JPH1164283A - 大気圧レーザーイオン化質量分析装置及び方法 - Google Patents
大気圧レーザーイオン化質量分析装置及び方法Info
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- JPH1164283A JPH1164283A JP9225927A JP22592797A JPH1164283A JP H1164283 A JPH1164283 A JP H1164283A JP 9225927 A JP9225927 A JP 9225927A JP 22592797 A JP22592797 A JP 22592797A JP H1164283 A JPH1164283 A JP H1164283A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 少量の液体試料に適用可能な大気圧下でのレ
ーザーイオン化法を提供する。 【解決手段】 大気圧下、液体試料を冷却することによ
って凍結固化ないし高粘性化させ、その試料にレーザー
光を照射することによって試料を気化ないしイオン化す
るようにした。
ーザーイオン化法を提供する。 【解決手段】 大気圧下、液体試料を冷却することによ
って凍結固化ないし高粘性化させ、その試料にレーザー
光を照射することによって試料を気化ないしイオン化す
るようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、質量分析装置にお
ける試料のイオン化法、特に、大気圧下でのレーザーイ
オン化法に関する。
ける試料のイオン化法、特に、大気圧下でのレーザーイ
オン化法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ペプチドやＤＮＡを質量分析計で
質量分析する場合、ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ(Matrix Assis
ted Laser Desorption/Ionization-Time Of Fligh
t)法が用いられてきた。これは、ペプチドやＤＮＡ等の
試料を緩衝剤と混ぜてドロリとした粘稠な液体を調製
し、緩衝剤のマトリックス中に試料分子を担持させた状
態でレーザー光を照射して質量分析を行なう方法であ
る。
質量分析する場合、ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ(Matrix Assis
ted Laser Desorption/Ionization-Time Of Fligh
t)法が用いられてきた。これは、ペプチドやＤＮＡ等の
試料を緩衝剤と混ぜてドロリとした粘稠な液体を調製
し、緩衝剤のマトリックス中に試料分子を担持させた状
態でレーザー光を照射して質量分析を行なう方法であ
る。
【０００３】図１は、ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ法を模式的に
示したものである。この方法では、緩衝剤と試料の混合
物４を真空中のサンプルスライド３上に少量付着させ、
そこに集光レンズ２で集光されたレーザー１のレーザー
光を照射して、試料を気化させている。気化された試料
イオンは、イオン加速器５で加速される。そして、イオ
ンが検出器６に到達するまでの飛行時間が質量ごとに異
なることを利用することによって、イオンの質量を分析
している。
示したものである。この方法では、緩衝剤と試料の混合
物４を真空中のサンプルスライド３上に少量付着させ、
そこに集光レンズ２で集光されたレーザー１のレーザー
光を照射して、試料を気化させている。気化された試料
イオンは、イオン加速器５で加速される。そして、イオ
ンが検出器６に到達するまでの飛行時間が質量ごとに異
なることを利用することによって、イオンの質量を分析
している。
【０００４】ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ法の場合、高粘性の試
料が極少量あれば十分であり、この方法で液体クロマト
グラフィの溶離液のような低粘性の試料を多量に取り扱
うことは困難である。また、ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ法で
は、真空中のレーザーイオン源に液体試料を連続的に導
入することも容易でない。
料が極少量あれば十分であり、この方法で液体クロマト
グラフィの溶離液のような低粘性の試料を多量に取り扱
うことは困難である。また、ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ法で
は、真空中のレーザーイオン源に液体試料を連続的に導
入することも容易でない。
【０００５】一方、液体試料を大気圧下でイオン化させ
る方法としては、ＴＳＰ（サーモスプレイ）法やＥＳＩ
（エレクトロスプレイ）法が従来法としてあるが、これ
らは液体試料を霧化するための機構であり、試料の消費
