JP2005017454A

JP2005017454A - Sample support device

Info

Publication number: JP2005017454A
Application number: JP2003179328A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Mochizuki; 剛望月
Original assignee: Olympus Corp
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2003-06-24
Filing date: 2003-06-24
Publication date: 2005-01-20

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sample support device having a correction ring adjustment function, which allows a correction ring of an objective lens with the correction ring to be easily rotationally operated and is applicable to even an objective lens having correction rings different by diameters. <P>SOLUTION: A sample support device 4 is provided in the outer periphery of an objective lens 6 having a correction ring 6b and has a position adjustment means which enables an observation sample to move in the direction of the optical axis of the objective lens 6. An opening is provided in a side surface corresponding to the objective lens 6, of the sample support device 4, and a turning arm 17 which has the base end supported freely turnably and rotatably supports a disk-shaped operation member 19 on the front end is provided in the opening part, and the correction ring 6b is rotationally operated by rotating the operation member 19 while the turning arm 17 is turned to bring the operation member 19 into contact with the correction ring 6b of the objective lens 6. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、経時的な試料観察を安定して行なうことを可能にした補正環調整機能を有する試料支持装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、顕微鏡を使用した試料観察は、顕微鏡ステージ上に載置された試料に対して対物レンズを接近させ、試料上の観察要部を拡大することで行うようにしている。この場合、試料に近接される対物レンズは、倍率が高くなるほど焦点深度が小さくなるため、対物レンズと観察試料との位置合わせが難しくなるとともに、対物レンズと試料との間の距離の微小の変化にも観察像が大きく劣化してしまう。
【０００３】
一方、対物レンズと観察試料との見かけ上の位置は、非常に近接しているが、これらの機械的結合長さは、顕微鏡フレーム、対物レンズ移動機構、レボルバなどの多数の機械部品が介在するため非常に大きい。これらの機械部品は、温度変化によりその寸法を変化しやすいことから、これら機械部品の数が多くなるほど寸法変化量が大きくなり、また、機械部品が多くなって、機械的結合長さが大きくなるほど振動に対しても弱く、振動振幅が大きくなってしまう。
【０００４】
このため、試料観察時に、観察試料に対して対物レンズの焦点合わせを行っても、例えば、照明のオンオフや内部電源および空調設備の作動により周囲温度が変化して各機械部品の寸法が変化すると、対物レンズと試料間の距離が大きく変化するため焦点が簡単にずれてしまうなど、対物レンズと観察試料との位置合わせ精度が低下してしまう。
【０００５】
そこで、従来、安定して試料観察を行なうために、特許文献１に開示されるように、対物レンズに、固定台、操作環および試料保持台により構成される位置調整手段を設け、この位置調整手段の操作環の回転操作により、試料保持台を回り止めピンが挿通されているガイド孔に沿って対物レンズの光軸方向に移動させ、対物レンズと観察試料の相対位置を調整すことにより、これらの間の位置合わせ精度を高めるようにしたフォーカス機構を備えた試料支持装置が考えられている。
【０００６】
このような試料支持装置によれば、対物レンズと試料保持台に載せられたスライドガラス（試料）との機械的長さを、位置調節手段としての固定台、操作環および試料保持台のみにより決定できることで、極めて短く設定できるので、周囲温度が変化した場合も試料と対物レンズの焦点の位置がほとんど変化することなく、また、外部振動に対しても影響を受けることがなくなり、常に安定した試料観察を行なうことができる。
【０００７】
ところで、対物レンズには、標本のカバーガラスの厚みの差による見えの劣化を補正するため補正機能を有する補正環を備えたものがある。
【０００８】
このような補正環を備えた対物レンズは、検鏡者が外部から補正環を操作することで、簡単に補正環調整ができることが必要である。
【０００９】
【特許文献１】
特願２００１−１１０４６９号明細書
【００１０】
【特許文献２】
実開平３−５８６１１号公報
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、特許文献１に開示される試料保持装置は、対物レンズの周囲を全て覆うように位置調節手段の各部品が配置されているため、対物レンズの補正環を回転調整することが全くできないという問題があった。
【００１２】
周囲が覆われた状態にある光学要素を外部から回転調整できるようにしたものとして、特許文献２に開示されるように、少なくとも２個の同歯数の環状歯車同士を噛合し、それらのうちの１個が外部に突出していることを特徴とし、回転調整を必要とする内部に位置する光学要素を、一部が外部に突出している歯車の回転操作により回転できるようにしたものがある。
【００１３】
ところが、特許文献２に開示されるものは、それぞれの歯車の回転中心軸が固定されているため、この考えを上述した試料保持装置に適用しようとすると、例えば、異なる直径の補正環を有するような対物レンズに適用しようとした場合は、補正環調整が全くできなくなってしまうことが考えられる。
