JPH1187474A - Sample stage - Google Patents

Sample stage

Info

Publication number
JPH1187474A
JPH1187474A JP23575097A JP23575097A JPH1187474A JP H1187474 A JPH1187474 A JP H1187474A JP 23575097 A JP23575097 A JP 23575097A JP 23575097 A JP23575097 A JP 23575097A JP H1187474 A JPH1187474 A JP H1187474A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
holder
stage
driver
sample stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP23575097A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Manabe
修 真鍋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP23575097A priority Critical patent/JPH1187474A/en
Publication of JPH1187474A publication Critical patent/JPH1187474A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a sample stage which can support samples of different thickness while facilitating adjustment of height by providing a plurality of supporting means for keeping the upper surface of samples of different thickness at the same height. SOLUTION: A first supporting means 20 for supporting a sample 14 and a second supporting means 30 for supporting a sample 14' of different thickness are arranged alternately, at the same pitch (60 deg.), on the same circumference of a stage top 12 around the rotational axis thereof. Projecting amount of the externally threaded screw of the first and second supporting means 20, 30 is adjusted (height adjustment) such that the working distance of the sample 14, 14' will be constant. When the stage top 12 is turned to be located in the vicinity of a driver holder 60, the externally threaded screw of the first and second supporting means 20, 30 can be driven. Similarly, the externally threaded screw of the second supporting means 30 is turned using a driver 90 and the holder is shifted to a holding position at the time of setting the sample 14'.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子ビーム描画装
置等に設けられる試料ステージに関し、更に詳しくは、
厚さが異なる試料が載置される試料ステージに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample stage provided in an electron beam writing apparatus or the like,
The present invention relates to a sample stage on which samples having different thicknesses are placed.

【0002】[0002]

【従来の技術】次に、図面を用いて従来例を説明する。
図6は電子ビーム描画装置の試料室内に設けられた従来
の試料ステージの構成図である。
2. Description of the Related Art Next, a conventional example will be described with reference to the drawings.
FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional sample stage provided in a sample chamber of an electron beam writing apparatus.

【0003】図において、水平方向(X方向,Y方向)移動,
傾斜動,回転動が可能なステージ1上には、ステージト
ップ2が設けられている。このステージトップ2上に
は、めねじ穴3が3又は4か所(本従来例では3か所)形
成され、これらめねじ穴3には、先端にボール4が設け
られたおねじ5が螺合している。
In the figure, horizontal (X and Y directions) movement,
A stage top 2 is provided on a stage 1 capable of tilting and rotating. Three or four female screw holes 3 (three in this conventional example) are formed on the stage top 2, and in these female screw holes 3, a male screw 5 provided with a ball 4 at the tip is provided. It is screwed.

【0004】試料6は、おねじ5のボール4上に載置さ
れる。7は試料6上に照射される電子ビームを集束する
対物レンズである。ところで、対物レンズ7と試料6と
の間の距離(ワーキングディスタンス)Wが所定の値でな
いと、フォーカスぼけや、試料傾斜時の観察像の逃げ等
が発生するので、おねじ5を回転し、おねじ5をめねじ
穴3に沿って上下方向に移動させることにより試料6の
高さ調整を行い、ワーキングディスタンスWを所定の値
としている。
[0004] A sample 6 is placed on the ball 4 of the male screw 5. Reference numeral 7 denotes an objective lens for focusing an electron beam irradiated on the sample 6. By the way, if the distance (working distance) W between the objective lens 7 and the sample 6 is not a predetermined value, a focus blur or escape of an observation image when the sample is tilted occurs. The height of the sample 6 is adjusted by moving the male screw 5 in the vertical direction along the female screw hole 3, and the working distance W is set to a predetermined value.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記構成の試料ステー
ジにおいては、厚さの異なる試料をセットする場合があ
る。
In the sample stage having the above structure, samples having different thicknesses may be set.

【0006】しかし、上記構成の試料ステージにおい
て、厚さが異なる試料をステージにセットする場合は、
試料室を開放し、ステージトップ2をステージ1より取
り外して、高さ調整を行い、ステージトップ2をステー
ジ1上に戻し、試料室内を再び真空とする作業が必要と
なる。
However, in the sample stage having the above structure, when samples having different thicknesses are set on the stage,
It is necessary to open the sample chamber, remove the stage top 2 from the stage 1, adjust the height, return the stage top 2 to the stage 1, and evacuate the sample chamber again.

【0007】従って、現場での調整は困難であるという
問題点がある。本発明は、上記問題点に鑑みてなされた
もので、その目的は、厚さが異なる試料に対して、容易
に高さ調整が行える試料ステージを提供することにあ
る。
Therefore, there is a problem that adjustment on site is difficult. The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a sample stage that can easily adjust the height of samples having different thicknesses.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決する請求
項1記載の発明は、厚さが異なる試料が載置される試料
ステージであって、厚さの異なる各試料に対応して設け
られ、前記各試料の上面が同じ高さになるように前記試
料を支持する複数の支持手段と、これら支持手段を切り
替える切替手段とを設けたことを特徴とする試料ステー
ジである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a sample stage on which samples having different thicknesses are mounted, the sample stages being provided corresponding to the samples having different thicknesses. A sample stage provided with a plurality of support means for supporting the sample so that the upper surface of each sample is at the same height, and switching means for switching the support means.