量が多いという欠点を持つ。
る方法としては、ＴＳＰ（サーモスプレイ）法やＥＳＩ
（エレクトロスプレイ）法が従来法としてあるが、これ
らは液体試料を霧化するための機構であり、試料の消費
量が多いという欠点を持つ。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の技術は、真空中で極少量の高粘性試料を質量分析す
るための方法、あるいは、大気中で多量の液体試料を霧
化ないしイオン化するための方法であって、これらの方
法を大気圧下、比較的少量の液体試料に対して適用する
ことはできなかった。
来の技術は、真空中で極少量の高粘性試料を質量分析す
るための方法、あるいは、大気中で多量の液体試料を霧
化ないしイオン化するための方法であって、これらの方
法を大気圧下、比較的少量の液体試料に対して適用する
ことはできなかった。
【０００７】本発明の目的は、上述した点に鑑み、比較
的少量の液体試料で効率的に質量分析できる、大気圧下
でのレーザーイオン化法を提供することにある。
的少量の液体試料で効率的に質量分析できる、大気圧下
でのレーザーイオン化法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の大気圧レーザーイオン化質量分析装置は、
液体試料にレーザー光を照射するための集光系と、レー
ザー光照射によって液体試料を気化させるための試料セ
ルと、液体試料を冷却するための試料ホルダと、気化し
た液体試料を脱溶媒するための冷却部と、脱溶媒された
液体試料をイオン化するための二次イオン化室と、試料
イオンを質量分析する質量分析計とから成ることを特徴
としている。
め、本発明の大気圧レーザーイオン化質量分析装置は、
液体試料にレーザー光を照射するための集光系と、レー
ザー光照射によって液体試料を気化させるための試料セ
ルと、液体試料を冷却するための試料ホルダと、気化し
た液体試料を脱溶媒するための冷却部と、脱溶媒された
液体試料をイオン化するための二次イオン化室と、試料
イオンを質量分析する質量分析計とから成ることを特徴
としている。
【０００９】また、本発明の大気圧レーザーイオン化質
量分析法は、大気圧下、液体試料を冷却することによっ
て凍結固化ないし高粘性化させ、その試料にレーザー光
を照射することによって試料を気化ないしイオン化する
ようにしたことを特徴としている。
量分析法は、大気圧下、液体試料を冷却することによっ
て凍結固化ないし高粘性化させ、その試料にレーザー光
を照射することによって試料を気化ないしイオン化する
ようにしたことを特徴としている。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図２は本発明の一実施例である。
液体試料７の入った試料セル８は、レーザー光を照射す
るための集光系９の直下に置かれている。集光されたレ
ーザー光が試料セル８に照射されている様子を観測する
ための観測系１０は、集光系９から横方向に枝分かれし
て延びている。レーザー光照射によって気化した液体試
料７を脱溶媒するための冷却部１１は、試料セル８の隣
に置かれている。脱溶媒された液体試料７をイオン化す
るための二次イオン化室１２は、さらに冷却部１１の隣
に置かれている。イオン化された試料の質量を分析する
ための質量分析計１３は、さらに二次イオン化室１２の
隣に置かれている。
施の形態を説明する。図２は本発明の一実施例である。
液体試料７の入った試料セル８は、レーザー光を照射す
るための集光系９の直下に置かれている。集光されたレ
ーザー光が試料セル８に照射されている様子を観測する
ための観測系１０は、集光系９から横方向に枝分かれし
て延びている。レーザー光照射によって気化した液体試
料７を脱溶媒するための冷却部１１は、試料セル８の隣
に置かれている。脱溶媒された液体試料７をイオン化す
るための二次イオン化室１２は、さらに冷却部１１の隣
に置かれている。イオン化された試料の質量を分析する
ための質量分析計１３は、さらに二次イオン化室１２の
隣に置かれている。
【００１１】これらのうち、試料セル８、冷却部１１、
二次イオン化室１２、及び、質量分析計１３の間は、ガ
スの流路で連通されていて、試料セル８で生成した微粒
子状の試料は、キャリアーガスによって冷却部１１、二
次イオン化室１２を経て、質量分析計１３まで運ばれる
構造になっている。
二次イオン化室１２、及び、質量分析計１３の間は、ガ
スの流路で連通されていて、試料セル８で生成した微粒
子状の試料は、キャリアーガスによって冷却部１１、二
次イオン化室１２を経て、質量分析計１３まで運ばれる
構造になっている。
【００１２】集光系９の内部には、レーザー１４から発
振されたレーザー光を液体試料７に集光するための集光
レンズ１５と、レーザー光が液体試料７に集光されてい
る様子を映すためのハーフミラー１６が設けられてい
る。
振されたレーザー光を液体試料７に集光するための集光
レンズ１５と、レーザー光が液体試料７に集光されてい
