JPS5812536B2 - チヨウコウソクヒカリパルスハケイカンソクソウチ - Google Patents

チヨウコウソクヒカリパルスハケイカンソクソウチ

Info

Publication number
JPS5812536B2
JPS5812536B2 JP50014897A JP1489775A JPS5812536B2 JP S5812536 B2 JPS5812536 B2 JP S5812536B2 JP 50014897 A JP50014897 A JP 50014897A JP 1489775 A JP1489775 A JP 1489775A JP S5812536 B2 JPS5812536 B2 JP S5812536B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
photocathode
converter
pulse
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP50014897A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5190868A (ja
Inventor
稲場文男
山岸昭雄
林達郎
鈴木浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Terebi KK
Original Assignee
Hamamatsu Terebi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Terebi KK filed Critical Hamamatsu Terebi KK
Priority to JP50014897A priority Critical patent/JPS5812536B2/ja
Publication of JPS5190868A publication Critical patent/JPS5190868A/ja
Publication of JPS5812536B2 publication Critical patent/JPS5812536B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 レーザを用いることによってピコ秒またはサブピコ秒単
位の時間幅を有する超高速光パルスが得られる。
このような光パルスを用いて、例えば蛍光の発生機構の
解析等、物理、化学あるいは生物学等の分野における種
々の測定を行い得るが、その場合光パルスの波形を観測
することが重要な問題である。
従来ピコ秒の光パルスを観測するためには、色素による
二光子吸収法あるいはストリークカメラ法等が利用され
ているが何れも写真撮影を必要とするから、観測結果を
得るまでに長時間を必要として実時間の測定が不可能で
あった。
また上述のような高速光パルスの波形を光電変換素子と
オツシロスコープとによって直接観測することは電気回
路の応答速度の点から不可能である。
従って本発明は、光パルスの時間的強度変化を位置によ
る輝度変化に変換して、これを再び電気信号の時間的変
化に変換することにより時間軸の引き伸しを行って実質
的に実時間をもって超高速光パルスの波形観測を行い得
るようにしたものである。
第1図は本発明実施例の構成を示す図で、レーザ装置1
は第2図aに示すような極めて小さい例えば1ピコ秒ま
だはそれ以下の時間幅の光パルスを発生して、これを例
えば蛍光体のような試料2に入射させる。
従って試料2は、第2図bのように時間tと共に強度の
変化する光パルスを発生して時間・位置変換器3に入射
させる。
すなわちこの光パルスの波形を観測しようとするもので
、その時間幅はピコ秒単位で表わされる値である。
上記時間・位置変換器3は、例えば乳白色の液体のよう
に光を散乱する物質であって、上記入射光線はこの物質
中を適当な光路長をもって通過する。
従って光が上記光路長を通過する時間が第2図bの光パ
ルスの時間幅とほぼ等しいものとすると、パルスの尾端
が変換器の入射面に到達した時刻においては変換器の各
位置で散乱した光線の輝度分布が上記光パルスの波形と
一致して、距離をl、輝度をBとすると変換器3の各部
における輝度分布がその側部に示したような曲線Pで表
わされる。
第1図におけるレンズ4は上記時間・位置変換器3の光
路と直角な光軸を有するように配置されたもので、この
レンズによって該変換器を光電変換器5の光電面6上に
投影してある。
従って光電面6上に曲線Pのような輝度分布の像が結ば
れるもので、レンズ4の光軸上には更に偏光子γ,8と
例えば炭化硫黄(CS2)あるいはニトロベンゼンのよ
うなカー効果セル9および必要に応じて適当なフィルタ
10等を配置してある。
セル9は偏光子7と8の中間に配置されたもので、これ
等が光のシャツタを形成している。
すなわち偏光子78の偏光方向を直交するように配置し
ておくと、常時はシャツタが閉じられて光が通過しない
しかし半透明ミラーIL12および遅延素子13を介し
てレーザ装置1から第2図aの光パルスがセル9に入射
すると偏向面に回転を生じて光線が透過するようになる
もので、この制御用光パルスの時間幅は第2図bの観測
しようとする光パルスより充分小さい値である。
光電変換器5は、第3図に一部の断面図を示したような
二次電子増倍管であって、光電面6と対向するように配
置された遮蔽電極14にスリット15を設けてその背後
に第1段ダイノード16を配置してある。
すなわち光電面6の各部から放出された光電子が点線の