【0009】切替手段を操作すると、支持手段が切り替
えられて、高さ調整ができ、容易に厚さの異なる試料を
支持可能となる。請求項2記載の発明は、請求項1記載
の発明の前記支持手段は、前記試料を所定の高さに保持
する保持位置,該保持位置より前記試料ステージ側に移
動した退避位置間を移動可能に設けられたホルダと、該
ホルダを保持位置方向に付勢する付勢部材と、前記切替
手段により駆動され、前記ホルダを前記退避位置方向に
押圧可能なねじ部材とからなることを特徴とする試料ス
テージである。
When the switching means is operated, the supporting means is switched, the height can be adjusted, and samples having different thicknesses can be easily supported. According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the support means can move between a holding position for holding the sample at a predetermined height and a retreat position moved from the holding position to the sample stage side. , A biasing member for biasing the holder in the holding position direction, and a screw member driven by the switching means and capable of pressing the holder in the retracting position direction. This is a sample stage.

【0010】保持位置にあるホルダを退避位置へ移動さ
せる場合には、切替手段がねじ部材を回転する。する
と、ねじ部材はホルダを退避位置方向へ押圧し、ホルダ
は付勢手段に抗して退避位置方向へ移動する。
When the holder at the holding position is moved to the retracted position, the switching means rotates the screw member. Then, the screw member presses the holder toward the retracted position, and the holder moves toward the retracted position against the urging means.

【0011】一方、退避位置にあるホルダを保持位置へ
移動させるには、切替手段がねじ部材を先程とは逆方向
に回転する。すると、ねじ部材はホルダより離れる方向
に移動し、付勢手段の付勢力によりホルダは保持位置方
向へ移動する。
On the other hand, in order to move the holder at the retracted position to the holding position, the switching means rotates the screw member in the direction opposite to the above. Then, the screw member moves in a direction away from the holder, and the holder moves toward the holding position by the urging force of the urging means.

【0012】請求項3記載の発明は、請求項1又は2記
載の発明の試料ステージは、回転可能に設けられ、前記
複数の支持手段は、前記試料ステージの回転軸を中心と
した同一円周上に配置したことを特徴とする試料ステー
ジである。
According to a third aspect of the present invention, the sample stage according to the first or second aspect of the present invention is rotatably provided, and the plurality of supporting means have the same circumference around a rotation axis of the sample stage. It is a sample stage characterized by being arranged above.

【0013】各支持手段は、試料ステージの回転軸を中
心とした同一円周上に配置されているので、試料ステー
ジを回転させることで、1つの切替手段ですべての支持
手段を駆動することができる。
[0013] Since each supporting means is arranged on the same circumference around the rotation axis of the sample stage, all the supporting means can be driven by one switching means by rotating the sample stage. it can.

【0014】請求項4記載の発明は、請求項1乃至3の
いずれかに記載の発明の前記試料ステージは、密閉され
た空間内に配置され、前記切替手段は、前記密閉空間外
から操作可能としたことを特徴とする試料ステージであ
る。
According to a fourth aspect of the present invention, the sample stage according to any one of the first to third aspects is disposed in a closed space, and the switching means can be operated from outside the closed space. This is a sample stage characterized by the following.

【0015】密閉された空間外から切替手段を操作でき
るので、高さ調整を行なう場合、容易に高さ調整を行な
うことができる。
Since the switching means can be operated from outside the closed space, the height can be easily adjusted when the height is adjusted.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】次に図面を用いて本発明の実施の
形態を説明する。先ず、図1及び図2を用いて、本実施
の形態例の試料ステージの全体構成を説明する。図1は
本発明の一実施の形態例の試料ステージの構成図、図2
は図1におけるA方向矢視図である。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. First, the overall configuration of the sample stage of the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a configuration diagram of a sample stage according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a view in the direction of arrow A in FIG. 1.

【0017】これらの図において、水平方向(X方向,Y方
向)移動,傾斜動が可能なステージ11上に、ステージト
ップ12が回転可能に設けられている。ステージトップ
12上には、図2に示すように、試料14を支持する3
つの第1の支持手段20と、試料14とは厚さの異なる
試料14′を支持する3つの第2支持手段30とがステ
ージトップ12の回転軸13を中心とする同一円周上に
交互に同一ピッチ(60°)で配置されている。
In these figures, a stage top 12 is rotatably provided on a stage 11 which can be moved horizontally (X and Y directions) and tilted. On the stage top 12, as shown in FIG.
The first support means 20 and the three second support means 30 supporting a sample 14 ′ having a different thickness from the sample 14 are alternately arranged on the same circumference around the rotation axis 13 of the stage top 12. They are arranged at the same pitch (60 °).

