JPH1164209A - 耐候性試験装置および耐候性試験方法 - Google Patents
耐候性試験装置および耐候性試験方法Info
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- JPH1164209A JPH1164209A JP23080797A JP23080797A JPH1164209A JP H1164209 A JPH1164209 A JP H1164209A JP 23080797 A JP23080797 A JP 23080797A JP 23080797 A JP23080797 A JP 23080797A JP H1164209 A JPH1164209 A JP H1164209A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ２以上の試験室内に同等の人工光を同時に照
射する。照射効率を向上する。 【解決手段】 紫外線照射部１０の略中央にメタルハラ
イドランプ１を設置し、その両サイドに、人工光Ｒを一
方向に指向する反射板３−１，３−２を設ける。紫外線
照射部１０の両サイドに、光導入窓５−１（５−２）
と，試験片Ｓ１（Ｓ２）を支持する試験片支持板６−１
（６−２）と，試験片の表面に水を吹き付ける表面スプ
レー７−１（７−２）と，試験片の裏面に水をスプレー
して結露を生じさせる裏面スプレー８−１（８−２）と
を具備した試験室４−１（４−２）を配置する。 【効果】 多彩な環境条件下での紫外線照射を１度に行
え、試験効率が高い。
射する。照射効率を向上する。 【解決手段】 紫外線照射部１０の略中央にメタルハラ
イドランプ１を設置し、その両サイドに、人工光Ｒを一
方向に指向する反射板３−１，３−２を設ける。紫外線
照射部１０の両サイドに、光導入窓５−１（５−２）
と，試験片Ｓ１（Ｓ２）を支持する試験片支持板６−１
（６−２）と，試験片の表面に水を吹き付ける表面スプ
レー７−１（７−２）と，試験片の裏面に水をスプレー
して結露を生じさせる裏面スプレー８−１（８−２）と
を具備した試験室４−１（４−２）を配置する。 【効果】 多彩な環境条件下での紫外線照射を１度に行
え、試験効率が高い。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、耐候性試験装置お
よび耐候性試験方法に関し、さらに詳しくは、２以上の
試験室内に同等の人工光を同時に照射でき、しかも照射
効率が高い耐候性試験装置および当該耐候性試験装置を
用いた耐候性試験方法に関する。特に、プラスチック，
塗料，インキ，顔料，繊維などの耐候（光）性を試験す
るのに有用である。
よび耐候性試験方法に関し、さらに詳しくは、２以上の
試験室内に同等の人工光を同時に照射でき、しかも照射
効率が高い耐候性試験装置および当該耐候性試験装置を
用いた耐候性試験方法に関する。特に、プラスチック，
塗料，インキ，顔料，繊維などの耐候（光）性を試験す
るのに有用である。
【０００２】
【従来の技術】図８は、従来の耐候性試験装置の一例を
示す断面図である。この耐候性試験装置５００におい
て、シールド板Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｅにより区画された光源
室Ｌ内には、支持点Ｏｃを支点として左右に揺動可能な
光源５１が設置されている。図中、５２は、前記光源５
１から放射された人工光（紫外線）Ｒを一方向に指向す
る反射板である。また、シールド板Ｂｂ，Ｂｃ，Ｂｄに
より区画された試験室Ｑ１内には、試験片Ｓ１を載置し
た載置台５３−１が設置されている。シールド板Ｂａ，
Ｂｂにより区画された試験室Ｑ２内には、試験片Ｓ２を
載置した載置台５３−２が設置されている。シールド板
Ｂｄ，Ｂｅにより区画された試験室Ｑ３内には、試験片
Ｓ３を載置した載置台５３−３が設置されている。前記
試験室Ｑ１，Ｑ２，Ｑ３内は、試験条件に適合した温度
や湿度に制御される。
示す断面図である。この耐候性試験装置５００におい
て、シールド板Ｂａ，Ｂｃ，Ｂｅにより区画された光源
室Ｌ内には、支持点Ｏｃを支点として左右に揺動可能な
光源５１が設置されている。図中、５２は、前記光源５
１から放射された人工光（紫外線）Ｒを一方向に指向す
る反射板である。また、シールド板Ｂｂ，Ｂｃ，Ｂｄに
より区画された試験室Ｑ１内には、試験片Ｓ１を載置し
た載置台５３−１が設置されている。シールド板Ｂａ，
Ｂｂにより区画された試験室Ｑ２内には、試験片Ｓ２を
載置した載置台５３−２が設置されている。シールド板
Ｂｄ，Ｂｅにより区画された試験室Ｑ３内には、試験片
Ｓ３を載置した載置台５３−３が設置されている。前記
