JPS58118697A - Display panel inspector - Google Patents

Display panel inspector

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Publication number
JPS58118697A
JPS58118697A JP85382A JP85382A JPS58118697A JP S58118697 A JPS58118697 A JP S58118697A JP 85382 A JP85382 A JP 85382A JP 85382 A JP85382 A JP 85382A JP S58118697 A JPS58118697 A JP S58118697A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display panel
line
video signal
displayed
brightness
Prior art date
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Pending
Application number
JP85382A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
堀子 喜憲
実 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP85382A priority Critical patent/JPS58118697A/en
Publication of JPS58118697A publication Critical patent/JPS58118697A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、マトリクス形表示パネルの検査装置に関する
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an inspection device for matrix type display panels.

近年、従来のCRTディスプレイ忙代わる新しいディス
プレイの開発が活発に行々われている。
In recent years, new displays have been actively developed to replace conventional CRT displays.

その中で他のディスプレイにおいては実現が難しい、薄
型、低電圧、低電力駆動が可能であり、明るい場所でも
見やすいディスプレイとして液晶ディスプレイは注目を
集め、ポケット型テレビの面憎表示ディスプレイへの応
用が発表され実用化されようとしている。
Among these, liquid crystal displays have attracted attention as displays that are thin, low voltage, and can be driven with low power, which is difficult to achieve with other displays, and are easy to see even in bright places. It has been announced and is about to be put into practical use.

液晶の駆動方法として、時分割駆動方式Fi両画像分解
能金玉けることが厳しいことがら、各画素ごとに1個の
能動素子を設けたアクティブ・マトリクス駆動方式が用
いられ、高い分解能が得られている。
As for the liquid crystal drive method, since it is difficult to achieve high image resolution using the time-division drive method, an active matrix drive method in which one active element is provided for each pixel is used to obtain high resolution. .

テレビジョンの画像ディスプレイとしては、画素数24
0X220=52800で画面サイズは2インチ程度の
ものが発表されている。
The number of pixels for a television image display is 24.
A screen size of about 2 inches with 0x220 = 52800 has been announced.

このアクティブ・マトリクス方式の液晶ディスプレイは
表示パネルの一方の基板に半導体集積回路基板を用いて
おり、2インチ程度と大きいこの集積回路基板の各部の
検査は、非常に難しく長い時間を要する。例えば、ダイ
リータチェック用固定カードにより、各画素の表示電極
をチェックする場合、この固定カードのビン数は150
程度が限度であり、これによりすべての画素をチェック
するには、この固定カードを非常に多くの回数移動して
検査することとなって、検査時間も長く、位置的精度も
厳しく、実際的には困難である。現状では、人間の目・
で確認しているのが常である。
This active matrix type liquid crystal display uses a semiconductor integrated circuit board as one substrate of the display panel, and it is extremely difficult and time consuming to inspect each part of this integrated circuit board, which is approximately 2 inches in size. For example, when checking the display electrode of each pixel using a fixed card for checking the dilator, the number of bins of this fixed card is 150.
As a result, in order to check all pixels, this fixed card must be moved and inspected a large number of times, resulting in a long inspection time and strict positional accuracy, making it impractical. It is difficult. Currently, the human eye
I usually check this.

実際に、表示パネルの状態で画像として見ると画像の欠
陥としては画素欠陥と線欠陥があり、画素欠陥は画素の
大きさ及びコントラストが大きくなる程、認識できるよ
うになるが、画面内にランダムに分布している場合、1
0〜20個程度は許容される。一方、線欠陥の場合は1
本も許容されない。そして線欠陥にはビデオ信号ライン
とゲート信号ラインの2種類がある。
In fact, when viewed as an image on a display panel, there are two types of image defects: pixel defects and line defects.Pixel defects become more visible as the pixel size and contrast increase, but they occur randomly within the screen. 1 if distributed in
Approximately 0 to 20 pieces are allowed. On the other hand, in the case of line defects, 1
Books are also not allowed. There are two types of line defects: video signal lines and gate signal lines.