【0018】40は試料14,14′上に照射される電
子ビームを集束する対物レンズである。試料室50の上
蓋51には、試料室50の外部側の面の方が、試料室5
0の内部側の面より開口面積が大きく設定された段付き
穴52が開設されている。この段付き穴52の段部に
は、中央部に穴54が開設されたガラス板53が設けら
れている。段付き穴52の段部には、ガラス板53との
気密を確保するOリング55が設けられている。
Reference numeral 40 denotes an objective lens for converging an electron beam irradiated on the samples 14, 14 '. On the upper lid 51 of the sample chamber 50, the outer surface of the sample chamber 50 is
A stepped hole 52 whose opening area is set to be larger than the surface on the inner side of 0 is opened. At the step of the stepped hole 52, a glass plate 53 having a hole 54 in the center is provided. An O-ring 55 for ensuring airtightness with the glass plate 53 is provided at the step of the stepped hole 52.

【0019】更に、ガラス板53は、上蓋51に螺合す
るねじ56で用いて、上蓋51上に取り付けられる押さ
えプレート57により、取り付けられている。ガラス板
53の穴54には、ドライバホルダ60が設けられる。
このドライバホルダ60は、第1のドライバホルダ61
と、第1のドライバホルダ61に対して着脱可能な第2
のドライバホルダ65とから構成される。第1のドライ
バホルダ61は、ガラス板53の外面に当接可能なつば
部62と、試料室50側の端面に形成されためねじ穴6
3とを有している。一方、第2のドライバホルダ65
は、周面に形成され、第1のドライバホルダ60のめね
じ穴63に螺合可能なおねじ部66と、ガラス板53の
内面に当接可能なつば部67とを有している。
Further, the glass plate 53 is attached by a holding plate 57 attached on the upper lid 51 using screws 56 screwed to the upper lid 51. A driver holder 60 is provided in the hole 54 of the glass plate 53.
The driver holder 60 includes a first driver holder 61
And a second detachable with respect to the first driver holder 61.
And a driver holder 65. The first driver holder 61 has a flange portion 62 that can be brought into contact with the outer surface of the glass plate 53 and a screw hole 6 formed on the end surface on the sample chamber 50 side.
And 3. On the other hand, the second driver holder 65
Has a male screw portion 66 formed on the peripheral surface and capable of being screwed into the female screw hole 63 of the first driver holder 60, and a flange portion 67 capable of abutting on the inner surface of the glass plate 53.

【0020】そして、ガラス板53の上面(外側)から第
1のドライバホルダ61が穴54へ、又、ガラス板53
の下面(内側)から第2のドライバホルダ65が穴54へ
それぞれ嵌合し、第1のドライバホルダ61のめねじ穴
63に第2のドライバホルダ65のおねじ部66を螺合
させることにより、第1及び第2のドライバホルダ6
1,65は一体となりドライバホルダ60を形成し、更
に、第1のドライバホルダ61のつば部62と、第2の
ドライバホルダ65のつば部67とでガラス板53を挟
持し、ドライバホルダ60はガラス板53に取り付けら
れる。尚、第1のドライバホルダ61のつば部62に
は、ガラス板53の外側の面との気密を確保するOリン
グが64が設けられている。
Then, the first driver holder 61 is inserted into the hole 54 from the upper surface (outside) of the glass plate 53.
The second driver holder 65 is fitted into the hole 54 from the lower surface (inner side) of the first driver holder 61, and the external thread portion 66 of the second driver holder 65 is screwed into the female screw hole 63 of the first driver holder 61. , First and second driver holders 6
1, 65 are integrated to form a driver holder 60, and further, a glass plate 53 is sandwiched between a flange portion 62 of a first driver holder 61 and a flange portion 67 of a second driver holder 65. It is attached to the glass plate 53. The collar 62 of the first driver holder 61 is provided with an O-ring 64 for ensuring airtightness with the outer surface of the glass plate 53.

【0021】第1及び第2のドライバホルダ61,65
には、一体となってドライバホルダ60を貫通し、ボー
ル80を回動可能に保持する穴70を形成する第1の貫
通穴71及び第2の貫通穴76とが形成されている。
尚、第1の貫通穴71の内壁面には、貫通穴71の内壁
面が当接するボール80との気密を確保するOリング7
2が設けられている。
First and second driver holders 61 and 65
Are formed with a first through-hole 71 and a second through-hole 76 which integrally penetrate the driver holder 60 and form a hole 70 for rotatably holding the ball 80.
An O-ring 7 is provided on the inner wall surface of the first through hole 71 to ensure airtightness with the ball 80 with which the inner wall surface of the through hole 71 contacts.
2 are provided.

