JPS58102107A - 距離測定法 - Google Patents

距離測定法

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Publication number
JPS58102107A
JPS58102107A JP20088781A JP20088781A JPS58102107A JP S58102107 A JPS58102107 A JP S58102107A JP 20088781 A JP20088781 A JP 20088781A JP 20088781 A JP20088781 A JP 20088781A JP S58102107 A JPS58102107 A JP S58102107A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
light
pinhole
holographic
hologram
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20088781A
Other languages
English (en)
Inventor
Moritoshi Ando
護俊 安藤
Kikuo Mita
三田 喜久夫
Giichi Kakigi
柿木 義一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP20088781A priority Critical patent/JPS58102107A/ja
Publication of JPS58102107A publication Critical patent/JPS58102107A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/32Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders by focusing the object, e.g. on a ground glass screen

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)  発明の技術分野 本発明は0〜1001@[の距離を光学的に測定する測
定法に関するものである。
(2)技術の背景 従来、例えば電子機器に用いられているプリント配線板
の組立時において、その上に搭載された電子部品の正誤
や、履Hをチェックする丸め、プリント配線板や電子部
品に記入され良部品番号。
ロフト番号等を確認する必要がある。従来ヒの作業は目
視にたようてい九がこれを金環化するため自動機の開発
が要望されている。
(3)従来技術と問題点 第1図は部品を搭載したプリント配線板を説明するため
の図であり、同図において1はプリント配−坂、1mは
七のS品番号、ロフト番号、2゜3は部品、2m、3a
はW品に記入され部品番号。
ロフト番号をそれぞれ示している。
このような記号は従来よpある丈字胱取装置でll!取
ることができるが、第1図に示す如くプリント配lII
板】の表面と部品2.30上面との閏、又は部品同士の
間に高さの違いがあplこのため文字絖取装置と記号間
の距離を測定し、その結果により文字読取装置の位置を
調整しなければならない。
この距離を測るためには、ある長さの基−の両端から目
的物を見えときの挟角tIIll定し、これより距離を
算出する方法、レンズを移動して目的−に焦点を合わせ
、そのレンズの移動量から距離音測定する方法などがあ
るが何れも機械的な機構を必要とし一渕定に要する時間
が長くなるという欠点がある。
(4)発lIの目的 零発@は上記従来の欠点に鑑み、機械的な機構を必要と
しない距−測定法f:提供することを目的とする4ので
ある。
(5)発明の構成 そしてこの目的は本発@によれば、ホログラムを板に焦
点距離の異なる複数個のホログラムレンズを多重露光し
て形成し九本ログ2ムレンズと、皺レンズに平行光を入
射したとIII誼レンズを通過し物体に反射した党のう
ち前記ホログラムレンズを透過した光を集光する結像レ
ンズと、該結像レンズの焦点面に前記各ホログラムレン
ズに対応する位置にピンホールを設は九ピンホールアレ
イと、該ピンホールアレイの各ピンホールの後に設けた
光検知器とを具備して構成された装置を用い、前記ホロ
グラムレンズに平行光を入射したとき最も透過光量の大
きなピンホールに対応するホログラムレンズの焦点距離
から、咳レンズと物体間の距離を求めること¥rq#黴
とする距離測定法を提供することによって達成される。
(6)発明の実施例 以下本発明実施例t−図面によって詳述する。
第2FIAi!本発明による距離測定法を実施すること
ができる装置を示す図である。
同図において4はホログラム用乾[K焦点距離の異なる
複数個のホログラムレンズ1t−1,を多重露光して形
成したホログラムレンズ、6社ビームスグリツタ−16
は結像レンズ、7社結像レンズ6の焦点面に設けたピン
ホールアレイ、8はその各ピンホールの後ろに設けられ
走光検知器である。そしてホログラムレンズ4に平行光
Sを入射し九とき、各ホログラムレンズ11〜11を通
9物体9に反射した光が再度各ホpグラムレンズ11〜
’mtjkりてビームスプリッタ5に反射され結像レン
ズ6に導かれ、ピンホールアレイ7に結像するように構
成されている。なおピンホールアレ′47には複数個の
ピンホール7aが穿設されてお9、その位置社各ホログ
ラムレンズ11〜1.によゐ艙儂位置に設けられている
。を丸缶ピンホールの大きさは、各ホーグラムレンズ1
1〜1.の焦点距離が違い結像の大きさが異なる丸め、
同一の光量が透過するように孔径が調整されている。即
ち、113mK示すように集光レンズ6の焦点距離t−
f・とし°たと自ホpグラムレンズI工の焦点距離が!
、の場合にはピア*−、vo孔@aはd =’f: k
 h を夛、ホログラムレンズ18の焦点距離がf、の
場つ11)/Xが長くなるはどピンホール径は小さく1
ゐO このように構成され九装置を用い九本発明方法を次に説
明する。先ずホログラムレンズ4に平行光−を入射する
。しかるときは、各ホログラムレンズ11〜j、を通過
した光は物体9に反射し、再ヒ各ホログラムレンズ41
〜11を通シ、ビームスプリッタ5に反射され、結像レ
ンズ6によってピンホールアレイ7に結像し、更にピン
ホール7mを透過して受光素子8に到−する。
ζこで威るホログラムレンズの焦点距離が、該レンズと
物体9との距離と等しくないと自は物体Kmっ九光が散
乱してしまい、反射してピンホール7aに刺違する光量
は少なくなる。これ九対し成るホログラムレンズの焦点
距離が、鎖レンズと物体9との距離に等しい場合には物
体面に焦点を結ぶため、その物体9から反射してピンホ
ール7aK到達する光量は最も大きくなる。従りて最も
透過光量の多いピンホールに対応したホログラムレンズ
の焦点距離が該レンズから一体9tでの距離であると判
定される。
114図は距離測定回路の1例を示した図であり、同I
12において1O−2〜] 0−IIlは各光検知器に
!I続した増幅器、11は各増幅器を接続したマルチプ
レタす、12はアナログ・デジタル変換器、13はコン
トローラである。そしてこの回路の動作は各増幅@ 1
 o−1〜1O−1からの出力がiルチプレク?11で
選択され、アナログ・デジタル変換器12で処理され、
コントルーツ1)K入る。コントローラ13は最も出力
の大暑な出力を選び、その光検知s1に対応し九ホログ
ラムレンズの焦点距離から、該レンズと物体間の距離を
判定することができるよう和なっている。なお光検知器
はCODを用いても嵐い。
(71発明の効果 以上、詳mK説明しえように、本発明の距離測定法は距
離を光学的KIIl定し、その判定を電気回路にて行な
うむとかで龜るため機械的−作を必要とせず、測定時間
が短かくな9%短かい距離を迅速に測定する場合に供し
得るといった効果大なるものである。
【図面の簡単な説明】
嬉1111H部品を搭載したプリント配lI板を説明す
るための図、鎮2図は本発明による距離測定法を実施す
るための装置を示す図、813図はピンホールの大傘さ
を説明するための図、嬉4図は光検知器の出力によって
距離を判定するための電気回路を説明するための図であ
る。 図面において、4はホログラムレンズ、5はビームスプ
リッタ、6は結儂レンズ、7はピンホールアレイ、7m
はピンホール、8は光検知器をそれぞれ示す。 特許出願人 富士通株式会社 特許出願式通人 弁理士青水 朗 弁環士西舘和之 弁塩士内田幸男 弁理士 山 口 昭 之 fsl 閤 第2図 第3図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、ホログラム用乾板に焦点距離の異表る複数値のホロ
    グラムレンズを多重露光して形成し九ホpグツムレンズ
    と、該レンズに平行光を入射したとき、該レンズを通過
    し物体に反射した光のうち前記ホログラムレンズを透過
    した光を集光する結侭レンズと、鎖緒像レンズの焦点面
    に前記各ホ四ダラムレンズに対応する位置にピンホール
    上膜は九ピンホールアレイと、該ピンホールアレイの各
    ピンホールの後に設は走光検知器とを具備して構成され
    九装置を用い、前記ホログラムレンズに平行光を入射し
    友と電量も透過光量の大きなビンホ・  −ルに対応し
    たホログラムレンズの焦点距離から、該レンズと物体間
    の距離を求めること七轡黴とする距離測定法。
JP20088781A 1981-12-15 1981-12-15 距離測定法 Pending JPS58102107A (ja)