【００１４】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、補正環付き対物レンズの補正環を外部から簡単に回転操作でき、しかも異なる直径の補正環を持った対物レンズにも適用できる補正環調整機能を有する試料保持装置を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、補正環を有する対物レンズと、前記対物レンズの外周に設けられ、観察試料を該対物レンズの光軸方向に移動可能にした位置調整手段を有する試料支持装置において、前記位置調整手段の前記対物レンズに対応する側面に設けられた開口部と、前記開口部の内部に配置され、且つ前記対物レンズの補正環に当接可能に設けられた操作手段と、を具備し、前記操作手段を前記補正環に当接した状態で、前記開口部の外部から前記操作手段を介して前記補正環を回転可能にしたことを特徴としている。
【００１６】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記操作手段は、基端部を回動自在に支持された回動アームと、前記回動アームの先端部に回転可能に支持され、前記回動アームの回動により前記対物レンズの補正環に周縁部を当接可能にした円板状の操作部材と、を具備し、前記回動アームの回動により前記操作部材が前記補正環に当接した状態で、前記開口部の外部から前記操作部材を介して前記補正環を回転操作可能にしたことを特徴としている。
【００１７】
請求項３記載の発明は、請求項２記載の発明において、前記操作部材は、前記補正環に当接した状態で、前記開口部の外部に一部が突出していることを特徴としている。
【００１８】
請求項４記載の発明は、請求項２または３記載の発明において、前記操作部材は、前記補正環と当接する周縁部に前記補正環のローレットと噛合うような同一ピッチのローレットが形成されていることを特徴としている。
【００１９】
請求項５の発明は、請求項２または３記載の発明において、前記操作部材は、前記補正環と当接する周縁部に弾性部材が設けられていることを特徴としている。
【００２０】
請求項６記載の発明は、請求項５記載の発明において、弾性部材は、ゴムリングであることを特徴としている。
【００２１】
請求項７記載の発明は、請求項１乃至６のいずれかに記載の前記試料支持装置を備えたことを特徴とする顕微鏡である。
【００２２】
この結果、本発明によれば、対物レンズの補正環に操作手段を当接させ、この操作手段を外部から操作するにより補正環を回転させることができるので、補正環付き対物レンズの補正環を外部から簡単に回転操作できる。
【００２３】
また、本発明によれば、操作手段は、基端部を回動自在に支持された回動アームの先端部に円板状の操作部材が回転可能に支持され、回動アームの回動により操作部材を対物レンズの補正環に当接させた状態で、操作部材を回転することで補正環を操作できるので、異なる直径の補正環を持った対物レンズにも問題なく適用することができる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に従い説明する。
【００２５】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の試料支持装置が適用される倒立顕微鏡の概略構成を示している。図において、１は顕微鏡本体で、この顕微鏡本体１上には、ステージ２が設けられている。
【００２６】
ステージ２の下方にはレボルバ３が配置されている。このレボルバ３には、本発明の試料支持装置４が設けられている。
【００２７】
図２は、試料支持装置４の概略構成を示すもので、図１に示す倒立顕微鏡の図示Ａ矢印方向（顕微鏡正面）から見た一部断面図、図３、図４は、図２をＢ矢印方向からみた横断面図である。
【００２８】
この場合、試料支持装置４は、位置調整手段を構成する固定台５、操作環７および試料保持台８を有している。固定台５は、筒状をしていて、一方の開口端部に小径部５ａが形成され、この小径部５ａの周面に、対物ねじ部５ｂが形成されている。この対物ねじ部５ｂは、レボルバ３の対物取付け穴部３ａにねじ込まれるものである。また、固定台５の一方開口部の内周面にも、ねじ部５ｃが形成されている。このねじ部５ｃには、対物レンズ６のねじ部６ａがねじ込まれ、この対物レンズ６を固定台５の中空部の軸線上に一体的に固定するようになっている。対物レンズ６は、後述するスライドガラス（試料）１２の厚さの誤差による像の見えの劣化を補正するため補正機能を有するもので、この機能を調整するための補正環６ｂが設けられている。補正環６ｂの周面には、ローレット６ｃ（図３参照）が形成されている。
【００２９】
固定台５の外周面には、ねじ部５ｄが形成されている。
【００３０】
固定台５には、操作環７が設けられている。操作環７は、底部７ａを有する筒状をなすとともに、この底部７ａ中央にねじ部７ｂが形成され、このねじ部７ｂが固定台５のねじ部５ｄにねじ込まれている。操作環７は、回転操作することで、操作環７全体をねじ部５ｄに沿って、つまり対物レンズ６の光軸Ｑ方向に沿って上下動できるようになっている。
【００３１】
操作環７には、試料保持台８が設けられている。試料保持台８は、筒状をなすもので、一方開口端が操作環７と固定台５の間に挿入されるとともに、自重により底部７ａ上に当接されている。
【００３２】
試料保持台８には、操作環７の移動方向に沿ってガイド穴８ａが形成されている。このガイド穴８ａには、固定台５周面に植設された回り止めピン９が挿通されている。これにより、試料保持台８は、操作環７の回転操作により、ガイド穴８ａでガイドされ、操作環７とともに対物レンズ６の光軸Ｑ方向に沿っ移動できるようになっている。
【００３３】
試料保持台８の他方開口端は、中心軸方向に折り曲げられている。折り曲げ部８ｃ上には、マグネット１０が設けられている。
【００３４】
また、試料保持台８の折り曲げ部８ｃには、マグネット１０に吸着されるようにして磁気吸着ステンレスからなる試料台１１が配置されている。
【００３５】
試料台１１は、対物レンズ６の光軸Ｑに対応する位置に観察用穴部１１ａが形成されている。観察用穴部１１ａ上には、スライドガラス（試料）１２が載置されている。
【００３６】
一方、図３（図４）に示すように、試料保持台８の側面には、開口部８ｂが形成されている。
【００３７】
そして、この開口部８ｂ内部には、対物レンズ６の補正環６ｂを調整するための補正環調整機構が設けられている。
【００３８】
この場合、固定台５の上側端面５ｅには、ねじ部５ｆが形成されている。このねじ部５ｆには、保持軸１５が設けられている。
【００３９】
保持軸１５は、基端部にねじ部１５ａが設けられ、また、先端部に、フランジ部１５ｂが形成されている。そして、保持軸１５は、ねじ部１５ａを固定台５側のねじ部５ｆにねじ込むことで、固定台５の上側端面５ｅ上に直立して設けられ、対物レンズ６の光軸Ｑと平行な中心軸を持つようになっている。
【００４０】
保持軸１５には、回動アーム１７の基端部が回動可能に保持されている。回動アーム１７は、基端部に開口１７ａが形成され、この開口１７ａに保持軸１５が挿通されている。また、固定台５の上側端面５ｅと回動アーム１７との間には、中空円板状のワッシャ１６ａ（ポリアセタール製）が介挿され、フランジ部１５ｂと回動アーム１７と間には、中空円板状のワッシャ１６ｂ（ポリアセタール製）と波ワッシャ１８ａ（金属製）が介挿されている。
【００４１】
この場合、波ワッシャ１８ａは、自然の厚さ方向の寸法より小さくなるように適度に押し潰されている。これにより、回動アーム１７は、保持軸１５に対し所定の摩擦力を持って保持されている。
【００４２】
回動アーム１７の先端部は、試料保持台８の開口部８ｂを向いて配置されている。この先端部には、ねじ部１７ｂが設けられている。このねじ部１７ｂには、回転支持軸１８が設けられている。
【００４３】
回転支持軸１８は、基端部にねじ部１８ａが設けられ、また、先端部に、フランジ部１８ｂが形成されている。そして、回転支持軸１８は、ねじ部１８ａを回動アーム１７側のねじ部１７ｂにねじ込むことで、回動アーム１７の先端部に直立して設けられ、対物レンズ６の光軸Ｑと平行な中心軸を持つようになっている。
【００４４】