る様子を映すためのハーフミラー１６が設けられてい
る。
【００１３】ハーフミラー１６に映った液体試料１４の
映像は、観測系８のＣＣＤカメラ１７によって撮影さ
れ、ディスプレイ１８にモニターされる。
映像は、観測系８のＣＣＤカメラ１７によって撮影さ
れ、ディスプレイ１８にモニターされる。
【００１４】液体試料７が入れられた試料セル８の上面
は、レーザー光が照射できるように窓ガラス１９になっ
ている。また内部には、ペルチェ素子等の冷却機構２０
によって冷却可能な試料ホルダ２１が設けられていて、
冷却電源２２からの電力供給によって、液体試料７を冷
却可能に保持している。
は、レーザー光が照射できるように窓ガラス１９になっ
ている。また内部には、ペルチェ素子等の冷却機構２０
によって冷却可能な試料ホルダ２１が設けられていて、
冷却電源２２からの電力供給によって、液体試料７を冷
却可能に保持している。
【００１５】冷却部１１の外周面にはパイプ状をした冷
媒流路２３が巻回されていて、冷却部１１の器壁を常時
例えば２〜３℃に冷却している。冷却部１１の底部に
は、冷却部１１の壁面に結露する液体を排出するための
ドレイン２４が設けられている。
媒流路２３が巻回されていて、冷却部１１の器壁を常時
例えば２〜３℃に冷却している。冷却部１１の底部に
は、冷却部１１の壁面に結露する液体を排出するための
ドレイン２４が設けられている。
【００１６】なお、試料セル８と冷却部１１からの廃液
は、キャリアーガスが逃げないような、例えば脈流ポン
プ等（図示しない）で排出される。
は、キャリアーガスが逃げないような、例えば脈流ポン
プ等（図示しない）で排出される。
【００１７】二次イオン化室１２の内部には、針状の放
電電極２５があって、微粒子状の試料をイオン化するた
めの役割が与えられている。放電電極２５には、高圧電
源２６から３ｋＶ程度の高電圧がかけられていて、先端
部でコロナ放電が起きるようになっている。放電電極２
５のコロナ放電によってイオン化された微粒子状の試料
は、二次イオン化室１２の内部に設けられた円盤状のリ
タード電極２７、円筒状のドリフト電極２８、円盤状の
レンズ電極２９、及び、円錐状のサンプリング電極３０
によって形成される軸対称の電界の作用によって、質量
分析計１３のオリフィス３１（イオン流入孔）に集中的
にフォーカスされて、質量分析計１３に導入される。
電電極２５があって、微粒子状の試料をイオン化するた
めの役割が与えられている。放電電極２５には、高圧電
源２６から３ｋＶ程度の高電圧がかけられていて、先端
部でコロナ放電が起きるようになっている。放電電極２
５のコロナ放電によってイオン化された微粒子状の試料
は、二次イオン化室１２の内部に設けられた円盤状のリ
タード電極２７、円筒状のドリフト電極２８、円盤状の
レンズ電極２９、及び、円錐状のサンプリング電極３０
によって形成される軸対称の電界の作用によって、質量
分析計１３のオリフィス３１（イオン流入孔）に集中的
にフォーカスされて、質量分析計１３に導入される。
【００１８】質量分析計１３と二次イオン化室１２との
間には、質量分析計１２の真空度を維持するため、差動
排気壁３２が用いられている。
間には、質量分析計１２の真空度を維持するため、差動
排気壁３２が用いられている。
【００１９】かかる構成において、液体試料７は、試料
ホルダ２１上で冷却機構２０によって冷却され、適度の
粘性と硬さを与えられている。レーザー１４がこの液体
試料７を光照射すると、液体試料７の一部が気化し、微
粒子状になって舞い上がる。
ホルダ２１上で冷却機構２０によって冷却され、適度の
粘性と硬さを与えられている。レーザー１４がこの液体
試料７を光照射すると、液体試料７の一部が気化し、微
粒子状になって舞い上がる。
【００２０】舞い上がった微粒子状の液体試料は、ヘリ
ウムやアルゴンなどのイオン化ポテンシャルの高いキャ
リアーガスによって運ばれて、冷却部１１に流入する。
ウムやアルゴンなどのイオン化ポテンシャルの高いキャ
リアーガスによって運ばれて、冷却部１１に流入する。
【００２１】冷却部１１に流入した微粒子の中に含まれ
ている溶媒は、冷却部１１の低温の器壁に接することに
よって、壁面に結露し、微粒子の脱溶媒化が起きる。壁
面に結露した溶媒は、冷却部１１の底部に設けられたド
レイン２４から、冷却部１１の外部に排出される。
ている溶媒は、冷却部１１の低温の器壁に接することに
よって、壁面に結露し、微粒子の脱溶媒化が起きる。壁
面に結露した溶媒は、冷却部１１の底部に設けられたド
レイン２４から、冷却部１１の外部に排出される。
【００２２】こうして脱溶媒された微粒子状の試料は、
キャリアーガスとともに二次イオン化室１２に流入し、
針状の放電電極２５のコロナ放電によってイオン化され
る。そして、生成された試料イオンは、質量分析計１３
に導入されて質量分析が行なわれる。
キャリアーガスとともに二次イオン化室１２に流入し、
針状の放電電極２５のコロナ放電によってイオン化され
る。そして、生成された試料イオンは、質量分析計１３
に導入されて質量分析が行なわれる。
