JPH1195905A - 座標検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パソコンやワープロ等において座標情報の入
力手段として使用される抵抗膜方式の座標検出装置に関
し、ドットスペーサの影響が排除され押下点の移動経路
を示す座標値が順次出力される座標検出装置の提供を目
的とする。 【解決手段】 上記課題は座標値変換部２が、相対値算
出部３と相対値補正部４と出力座標値形成部５を有し、
相対値算出部３は、前回入力された検出座標値と今回入
力された検出座標値との差を算出する相対値算出手段31
を有し、相対値補正部４は、新規入力相対値と既入力相
対値との差を比較対象とし、比較対象が許容値以下であ
れば新規入力相対値を、比較対象が許容値を超えていれ
ば既入力相対値を出力する相対値補正手段41を有し、出
力座標値形成部５は、相対値補正部４からの相対値を前
回出力された出力座標値と合成し、新規出力座標値を形
成する座標値形成手段51を具えている本発明の座標検出
装置によって達成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はパソコンやワープロ
等において座標情報の入力手段として使用される抵抗膜
方式の座標検出装置に係り、特にドットスペーサの影響
が排除され押下点の移動経路を示す複数の座標値が順次
出力される座標検出装置に関する。

【０００２】ディスプレイ装置の画面上における座標情
報を情報処理装置に入力する手段として座標検出装置が
広く利用されており、従来から電磁誘導方式、静電結合
方式、抵抗膜方式等各種方式の検出手段を具えた座標検
出装置が実用化されている。

【０００３】しかし、電磁誘導方式の座標検出装置はコ
イル等の組み込まれた入力ペンがリード線を介して本体
に接続されており、入力ペンの操作に難点があると共に
高価で微細な情報の入力が困難なことから最近の情報処
理装置には使われていない。

【０００４】一方、静電結合方式の座標検出装置は一枚
の導体膜に指先を接触させることによって座標情報を入
力できることから、例えばディスプレイ装置に装着して
画面に表示された図形や記号の座標情報を入力するタッ
チパネルに利用されている。

【０００５】しかし、静電結合方式の座標検出装置は導
体膜に指先を接触させる必要がありスタイラスペン等で
の入力が不可能で、携帯型パソコン等に組み込まれる小
型化された座標検出装置において微細な座標情報が入力
できないという問題がある。

【０００６】それに対し抵抗膜方式の座標検出装置は指
先やスタイラスペン等を用いて微細な座標情報を入力す
ることが可能であり、構成が簡単で薄型化や低コスト化
が可能である等多くの利点を有するため近年は抵抗膜方
式の需要が拡大されている。

【０００７】しかし、所定の間隔で配列された複数のド
ットスペーサを介し二枚の導体膜が対向する抵抗膜方式
の座標検出装置は、例えばスタイラスペンを直線的に移
動させてもドットスペーサの近傍で直進できず迂回デー
タが出力されることがある。

【０００８】そこでドットスペーサの影響が排除され押
下点の移動経路を示す座標値が順次出力される座標検出
装置の開発が要望されている。

【０００９】

【従来の技術】図14は抵抗膜方式の座標検出装置を示す
ブロック図、図15は座標入力パネルの一例を示す斜視図
である。

【００１０】抵抗膜方式の座標検出装置は図14に示す如
く情報の入力時に指先やスタイラスペンで押下される座
標入力パネル11と、押下点のＸＹ座標値を検出し座標値
に対応する電圧を出力する電圧印加回路12とＡ／Ｄ変換
器13と制御部14とを有する。

【００１１】座標入力パネル11は図15に示す如くそれぞ
れ片面にカーボン等の抵抗膜15、16が被着された絶縁フ
ィルム17、18を有し、２枚の絶縁フィルム17、18は抵抗
膜15、16が内側になるよう作業域の周囲を取り囲むスペ
ーサ19を介し対向している。