回転支持軸１８には、円板状の操作部材１９が回転可能に設けられている。操作部材１９は、中心部に開口部１９ａが形成され、この開口部１９ａの周縁部に沿って溝部１９ｂが形成されている。また、操作部材１９の周面にも補正環６ｂのローレット６ｃと同一ピッチを持つローレット１９ｃ（図３参照）が形成されている。
【００４５】
操作部材１９の開口部１９ａには、回転支持軸１８が挿通されている。この場合、回転支持軸１８のフランジ部１８ｂは、操作部材１９の溝部１９ｂに収められている。回動アーム１７と操作部材１９との間には、中空円板状のワッシャ２０（ポリアセタール製）が介挿されている。
【００４６】
この場合、固定台５の上側端面５ｅの光軸Ｑ方向の高さ位置に、ワッシャ１６ａ、回動アーム１７、ワッシャ２０および操作部材１９のそれぞれの厚さ寸法を加えた合計により決まる操作部材１９の光軸Ｑ方向の高さ位置が、対物レンズ６の補正環６ｂの位置と一致するように調整されている。また、操作部材１９は、回動アーム１７の回転支持軸１８を中心に回転可能に支持された状態で、回動アーム１７とともに、保持軸１５を中心として回動可能になっている。このとき、操作部材１９のローレット１９ｃが対物レンズ６の補正環６ｂのローレット６ｃに正確に当接するように回動アーム１７の開口１７ａの中心位置と、ねじ部１７ｂの中心位置との距離が決められている。
【００４７】
また、操作部材１９は、ローレット１９ｃが対物レンズ６の補正環６ｂのローレット６ｃに噛合っている状態で（図４参照）、ローレット１９ｃ部分が試料保持台８の開口部８ｂから僅かに外部に突出し、このローレット１９ｃ部分に指先を押し当てて操作部材１９を回転操作することで、対物レンズ６の補正環６ｂを回転させることができるようになっている。
【００４８】
図１に戻って、顕微鏡本体１には、準焦ハンドル１３が設けられている。この準焦ハンドル１３は、回転操作することにより、試料支持装置４を取付けたレボルバ３を上下方向に移動可能にしている。
【００４９】
この状態で、試料支持装置４の試料台１１に載置されたスライドガラス（試料）１２の観察像は、対物レンズ６を介して顕微鏡本体１内部の図示しない観察光学系に投影され、接眼レンズ１４により観察できるようになっている。
【００５０】
次に、このように構成された第１の実施の形態の作用を説明する。
【００５１】
まず、準焦ハンドル１３を操作してレボルバ３を下方向に移動させるとともに、レボルバ３を回転して、所望する倍率の対物レンズ６を有する試料支持装置４の光路上に位置させる。なお、レボルバ３が下方向に移動している状態では、試料台１１は、試料保持台８のマグネット１０の吸着から開放されて試料支持装置４から離れ、顕微鏡本体１のステージ２上に残されている。
【００５２】
次に、準焦ハンドル１３を操作してレボルバ３を上方向に移動し、光路上に位置された試料支持装置４を上方向に移動させて、試料台１１を試料保持台８のマグネット１０に吸着させる。
【００５３】
そして、操作環７を回転操作して、スライドガラス（試料）１２と対物レンズ６の焦点との位置合わせを行う。この場合、操作環７を回転すると、固定台５のねじ部５ｄのピッチ分ずつ操作環７が対物レンズ６の光軸方向に沿って移動し、この操作環７とともに、試料保持台８もガイド穴８ａによりガイドされながら対物レンズ６の光軸方向に移動される。これにより、試料保持台８にマグネット１０を介して吸着された試料台１１は、試料保持台８とともに移動して、スライドガラス（試料）１２と対物レンズ６の相対位置関係が変化され、スライドガラス（試料）と対物レンズ６の焦点を一致させることができる。
【００５４】
このようにした試料支持装置４によれば、対物レンズ６とスライドガラス（試料）１２との間の機械的結合長さは、フォーカス機構としての固定台５、操作環７および試料保持台８のみにより決定され、極めて短く設定できるので、操作環７を回転操作して、スライドガラス（試料）１２と対物レンズ６の焦点と位置合せを行なった状態では、周囲温度が変化した場合でもスライドガラス（試料）１２と対物レンズ６の焦点の位置合せがほとんど変化することなく、また、外部振動に対しても影響を受けることがなくなり、常に安定した試料観察を行なうことができる。
【００５５】
このような試料支持装置４において、図３に示すように操作部材１９が対物レンズ６の補正環６ｂより離れている状態から、検鏡者が指先で操作部材１９を押すと、回動アーム１７が回転支持軸１８を中心に反時計方向に回動することにより、図４に示すように操作部材１９のローレット１９ｃを対物レンズ６の補正環６ｂのローレット６ｃに噛み合わせることができる。
【００５６】
この状態から、操作部材１９を回転操作すると、ローレット１９ｃとローレット６ｃが噛合った状態で、補正環６ｂを操作部材１９の回転方向に応じて、時計方向または反時計方向どちらの方向にも回転調整することができる。そして、このようにして補正環６ｂを回転調整することにより、対物レンズ６のスライドガラス（試料）１２の厚さの誤差による像の見えの劣化を補正することができる。
【００５７】
次に、対物レンズ６を、異なる直径の補正環を持った他の対物レンズと交換するような場合は、スライドガラス（試料）１２、試料台１１、試料保持台８を順に取り除き、さらに回動アーム１７を回転支持軸１８を中心に時計方向に回動して図３に示すように操作部材１９を対物レンズ６の補正環６ｂから離間させる。
【００５８】
この状態で、固定台５に固定される対物レンズ６を取り外し、異なる直径の補正環を持った他の対物レンズを固定する。ここでは説明の便宜上、他の対物レンズについても、上述した対物レンズ６と同符号を付している。
【００５９】
そして、試料保持台８、試料台１１、スライドガラス（試料）１２の順に装着した後、再び検鏡者が指先で操作部材１９を押すと、回動アーム１７が回転支持軸１８を中心に反時計方向に回動して、図４に示すように操作部材１９のローレット１９ｃを対物レンズ６の補正環６ｂのローレット６ｃに噛み合わせることができる。
【００６０】
この状態から、操作部材１９を回転操作すると、ローレット１９ｃとローレット６ｃが噛合った状態で、補正環６ｂを操作部材１９の回転方向に応じて、時計方向または反時計方向どちらの方向にも回転調整することができる。
【００６１】
従って、このようにすれば、対物レンズ６の補正環６ｂに対して円板状の操作部材１９を当接させ、この操作部材１９を外部から操作するにより補正環１６ｂを回転させることができるので、補正環付き対物レンズの補正環を外部から簡単に操作することができ、補正環調整を行うことができる。
【００６２】
また、円板状の操作部材１９は、基端部を回動自在に支持された回動アーム１７の先端部に回転可能に支持され、回動アーム１７の回動により操作部材１９を対物レンズ６の補正環６ｂに当接させた状態で、操作部材１９を回転することで補正環６ｂを操作できるので、異なる直径の補正環を持った対物レンズにも何ら問題なく適用することができる。
【００６３】
（第２の実施の形態）
次に、本発明の第２の実施の形態を説明する。
【００６４】
この場合、本発明が適用される倒立顕微鏡および同倒立顕微鏡に適用される試料支持装置のそれぞれの概略構成は、上述した図１および図２と同様なので、これらの図面を援用するものとする。
【００６５】
図５および図６は、第２の実施の形態の要部の概略構成を示すもので、図３および図４と同一部分には、同符号を付している。
【００６６】
この場合、回転支持軸１８には、円板状の操作板３１が回転可能に設けられている。この操作板３１も中心部に開口部（図示せず）が形成され、この開口部には、回転支持軸１８が挿通されている。
【００６７】
操作板３１には、外周縁に沿って弾性部材としてゴムリング３２が設けられている。このゴムリング３２には、ゴム硬度３０程度のシリコンゴムが用いられている。
【００６８】