【0022】ボール80には、貫通穴81が形成され、
この貫通穴81には、ドライバ90が挿通している。貫
通穴81の内壁面には、ドライバ90との気密を確保す
るOリング89が設けられている。
The ball 80 has a through hole 81 formed therein.
A driver 90 is inserted through the through hole 81. An O-ring 89 for ensuring airtightness with the driver 90 is provided on the inner wall surface of the through hole 81.

【0023】従って、ドライバ90は、試料室1の外部
より操作可能で、更に、ボール80に対して上下方向
(図において矢印I方向)に移動可能、ドライバ90の軸
線を中心として回転可能(図において矢印II方向)、ボー
ル80を中心として揺動可能(図において矢印III方向)
となっている。
Accordingly, the driver 90 is operable from outside the sample chamber 1 and furthermore, is vertically movable with respect to the ball 80.
(In the direction of arrow I in the figure), can rotate around the axis of the driver 90 (in the direction of arrow II in the figure), and can swing about the ball 80 (in the direction of arrow III in the figure).
It has become.

【0024】又、ドライバ90の下部には大径部91が
形成されている。一方、ドライバホルダ60の第2のド
ライバホルダ65の第2の貫通穴76の開口には、大径
部91が係脱可能な板ばね77が設けられている。この
板ばね76にドライバ90の大径部91を係合させるこ
とにより、ドライバ90の先端がステージトップ12よ
り離れた位置で、固定されるようになっている。
A large diameter portion 91 is formed below the driver 90. On the other hand, in the opening of the second through hole 76 of the second driver holder 65 of the driver holder 60, a leaf spring 77 to which the large-diameter portion 91 can be disengaged is provided. By engaging the large-diameter portion 91 of the driver 90 with the leaf spring 76, the tip of the driver 90 is fixed at a position separated from the stage top 12.

【0025】次に、図3及び図4を用いて、第1及び第
2の支持手段20,30を説明する。尚、第1及び第2
の支持手段20,30の構造は、同一なので、第1の支
持手段30を用いて説明を行い、第2の支持手段の説明
は省略する。図3は保持位置に位置している第1の支持
手段の構成図、図4は退避位置に位置している第1の支
持手段の構成図である。
Next, the first and second support means 20 and 30 will be described with reference to FIGS. Note that the first and second
Since the structures of the support means 20 and 30 are the same, the description will be made using the first support means 30 and the description of the second support means will be omitted. FIG. 3 is a configuration diagram of the first support unit located at the holding position, and FIG. 4 is a configuration diagram of the first support unit located at the retracted position.

【0026】図3において、ステージトップ12には、
大径部101と、大径部101に連続して形成された小
径部102とからなる段付き穴100が形成されてい
る。又、段付き穴100の段部には、段付き穴100と
同心状の溝105が形成されている。段付き穴100に
は、第1のホルダ120と第2のホルダ130とからな
るホルダ110が配置されている。第1のホルダ120
の上部にはつば部121が形成され、中央部には上から
小径めねじ部122,穴部123,大径めねじ部124と
からなる貫通穴125が形成されている。
In FIG. 3, the stage top 12 includes:
A stepped hole 100 including a large diameter portion 101 and a small diameter portion 102 formed continuously with the large diameter portion 101 is formed. A groove 105 concentric with the stepped hole 100 is formed in the stepped portion of the stepped hole 100. A holder 110 including a first holder 120 and a second holder 130 is arranged in the stepped hole 100. First holder 120
A flange portion 121 is formed in the upper part of the upper part, and a through hole 125 including a small-diameter female screw part 122, a hole part 123, and a large-diameter female screw part 124 is formed in the center part from above.

【0027】更に、第1のホルダ120のつば部121
より下側の部分の長さLは、ステージトップ12の段付
き穴100の小径部102の深さTより長く設定されて
いる。
Further, the flange portion 121 of the first holder 120
The length L of the lower portion is set longer than the depth T of the small diameter portion 102 of the stepped hole 100 of the stage top 12.

【0028】第2のホルダ130は、第1のホルダ12
0の貫通穴125の大径めねじ部124に螺合可能なお
ねじ部131と、ステージトップ12の下面に当接可能
なつば部132とからなっている。
The second holder 130 is provided with the first holder 12
A male screw part 131 that can be screwed into the large-diameter female screw part 124 of the through hole 125 and a collar part 132 that can abut the lower surface of the stage top 12.

【0029】ステージトップ12の上面から第1のホル
ダ120が段付き穴100へ、又、ステージトップ12
の下面から第2のホルダ130が段付き穴100へそれ
ぞれ嵌合し、第1のホルダ120の貫通穴125の大径
めねじ部124に第2のホルダ130のおねじ部131
を螺合させることにより、第1及び第2のホルダ12
0,130は一体となりホルダ110を形成している。
The first holder 120 is inserted into the stepped hole 100 from the upper surface of the stage top 12.
The second holder 130 is fitted into the stepped hole 100 from the lower surface of the first holder 120, and the large-diameter female screw part 124 of the through hole 125 of the first holder 120 is fitted into the thread part 131 of the second holder 130.
Are screwed into the first and second holders 12.
0, 130 are integrated to form a holder 110.

