JPS58114175A - パタ−ン読取り装置 - Google Patents
パタ−ン読取り装置Info
- Publication number
- JPS58114175A JPS58114175A JP21403981A JP21403981A JPS58114175A JP S58114175 A JPS58114175 A JP S58114175A JP 21403981 A JP21403981 A JP 21403981A JP 21403981 A JP21403981 A JP 21403981A JP S58114175 A JPS58114175 A JP S58114175A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- lens
- reflected
- focused
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Input (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は、物体の形状を読み取る丸めのパターン読取シ
装置に関する◇ (2)従来技術と問題点 従来物体の凹凸を検知する方法としては光ビームの反射
方向を調べる三角測量法や物体の表面に針を突き当て針
の動きにより表面の凹凸を知る探針法がある。しかし両
者とも高速に物体の凹凸を検知することはできない。
装置に関する◇ (2)従来技術と問題点 従来物体の凹凸を検知する方法としては光ビームの反射
方向を調べる三角測量法や物体の表面に針を突き当て針
の動きにより表面の凹凸を知る探針法がある。しかし両
者とも高速に物体の凹凸を検知することはできない。
(3)発明の目的
本発明の目的は物体の凹凸を高速に検知する装置を提供
することにある。
することにある。
(4) 発明の構成
上記目的を達成するための本発明は、レーザー・光を用
いて物体の形状を読み取るパターン読取り装置に於いて
、物体より反射した光を再結像させる円筒状のレンズと
、そのレンズの光軸方向に複数の検知器を設け、検知器
の出力を比較判定することにより物体の形状を読み取る
ことを特徴とする。
いて物体の形状を読み取るパターン読取り装置に於いて
、物体より反射した光を再結像させる円筒状のレンズと
、そのレンズの光軸方向に複数の検知器を設け、検知器
の出力を比較判定することにより物体の形状を読み取る
ことを特徴とする。
(5)発明の実施例
第1図は本発明の一実施例を示す図でレーザ・=1より
出力された元はレンズ2で広げられ、回転ミラー3によ
シ偏向された後、レンズ番により絞られ%XYステージ
5に乗せられた物体6をスポット走査する。この時物体
6で反射され九九の一部はレンズ番を通り、回転ミラー
3により振byされ、もと来た・光路を戻って行く。そ
してノ1−7ミラーフによシ、その一部は円筒レンズ8
によりスリット9上に結像される。スリット9は第2図
(a)、(b)に示す様に円筒レンズ80元軸に対しθ
傾けである。尚、第2図(a)は平面図、第2図(b)
は第2図(a)の矢印方向から見九図である。第1図の
a。
出力された元はレンズ2で広げられ、回転ミラー3によ
シ偏向された後、レンズ番により絞られ%XYステージ
5に乗せられた物体6をスポット走査する。この時物体
6で反射され九九の一部はレンズ番を通り、回転ミラー
3により振byされ、もと来た・光路を戻って行く。そ
してノ1−7ミラーフによシ、その一部は円筒レンズ8
によりスリット9上に結像される。スリット9は第2図
(a)、(b)に示す様に円筒レンズ80元軸に対しθ
傾けである。尚、第2図(a)は平面図、第2図(b)
は第2図(a)の矢印方向から見九図である。第1図の
a。
b両点から反射された光に注目すると、レンズ番より遠
いa点からの反射は、b点からの反射光が結像する面b
′に比べ、円筒レンズ8に近いa′面で結像し、この結
果、スリット9上の点P1を強い元が通過し、その点に
置かれた光検知器ユぴから強い信号が出力される。一方
す点からの反射光はb′面で結像し、スリット9上の1
2点を強い光が通過し、その点にある光検知器10”か
ら強い信号が出力される。
いa点からの反射は、b点からの反射光が結像する面b
′に比べ、円筒レンズ8に近いa′面で結像し、この結
果、スリット9上の点P1を強い元が通過し、その点に
置かれた光検知器ユぴから強い信号が出力される。一方
す点からの反射光はb′面で結像し、スリット9上の1
2点を強い光が通過し、その点にある光検知器10”か
ら強い信号が出力される。
この様にして、スポット走査したある点の高さが瞬時に
光検知器の位置に変換されるので、高速に物体の凹凸情
報を読み取ることができる。
光検知器の位置に変換されるので、高速に物体の凹凸情
報を読み取ることができる。
第3図に本発明の他の実施例を示す。第1図のスリット
90代りに第4図に詳細構造を示す光検知−31を複数
個平行に並べる。この検知器31は両側を導体32には
さまれ九cds等の非線形な感[特性を有する光導電体
33から成る、。
90代りに第4図に詳細構造を示す光検知−31を複数
個平行に並べる。この検知器31は両側を導体32には
さまれ九cds等の非線形な感[特性を有する光導電体
33から成る、。
この検知器に集中された光34が当九るとより大きな導
電性を示すことから並列に並べられた検知器のうち厳も
抵抗の低す検知器を探すことにより物体の凹凸を読み取
ることができる。この方式によればレンズ8と検知器3
1面との軸合せが容易となる。
電性を示すことから並列に並べられた検知器のうち厳も
抵抗の低す検知器を探すことにより物体の凹凸を読み取
ることができる。この方式によればレンズ8と検知器3
1面との軸合せが容易となる。
(6)発明の詳細
な説明したように本発明によれば、物体の凹凸を高速に
検知することができる。
検知することができる。
第1図は、本発明の一実施例を示す図、第2図(a)、
(b)は第1図の詳細図、第3図は本発明の他の実施例
を示す図、第4図は第3図の詳細図である。 8:円筒状レンズ、9ニスリツト、10:光検知器、3
3:非線形元導電体 審2 図 11 1 1)9 寥31 1 1 1
(b)は第1図の詳細図、第3図は本発明の他の実施例
を示す図、第4図は第3図の詳細図である。 8:円筒状レンズ、9ニスリツト、10:光検知器、3
3:非線形元導電体 審2 図 11 1 1)9 寥31 1 1 1
Claims (1)
- レーザー元を用^て物体の形状を読み取るパターン読取
り装置に於いて、物体より反射した光を再結像させる円
筒状のレンズと、そのレンズの光軸方向に複数の検知器
を設け、検知器の出力を比較判定することKよシ物体の
形状を読み取ることを特徴とするパターン読取シ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21403981A JPS58114175A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | パタ−ン読取り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21403981A JPS58114175A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | パタ−ン読取り装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58114175A true JPS58114175A (ja) | 1983-07-07 |
JPH0122951B2 JPH0122951B2 (ja) | 1989-04-28 |
Family
ID=16649257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21403981A Granted JPS58114175A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | パタ−ン読取り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58114175A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS629860U (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-21 | ||
WO1990009004A1 (en) * | 1989-01-31 | 1990-08-09 | Yoshiro Yamada | Image processing method and apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4898032U (ja) * | 1972-02-23 | 1973-11-20 |
-
1981
- 1981-12-26 JP JP21403981A patent/JPS58114175A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4898032U (ja) * | 1972-02-23 | 1973-11-20 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS629860U (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-21 | ||
WO1990009004A1 (en) * | 1989-01-31 | 1990-08-09 | Yoshiro Yamada | Image processing method and apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0122951B2 (ja) | 1989-04-28 |
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