この場合も、操作板３１は、ゴムリング３２が対物レンズ６の補正環６ｂのローレット６ｃに当接している状態で（図６参照）、ゴムリング３２部分が試料保持台８の開口部８ｂから僅かに外部に突出し、このゴムリング３２部分に指先を押し当てて操作板３１を回転操作することにより、対物レンズ６の補正環６ｂを回転させることができるようになっている。
【００６９】
その他は、図３および図４と同様である。
【００７０】
次に、このように構成された実施の形態の説明する。
【００７１】
このような試料支持装置４についても、図５に示すように操作板３１が対物レンズ６の補正環６ｂより離れている状態から、検鏡者が指先でゴムリング３２部分を押すと、回動アーム１７が回転支持軸１８を中心に反時計方向に回動することにより、図６に示すように操作板３１のゴムリング３２を対物レンズ６の補正環６ｂのローレット６ｃに当接させることができる。
【００７２】
この状態から、操作板３１を回転操作すると、ゴムリング３２とローレット６ｃとの間に摩擦力が作用して、補正環６ｂを操作板３１の回転方向に応じて、時計方向または反時計方向どちらの方向にも回転調整することができる。そして、このような補正環６ｂの回転調整により、対物レンズ６のスライドガラス（試料）１２の厚さの誤差による像の見えの劣化を補正することができる。
【００７３】
次に、対物レンズ６を、異なる直径の補正環を持った他の対物レンズと交換するような場合は、図２示すスライドガラス（試料）１２、試料台１１、試料保持台８を順に取り除き、さらに回動アーム１７を回転支持軸１８を中心に時計方向に回動して図５に示すように操作板３１を対物レンズ６の補正環６ｂから離間させる。
【００７４】
この状態で、固定台５に固定される対物レンズ６を取り外し、異なる直径の補正環を持った他の対物レンズを固定する。ここでは説明の便宜上、他の対物レンズについても、上述した対物レンズ６と同符号を付している。
【００７５】
そして、試料保持台８、試料台１１、スライドガラス（試料）１２の順に装着した後、再び検鏡者が指先でゴムリング３２部分を押すと、回動アーム１７が回転支持軸１８を中心に反時計方向に回動して、図６に示すように操作板３１のゴムリング３２部分を対物レンズ６の補正環６ｂのローレット６ｃに当接させることができる。
【００７６】
この状態から、操作板３１を回転操作すると、ゴムリング３２とローレット６ｃとの間に摩擦力が作用して、補正環６ｂを操作板３１の回転方向に応じて、時計方向または反時計方向どちらの方向にも回転調整することができる。
【００７７】
このような構成によっても、第１の実施の形態と同様な効果を期待できる。さらに、操作板３１のゴムリング３２部分を補正環６ｂのローレット６ｃに当接させるようにしているので、異なるピッチのローレット６ｃを有する補正環６ｂを持った対物レンズ６が装着された場合でも、ゴムリング３２をローレット６ｃに押し当てることで、補正環６ｂを確実に回転させ、補正環調整を行うことができる。
【００７８】
なお、上述した実施の形態の形態では、操作部材のローレットが対物レンズの補正環のローレットに正確に当接するように、回動アームの開口の中心位置とねじ部の中心位置との距離が決められていたが、例えば回転部材のローレットの幅を補正環のローレットの幅より広めに設定することで、例えば対物レンズごとに補正環の位置が光軸方向で異なっていたとしても適用することができる。
【００７９】
また、上述した実施の形態では、回動アームを回転支持軸を中心に時計方向に回動して操作部材を対物レンズの補正環から離間するようにしていたが、例えばバネなどの弾性部材の伸縮力を利用し、回動アームが回転支持軸を中心に時計方向に回動する方向に力が働くようにすることで、補正環を操作する時以外は、操作部材を対物レンズの補正環から離間させるようにすることもできる。
【００８０】
また、上述した実施の形態では、回動アームを用いて説明したが、これらに限られるものではなく、以下に示すように、例えば回動アームを用いないで補正環を操作したり、または操作部材を対物レンズの補正環に押し付けるようにして操作してもよく、第１の実施の形態と同様な効果を奏することができる。
【００８１】
以下に、図７、図８を用いて上記変形例をそれぞれの構成を簡単に説明する。
【００８２】
図７に示す試料支持装置では、固定台５の上側端面５ｅに設けられた軸３３の側面３３ａと嵌合する長穴３４ａを有するリング３４と、このリング３４の外周３４ｂと嵌合する内径３５ａを有するリング３５とから構成され、さらにリング３５の外周３５ｂが対物レンズ６のローレット６ｃと噛合可能となっている点が、第１の実施の形態と異なっている。この場合、リング３４は、軸３３に対して対物レンズ６の中心方向に移動可能に構成され、リング３５は、リング３４を回転軸として回転可能になっている。
【００８３】
一方、図８に示す試料支持装置では、固定台５の上側端面５ｅに設けられた軸３７と、この軸３７と嵌合する長穴３６ａを有する角棒３６とから構成され、角棒３６は、長穴３６ａの長手方向に沿った方向に移動可能であるとともに、軸３７を中心軸として旋回可能に構成され、さらに角棒３６の側面３６ｂが対物レンズ６のローレット６ｃと噛合可能となっている点が、第１の実施の形態と異なっている。
【００８４】
また、第２の実施の形態では、ゴムリングにゴム硬度３０程度のシリコンを用いたが、これに限るものではない。
【００８５】
その他、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。
【００８６】
さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
【００８７】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、補正環付き対物レンズの補正環を簡単に回転操作でき、しかも異なる直径の補正環を持つ対物レンズにも適用できる補正環調整機能を有する試料保持装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態が適用される倒立型顕微鏡の概略構成を示す図。
【図２】第１の実施の形態に用いられる試料支持装置の概略構成を示す図。
【図３】第１の実施の形態に用いられる試料支持装置の一部横断面を示す図。
【図４】第１の実施の形態に用いられる試料支持装置の一部横断面を示す図。
【図５】本発明の第２の実施の形態に用いられる試料支持装置の一部横断面を示す図。
【図６】第２の実施の形態に用いられる試料支持装置の一部横断面を示す図。
【図７】本発明の変形例の要部の概略構成を示す図。
【図８】本発明の他の変形例の要部の概略構成を示す図。
【符号の説明】
１…顕微鏡本体、２…ステージ、３…レボルバ、３ａ…穴部
４…試料支持装置、５…固定台、５ａ…小径部、５ｂ…対物ねじ部
５ｃ、５ｄ、５ｆ…ねじ部、５ｅ…上側端面、６…対物レンズ
６ａ…ねじ部、６ｂ…補正環、６ｃ…ローレット、７…操作環
７ａ…底部、８…試料保持台、８ａ…ガイド穴、８ｂ…開口部、
８ｃ…折り曲げ部、９…ピン、１０…マグネット、１１…試料台、
１１ａ…観察用穴部、１２…試料、１３…準焦ハンドル、１４…接眼レンズ
１５…保持軸、１５ａ…ねじ部、１５ｂ…フランジ部
１６ａ、１６ｂ…ワッシャ、１７…回動アーム、１７ａ…開口
１８ａ…波ワッシャ、１８…回転支持軸、１８ａ…ねじ部
１８ｂ…フランジ部、１９…操作部材、１９ａ…開口部、１９ｂ…溝部
１９ｃ…ローレット、２０…ワッシャ、３１…操作板、３２…ゴムリング[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a sample support device having a correction ring adjustment function that enables stable observation of a sample over time.