【0030】そして、一体化したホルダ110は、第2
のホルダ130のつば部132がステージトップ12の
下面に当接する保持位置(図3に示す状態)と、第1のホ
ルダ120のつば部121がステージトップ12の段付
き穴100の段部に当接する退避位置(図4に示す状態)
間を移動可能となっている。
Then, the integrated holder 110 is
The holding position (the state shown in FIG. 3) where the flange 132 of the holder 130 contacts the lower surface of the stage top 12, and the flange 121 of the first holder 120 contacts the step of the stepped hole 100 of the stage top 12. Evacuation position in contact (state shown in FIG. 4)
It is possible to move between.

【0031】更に、ステージトップ12の溝105に
は、第1のホルダ120のつば部121に当接し、ホル
ダ110を上方に付勢するスプリング140が配設され
ている。
Further, a spring 140 is provided in the groove 105 of the stage top 12 to abut against the flange 121 of the first holder 120 and to urge the holder 110 upward.

【0032】第1のホルダ120の貫通穴125の小径
めねじ部122には、先端にボール146が設けられた
おねじ145が螺合している。このおねじ145の第1
のホルダ120からの突出量は、第2のホルダ130の
貫通穴133側からドライバ180を用いて調整可能で
ある。
A male screw 145 having a ball 146 at the tip is screwed into the small diameter female screw portion 122 of the through hole 125 of the first holder 120. The first of this male screw 145
The amount of protrusion of the second holder 130 from the holder 120 can be adjusted using the driver 180 from the through hole 133 side of the second holder 130.

【0033】ステージトップ12の段付き穴100の周
縁部には、第1及び第2のめねじ穴171,172が形
成されている。第1及び第2のめねじ穴171,172
には、先端にボール173,174が設けられ、ドライ
バホルダ60に支持されたドライバ90によって駆動さ
れるおねじ175,176がステージトップ12の上方
より螺合している。
First and second female screw holes 171 and 172 are formed in the peripheral edge of the stepped hole 100 of the stage top 12. First and second female screw holes 171, 172
Are provided with balls 173 and 174 at their ends, and external screws 175 and 176 driven by a driver 90 supported by the driver holder 60 are screwed from above the stage top 12.

【0034】次に、上記構成の動作を説明する。 (1) 第1及び第2の支持手段20,30に支持される試
料14,14′のワーキングディスタンスが一定となる
ように、高さ調整を行なう。即ち、第1及び第2の支持
手段20,30の各おねじ145の第1のホルダ120
からの突出量をドライバ180を用いて調整する。
Next, the operation of the above configuration will be described. (1) The height is adjusted so that the working distance of the samples 14, 14 'supported by the first and second support means 20, 30 is constant. That is, the first holder 120 of each male screw 145 of the first and second support means 20 and 30 is provided.
Is adjusted using a driver 180.

【0035】(2) 試料14をセットする場合には、ドラ
イバホルダ60の支持されたドライバ90を用いて、第
2の支持手段30のおねじ175,176を回し、第2
のホルダ130のつば部132をスプリング140の付
勢力に抗して下方へ押し下げ、ホルダ110を退避位置
へ移動させる。又、ドライバ90を用いて、第1の支持
手段20のおねじ175,176を回し、上方に移動さ
せ、ホルダ110を保持位置へ移動させる。
(2) When the sample 14 is set, the male screw 175, 176 of the second support means 30 is turned using the driver 90 supported by the driver holder 60, and the second
Of the holder 130 is pushed downward against the urging force of the spring 140 to move the holder 110 to the retracted position. Further, using the driver 90, the male screws 175 and 176 of the first support means 20 are turned to move the male screws 175 and 176 upward, and the holder 110 is moved to the holding position.

【0036】尚、ドライバホルダ60の支持されたドラ
イバ90は、ボール80に対して上下方向に移動可能、
ドライバ90の軸線を中心として回転可能、ボール80
を中心として揺動可能となっているので、おねじ17
5,176を駆動可能となっている。
The driver 90 supported by the driver holder 60 can move vertically with respect to the ball 80.
The ball 80 is rotatable about the axis of the driver 90.
Can be pivoted around the male screw 17
5,176 can be driven.

【0037】更に、第1及び第2の支持手段20,30
は、ステージトップ12の回転軸13を中心とする同一
円周上に交互に配置されているので、ステージトップ1
2を回転させ、ドライバホルダ60の近傍に位置させる
ことにより、すべての第1及び第2の支持手段20,3
0のおねじ175,176は駆動可能である。
Further, the first and second support means 20, 30
Are alternately arranged on the same circumference around the rotation axis 13 of the stage top 12, so that the stage top 1
2 is rotated and positioned near the driver holder 60 so that all the first and second support means 20, 3
The 0 external threads 175 and 176 are drivable.