試験室Ｑ１，Ｑ２，Ｑ３内は、試験条件に適合した温度
や湿度に制御される。
【０００３】次に、上記耐候性試験装５００の動作につ
いて説明する。 （１）指向方向を試験室Ｑ１に合せた光源５１（実線で
示す）により、前記試験片Ｓ１に、一定時間（約８時
間）だけ人工光Ｒを照射する。 （２）前記光源５１を左方向に傾けて指向方向を試験室
Ｑ２に合わせ、当該光源５１（一点鎖線で示す）によ
り、前記試験片Ｓ２に、一定時間（約８時間）だけ人工
光Ｒを照射する。 （３）前記光源５１を右方向に傾けて指向方向を試験室
Ｑ３に合わせ、当該光源５１（二点鎖線で示す）によ
り、前記試験片Ｓ３に、一定時間（約８時間）だけ人工
光Ｒを照射する。 （４）前記光源５１の指向方向を試験室Ｑ１に合せる。
その後、規定の試験時間が経過するまで、上記（１）〜
（３）の処理を繰り返す。
いて説明する。 （１）指向方向を試験室Ｑ１に合せた光源５１（実線で
示す）により、前記試験片Ｓ１に、一定時間（約８時
間）だけ人工光Ｒを照射する。 （２）前記光源５１を左方向に傾けて指向方向を試験室
Ｑ２に合わせ、当該光源５１（一点鎖線で示す）によ
り、前記試験片Ｓ２に、一定時間（約８時間）だけ人工
光Ｒを照射する。 （３）前記光源５１を右方向に傾けて指向方向を試験室
Ｑ３に合わせ、当該光源５１（二点鎖線で示す）によ
り、前記試験片Ｓ３に、一定時間（約８時間）だけ人工
光Ｒを照射する。 （４）前記光源５１の指向方向を試験室Ｑ１に合せる。
その後、規定の試験時間が経過するまで、上記（１）〜
（３）の処理を繰り返す。
【０００４】図９は、従来の耐候性試験装置の他例を示
す断面図である。この耐候性試験装置６００において、
光発生装置６０の下方は、外気と隔絶した上部試験室６
１と，中部試験室６２と，下部試験室６３とに区画され
ている。各試験室６１，６２，６３には、試験条件に適
合した温度や湿度や空気成分となるように制御する空調
機６４，６５，６６が接続されている。また、前記上部
試験室６１と前記中部試験室６２の間は、前記光発生装
置６０からの人工光Ｒを透過するガラス窓６７で仕切ら
れている。したがって、前記上部試験室６１内の試験片
Ｓ１と，前記中部試験室６２内の試験片Ｓ２には、人工
光Ｒが同時に照射され、劣化が加速される。これに対
し、前記下部試験室６３内の試験片Ｓ３には、人工光Ｒ
が照射されない。
す断面図である。この耐候性試験装置６００において、
光発生装置６０の下方は、外気と隔絶した上部試験室６
１と，中部試験室６２と，下部試験室６３とに区画され
ている。各試験室６１，６２，６３には、試験条件に適
合した温度や湿度や空気成分となるように制御する空調
機６４，６５，６６が接続されている。また、前記上部
試験室６１と前記中部試験室６２の間は、前記光発生装
置６０からの人工光Ｒを透過するガラス窓６７で仕切ら
れている。したがって、前記上部試験室６１内の試験片
Ｓ１と，前記中部試験室６２内の試験片Ｓ２には、人工
光Ｒが同時に照射され、劣化が加速される。これに対
し、前記下部試験室６３内の試験片Ｓ３には、人工光Ｒ
が照射されない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の耐候性試験
装置５００では、次の問題点がある。 （１）試験室Ｑ１，Ｑ２，Ｑ３のいずれかを選択して人
工光Ｒを照射するので、試験片Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の複数
に対して同時に人工光Ｒを照射することができず、光を
劣化の主要因とした場合には、試験効率が悪い。 （２）照射時間を等しくするためには、試験室Ｑ１，…
の個数により照射時間と非照射時間のデューティ比が制
限される（例えば試験室が３つの場合、デューティ比の
上限は１／３）ので、試験条件の設定上の制約が大き
い。 （３）実際の太陽光には含まれない紫外線波長域をカッ
トする紫外線カットフィルタ（図示は省略）の特性がソ
ーラリゼーション（solarization）現象により微妙に経
時変化すると、試験片Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３への照射光の波
長分布が厳密な意味では異なってしまい、試験精度が低
下する。 （４）反射板５２による反射光の一部（光源５１の指向
方向とは逆向きに放射された人工光の反射光）が光源５
１に遮られるために照射ロス（例えば照射エネルギーの
１０％程度）を生じ、照射効率が低い。
装置５００では、次の問題点がある。 （１）試験室Ｑ１，Ｑ２，Ｑ３のいずれかを選択して人