【００１２】下側に位置し裏面が補強板10等に貼着され
る絶縁フィルム17は抵抗膜15上に形成された複数のドッ
トスペーサ20を有し、例えば光硬化性樹脂等からなる直
径が約 150μm 、高さが数10μm のドットスペーサ20が
７mm間隔で配置されている。

【００１３】図示省略されているがそれぞれの抵抗膜1
5、16は相対する２辺に沿って形成されて対をなす電圧
印加用の電極を有し、抵抗膜15上の電極と抵抗膜16上の
電極とは電極間に電圧が印加されたとき電流がそれぞれ
直交するよう配置されている。

【００１４】オペレータが指先やスタイラスペンを介し
て絶縁フィルム18を押下すると押下点において抵抗膜1
5、16間が短絡され、電圧印加回路12から抵抗膜15上の
電極に電圧が印加されていると押下点の電圧が抵抗膜16
上の電極を介して出力される。

【００１５】また、電圧印加回路12から抵抗膜16上の電
極に電圧が印加されると押下点の電圧が抵抗膜15上の電
極を介して出力され、一方の電極から出力される電圧を
Ｘ座標値に対応させた場合は他方の電極から出力される
電圧がＹ座標値に対応する。

【００１６】電圧印加回路12からパルス状電圧が抵抗膜
15上の電極または抵抗膜16上の電極に対し交互に繰り返
し印加されており、オペレータが絶縁フィルム18を押下
している間は押下点のＸＹ座標値にそれぞれ対応する電
圧が繰り返して出力される。

【００１７】図14において押下点のＸＹ座標値に対応す
る座標入力パネル11からの出力電圧はＡ／Ｄ変換器13に
よりデジタル化され、電圧印加回路12およびＡ／Ｄ変換
器13を制御する制御部14を介して押下点の位置を示す検
出座標値として出力される。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】図16は従来の座標検出
装置の出力座標値を示す図である。抵抗膜方式の座標検
出装置は座標入力パネル上を指先やスタイラスペンを介
して点状に押下し情報を入力する場合や、比較的大型の
座標入力パネルを用いて情報を入力する場合は抵抗膜間
に配設されたドットスペーサの存在は無視できる。

【００１９】しかし、上述の如く直径が約 150μm のド
ットスペーサが７mm間隔で配置された比較的小型の座標
入力パネルを用い、押下した指先やスタイラスペンを移
動させ移動経路に対応する情報を入力する際はドットス
ペーサの存在が問題になる。

【００２０】即ち、押下点が移動すると図16に実線で示
す如くドットスペーサが無ければ押下点の移動と共に座
標値が変化するが、ドットスペーサが存在するとその位
置は座標値が出力されないため移動経路が迂回した場合
と同様の情報が出力される。

【００２１】このような検出座標値の異常を補正する手
段として従来は、（１）今回の検出座標値と前回の検出
座標値との平均値を算出し今回の出力座標値とする。
（２）座標値が検出される毎に最新のｎ個の座標値の平
均値を算出し今回の出力座標値とする。（３）座標値が
検出される毎に最新のｎ個の座標値から最大値と最小値
を除いて平均値を算出し今回の出力座標値とする等の方
法が採用されている。

【００２２】しかし、（１）に示す方法は異常値を含む
検出座標値が１回出力されるとその回と次の回の２回の
出力座標値に影響し、それぞれの出力座標値に異常値の
５０％が含まれるなど充分な座標値安定化の効果が得ら
れないという問題があった。

【００２３】また、（２）に示す方法は異常値を含む検
出座標値が出力されても出力座標値に及ぼす影響は１／
ｎに希釈されるが、異常値を含む検出座標値が１回出力
されるとｎ回出力される出力座標値に異常値の影響が含
まれるという問題があった。

【００２４】更に、図16において破線で示す出力座標値
は検出座標値が実線で示す如く入力されたとき（３）に
示す方法によって、最新の６個の検出座標値から最大値
と最小値を除去し残りの検出座標値の平均値を算出し出
力座標値としたものである。