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JP20088781A JPS58102107A (ja) 1981-12-15 1981-12-15 距離測定法

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JPS58102107A true JPS58102107A (ja) 1983-06-17

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012253232A (ja) * 2011-06-03 2012-12-20 Sharp Corp 加熱調理器
JP2012251738A (ja) * 2011-06-03 2012-12-20 Sharp Corp 加熱調理器
CN104691416A (zh) * 2013-12-10 2015-06-10 通用汽车环球科技运作有限责任公司 使用全息技术的车辆的距离确定系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5222547A (en) * 1975-08-14 1977-02-19 Mitsubishi Electric Corp Electron beam device
JPS5548606A (en) * 1978-10-05 1980-04-07 Olympus Optical Co Ltd Distance measuring device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5222547A (en) * 1975-08-14 1977-02-19 Mitsubishi Electric Corp Electron beam device
JPS5548606A (en) * 1978-10-05 1980-04-07 Olympus Optical Co Ltd Distance measuring device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012253232A (ja) * 2011-06-03 2012-12-20 Sharp Corp 加熱調理器
JP2012251738A (ja) * 2011-06-03 2012-12-20 Sharp Corp 加熱調理器
CN104691416A (zh) * 2013-12-10 2015-06-10 通用汽车环球科技运作有限责任公司 使用全息技术的车辆的距离确定系统

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