【００２３】なお、図示しないが、試料ホルダ２１に溝
を設け、そこに試料セル８の外部からの配管を通して液
体クロマトグラフィの溶離液を流せば、本装置をＬＣ／
ＭＳとして用いることもできる。また、液体試料の粘性
がもともと高い場合、冷却機構２０が不要の場合もあ
る。
を設け、そこに試料セル８の外部からの配管を通して液
体クロマトグラフィの溶離液を流せば、本装置をＬＣ／
ＭＳとして用いることもできる。また、液体試料の粘性
がもともと高い場合、冷却機構２０が不要の場合もあ
る。
【００２４】
【発明の効果】本発明の結果、大気圧下での液体試料の
レーザーイオン化が可能となり、液体試料を効率よく質
量分析できるようになった。また、ＬＣ／ＭＳとしての
構成も可能になった。
レーザーイオン化が可能となり、液体試料を効率よく質
量分析できるようになった。また、ＬＣ／ＭＳとしての
構成も可能になった。
【図１】従来の実施例を示す図である。
【図２】本発明の一実施例を示す図である。
１・・・レーザー、２・・・集光レンズ、３・・・サンプルスラ
イド、４・・・試料混合物、５・・・イオン加速器、６・・・検
出器、７・・・液体試料、８・・・試料セル、９・・・集光系、
１０・・・観測系、１１・・・冷却部、１２・・・二次イオン化
室、１３・・・質量分析計、１４・・・レーザー、１５・・・集
光レンズ、１６・・・ハーフミラー、１７・・・ＣＣＤカメ
ラ、１８・・・ディスプレイ、１９・・・窓ガラス、２０・・・
冷却機構、２１・・・試料ホルダ、２２・・・冷却電源、２３
・・・冷媒流路、２４・・・ドレイン、２５・・・放電電極、２
６・・・高圧電源、２７・・・リタード電極、２８・・・ドリフ
ト電極、２９・・・レンズ電極、３０・・・サンプリング電
極、３１・・・オリフィス、３２・・・差動排気壁。
イド、４・・・試料混合物、５・・・イオン加速器、６・・・検
出器、７・・・液体試料、８・・・試料セル、９・・・集光系、
１０・・・観測系、１１・・・冷却部、１２・・・二次イオン化
室、１３・・・質量分析計、１４・・・レーザー、１５・・・集
光レンズ、１６・・・ハーフミラー、１７・・・ＣＣＤカメ
ラ、１８・・・ディスプレイ、１９・・・窓ガラス、２０・・・
冷却機構、２１・・・試料ホルダ、２２・・・冷却電源、２３
・・・冷媒流路、２４・・・ドレイン、２５・・・放電電極、２
６・・・高圧電源、２７・・・リタード電極、２８・・・ドリフ
ト電極、２９・・・レンズ電極、３０・・・サンプリング電
極、３１・・・オリフィス、３２・・・差動排気壁。
Claims (5)
- 【請求項１】液体試料にレーザー光を照射するための集
光系と、レーザー光照射によって液体試料を気化させる
ための試料セルと、液体試料を冷却するための試料ホル
ダと、気化した液体試料を脱溶媒するための冷却部と、
脱溶媒された液体試料をイオン化するための二次イオン
化室と、試料イオンを質量分析する質量分析計とから成
ることを特徴とする大気圧レーザーイオン化質量分析装
置。 - 【請求項２】液体試料にレーザー光を照射するための集
光系と、レーザー光照射によって液体試料を気化させる
ための試料セルと、気化した液体試料を脱溶媒するため
の冷却部と、脱溶媒された液体試料をイオン化するため
の二次イオン化室と、試料イオンを質量分析する質量分
析計とから成ることを特徴とする大気圧レーザーイオン
化質量分析装置。 - 【請求項３】大気圧下、液体試料を冷却することによっ
て凍結固化ないし高粘性化させ、その試料にレーザー光
を照射することによって試料を気化ないしイオン化させ
るようにしたことを特徴とする大気圧レーザーイオン化
質量分析法。 - 【請求項４】大気圧下、液体試料に直接レーザー光を照
射することによって試料を気化ないしイオン化させるよ
うにしたことを特徴とする大気圧レーザーイオン化質量
分析法。 - 【請求項５】前記液体試料は、液体クロマトグラフィか
らの溶離液である請求項１ないし４記載の大気圧レーザ
ーイオン化質量分析装置及び方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22592797A JP3592494B2 (ja) | 1997-08-22 | 1997-08-22 | 大気圧レーザー気化質量分析装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22592797A JP3592494B2 (ja) | 1997-08-22 | 1997-08-22 | 大気圧レーザー気化質量分析装置及び方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1164283A true JPH1164283A (ja) | 1999-03-05 |
| JP3592494B2 JP3592494B2 (ja) | 2004-11-24 |
Family