【００２５】例えば、３回目から８回目までの検出座標
値から最大値と最小値を除き算出した平均値には異常値
が含まれていないが、４回目から９回目までの検出座標
値を対象として最大値と最小値を除去し算出した平均値
には異常値が含まれている。

【００２６】このように従来の検出座標値の異常補正手
段は移動経路がドットスペーサを迂回することにより異
常値が入力されると、前後の検出座標値が正常であって
も異常値の影響を受け移動経路に沿った座標値を出力で
きないという問題があった。

【００２７】本発明の目的はドットスペーサの影響が排
除され押下点の移動経路を示す座標値が順次出力される
座標検出装置を提供することにある。

【００２８】

【課題を解決するための手段】図１は本発明になる座標
検出装置を示すブロック図である。なお全図を通し同じ
対象物は同一記号で表している。

【００２９】上記課題は押下点のＸＹ座標値を検出し検
出座標値を出力する座標検出部１と、検出座標値を出力
座標値に変換する座標値変換部２とを有し、座標値変換
部２は、少なくとも相対値算出部３と相対値補正部４と
出力座標値形成部５を有し、相対値算出部３は、前回入
力された検出座標値と今回入力された検出座標値との差
を算出し相対値として出力する相対値算出手段31を有
し、相対値補正部４は、新規入力相対値または新規入力
相対値と既入力相対値との差を比較対象とし、比較対象
が許容値以下であれば新規入力相対値を、比較対象が許
容値を超えていれば既入力相対値を出力する相対値補正
手段41を有し、出力座標値形成部５は、相対値補正部４
から入力された相対値を前回出力された出力座標値と合
成し、新規出力座標値を形成する座標値形成手段51を有
する本発明の座標検出装置によって達成される。

【００３０】このように相対値算出部と相対値補正部と
出力座標値形成部を具えた座標値変換部を有し、相対値
算出部が前回入力された検出座標値と今回入力された検
出座標値との差を算出し相対値として出力する相対値算
出手段を有し、相対値補正部が新規入力相対値または新
規入力相対値と既入力相対値との差を比較対象とし、比
較対象が許容値以下であれば新規入力相対値を、比較対
象が許容値を超えていれば既入力相対値を出力する相対
値補正手段を有し、出力座標値形成部が相対値比較部か
ら入力された相対値を前回出力された出力座標値と合成
し、新規出力座標値を形成する座標値形成手段を具えて
いる本発明の座標検出装置は、例えば、スタイラスペン
の直線的な移動がドットスペーサにより阻害された場合
でも、迂回に伴って発生した異常値を含む新規入力相対
値が、異常値を含まない既入力相対値と置換され、その
結果、ドットスペーサの影響を排除して押下点の移動経
路を示す座標値を順次出力することが可能になる。

【００３１】即ち、ドットスペーサの影響が排除され押
下点の移動経路を示す座標値が順次出力される座標検出
装置を実現することができる。

【００３２】

【発明の実施の形態】以下添付図により本発明の実施例
について説明する。図２は本発明の第１の実施例を示す
ブロック図、図３は座標値変換部の動作を示すフローチ
ャート、図４は第１の相対値補正方法を示すフローチャ
ート、図５は本発明になる座標検出装置の出力座標値を
示す図、図６は第２の相対値補正方法を示すフローチャ
ート、図７は本発明の第２の実施例を示すブロック図、
図８は第３の相対値補正方法を示すフローチャート、図
９は第４の相対値補正方法を示すフローチャート、図10
は第５の相対値補正方法を示すフローチャート、図11は
第６の相対値補正方法を示すフローチャート、図12は本
発明の第３の実施例を示すブロック図、図13は第７の相
対値補正方法を示すフローチャートである。

【００３３】本発明になる座標検出装置は図１に示す如
く押下点のＸＹ座標値を検出し検出座標値を順次出力す
る座標検出部１と、座標検出部１から出力される異常値
等を含む検出座標値を補正し出力座標値に変換する座標
値変換部２とを具えている。