【0038】同様に、試料14′をセットする場合に
も、ドライバホルダ60の支持されたドライバ90を用
いて、第1の支持手段20のおねじ175,176を回
し、第2のホルダ130のつば部132をスプリング1
40の付勢力に抗して下方へ押し下げ、ホルダ110を
退避位置へ移動させ、第2の支持手段30のおねじ17
5,176を回し、ホルダ110を保持位置へ移動させ
る。
Similarly, when the sample 14 'is set, the male screw 175, 176 of the first support means 20 is turned using the driver 90 supported by the driver holder 60, and the second holder 130 is set. Spring 1 for collar 132
40, the holder 110 is moved downward to the retracted position against the urging force of
By turning 5,176, the holder 110 is moved to the holding position.

【0039】(3) 第1及び第2の支持手段20,30の
切替が終了したならば、ドライバ90を上方に引き上
げ、大径部91を板ばね77に係合させ、ドライバ90
の退避を行なう。
(3) When the switching of the first and second support means 20 and 30 is completed, the driver 90 is pulled up and the large-diameter portion 91 is engaged with the leaf spring 77 so that the driver 90
Evacuation.

【0040】上記構成によれば、第1及び第2の支持手
段20,30を設け、厚さの異なる試料14,14′に応
じて、これら第1及び第2の支持手段20,30を切り
替えることにより、容易に高さ調整ができ、容易に厚さ
の異なる試料14,14′を支持可能となる。
According to the above configuration, the first and second support means 20 and 30 are provided, and the first and second support means 20 and 30 are switched according to the samples 14 and 14 'having different thicknesses. As a result, the height can be easily adjusted, and the samples 14, 14 'having different thicknesses can be easily supported.

【0041】更に、第1及び第2の支持手段20,30
をステージトップ12の回転軸13を中心とする同一円
周上に配置したことにより、切替手段としてのドライバ
90一本で、すべての第1及び第2の支持手段20,3
0を切り替えることができる。
Further, the first and second support means 20, 30
Are arranged on the same circumference around the rotation axis 13 of the stage top 12, so that all of the first and second support means 20, 3 can be provided by a single driver 90 as a switching means.
0 can be switched.

【0042】更に、ドライバ90は試料室50の外部で
操作可能なので、高さ調整を行なう場合、容易に高さ調
整を行なうことができる。尚、本発明は、上記実施の形
態例に限定するものではない例えば、支持手段として
は、図5に示すような支持手段200でもよい。ステー
ジトップ12には、小径部231と大径部232とから
る段付き穴230が形成されている。
Further, since the driver 90 can be operated outside the sample chamber 50, the height can be easily adjusted when adjusting the height. Note that the present invention is not limited to the above embodiment. For example, the supporting means may be a supporting means 200 as shown in FIG. The stage top 12 has a stepped hole 230 formed by the small diameter portion 231 and the large diameter portion 232.

【0043】240は段付き穴230の大径部232
に、移動可能に嵌合するホルダである。ホルダ240は
段付き穴230の大径部232の内径より若干外径が小
さく設定された本体部241と、段付き穴230の大径
部232の内径より外径が大きく設定されたつば部24
2とからなっている。ホルダ240の本体部241の側
面には、ガイド溝243が形成されている。一方、段付
き穴230の大径部232には、ガイド溝243に係合
するバー250が設けられている。従って、ホルダ24
0の回転は禁止され、ホルダ240は上下方向にのみ移
動可能となっている。
Reference numeral 240 denotes a large diameter portion 232 of the stepped hole 230.
And a movably fitted holder. The holder 240 has a main body portion 241 whose outer diameter is set slightly smaller than the inner diameter of the large diameter portion 232 of the stepped hole 230, and a flange portion 24 whose outer diameter is set larger than the inner diameter of the large diameter portion 232 of the stepped hole 230.
It consists of two. A guide groove 243 is formed on a side surface of the main body 241 of the holder 240. On the other hand, the large diameter portion 232 of the stepped hole 230 is provided with a bar 250 that engages with the guide groove 243. Therefore, the holder 24
The rotation of 0 is prohibited, and the holder 240 is movable only in the vertical direction.

【0044】ホルダ240の中心部には、めねじ穴24
5が形成され、このめねじ穴245には、先端にボール
255が設けられたおねじ256が螺合している。この
おねじ256は、第1の実施の形態例で説明を行ったお
ねじ145と同様な働きを持つもので、ワーキングディ
スタンスが一定となるように、セットされる試料の高さ
調整を行なうものである。
At the center of the holder 240, a female screw hole 24 is provided.
5 is formed, and a male screw 256 having a ball 255 at the tip is screwed into the female screw hole 245. The male screw 256 has the same function as the male screw 145 described in the first embodiment, and adjusts the height of a sample to be set so that the working distance is constant. It is.