[0002]
[Prior art]
In general, sample observation using a microscope is performed by bringing an objective lens closer to a sample placed on a microscope stage and enlarging an observation main part on the sample. In this case, since the focal depth of the objective lens close to the sample decreases as the magnification increases, it is difficult to align the objective lens and the observation sample, and the distance between the objective lens and the sample is minutely changed. In addition, the observed image is greatly deteriorated.
[0003]
On the other hand, the apparent positions of the objective lens and the observation sample are very close to each other. However, these mechanical coupling lengths include many mechanical parts such as a microscope frame, an objective lens moving mechanism, and a revolver. So very big. Since these machine parts easily change their dimensions due to temperature changes, the larger the number of these machine parts, the larger the dimensional change, and the greater the number of machine parts, the greater the mechanical coupling length. It is weak against vibration and the vibration amplitude becomes large.
[0004]
For this reason, even if the objective lens is focused on the observed sample during sample observation, for example, if the ambient temperature changes due to illumination on / off or internal power supply and air conditioning equipment operation, the dimensions of each machine part change. In addition, since the distance between the objective lens and the sample greatly changes, the focus is easily shifted, and the alignment accuracy between the objective lens and the observation sample is lowered.
[0005]
Therefore, conventionally, in order to stably observe the sample, as disclosed in Patent Document 1, the objective lens is provided with a position adjusting means including a fixed base, an operating ring and a sample holding base, and this position adjustment is performed. By rotating the operation ring of the means, the sample holder is moved in the optical axis direction of the objective lens along the guide hole through which the detent pin is inserted, and the relative position of the objective lens and the observation sample is adjusted, A sample support device having a focus mechanism designed to increase the alignment accuracy between them is considered.
[0006]
According to such a sample support device, the mechanical length between the objective lens and the slide glass (sample) placed on the sample holding table is determined only by the fixing table, the operation ring, and the sample holding table as position adjusting means. Because it can be set very short, even if the ambient temperature changes, the position of the focal point of the sample and the objective lens hardly changes, and it is not affected by external vibration, so it is always stable. Observations can be made.
[0007]
By the way, some objective lenses include a correction ring having a correction function for correcting deterioration of appearance due to a difference in thickness of a cover glass of a specimen.
[0008]
An objective lens equipped with such a correction ring needs to be able to easily adjust the correction ring by operating the correction ring from outside.
[0009]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Application No. 2001-110469
[0010]
[Patent Document 2]
Japanese Utility Model Publication No. 3-58611
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the sample holding device disclosed in Patent Document 1, since each component of the position adjusting means is arranged so as to cover the entire periphery of the objective lens, it is impossible to rotate and adjust the correction ring of the objective lens at all. There was a problem.
[0012]
As disclosed in Patent Document 2, as an optical element whose periphery is covered can be rotated and adjusted from the outside, at least two annular gears having the same number of teeth are meshed with each other. One of the optical elements protrudes to the outside, and an optical element located inside that requires rotation adjustment can be rotated by a rotating operation of a gear partially protruding to the outside.
[0013]
However, since the rotation center shaft of each gear is fixed in the one disclosed in Patent Document 2, when this idea is applied to the above-described sample holding device, for example, it has a correction ring having a different diameter. If it is intended to apply to a simple objective lens, it may be impossible to adjust the correction ring at all.
[0014]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has a correction ring adjustment function that can be easily rotated from the outside of the correction ring of an objective lens with a correction ring and that can be applied to an objective lens having a correction ring of a different diameter. It is an object of the present invention to provide a sample holding device having the same.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
The invention according to claim 1 is a sample support device comprising an objective lens having a correction ring, and a position adjusting means provided on the outer periphery of the objective lens, wherein the observation sample is movable in the optical axis direction of the objective lens. An opening provided on a side surface of the position adjusting unit corresponding to the objective lens, and an operation unit disposed inside the opening and provided so as to be in contact with a correction ring of the objective lens. The correction ring can be rotated from the outside of the opening via the operation means while the operation means is in contact with the correction ring.
[0016]
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the operation means is rotatably supported by a rotating arm having a base end portion rotatably supported and a distal end portion of the rotating arm. A disc-shaped operation member whose peripheral portion can be brought into contact with the correction ring of the objective lens by the rotation of the rotation arm, and the operation member is corrected by the rotation of the rotation arm. It is characterized in that the correction ring can be rotated from the outside of the opening via the operation member in a state of being in contact with the ring.
[0017]
A third aspect of the invention is characterized in that, in the second aspect of the invention, a part of the operation member protrudes outside the opening in a state of being in contact with the correction ring.
[0018]
According to a fourth aspect of the present invention, in the invention according to the second or third aspect, the operation member is formed with a knurl having the same pitch so as to be engaged with the knurl of the correction ring at a peripheral portion contacting the correction ring. It is characterized by being.
[0019]
The invention of claim 5 is characterized in that, in the invention of claim 2 or 3, the operating member is provided with an elastic member at a peripheral edge portion in contact with the correction ring.
[0020]
According to a sixth aspect of the invention, in the fifth aspect of the invention, the elastic member is a rubber ring.
[0021]
A seventh aspect of the present invention is a microscope comprising the sample support device according to any one of the first to sixth aspects.
[0022]
As a result, according to the present invention, the operation ring is brought into contact with the correction ring of the objective lens, and the correction ring can be rotated by operating this operation means from the outside. Easy to rotate from outside.
[0023]
Further, according to the present invention, the operation means is configured such that the disc-shaped operation member is rotatably supported at the distal end portion of the rotation arm whose base end portion is rotatably supported. Since the correction ring can be operated by rotating the operation member in a state where the operation member is in contact with the correction ring of the objective lens, it can be applied to an objective lens having a correction ring with a different diameter without any problem.
[0024]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0025]
(First embodiment)
FIG. 1 shows a schematic configuration of an inverted microscope to which the sample support apparatus of the present invention is applied. In the figure, reference numeral 1 denotes a microscope main body, and a stage 2 is provided on the microscope main body 1.
[0026]
A revolver 3 is disposed below the stage 2. The revolver 3 is provided with a sample support device 4 of the present invention.
[0027]
2 shows a schematic configuration of the sample support device 4, and is a partial cross-sectional view of the inverted microscope shown in FIG. 1 as viewed from the direction indicated by the arrow A (front side of the microscope). FIGS. It is the cross-sectional view seen from the arrow direction.
[0028]
In this case, the sample support device 4 includes a fixed base 5, an operation ring 7, and a sample holding base 8 that constitute position adjusting means. The fixed base 5 has a cylindrical shape, a small diameter portion 5a is formed at one opening end portion, and an objective screw portion 5b is formed on a peripheral surface of the small diameter portion 5a. The objective screw portion 5 b is screwed into the objective mounting hole portion 3 a of the revolver 3. A screw portion 5 c is also formed on the inner peripheral surface of the one opening portion of the fixed base 5. A screw portion 6a of the objective lens 6 is screwed into the screw portion 5c, and the objective lens 6 is integrally fixed on the axis of the hollow portion of the fixing base 5. The objective lens 6 has a correction function for correcting deterioration of image appearance due to a thickness error of a slide glass (sample) 12 described later, and a correction ring 6b for adjusting this function is provided. . A knurl 6c (see FIG. 3) is formed on the peripheral surface of the correction ring 6b.