【００３４】座標検出部１は従来の座標検出装置と同様
に入力に際し指先やスタイラスペンを用い押下される座
標入力パネル11と、押下点のＸＹ座標値を検出し座標値
に対応する電圧を出力する電圧印加回路12とＡ／Ｄ変換
器13と制御部14とを有する。

【００３５】検出座標値を出力座標値に変換する座標値
変換部２は相対値算出部３と相対値補正部４と出力座標
値形成部５を有し、相対値算出部３において算出された
相対値を相対値補正部４において補正し出力座標値形成
部５において座標値に戻す。

【００３６】本発明の第１の実施例は図２に示す如く相
対値算出部３が相対値算出手段31と検出座標値を格納す
るバッファ32を有し、相対値算出手段31において前回入
力された検出座標値と今回入力された検出座標値との
差、即ち相対値が算出される。

【００３７】また、相対値補正部４は相対値補正手段41
と相対値の補正データを格納するバッファ42と相対値出
力手段43とを有し、バッファ42に補正データとして補正
の要否の判定基準である許容値Ｋと前回出力された相対
値△_N-1 が格納されている。

【００３８】更に、出力座標値形成部５は出力座標値形
成手段51と前回出力された出力座標値を格納するバッフ
ァ52を具えており、相対値補正部４から相対値△_N が入
力されると前回出力された出力座標値と合成することで
新規出力座標値を形成する。

【００３９】即ち、図３に示す如く座標入力パネルが押
下される（スイッチオン）と相対値算出手段31が検出座
標値Ｎを取込んで、バッファ32内の前回入力された検出
座標値Ｎ−１と今回入力された検出座標値Ｎとの差、即
ち相対値△_N が算出される。

【００４０】スイッチオン直後のバッファ32内の検出座
標値Ｎ−１は０であり入力された検出座標値Ｎが相対値
△_N として出力され、次の検出座標値の入力に具え今回
入力された検出座標値Ｎが前回の検出座標値Ｎ−１とし
てバッファ32に格納される。

【００４１】相対値△_N が算出されると今回入力された
検出座標値Ｎが前回入力の検出座標値Ｎ−１としてバッ
ファ32に格納され、相対値算出手段31が次の検出座標値
Ｎを取込んだときバッファ32内に格納された検出座標値
Ｎ−１との差が算出される。

【００４２】なお、スイッチオン直後の検出座標値Ｎ−
１は０であり入力された検出座標値Ｎがそのまま相対値
△_N に置換されるが、相対値△_N ＝検出座標値Ｎであっ
ても次の相対値補正部４において相対値△_N ＝０と補正
されるため問題にならない。

【００４３】第１の相対値補正方法は図４に示す如く相
対値補正手段41が相対値算出手段31から新規相対値△_N
を取り込むと共に、許容値Ｋと比較する比較対象△_D と
して新規相対値△_N とバッファ42内の前回出力された相
対値△_N-1 の差を算出する。

【００４４】比較対象△_D が予め設定された許容値Ｋ以
下であれば取り込んだ新規相対値△ _N が相対値出力手段
43を介して出力され、比較対象△_D が許容値Ｋを超えて
いれば前回の相対値△_N-1 が相対値△_N として相対値出
力手段43を介し出力される。

【００４５】なお、相対値△_N の補正の要否の判定基準
として用いられる許容値Ｋは実験の結果に基づいて任意
に設定された値で、異常値を含む相対値の検出に最も効
果があり、しかも如何なる方向への移動経路にも対応可
能なように設定されている。

【００４６】図示省略されているが相対値補正手段41に
おいて出力する相対値△_N が決定されると次の相対値△
_N の補正に具えて、バッファ42の３に補正データとして
格納されていた前回出力された相対値△_N-1 が今回の出
力相対値△_N と置換される。