矢印で示すようにスリット15を通ってダイノード16
に入射し該ダイノードで増倍された二次電子が更に第2
段ダイノード17以下の各ダイノードで順次増倍されて
出力電極に捕集される。
このような二次電子増倍管において、スリット15を光
電面6の縁と対向するように形成してあるから、光電面
上の各位置から第1段ダイノード16までの距離が該光
電面上の距離lによって相違し、その光電而の各位置か
ら放出された光電子が第1段ダイノード16に到達する
までの走行時間が距離lに応じて異なる値をとる。
第4図は上記距離lと走行時間の関係を測定した曲線で
縦軸tは最小走行時間との差である。
なお距離lは第3図のように光電面6上の位置であるか
らそのフルスケールが数センチメートルであり、また目
盛特性は直線目盛である。
本発明はこのような光電変換器5の出力を第1図のよう
にオツシロスコープ18に加えて該出力の時間的変化を
観測するものである。
上述の装置において、レーザ装置1から第2図aの光パ
ルスが送出されると、この光パルスによって試料2が同
図bのような光パルスを発生する。
そのパルスは時間・位置変換器3によって曲線Pのよう
に時間の変化を位置の変化に置換した輝度分布に変換さ
れるから遅延素子13で時間を適当に調整してセル9に
第2図aの制御用光パルスを入射させると、前述のシャ
ツタが開いて上記輝度分布の像が光電変換器5の光電面
6に投影される。
従ってこの光電面6の各位置から上記輝度分布に対応し
た密度をもって光電子が放出される。
この光電子は、その放出位置に対応した走行時間をもっ
てダイノード16に順次入射するから、上記光電変換器
5は光電面上の各位置に入射した光量、従って変換器3
における各位置の輝度に対応した出力を順次送出してオ
ツシロスコープ18に加える。
すなわち変換器3上の位置変化が再び時間変化に変換さ
れてオツシロスコープ18に加ワるもので、光電変換器
5として前述のような二次電子増倍管を用いるときは、
第4図における建行時間の差tを大きくすることによっ
て光パルスの時間幅を拡大した信号波形が上記オツシロ
スコープによって観測される。
なお上記光電変換器としては撮像蓄積管を用いることも
可能である。
すなわちこの場合は、光電面6の各位置から放出された
光電子が蓄積面上に電荷像として記録されるから、該蓄
積面を走査して記録された像の読取りを行う電子線の走
査速度によってオツシロスコープ18の時間軸目盛が決
定される。
以上実施例について説明したように本発明は超高速光パ
ルスの各時刻における強度を、光散乱物質よりなる変換
器によって−且光路上における輝度分布に置換し、これ
を光電面上に投影して光電変換器により再び電気信号の
時間的変化に変換することにより、オツシロスコープ等
によって光パルスの波形を実質的に実時間をもって観測
し得るようにしたものである。
すなわち光電変換管によってその光電面上の位置を時間
に変換するもので、この変換特性によって光パルスの時
間幅を任意に引き伸すことができる。
従って応答速度の低いオツシロスコープ等を用いて超高
速光パルスの波形を実時間をもって容易に観測し得るも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の構成を示す図、第2図は第1図
の装置における光パルスの波形図、第3図は第1図にお
ける光電変換器の一部の断面略図、第4図は第3図の光
電変換器の特性曲線である。 なお図において、1はレーザ装置、2は試料、3は時間
・位置変換器、4はレンズ、5は光電変換器、6は光電
面、7,8,9は偏向子およびカー効果セルによるシャ
ッタ、18はオッシロスコープである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光散乱物質よりなり観測しようとする超高速光パル
    スの時間幅に対応した長さの光路上を上記光パルスが通
    過してその時間的強度変化が上記光路上の輝度分布に変
    換される時間・位置変換器と、上記変換器における光路
    に対して交叉する光軸を有し前記光散乱物質の輝度分布
    の像を光電面上に投影する光学系と、上記光学系中に介
    挿されて前記超高速光パルスの時間幅より更に充分短か
    い時間だけ開放するシャツタと、前記光電面を具備し該
    光電面上における輝度分布像の各位置から放出される光
    電子に対応した電気出力を上記位置に対応した時間差を
    もって順次送出する光電変換器とよりなることを特徴と
    する超高速光パルス波形観測装置。
JP50014897A 1975-02-06 1975-02-06 チヨウコウソクヒカリパルスハケイカンソクソウチ Expired JPS5812536B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50014897A JPS5812536B2 (ja) 1975-02-06 1975-02-06 チヨウコウソクヒカリパルスハケイカンソクソウチ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50014897A JPS5812536B2 (ja) 1975-02-06 1975-02-06 チヨウコウソクヒカリパルスハケイカンソクソウチ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5190868A JPS5190868A (ja) 1976-08-09
JPS5812536B2 true JPS5812536B2 (ja) 1983-03-09