[0029]
A screw portion 5 d is formed on the outer peripheral surface of the fixed base 5.
[0030]
An operation ring 7 is provided on the fixed base 5. The operation ring 7 has a cylindrical shape having a bottom portion 7 a, a screw portion 7 b is formed at the center of the bottom portion 7 a, and the screw portion 7 b is screwed into the screw portion 5 d of the fixed base 5. By rotating the operation ring 7, the entire operation ring 7 can be moved up and down along the screw portion 5 d, that is, along the optical axis Q direction of the objective lens 6.
[0031]
A sample holder 8 is provided on the operation ring 7. The sample holding table 8 has a cylindrical shape, and one open end is inserted between the operation ring 7 and the fixed table 5 and is in contact with the bottom 7a by its own weight.
[0032]
A guide hole 8 a is formed in the sample holder 8 along the moving direction of the operation ring 7. An anti-rotation pin 9 planted on the peripheral surface of the fixed base 5 is inserted into the guide hole 8a. Thereby, the sample holder 8 is guided by the guide hole 8 a by the rotation operation of the operation ring 7, and can move along the optical axis Q direction of the objective lens 6 together with the operation ring 7.
[0033]
The other opening end of the sample holder 8 is bent in the central axis direction. A magnet 10 is provided on the bent portion 8c.
[0034]
A sample stage 11 made of magnetically-adsorbed stainless steel is disposed on the bent portion 8 c of the sample holder 8 so as to be attracted to the magnet 10.
[0035]
The sample stage 11 has an observation hole 11 a formed at a position corresponding to the optical axis Q of the objective lens 6. A slide glass (sample) 12 is placed on the observation hole 11a.
[0036]
On the other hand, as shown in FIG. 3 (FIG. 4), an opening 8 b is formed on the side surface of the sample holder 8.
[0037]
A correction ring adjusting mechanism for adjusting the correction ring 6b of the objective lens 6 is provided inside the opening 8b.
[0038]
In this case, a screw portion 5 f is formed on the upper end surface 5 e of the fixed base 5. A holding shaft 15 is provided on the screw portion 5f.
[0039]
The holding shaft 15 is provided with a threaded portion 15a at the base end portion and a flange portion 15b at the distal end portion. The holding shaft 15 is provided upright on the upper end surface 5e of the fixing base 5 by screwing the screw part 15a into the screw part 5f on the fixing base 5 side, and is parallel to the optical axis Q of the objective lens 6. Has an axis.
[0040]
The holding shaft 15 holds the base end portion of the rotating arm 17 so as to be rotatable. The rotating arm 17 has an opening 17a at the base end, and the holding shaft 15 is inserted through the opening 17a. A hollow disc-shaped washer 16 a (made of polyacetal) is inserted between the upper end surface 5 e of the fixed base 5 and the rotating arm 17, and a hollow is formed between the flange portion 15 b and the rotating arm 17. A disc-shaped washer 16b (made of polyacetal) and a wave washer 18a (made of metal) are interposed.
[0041]
In this case, the wave washer 18a is appropriately crushed so as to be smaller than the dimension in the natural thickness direction. Thereby, the rotating arm 17 is held with a predetermined frictional force with respect to the holding shaft 15.
[0042]
The distal end portion of the rotating arm 17 is disposed so as to face the opening 8 b of the sample holder 8. A screw portion 17b is provided at the tip portion. A rotation support shaft 18 is provided on the screw portion 17b.
[0043]
The rotation support shaft 18 is provided with a threaded portion 18a at the base end portion and a flange portion 18b at the distal end portion. The rotation support shaft 18 is provided upright at the tip of the rotation arm 17 by screwing the screw portion 18a into the screw portion 17b on the rotation arm 17 side, and is parallel to the optical axis Q of the objective lens 6. It has a central axis.
[0044]
A disk-like operation member 19 is rotatably provided on the rotation support shaft 18. The operation member 19 has an opening 19a at the center, and a groove 19b is formed along the peripheral edge of the opening 19a. A knurling 19c (see FIG. 3) having the same pitch as the knurling 6c of the correction ring 6b is also formed on the peripheral surface of the operation member 19.
[0045]
A rotation support shaft 18 is inserted through the opening 19 a of the operation member 19. In this case, the flange portion 18 b of the rotation support shaft 18 is accommodated in the groove portion 19 b of the operation member 19. A hollow disk-shaped washer 20 (made of polyacetal) is interposed between the rotating arm 17 and the operation member 19.
[0046]
In this case, the operating member 19 is determined by the sum of the thickness of the washer 16a, the rotating arm 17, the washer 20, and the operating member 19 at the height position of the upper end surface 5e of the fixed base 5 in the optical axis Q direction. Is adjusted so that the height position in the optical axis Q direction coincides with the position of the correction ring 6 b of the objective lens 6. The operation member 19 is rotatable about the holding shaft 15 together with the rotation arm 17 in a state where the operation member 19 is supported rotatably about the rotation support shaft 18 of the rotation arm 17. At this time, the distance between the center position of the opening 17a of the rotating arm 17 and the center position of the screw portion 17b is determined so that the knurling 19c of the operation member 19 accurately contacts the knurling 6c of the correction ring 6b of the objective lens 6. It has been.
[0047]
Further, the operation member 19 is in a state where the knurl 19c is engaged with the knurl 6c of the correction ring 6b of the objective lens 6 (see FIG. 4), and the knurl 19c portion is slightly outside from the opening 8b of the sample holder 8. The correction ring 6b of the objective lens 6 can be rotated by projecting and rotating the operation member 19 by pressing the fingertip against the knurled portion 19c.
[0048]
Returning to FIG. 1, the microscope main body 1 is provided with a semi-focus handle 13. The semi-focus handle 13 is rotated so that the revolver 3 to which the sample support device 4 is attached can be moved in the vertical direction.
[0049]
In this state, an observation image of the slide glass (sample) 12 placed on the sample stage 11 of the sample support device 4 is projected onto an observation optical system (not shown) inside the microscope main body 1 via the objective lens 6 to obtain an eyepiece. 14 can be observed.
[0050]
Next, the operation of the first embodiment configured as described above will be described.
[0051]
First, the semi-focus handle 13 is operated to move the revolver 3 downward, and the revolver 3 is rotated to be positioned on the optical path of the sample support device 4 having the objective lens 6 having a desired magnification. In the state where the revolver 3 is moving downward, the sample table 11 is released from the adsorption of the magnet 10 of the sample holding table 8 and is separated from the sample support device 4 and is left on the stage 2 of the microscope body 1. ing.
[0052]
Next, the semi-focus handle 13 is operated to move the revolver 3 upward, the sample support device 4 positioned on the optical path is moved upward, and the sample table 11 is moved to the magnet 10 of the sample holding table 8. Adsorb.