【００４７】押下点の移動経路がほぼ直線状であれば比
較対象△_D が０に近く許容値Ｋ以下になり新規相対値△
_N が出力されるが、ドットスペーサの迂回に伴い移動経
路が変更されると比較対象△_D が許容値Ｋを超え前回の
相対値△_N-1 が出力される。

【００４８】また、スイッチオンの直後に検出座標値Ｎ
が相対値△_N として入力されても前回出力された相対値
△_N-1 は０であり、比較対象△_D が許容値Ｋより遙に大
きくなることから前回の出力相対値△_N-1 、即ち０が相
対値△_N として出力される。

【００４９】図３に示す如く出力座標値形成手段51は相
対値△_N を取込み前回出力された出力座標値と合成して
出力座標値を形成し、次の出力座標値の形成に具えてバ
ッファ52内に格納された前回の出力座標値を今回出力さ
れた出力座標値に置換する。

【００５０】相対値算出手段31による相対値△_N 算出か
ら始まり出力座標値形成手段51による出力座標値形成に
至る一連の工程は、座標入力パネルが押下されるスイッ
チオンから座標入力パネルの押下が無くなるスイッチオ
フまで繰り返し実行される。

【００５１】その結果、本発明になる座標検出装置の出
力座標値は図５に実線で示す如く異常値を含む検出座標
値が一部に混入し、相対値△_N が破線で示す如く変動す
る場合においても出力座標値は一点鎖線で示す如く変動
部分が直線状に補正される。

【００５２】図６に示す第２の相対値補正方法は第１の
相対値補正方法を簡略化したもので相対値補正手段41が
相対値△_N を取込み、新規相対値△_N を直接比較対象△
_D として許容値Ｋと比較することによって相対値△_N の
補正の要否を決定している。

【００５３】即ち、比較対象△_D が設定された許容値Ｋ
以下であれば取り込んだ新規相対値△_N が相対値出力手
段43を介し出力され、比較対象△_D が許容値Ｋを超えて
いれば前回の相対値△_N-1 が相対値△_N として相対値出
力手段43を介し出力される。

【００５４】本発明の第２の実施例は図７に示す如く相
対値補正部４は相対値補正手段41とバッファ42と相対値
出力手段43の他に、ｍ個の既入力相対値△_N を格納する
バッファ44とｍ個の相対値△_N の平均値を算出する平均
値算出手段45を具えている。

【００５５】第３の相対値補正方法は図８に示す如く座
標入力パネルが押下され相対値補正部４による相対値補
正がスタートすると、既入力相対値△_N を格納するバッ
ファ44の先頭ｍに格納されている相対値△_N が相対値出
力手段43を介し出力される。

【００５６】先頭ｍの相対値△_N が出力されるとバッフ
ァ44の１〜ｍ−１に格納されている相対値△_N が先頭方
向に順次転送され、次いで相対値補正手段41が相対値算
出手段31から新規相対値△_N を取込み許容値Ｋと比較す
る比較対象△_D を算出する。

【００５７】バッファ42には許容値Ｋと前回バッファ44
に入力された相対値△_N-1 と既入力相対値△_N の平均値
△_AVE が格納され、第３の相対値補正方法の場合は比較
対象△_D の算出に際し新規相対値△_N と相対値の平均値
△_AVE との差が算出される。

【００５８】比較対象△_D がバッファ42に格納された許
容値Ｋ以下であれば新規相対値△_Nが直接バッファ44の
最後尾１に格納され、比較対象△_D が許容値Ｋを超えて
いれば前回の相対値△_N-1 が相対値△_N としてバッファ
44の最後尾１に格納される。

【００５９】バッファ44の最後尾１に相対値△_N が格納
されると平均値算出手段45においてｍ個の相対値の平均
値△_AVE が算出され、次の補正に具えて算出された相対
値の平均値△_AVE とバッファ44に格納された相対値△_N
がバッファ42に格納される。