ライン欠陥の中でビデオ信号ラインが電源VDDと短絡
した場合と基板電位に短絡した場合のほかに、オープン
になりビデオ信号が入力されていない場合がある。どち
らかに短絡した場合は、その短絡した部分をレーザー等
で焼き切る方法などがあるが難しい。これに比べて、オ
ープンの場合はできる。
Among line defects, in addition to cases where the video signal line is short-circuited to the power supply VDD and short-circuited to the substrate potential, there are cases where the line is open and no video signal is input. If there is a short circuit on either side, there is a way to burn out the shorted part with a laser or the like, but it is difficult. In contrast, in the case of open, it is possible.

ゲート信号ラインのライン欠陥の場合も、同様のことが
可能である。そのため、ライン欠陥の位置を知ることが
必要なわけである。
A similar thing is possible in the case of line defects in gate signal lines. Therefore, it is necessary to know the position of the line defect.

液晶表示パネル全体の電気的等価回路は第1図のように
示される。各画素の蓄積用コンデンサC0への書き込み
は、テレビ画像信号をその画面の場所に応じて、ビデオ
信号ラインXI−Xn、ゲート信号ラインY1〜Ynを
選択し、各画素のスイッチ用トランジスタTrを開閉し
て行なわれる。そしてこの記憶された各画素の蓄積用コ
ンデンサcoの電圧がそれぞれの画素の液晶セルLCの
印加電圧となる。−Vssは表示用シリコン集積回路基
板電位、VCOMは透明電極とたる共通電極の電位であ
る。
The electrical equivalent circuit of the entire liquid crystal display panel is shown in FIG. To write the TV image signal to the storage capacitor C0 of each pixel, the video signal lines XI-Xn and the gate signal lines Y1 to Yn are selected depending on the location on the screen, and the switching transistor Tr of each pixel is opened and closed. It is done as follows. The stored voltage of the storage capacitor co of each pixel becomes the voltage applied to the liquid crystal cell LC of each pixel. -Vss is the potential of the display silicon integrated circuit substrate, and VCOM is the potential of the common electrode serving as the transparent electrode.

ビデオ信号ラインX1に高いレベル、X2〜Xnを低レ
ベルとし、ゲート信号ラインY1〜Ynは垂直走査信号
を入力すると第2図に示すようにXl・Yl、Xi・Y
2・・・・・・Xl・Ynの部分の液晶セルがビデオ信
号ラインX1に沿って駆動される。
The video signal line
2...The liquid crystal cells in the Xl and Yn portions are driven along the video signal line X1.

このビデオ信号ラインX 1 !lCGつた画素の検査
の方法は、画面全体を黒レベルとして、このXlに宿っ
た画素の部分を白レベル信号とした時の画面の明るさを
光学的に測定し、また、全画面を黒レベルとして測定す
ることで、この両方の明るさの比較により、この画素部
分に対応するビデオ信号2インX1のラインの欠陥の有
無が判別できる。
This video signal line X 1! The method of testing lCG pixels is to optically measure the brightness of the screen when the entire screen is set to the black level and the pixel portion located in this Xl is used as a white level signal, and the entire screen is set to the black level. By measuring the brightness of the two pixels, it is possible to determine whether there is a defect in the line of the video signal 2-in-X1 corresponding to this pixel portion.

実際の検査装置の構成は第3図に示す通りである。The actual configuration of the inspection device is as shown in FIG.

画像表示パネル1の検査は、まず、この表示ノ(ネルは
反射型であることから、光源を斜め方向から照射しコン
トラストの最も良い位置に設定する。
To inspect the image display panel 1, first, since the display panel is of a reflective type, a light source is irradiated from an oblique direction and set at a position with the best contrast.

テスト信号発生部2により例えば、ビデオ信号ラインX
1に高レベル信号を入力すると、垂直走査回路が正常の
動作をすることで、やは)ビデオ信号ラインX1に宿っ
た部分の画素が駆動されこの部分が白く輝く。
For example, the video signal line
When a high-level signal is input to X1, the vertical scanning circuit operates normally, and the pixels in the portion of the video signal line X1 are driven, causing this portion to shine white.

