成したことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のシフトレジスタ集積回路。 (31前記シフトレジスタ、集st回路はスイッチング
用薄農ト2ンジスタアレイと同一の透明な絶縁基板上に
設けられていることt−%黴とする特許請求OfI#、
囲第ム項乃至第2項記載のシフトレジスタ集積回路。[Claims] ill MO whose capacitance value changes depending on gate voltage
A shift register integrated circuit of a Pootstrap type constructed using a capacitor and a plurality of MO8 transistors, characterized in that a substrate side electrode of the MO8 capacitor is formed of a silicon thin film. 121. The shift register integrated circuit according to claim 1, wherein the sources, drains, and substrates of all M08 transistors constituting the shift register integrated circuit are formed of silicon thin films. (31) Patent claim OfI # that the shift register and the collector circuit are provided on the same transparent insulating substrate as the switching transistor array;
The shift register integrated circuit according to items 1 to 2 of the subsections.
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57010371A Pending JPS58127367A (en) | 1982-01-26 | 1982-01-26 | Shift register ic |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58127367A (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5072597A (en) * | 1973-10-29 | 1975-06-16 | ||
JPS51112188A (en) * | 1974-12-09 | 1976-10-04 | Hughes Aircraft Co | Ic transistor array for flat panel liquid crystal display and method of producing same |
-
1982
- 1982-01-26 JP JP57010371A patent/JPS58127367A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5072597A (en) * | 1973-10-29 | 1975-06-16 | ||
JPS51112188A (en) * | 1974-12-09 | 1976-10-04 | Hughes Aircraft Co | Ic transistor array for flat panel liquid crystal display and method of producing same |
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