【００６０】第４の相対値補正方法は図９に示す如く座
標入力パネルが押下され相対値補正部４による相対値補
正がスタートすると、既入力相対値△_N を格納するバッ
ファ44の先頭ｍに格納されている相対値△_N が相対値出
力手段43を介し出力される。

【００６１】先頭ｍの相対値△_N が出力されるとバッフ
ァ44の１〜ｍ−１に格納されている相対値△_N が先頭方
向に順次転送され、次いで相対値補正手段41が相対値算
出手段31から新規相対値△_N を取込み許容値Ｋと比較す
る比較対象△_D を算出する。

【００６２】バッファ42には許容値Ｋと前回バッファ44
に入力された相対値△_N-1 と既入力相対値△_N の平均値
△_AVE が格納され、第４の相対値補正方法の場合は比較
対象△_D の算出に際して新規相対値△_N と前回の相対値
△_N-1 との差が算出される。

【００６３】比較対象△_D がバッファ42に格納された許
容値Ｋ以下であれば新規相対値△_Nが直接バッファ44の
最後尾１に格納され、比較対象△_D が許容値Ｋを超えて
いれば相対値の平均値△_AVE が相対値△_N としてバッフ
ァ44の最後尾に格納される。

【００６４】バッファ44の最後尾１に相対値△_N が格納
されると平均値算出手段45においてｍ個の相対値の平均
値△_AVE が算出され、次の補正に具えて算出された相対
値の平均値△_AVE とバッファ44に格納された相対値△_N
がバッファ42に格納される。

【００６５】第５の相対値補正方法は図10に示す如く座
標入力パネルが押下され相対値補正部４による相対値補
正がスタートすると、既入力相対値△_N を格納するバッ
ファ44の先頭ｍに格納されている相対値△_N が相対値出
力手段43を介し出力される。

【００６６】先頭ｍの相対値△_N が出力されるとバッフ
ァ44の１〜ｍ−１に格納されている相対値△_N が先頭方
向に順次転送され、次いで相対値補正手段41が相対値算
出手段31から新規相対値△_N を取込み許容値Ｋと比較す
る比較対象△_D を算出する。

【００６７】バッファ42には許容値Ｋと前回バッファ44
に入力された相対値△_N-1 と既入力相対値△_N の平均値
△_AVE が格納され、第５の相対値補正方法の場合は比較
対象△_D の算出に際し新規相対値△_N と相対値の平均値
△_AVE との差が算出される。

【００６８】比較対象△_D がバッファ42に格納された許
容値Ｋ以下であれば新規相対値△_Nが直接バッファ44の
最後尾１に格納され、比較対象△_D が許容値Ｋを超えて
いれば相対値の平均値△_AVE が相対値△_N としてバッフ
ァ44の最後尾に格納される。

【００６９】バッファ44の最後尾１に相対値△_N が格納
されると平均値算出手段45においてｍ個の相対値の平均
値△_AVE が算出され、次の補正に具えて算出された相対
値の平均値△_AVE とバッファ44に格納された相対値△_N
がバッファ42に格納される。

【００７０】図11に示す第６の相対値補正方法は第３、
第４、第５の相対値補正方法を簡略化したもので上記の
方法との相違点は、前回の相対値△_N-1 や相対値の平均
値△ _AVE との差を求めずに新規相対値△_N を直接比較対
象△_D としている点にある。

【００７１】比較対象△_D がバッファ42に格納された許
容値Ｋ以下であれば新規相対値△_Nが直接バッファ44の
最後尾１に格納され、比較対象△_D が許容値Ｋを超えて
いれば相対値の平均値△_AVE が相対値△_N としてバッフ
ァ44の最後尾に格納される。

【００７２】本発明の第２の実施例により行われる第３
乃至第６の相対値補正方法は第１または第２の相対値補
正方法と比べると、ｍ個の相対値の平均値△_AVE を導入
することで補正後の相対値に含まれる若干の異常値が希
釈され更に高精度化できる。