この光を集光レンズ3により集光し、光電変換素子4に
よって電気信号とし、増幅部5で増幅され記憶・比較部
6に送られる。そして比較さねた結、果を判定出力とし
てプリンター8に送り、この場合のビデオ信号ライン番
号をライン番号発生部7より受け、プリンター8で書き
込み出力する。
This light is focused by a condensing lens 3, converted into an electric signal by a photoelectric conversion element 4, amplified by an amplification section 5, and sent to a storage/comparison section 6. The comparison result is sent as a judgment output to the printer 8, and the video signal line number in this case is received from the line number generator 7, and the printer 8 writes and outputs it.

この構成で既知のビデオ信号ラインの駆動信号の有の場
合と、無の一合の光信号レベルを測定し比較することで
、そのビデオ信号ラインにおけるライン欠陥の有無を判
定でき、この判定方法を自動的にビデオ信号ライン数り
回行なうことで、ビデオ信号ラインにおけるライン欠陥
の場合を自動的に知ることができる。
With this configuration, by measuring and comparing the optical signal level of a known video signal line with and without a drive signal, it is possible to determine whether there is a line defect in the video signal line. By automatically testing the video signal lines several times, it is possible to automatically know if there is a line defect in the video signal line.

また、垂直の走査信号をある既知のゲート信号ラインに
固定し、この状態でビデオ信号ラインX1〜X nのす
べてを、高レベルと低レベルに切す換えて、この時の光
信号レベルを比較することKより、そのゲート信号ライ
ンのライン欠陥の有無が判定できる。
Also, fix the vertical scanning signal to a certain known gate signal line, switch all of the video signal lines X1 to Xn to high level and low level in this state, and compare the optical signal levels at this time. By doing K, it is possible to determine whether there is a line defect in the gate signal line.

さて、未検査の表示パネルを検査するに当たり既知の良
品である表示パネルによシ、全面が黒レベルの時の表示
画面の光レベルと1本のビデオ信号ラインのみが白レベ
ルの時の明るさ光レベルを測定しておき、記憶・比較部
6の比較判定基準レベルとして用いることで正確な判定
に結びつく。
Now, when inspecting an uninspected display panel, we will use a display panel that is a known good product.The light level of the display screen when the entire surface is at black level and the brightness when only one video signal line is at white level. Measuring the light level and using it as a reference level for comparison in the storage/comparison section 6 leads to accurate determination.

以上述べたように、第3図のテスト信号発生部2の表示
パネル1への出力信号を第4図a)に示す波形として順
次X゛1からXnK駆動すると、この時の増幅部5の出
力波形が第4図b)のようにがりX1O[定t’i T
XI テ(7) LとHのレベル比較、X2の判定はT
X2でのLとHのレベル比較し、測定しながら自動的に
移動し比較判定され、Xnまで終fした彼、次に垂直走
査信号をゲート信号ラインのYlからYnへと順次測定
、判定し結果的にビデオ信号ラインの線欠陥とゲート信
号ラインの線欠陥の有無を1その欠陥の位置を自動的な
測定により知ることができる。
As described above, when the output signal of the test signal generator 2 in FIG. 3 to the display panel 1 is sequentially driven from X'1 to XnK with the waveform shown in FIG. The waveform is as shown in Fig. 4b).
XI Te (7) Level comparison of L and H, judgment of X2 is T
It compares the L and H levels at X2, moves automatically while measuring and makes a comparison judgment, and when it finishes up to Xn, it sequentially measures and judges the vertical scanning signal from Yl to Yn on the gate signal line. As a result, the presence or absence of a line defect in the video signal line and the gate signal line can be determined by automatically measuring the position of the defect.

アクティブマトリクス型表示パネルの集積回路基板のチ
ェックを従来の方法に比較し、簡単に、正確に行なうこ
とが可能となった。
Compared to conventional methods, it has become possible to check the integrated circuit board of an active matrix display panel easily and accurately.