【0045】更に、ホルダ240の天面には、めねじ穴
245を中心として円形状の溝247が形成されてい
る。溝247には、ステージトップ12に当接し、ホル
ダ240を下方に付勢するスプリング260が配設され
ている。ステージトップ12の下面には、穴270が形
成され、この穴270内には、軸271を中心に回転可
能に設けられたレバー275が設けられている。レバー
275の一方の回転端部は、ホルダ240のつば部24
2の下面に当接し、スプリング260により下方に付勢
されたホルダ240を支持している。
Further, a circular groove 247 centering on the female screw hole 245 is formed on the top surface of the holder 240. The groove 247 is provided with a spring 260 that contacts the stage top 12 and urges the holder 240 downward. A hole 270 is formed on the lower surface of the stage top 12, and a lever 275 rotatably provided around a shaft 271 is provided in the hole 270. One rotating end of the lever 275 is connected to the collar 24 of the holder 240.
2 and supports the holder 240 urged downward by the spring 260.

【0046】ステージトップ12には、レバー275の
他方の回転端部に対向するようにめねじ穴277が形成
され、このめねじ穴277には、先端部にボール279
が設けられたおねじ278が螺合している。
A female screw hole 277 is formed in the stage top 12 so as to face the other rotating end of the lever 275. The female screw hole 277 has a ball 279 at the tip.
The male screw 278 provided with is screwed.

【0047】このような構成においては、おねじ287
を回転させることにより、ホルダ240を支持するレバ
ー275が回転し、ホルダ240を保持位置/退避位置
の切替を行なうことができる。
In such a configuration, the male screw 287
Is rotated, the lever 275 supporting the holder 240 is rotated, and the holder 240 can be switched between the holding position and the retracted position.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上述べたように請求項1記載の発明に
よれば、厚さの異なる各試料に対応して設けられ、前記
各試料の上面が同じ高さになるように前記試料を支持す
る複数の支持手段と、これら支持手段を切り替える切替
手段とを設けたことにより、又、請求項2記載の発明に
よれば、請求項1記載の発明の支持手段を前記試料を所
定の高さに保持する保持位置,該保持位置より前記試料
ステージ側に移動した退避位置間を移動可能に設けられ
たホルダと、該ホルダを保持位置方向に付勢する付勢部
材と、前記切替手段により駆動され、前記ホルダを前記
退避位置方向に押圧可能なねじ部材とから構成したこと
により、厚さの異なる試料を支持可能となり、容易に高
さ調整が可能となる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the sample is provided corresponding to each sample having a different thickness, and the sample is supported so that the upper surface of each sample has the same height. According to the second aspect of the present invention, the supporting means of the first aspect of the present invention is configured such that the sample is moved to a predetermined height. A holder provided to be movable between a holding position for holding the holding member, a retreat position moved from the holding position to the sample stage side, an urging member for urging the holder in the holding position direction, and a driving member driven by the switching means. In addition, since the holder is constituted by the screw member that can be pressed in the retracted position direction, samples having different thicknesses can be supported, and the height can be easily adjusted.

【0049】請求項3記載の発明によれば、試料ステー
ジを、回転可能に設け、前記複数の支持手段を前記試料
ステージの回転軸を中心とした同一円周上に配置したこ
とにより、試料ステージを回転させることで、1つの切
替手段ですべての支持手段を駆動することができる。
According to the third aspect of the present invention, the sample stage is rotatably provided, and the plurality of support means are arranged on the same circumference around the rotation axis of the sample stage. , All the supporting means can be driven by one switching means.

【0050】請求項4記載の発明によれば、前記試料ス
テージは、密閉された空間内に配置され、前記切替手段
は、前記密閉空間外から操作可能としたことにより、密
閉された空間外から切替手段を操作できるので、高さ調
整を行なう場合、容易に高さ調整を行なうことができ
る。
According to the fourth aspect of the present invention, the sample stage is disposed in a closed space, and the switching means is operable from outside the closed space. Since the switching means can be operated, the height can be easily adjusted when the height is adjusted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態例の試料ステージの構成
図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a sample stage according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1におけるA方向矢視図である。FIG. 2 is a view in the direction of arrow A in FIG. 1;

【図3】保持位置に位置している第1の支持手段の構成
図である。
FIG. 3 is a configuration diagram of a first support unit located at a holding position.

【図4】退避位置に位置している第1の支持手段の構成
図である。
FIG. 4 is a configuration diagram of a first support unit located at a retracted position.

【図5】他の実施の形態例の要部構成図である。FIG. 5 is a main part configuration diagram of another embodiment.