【００７３】本発明の第３の実施例は図12に示す如く相
対値補正部４は相対値補正手段41とバッファ42と相対値
出力手段43の他に、ｍ個の既入力相対値△_N を格納する
バッファ44とｍ個の相対値△_N の平均値を算出する平均
値算出手段45を具えている。

【００７４】第７の相対値補正方法は図13に示す如く座
標入力パネルが押下され相対値補正部による相対値補正
がスタートすると、既入力相対値△_N を格納するバッフ
ァ44の１〜ｍ−１に格納されている既入力相対値△_N が
先頭方向に順次転送される。

【００７５】相対値算出手段31から取り込まれた新規相
対値△_N はバッファの整理により空いたバッファ44の最
後尾１に格納され、バッファ44の最後尾に相対値△_N が
格納されると平均値算出手段45においてｍ個の相対値の
平均値△_AVE が算出される。

【００７６】次いで相対値補正手段41によって新規入力
相対値を含むｍ個の既入力相対値の中から任意の相対値
△_L が取り込まれ、許容値Ｋと比較する比較対象△_D と
してバッファ42内に格納されている平均値△_AVE と相対
値△_L との差が算出される。

【００７７】比較対象△_D が許容値Ｋ以下であればｍ個
の既入力相対値の中の任意の相対値△_L が相対値出力手
段43を介し出力され、比較対象△_D が許容値Ｋを超えて
いれば上記平均値△_AVE が相対値△_N として相対値出力
手段43を介して出力される。

【００７８】前記第２の実施例による第３乃至第６の相
対値補正方法はバッファ44が満杯になるまで相対値△_N
が出力されないため、検出座標値の入力開始から出力座
標値の出力開始までの間に遅れが生じて入力に要する時
間が増大される場合がある。

【００７９】それに対して本発明の第３の実施例による
第７の相対値補正方法はバッファ44が満杯でなくても相
対値△_N が出力され、上記の方法において検出座標値の
入力開始から出力座標値の出力開始までの間に生じる遅
れを短縮することができる。

【００８０】なお、第７の相対値補正方法において平均
値△_AVE 算出の対象となるｍ個の相対値は全てが補正前
の相対値であって、対象となる相対値の中に例えばドッ
トスペーサの迂回に伴い発生する異常値を含む相対値が
混入している可能性がある。

【００８１】そこで平均値△_AVE の算出に際して平均値
算出の対象となるｍ個の相対値から最大の相対値と最小
の相対値を除去して、残った相対値の平均値を算出する
ことで異常値を含む相対値が混入している場合でもその
影響を最小限に抑制できる。

【００８２】このように相対値算出部と相対値補正部と
出力座標値形成部を具えた座標値変換部を有し、相対値
算出部が前回入力された検出座標値と今回入力された検
出座標値との差を算出し相対値として出力する相対値算
出手段を有し、相対値補正部が新規入力相対値または新
規入力相対値と既入力相対値との差を比較対象とし、比
較対象が許容値以下であれば新規入力相対値を、比較対
象が許容値を超えていれば既入力相対値を出力する相対
値補正手段を有し、出力座標値形成部が相対値比較部か
ら入力された相対値を前回出力された出力座標値と合成
し、新規出力座標値を形成する座標値形成手段を具えて
いる本発明の座標検出装置は、例えば、スタイラスペン
の直線的な移動がドットスペーサにより阻害された場合
でも、迂回に伴って発生した異常値を含む新規入力相対
値が、異常値を含まない既入力相対値と置換され、その
結果、ドットスペーサの影響を排除して押下点の移動経
路を示す座標値を順次出力することが可能になる。

【００８３】なお、本発明になる座標検出装置は説明を
容易にするため図１に示す如く座標検出部１と座標値変
換部２とに分割し、座標値変換部２を更に相対値算出部
３と相対値補正部４と出力座標値形成部５に分割してい
るが、これらの機能を一括して１個のマイクロプロセッ
タ等を用いて全体を構成することも可能である。