[0053]
Then, the operation ring 7 is rotated to align the slide glass (sample) 12 with the focal point of the objective lens 6. In this case, when the operation ring 7 is rotated, the operation ring 7 is moved along the optical axis direction of the objective lens 6 by the pitch of the screw portion 5d of the fixed base 5, and the sample holder 8 is also guided along with the operation ring 7. It is moved in the optical axis direction of the objective lens 6 while being guided by the hole 8a. As a result, the sample table 11 adsorbed to the sample holding table 8 via the magnet 10 moves together with the sample holding table 8, and the relative positional relationship between the slide glass (sample) 12 and the objective lens 6 is changed, and the slide glass is changed. The focal point of the (sample) and the objective lens 6 can be matched.
[0054]
According to the sample support device 4 configured as described above, the mechanical coupling length between the objective lens 6 and the slide glass (sample) 12 is limited to the fixed base 5 as the focus mechanism, the operation ring 7 and the sample holding base 8 only. Since the operating ring 7 is rotated to align the focus of the slide glass (sample) 12 and the objective lens 6, the slide glass (even if the ambient temperature changes) is determined. The alignment of the focal points of the (sample) 12 and the objective lens 6 hardly changes, and is not affected by external vibrations, so that stable sample observation can always be performed.
[0055]
In such a sample support device 4, when the spectrographer pushes the operation member 19 with the fingertip from a state where the operation member 19 is separated from the correction ring 6 b of the objective lens 6 as shown in FIG. 4 rotates counterclockwise about the rotation support shaft 18, whereby the knurl 19c of the operating member 19 can be engaged with the knurl 6c of the correction ring 6b of the objective lens 6 as shown in FIG.
[0056]
When the operation member 19 is rotated from this state, the correction ring 6b is rotated in either the clockwise direction or the counterclockwise direction depending on the rotation direction of the operation member 19 in a state where the knurling 19c and the knurling 6c are engaged with each other. Can be adjusted. Then, by rotating and adjusting the correction ring 6b in this way, it is possible to correct image appearance degradation due to an error in the thickness of the slide glass (sample) 12 of the objective lens 6.
[0057]
Next, when the objective lens 6 is exchanged with another objective lens having a correction ring having a different diameter, the slide glass (sample) 12, the sample stage 11, and the sample holding stage 8 are removed in order and further rotated. The arm 17 is rotated clockwise around the rotation support shaft 18 to separate the operation member 19 from the correction ring 6b of the objective lens 6 as shown in FIG.
[0058]
In this state, the objective lens 6 fixed to the fixed base 5 is removed, and another objective lens having a correction ring having a different diameter is fixed. Here, for convenience of explanation, the other objective lenses are also denoted by the same reference numerals as those of the objective lens 6 described above.
[0059]
After the sample holder 8, the sample table 11, and the slide glass (sample) 12 are mounted in this order, when the spectroscope again presses the operation member 19 with the fingertip, the rotating arm 17 is turned around the rotation support shaft 18. By rotating clockwise, the knurl 19c of the operation member 19 can be engaged with the knurl 6c of the correction ring 6b of the objective lens 6 as shown in FIG.
[0060]
When the operation member 19 is rotated from this state, the correction ring 6b is rotated in either the clockwise direction or the counterclockwise direction depending on the rotation direction of the operation member 19 in a state where the knurling 19c and the knurling 6c are engaged with each other. Can be adjusted.
[0061]
Accordingly, by doing so, the correction ring 16b can be rotated by bringing the disk-shaped operation member 19 into contact with the correction ring 6b of the objective lens 6 and operating the operation member 19 from the outside. The correction ring of the objective lens with the correction ring can be easily operated from the outside, and the correction ring can be adjusted.
[0062]
The disc-shaped operation member 19 is rotatably supported at the distal end portion of the rotation arm 17 whose base end portion is rotatably supported, and the operation member 19 is moved to the objective lens by the rotation of the rotation arm 17. Since the correction ring 6b can be operated by rotating the operating member 19 in a state where it is in contact with the correction ring 6b, it can be applied to an objective lens having a correction ring with a different diameter without any problem.
[0063]
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described.
[0064]
In this case, the schematic configurations of the inverted microscope to which the present invention is applied and the sample support device applied to the inverted microscope are the same as those in FIGS. 1 and 2 described above, and therefore, these drawings are incorporated.
[0065]
5 and 6 show the schematic configuration of the main part of the second embodiment, and the same parts as those in FIGS. 3 and 4 are denoted by the same reference numerals.
[0066]
In this case, a disk-shaped operation plate 31 is rotatably provided on the rotation support shaft 18. The operation plate 31 also has an opening (not shown) at the center, and the rotation support shaft 18 is inserted through the opening.
[0067]
The operation plate 31 is provided with a rubber ring 32 as an elastic member along the outer peripheral edge. For the rubber ring 32, silicon rubber having a rubber hardness of about 30 is used.
[0068]
In this case as well, the operation plate 31 is in a state where the rubber ring 32 is in contact with the knurl 6c of the correction ring 6b of the objective lens 6 (see FIG. 6), and the rubber ring 32 portion extends from the opening 8b of the sample holder 8. The correction ring 6b of the objective lens 6 can be rotated by slightly projecting to the outside and rotating the operation plate 31 by pressing the fingertip against the rubber ring 32 portion.
[0069]
Others are the same as FIG. 3 and FIG.
[0070]
Next, the embodiment configured as described above will be described.
[0071]
With respect to such a sample support device 4 as well, when the spectroscope presses the rubber ring 32 portion with the fingertip from the state in which the operation plate 31 is separated from the correction ring 6b of the objective lens 6 as shown in FIG. By rotating the arm 17 counterclockwise about the rotation support shaft 18, the rubber ring 32 of the operation plate 31 can be brought into contact with the knurl 6 c of the correction ring 6 b of the objective lens 6 as shown in FIG. 6. it can.
[0072]
When the operation plate 31 is rotated from this state, a frictional force acts between the rubber ring 32 and the knurl 6c, and the correction ring 6b is moved clockwise or counterclockwise depending on the rotation direction of the operation plate 31. The rotation can be adjusted in the direction of. Then, by such rotation adjustment of the correction ring 6b, it is possible to correct the deterioration of the appearance of the image due to the error in the thickness of the slide glass (sample) 12 of the objective lens 6.
[0073]
Next, when the objective lens 6 is exchanged with another objective lens having a correction ring having a different diameter, the slide glass (sample) 12, the sample stage 11, and the sample holder 8 shown in FIG. Further, the rotation arm 17 is rotated clockwise around the rotation support shaft 18 to separate the operation plate 31 from the correction ring 6b of the objective lens 6 as shown in FIG.
[0074]
In this state, the objective lens 6 fixed to the fixed base 5 is removed, and another objective lens having a correction ring having a different diameter is fixed. Here, for convenience of explanation, the other objective lenses are also denoted by the same reference numerals as those of the objective lens 6 described above.