ID=16837081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22592797A Expired - Fee Related JP3592494B2 (ja) | 1997-08-22 | 1997-08-22 | 大気圧レーザー気化質量分析装置及び方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3592494B2 (ja) |
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000060641A1 (fr) * | 1999-03-30 | 2000-10-12 | Japan Science And Technology Corporation | Procede et appareil pour l'analyse spectrometrique es-ms |
| WO2004051233A1 (ja) * | 2002-11-29 | 2004-06-17 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | 生体高分子光切断装置および生体高分子光切断方法 |
| WO2004081555A1 (ja) * | 2003-03-14 | 2004-09-23 | Nec Corporation | 質量分析システムおよび分析方法 |
| US6838663B2 (en) | 2002-05-31 | 2005-01-04 | University Of Florida | Methods and devices for laser desorption chemical ionization |
| JP2007010653A (ja) * | 2005-06-27 | 2007-01-18 | Agilent Technol Inc | マトリックス・ベース・イオン源のための被写界深度を増大させる画像生成方法、及びその方法を用いた質量分析システム |
| GB2444621A (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-11 | Bruker Daltonik Gmbh | Mass spectrometric analysis of surface material using laser ablation |
| CN108474782A (zh) * | 2015-09-29 | 2018-08-31 | 英国质谱公司 | 电容耦合reims技术和光学透明对电极 |
| US10777398B2 (en) | 2015-03-06 | 2020-09-15 | Micromass Uk Limited | Spectrometric analysis |
| US10777397B2 (en) | 2015-03-06 | 2020-09-15 | Micromass Uk Limited | Inlet instrumentation for ion analyser coupled to rapid evaporative ionisation mass spectrometry (“REIMS”) device |
| US10916415B2 (en) | 2015-03-06 | 2021-02-09 | Micromass Uk Limited | Liquid trap or separator for electrosurgical applications |
| US10978284B2 (en) | 2015-03-06 | 2021-04-13 | Micromass Uk Limited | Imaging guided ambient ionisation mass spectrometry |
| US11139156B2 (en) | 2015-03-06 | 2021-10-05 | Micromass Uk Limited | In vivo endoscopic tissue identification tool |
| US11239066B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Cell population analysis |
| US11264223B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-03-01 | Micromass Uk Limited | Rapid evaporative ionisation mass spectrometry (“REIMS”) and desorption electrospray ionisation mass spectrometry (“DESI-MS”) analysis of swabs and biopsy samples |
| US11270876B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-03-08 | Micromass Uk Limited | Ionisation of gaseous samples |