Family

ID=11873772

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50014897A Expired JPS5812536B2 (ja) 1975-02-06 1975-02-06 チヨウコウソクヒカリパルスハケイカンソクソウチ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5812536B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59174742A (ja) * 1983-03-25 1984-10-03 Agency Of Ind Science & Technol 微小粒子を区分又は選別する方法及びその装置
JPS6080764A (ja) * 1983-10-12 1985-05-08 Agency Of Ind Science & Technol 微小粒子を識別する方法及びその装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4885185A (ja) * 1972-02-14 1973-11-12

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5237254Y2 (ja) * 1972-04-24 1977-08-24
JPS5237253Y2 (ja) * 1972-04-24 1977-08-24

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4885185A (ja) * 1972-02-14 1973-11-12

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5190868A (ja) 1976-08-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3145486B2 (ja) イメージングフローサイトメータ
US6445491B2 (en) Method and apparatus for optical sectioning and imaging using time-gated parametric image amplification
JPS6332356A (ja) 蛍光信号の解析と画像表示のための装置
US3380358A (en) Range gated imaging system
DE4124090A1 (de) Rastertunnelmikroskop
JPH01152377A (ja) 部分放電検出方法
JP2665231B2 (ja) 光波形測定装置
GB2194334A (en) An apparatus for optically measuring a three-dimensional object
DE3249005T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bilderzeugung
JPS61239551A (ja) 管内に像切出し装置を有するストリ−ク管
JPS5812536B2 (ja) チヨウコウソクヒカリパルスハケイカンソクソウチ
US5034903A (en) Apparatus and method for measuring the time evolution of carriers propogating within submicron and micron electronic devices
DE2044908A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dauer ultrakurzer Licht impulse
Friedman et al. Dynamic range and spatial resolution of picosecond streak cameras
US4682020A (en) Picosecond gated light detector
US5071249A (en) Light waveform measuring apparatus
US4835391A (en) Cerenkov electrooptic shutter
JPS629846B2 (ja)
Bradley et al. Picosecond chronography with image tubes
US4983041A (en) Spectroscopic apparatus for extremely faint light
JP2764505B2 (ja) 電子分光方法とこれを用いた電子分光装置
US2277421A (en) Photometer
Sibbett et al. Internally intensified Photochron II streak tube
JPH0262806B2 (ja)
JPH09218155A (ja) 2次元蛍光寿命測定方法および装置