【００８４】

【発明の効果】上述の如く本発明によればドットスペー
サの影響が排除され押下点の移動経路を示す座標値が順
次出力される座標検出装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明になる座標検出装置を示すブロック
図である。

【図２】 本発明の第１の実施例を示すブロック図で
ある。

【図３】 座標値変換部の動作を示すフローチャート
である。

【図４】 第１の相対値補正方法を示すフローチャー
トである。

【図５】 本発明になる座標検出装置の出力座標値を
示す図である。

【図６】 第２の相対値補正方法を示すフローチャー
トである。

【図７】 本発明の第２の実施例を示すブロック図で
ある。

【図８】 第３の相対値補正方法を示すフローチャー
トである。

【図９】 第４の相対値補正方法を示すフローチャー
トである。

【図１０】 第５の相対値補正方法を示すフローチャー
トである。

【図１１】 第６の相対値補正方法を示すフローチャー
トである。

【図１２】 本発明の第３の実施例を示すブロック図で
ある。

【図１３】 第７の相対値補正方法を示すフローチャー
トである。

【図１４】 抵抗膜方式の座標検出装置を示すブロック
図である。

【図１５】 座標入力パネルの一例を示す斜視図であ
る。

【図１６】 従来の座標検出装置の出力座標値を示す図
である。

【符号の説明】

１ 座標検出部 ２ 座標値変換部 ３ 相対値算出部 ４ 相対値補正部 ５ 出力座標値形成部 11 座標入力パネル 12 電圧印加回路 13 Ａ／Ｄ変換器 14 制御部 31 相対値算出手段 32 バッファ 41 相対値補正手段 42 バッファ 43 相対値出力手段 44 バッファ 45 平均値算出手段 51 出力座標値形成手段 52 バッファ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 遠藤 孝夫 東京都品川区東五反田２丁目３番５号 富 士通高見澤コンポーネント株式会社内 (72)発明者 長谷川 洋 東京都品川区東五反田２丁目３番５号 富 士通高見澤コンポーネント株式会社内

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 押下点のＸＹ座標値を検出し検出座標値
   を出力する座標検出部と、該検出座標値を出力座標値に
   変換する座標値変換部とを有し、該座標値変換部は、少
   なくとも相対値算出部と相対値補正部と出力座標値形成
   部を有し、 該相対値算出部は、前回入力された検出座標値と今回入
   力された検出座標値との差を算出し相対値として出力す
   る相対値算出手段を有し、 該相対値補正部は、新規入力相対値または新規入力相対
   値と既入力相対値との差を比較対象とし、該比較対象が
   許容値以下であれば新規入力相対値を、該比較対象が許
   容値を超えていれば既入力相対値を出力する相対値補正
   手段を有し、 該出力座標値形成部は、該相対値補正部から入力された
   相対値を前回出力された出力座標値と合成し、新規出力
   座標値を形成する座標値形成手段を有することを特徴と
   する座標検出装置。
2. 【請求項２】 前記相対値補正部は、ｍ個（ｍは１より
   大きい整数）の既入力相対値の平均値と新規入力相対値
   との差を比較対象とし、該比較対象を許容値と比較する
   ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
3. 【請求項３】 前記相対値補正部は、比較対象が許容値
   を超えていれば相対値として、ｍ個の既入力相対値の平
   均値を出力することを特徴とする請求項１記載の座標検
   出装置。
4. 【請求項４】 前記相対値補正部は、新規入力相対値を
   含むｍ個の相対値の中の任意の相対値と、該新規入力相
   対値を含むｍ個の相対値の平均値との差を比較対象と
   し、該比較対象が許容値以下であれば該任意の相対値
   を、該比較対象が許容値を超えていれば該平均値を、相
   対値として出力することを特徴とする請求項１記載の座
   標検出装置。
5. 【請求項５】 前記ｍ個の相対値の平均値は、算出に際
   して最大値と最小値とが除去され、残された相対値の平
   均値であることを特徴とする請求項２、３、４記載の座
   標検出装置。