| US11282688B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-03-22 | Micromass Uk Limited | Spectrometric analysis of microbes |
| US11289320B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-03-29 | Micromass Uk Limited | Tissue analysis by mass spectrometry or ion mobility spectrometry |
| US11342170B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Collision surface for improved ionisation |
| US11367605B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Ambient ionization mass spectrometry imaging platform for direct mapping from bulk tissue |
| US11454611B2 (en) | 2016-04-14 | 2022-09-27 | Micromass Uk Limited | Spectrometric analysis of plants |
-
1997
- 1997-08-22 JP JP22592797A patent/JP3592494B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000060641A1 (fr) * | 1999-03-30 | 2000-10-12 | Japan Science And Technology Corporation | Procede et appareil pour l'analyse spectrometrique es-ms |
| US6642515B1 (en) | 1999-03-30 | 2003-11-04 | Japan Science And Technology Corporation | Method and apparatus for electrospray mass spectrometric analysis |
| AU769325B2 (en) * | 1999-03-30 | 2004-01-22 | Japan Science And Technology Corporation | Method and apparatus for electrospray mass spectrometric analysis |
| KR100442008B1 (ko) * | 1999-03-30 | 2004-07-30 | 도꾸리쯔교세이호징 가가꾸 기쥬쯔 신꼬 기꼬 | 전기분무 질량 분광 분석 방법 및 그의 장치 |
| US6838663B2 (en) | 2002-05-31 | 2005-01-04 | University Of Florida | Methods and devices for laser desorption chemical ionization |
| WO2004051233A1 (ja) * | 2002-11-29 | 2004-06-17 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | 生体高分子光切断装置および生体高分子光切断方法 |
| WO2004081555A1 (ja) * | 2003-03-14 | 2004-09-23 | Nec Corporation | 質量分析システムおよび分析方法 |
| US7586091B2 (en) | 2003-03-14 | 2009-09-08 | Nec Corporation | Mass spectrometric system and mass spectrometry |
| JP2007010653A (ja) * | 2005-06-27 | 2007-01-18 | Agilent Technol Inc | マトリックス・ベース・イオン源のための被写界深度を増大させる画像生成方法、及びその方法を用いた質量分析システム |
| GB2444621A (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-11 | Bruker Daltonik Gmbh | Mass spectrometric analysis of surface material using laser ablation |
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