[0075]
After the sample holder 8, the sample table 11, and the slide glass (sample) 12 are mounted in this order, when the spectroscope again presses the rubber ring 32 portion with the fingertip, the rotating arm 17 is centered on the rotation support shaft 18. By rotating counterclockwise, the rubber ring 32 portion of the operation plate 31 can be brought into contact with the knurl 6c of the correction ring 6b of the objective lens 6 as shown in FIG.
[0076]
When the operation plate 31 is rotated from this state, a frictional force acts between the rubber ring 32 and the knurl 6c, and the correction ring 6b is moved clockwise or counterclockwise depending on the rotation direction of the operation plate 31. The rotation can be adjusted in the direction of.
[0077]
Even with such a configuration, the same effect as that of the first embodiment can be expected. Further, since the rubber ring 32 portion of the operation plate 31 is brought into contact with the knurl 6c of the correction ring 6b, even when the objective lens 6 having the correction ring 6b having the knurls 6c having different pitches is mounted, By pressing the rubber ring 32 against the knurl 6c, the correction ring 6b can be reliably rotated and the correction ring can be adjusted.
[0078]
In the embodiment described above, the distance between the center position of the opening of the rotating arm and the center position of the screw portion is determined so that the knurling of the operation member accurately contacts the knurling of the correction ring of the objective lens. However, for example, by setting the width of the knurl of the rotating member wider than the width of the knurl of the correction ring, it can be applied even if the position of the correction ring differs in the optical axis direction for each objective lens, for example. it can.
[0079]
In the above-described embodiment, the rotation arm is rotated clockwise about the rotation support shaft so as to separate the operation member from the correction ring of the objective lens. However, for example, an elastic member such as a spring is used. By using the expansion and contraction force, the operating arm is operated in the clockwise direction around the rotation support shaft, so that the operation member can be used as the correction ring of the objective lens except when the correction ring is operated. It can also be made to move away from.
[0080]
Further, in the above-described embodiment, the description has been given using the rotating arm, but the present invention is not limited to these, and as shown below, for example, the correction ring is operated or operated without using the rotating arm. The member may be operated so as to be pressed against the correction ring of the objective lens, and the same effect as in the first embodiment can be obtained.
[0081]
Hereinafter, the configuration of each of the modified examples will be briefly described with reference to FIGS. 7 and 8.
[0082]
In the sample support device shown in FIG. 7, a ring 34 having a long hole 34 a that fits with a side surface 33 a of a shaft 33 provided on the upper end surface 5 e of the fixed base 5, and an inner diameter 35 a that fits with an outer periphery 34 b of the ring 34. The second embodiment is different from the first embodiment in that the outer periphery 35b of the ring 35 can be engaged with the knurl 6c of the objective lens 6. In this case, the ring 34 is configured to be movable in the central direction of the objective lens 6 with respect to the shaft 33, and the ring 35 is rotatable about the ring 34 as a rotation axis.
[0083]
On the other hand, in the sample support apparatus shown in FIG. 8, it is comprised from the axis | shaft 37 provided in the upper end surface 5e of the fixed stand 5, and the square bar 36 which has the long hole 36a fitted to this axis | shaft 37, In addition to being movable in a direction along the longitudinal direction of the long hole 36 a, it is configured to be rotatable about the shaft 37, and the side surface 36 b of the square bar 36 can be engaged with the knurl 6 c of the objective lens 6. This is different from the first embodiment.
[0084]
In the second embodiment, silicon having a rubber hardness of about 30 is used for the rubber ring, but the present invention is not limited to this.
[0085]
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, In the implementation stage, it can change variously in the range which does not change the summary.
[0086]
Furthermore, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent requirements are deleted from all the constituent requirements shown in the embodiment, the problem described in the column of the problem to be solved by the invention can be solved, and is described in the column of the effect of the invention. If the above effect is obtained, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.
[0087]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, there is provided a sample holding device having a correction ring adjustment function that can easily rotate a correction ring of an objective lens with a correction ring and can be applied to an objective lens having a correction ring of a different diameter. Can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an inverted microscope to which a first embodiment of the present invention is applied.
FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of a sample support device used in the first embodiment.
FIG. 3 is a partial cross-sectional view of the sample support device used in the first embodiment.
FIG. 4 is a partial cross-sectional view of the sample support device used in the first embodiment.
FIG. 5 is a partial cross-sectional view of a sample support device used in a second embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a partial cross-sectional view of a sample support device used in a second embodiment.
FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a main part of a modified example of the present invention.
FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a main part of another modification of the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Microscope main body, 2 ... Stage, 3 ... Revolver, 3a ... Hole
4 ... Sample support device, 5 ... Fixing base, 5a ... Small diameter part, 5b ... Objective screw part
5c, 5d, 5f ... threaded portion, 5e ... upper end surface, 6 ... objective lens
6a ... Screw part, 6b ... Correction ring, 6c ... Knurling, 7 ... Operation ring
7a ... bottom, 8 ... sample holder, 8a ... guide hole, 8b ... opening,
8c ... bent portion, 9 ... pin, 10 ... magnet, 11 ... sample stage,
11a ... Hole for observation, 12 ... Sample, 13 ... Semi-focus handle, 14 ... Eyepiece
15 ... Holding shaft, 15a ... Screw part, 15b ... Flange part
16a, 16b ... Washers, 17 ... Rotating arm, 17a ... Opening
18a ... Wave washer, 18 ... Rotation support shaft, 18a ... Screw part
18b ... Flange, 19 ... Operation member, 19a ... Opening, 19b ... Groove
19c ... Knurling, 20 ... Washer, 31 ... Operation plate, 32 ... Rubber ring

Claims

In a sample support device having an objective lens having a correction ring, and a position adjusting means provided on the outer periphery of the objective lens and capable of moving the observation sample in the optical axis direction of the objective lens.
An opening provided on a side surface corresponding to the side surface of the objective lens of the position adjusting means;
Operating means disposed inside the opening and provided so as to be able to come into contact with the correction ring of the objective lens, and in a state in which the operation means is in contact with the correction ring, the outside of the opening A sample support apparatus provided with a correction ring adjustment mechanism, wherein the correction ring is rotatable via the operation means.

The operation means includes
A pivot arm whose base end is pivotally supported, and a pivot arm supported rotatably at the distal end of the pivot arm, and a peripheral edge abuts the correction ring of the objective lens by the pivot of the pivot arm. A disc-shaped operation member made possible;
The correction ring can be rotated from the outside of the opening via the operation member in a state where the operation member is in contact with the correction ring by the rotation of the rotation arm. 2. The sample support apparatus according to 1.

3. The sample support device according to claim 2, wherein a part of the operation member protrudes outside the opening in a state where the operation member is in contact with the correction ring.

4. The sample support device according to claim 2, wherein the operation member is formed with knurls having the same pitch so as to mesh with the knurls of the correction ring at a peripheral edge portion in contact with the correction ring.

4. The sample support device according to claim 2, wherein the operation member is provided with an elastic member at a peripheral edge portion in contact with the correction ring.

6. The sample support device according to claim 5, wherein the elastic member is a rubber ring.

A microscope comprising the sample support device according to claim 1.