【図6】電子ビーム描画装置の試料室内に設けられた従
来の試料ステージの構成図である。
FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional sample stage provided in a sample chamber of an electron beam writing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

14,14′ 試料 20 第1の支持手段 30 第2の支持手段 14,14 'sample 20 first support means 30 second support means

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 厚さが異なる試料が載置される試料ステ
ージであって、 厚さの異なる各試料に対応して設けられ、前記各試料の
上面が同じ高さになるように前記試料を支持する複数の
支持手段と、 これら支持手段を切り替える切替手段と、 を設けたことを特徴とする試料ステージ。
1. A sample stage on which samples having different thicknesses are mounted, wherein the sample stages are provided corresponding to the samples having different thicknesses, and the sample is mounted so that the upper surfaces of the samples have the same height. A sample stage, comprising: a plurality of supporting means for supporting; and switching means for switching the supporting means.
【請求項2】 前記支持手段は、 前記試料を所定の高さに保持する保持位置,該保持位置
より前記試料ステージ側に移動した退避位置間を移動可
能に設けられたホルダと、 該ホルダを保持位置方向に付勢する付勢部材と、 前記切替手段により駆動され、前記ホルダを前記退避位
置方向に押圧可能なねじ部材と、 からなることを特徴とする請求項1記載の試料ステー
ジ。
2. The apparatus according to claim 1, wherein the supporting unit includes: a holding position for holding the sample at a predetermined height; a holder movably provided between a withdrawal position moved from the holding position to the sample stage side; 2. The sample stage according to claim 1, comprising: an urging member for urging in a holding position direction; and a screw member driven by said switching means and capable of pressing said holder in said retreating position direction.
【請求項3】 試料ステージは、回転可能に設けられ、 前記複数の支持手段は、前記試料ステージの回転軸を中
心とした同一円周上に配置したことを特徴する1又は2
記載の試料ステージ。
3. The apparatus according to claim 1, wherein the sample stage is rotatably provided, and the plurality of support means are arranged on the same circumference around a rotation axis of the sample stage.
Sample stage as described.
【請求項4】 前記試料ステージは、密閉された空間内
に配置され、 前記切替手段は、前記密閉空間外から操作可能としたこ
とを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の試料
ステージ。
4. The sample according to claim 1, wherein the sample stage is disposed in a closed space, and the switching unit is operable from outside the closed space. stage.
JP23575097A 1997-09-01 1997-09-01 Sample stage Withdrawn JPH1187474A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23575097A JPH1187474A (en) 1997-09-01 1997-09-01 Sample stage

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23575097A JPH1187474A (en) 1997-09-01 1997-09-01 Sample stage

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1187474A true JPH1187474A (en) 1999-03-30

Family

ID=16990681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23575097A Withdrawn JPH1187474A (en) 1997-09-01 1997-09-01 Sample stage

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1187474A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004027856A1 (en) * 2002-09-19 2004-04-01 Sendai Nikon Corporation Method for supporting substrate, substrate supporting apparatus and exposure apparatus
JP2006086427A (en) * 2004-09-17 2006-03-30 Nikon Corp Substrate holding method and apparatus therefor, and exposure device
EP3744418A1 (en) 2016-01-09 2020-12-02 Ascend Performance Materials Operations LLC Catalyst compositions and process for direct production of hydrogen cyanide in an acrylonitrile reactor feed stream

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004027856A1 (en) * 2002-09-19 2004-04-01 Sendai Nikon Corporation Method for supporting substrate, substrate supporting apparatus and exposure apparatus
JP2006086427A (en) * 2004-09-17 2006-03-30 Nikon Corp Substrate holding method and apparatus therefor, and exposure device
EP3744418A1 (en) 2016-01-09 2020-12-02 Ascend Performance Materials Operations LLC Catalyst compositions and process for direct production of hydrogen cyanide in an acrylonitrile reactor feed stream

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102195030B1 (en) Ion milling device and ion milling method
US5253106A (en) Oblique viewing system for microscopes
US2135870A (en) Microscope
JP4834272B2 (en) Microscope unit
JPH1187474A (en) Sample stage
US6525876B1 (en) Apparatus for changing objective lenses in a microscope
US11658001B1 (en) Ion beam cutting calibration system and method
CN219831506U (en) Microscope convenient to control observe thing is diversified
US3240934A (en) Specimen holding device with means to tilt, rotate and shift the specimen
JPS583586B2 (en) scanning electron microscope
US4362355A (en) Operating microscope assembly
US4744643A (en) Apparatus for restricting motion of living microscopic organisms during observation under a microscope
KR102180087B1 (en) Smart automated sample stage
JPS594442Y2 (en) scanning electron microscope
JP2002150984A (en) Sample holder
JP2021139710A (en) Sample securing device
US3476936A (en) Apparatus for positioning specimens in electron microscopes or electron diffraction cameras
JPS6336925Y2 (en)
JPS5952513B2 (en) Scanning electron microscope sample fine movement device
JPH02190813A (en) Method and device for adjusting horizontality of sample container
JP2005017454A (en) Sample support device
JP3080730B2 (en) microscope
JP2007017281A (en) Microtome
JPS606995Y2 (en) Scanning electron microscope sample device
JP2541165Y2 (en) Target support device in ion beam sputtering equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20041102