ここで、各画素毎に1個づつ測定することが可能である
ことは勿論のことである。また、上述の説明では反射型
液晶パネルの検査について述べてきたが透過型の場合も
同様であり、光源の入射方向が変ってくるだけである。
Here, it goes without saying that it is possible to measure each pixel one by one. Further, in the above explanation, the inspection of a reflective type liquid crystal panel has been described, but the same applies to the case of a transmissive type, and only the incident direction of the light source changes.

本発明の表示パネル検査装置は液晶表示パネルに限定さ
れず、LED、プラズマディスプレイ、ELなど他のマ
トリクス表示パネルの検査にも適用できる。
The display panel inspection apparatus of the present invention is not limited to liquid crystal display panels, but can also be applied to inspection of other matrix display panels such as LEDs, plasma displays, and EL.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は液晶表示パネル全体の等価回路を示し第2図は
このパネルのマトリクス信号線と表示画素の位置関係を
示す。又、第3図は本発明の画像表示パネルの検査装置
の構成図である。第4図(a)は自動測定の時のビデオ
信号ラインX1〜X4の入“力信号波形を示し、第4図
(b)はこの時の増幅部5の出力波形を示す。 X1〜Xn・・・・ ビデオ信号ラインY1〜Yn・・
・・ ゲート信号ラインド・・・マトリクス表示パネル 2・・・・テスト信号発生部 3・・・・集光レンズ4
・・・・光電変換素子  5・・・・増幅部6・・・・
 記憶・比較部 co・・・ 蓄積用コンデンサ 7・・・・ ライン番号発生部 Tr・・・ スイッチ用トランジスタ 8・・・・ プリンター  LC曲液晶セル代理人 弁
理士  則 近 憲 佑 (ほか1名)第1図 第2図
FIG. 1 shows an equivalent circuit of the entire liquid crystal display panel, and FIG. 2 shows the positional relationship between matrix signal lines and display pixels of this panel. Further, FIG. 3 is a configuration diagram of an inspection apparatus for an image display panel according to the present invention. FIG. 4(a) shows the input signal waveforms of the video signal lines X1 to X4 during automatic measurement, and FIG. 4(b) shows the output waveforms of the amplifying section 5 at this time. ... Video signal lines Y1 to Yn...
... Gate signal line ... Matrix display panel 2 ... Test signal generation section 3 ... Condensing lens 4
...Photoelectric conversion element 5...Amplification section 6...
Memory/comparison section co... Storage capacitor 7... Line number generation section Tr... Switching transistor 8... Printer LC music liquid crystal cell agent Patent attorney Noriyuki Chika (and 1 other person) Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] マトリクス表示パネルにおいて、縦方向および横方向の
各マド苧りス信号線に対応する画素を一本線毎に表示し
、この表示した場合の上記表示パネルの明るさと、これ
を表示しない場合の明るさを光電変換し、電気信号とし
て比較し、その表示した画素部分の欠陥の有無を自動的
に判定するぺ〈、上記表示パネルの駆動試験信号発生器
によって、順次、上記マトリクス信号線を自動的に駆動
し、画面の明るさの比較判定するととKよシその場所の
位置と欠陥の有無を確認し、その結果を出力することを
特徴とする表示パネル検査装置。
On the matrix display panel, pixels corresponding to each vertical and horizontal signal line are displayed line by line, and the brightness of the display panel when this display is displayed and the brightness when it is not displayed. is photoelectrically converted and compared as an electrical signal, and the presence or absence of defects in the displayed pixel portion is automatically determined.The drive test signal generator of the display panel automatically converts the matrix signal lines in sequence. A display panel inspection device characterized in that the device is driven, compares and judges the brightness of a screen, confirms the location of the screen and the presence or absence of defects, and outputs the results.
JP85382A 1982-01-08 1982-01-08 Display panel inspector Pending JPS58118697A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62203067A (en) * 1986-02-28 1987-09-07 Sharp Corp Display apparatus
JPS6435597A (en) * 1987-07-31 1989-02-06 Sharp Kk Inspector for liquid crystal display device

Cited By (3)

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