工光Ｒを照射するので、試験片Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の複数
に対して同時に人工光Ｒを照射することができず、光を
劣化の主要因とした場合には、試験効率が悪い。 （２）照射時間を等しくするためには、試験室Ｑ１，…
の個数により照射時間と非照射時間のデューティ比が制
限される（例えば試験室が３つの場合、デューティ比の
上限は１／３）ので、試験条件の設定上の制約が大き
い。 （３）実際の太陽光には含まれない紫外線波長域をカッ
トする紫外線カットフィルタ（図示は省略）の特性がソ
ーラリゼーション（solarization）現象により微妙に経
時変化すると、試験片Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３への照射光の波
長分布が厳密な意味では異なってしまい、試験精度が低
下する。 （４）反射板５２による反射光の一部（光源５１の指向
方向とは逆向きに放射された人工光の反射光）が光源５
１に遮られるために照射ロス（例えば照射エネルギーの
１０％程度）を生じ、照射効率が低い。
【０００６】また、上記従来の耐候性試験装置６００で
は、上部試験室６１と，中部試験室６２とで、光発生装
置６０からの距離が異なると共に、中部試験室６２内へ
の入射光がガラス窓６７により減衰するから、上部試験
室６１内の試験片Ｓ１と，中部試験室６２内の試験片Ｓ
２に照射される人工光Ｒの強度を完全に一致させること
が難しく、試験精度が低下しがちである。
は、上部試験室６１と，中部試験室６２とで、光発生装
置６０からの距離が異なると共に、中部試験室６２内へ
の入射光がガラス窓６７により減衰するから、上部試験
室６１内の試験片Ｓ１と，中部試験室６２内の試験片Ｓ
２に照射される人工光Ｒの強度を完全に一致させること
が難しく、試験精度が低下しがちである。
【０００７】そこで、本発明の目的は、２以上の試験室
内に同等の人工光を同時に照射でき、しかも照射効率が
高い耐候性試験装置および当該耐候性試験装置を用いた
耐候性試験方法を提供することにある。
内に同等の人工光を同時に照射でき、しかも照射効率が
高い耐候性試験装置および当該耐候性試験装置を用いた
耐候性試験方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、紫外線を含む人工光を放射し且つ位置および光放射
方向が不変の固定光源と、その固定光源を挟むか又は取
り囲む態様で配置され且つ独立した環境条件を設定可能
な２以上の試験室と、前記人工光を各試験室内に導く反
射板とを具備したことを特徴とする耐候性試験装置を提
供する。上記第１の観点による耐候性試験装置では、固
定光源を挟むか又は取り囲む態様で２以上の試験室を配
置するので、次の作用を奏する。 （１）各試験室のすべてに人工光を同時に照射できるの
で、試験効率を向上できる。 （２）試験室の数にかかわらず照射時間と非照射時間の
デューティ比を自由に設定でき、試験条件設定の自由度
を向上できる。 （３）紫外線カットフィルタの特性が経時変化しても、
各試験室内への照射光の波長分布を常に一致させること
ができ、試験精度を向上できる。 （４）各試験室が固定光源から見て異なる方向に配置さ
れているから、反射板による反射光のすべてを各試験室
に指向でき、照射効率を向上できる。 （５）各試験室と固定光源との距離をすべて等しくでき
るので、各試験室内への照射強度を容易に一致させるこ
とができ、試験精度を向上できる。
は、紫外線を含む人工光を放射し且つ位置および光放射
方向が不変の固定光源と、その固定光源を挟むか又は取
り囲む態様で配置され且つ独立した環境条件を設定可能
な２以上の試験室と、前記人工光を各試験室内に導く反
射板とを具備したことを特徴とする耐候性試験装置を提
供する。上記第１の観点による耐候性試験装置では、固
定光源を挟むか又は取り囲む態様で２以上の試験室を配
置するので、次の作用を奏する。 （１）各試験室のすべてに人工光を同時に照射できるの
で、試験効率を向上できる。 （２）試験室の数にかかわらず照射時間と非照射時間の
デューティ比を自由に設定でき、試験条件設定の自由度
を向上できる。 （３）紫外線カットフィルタの特性が経時変化しても、
各試験室内への照射光の波長分布を常に一致させること
ができ、試験精度を向上できる。 （４）各試験室が固定光源から見て異なる方向に配置さ
れているから、反射板による反射光のすべてを各試験室
に指向でき、照射効率を向上できる。 （５）各試験室と固定光源との距離をすべて等しくでき
るので、各試験室内への照射強度を容易に一致させるこ
とができ、試験精度を向上できる。
【０００９】第２の観点では、本発明は、上記構成の耐
候性試験装置の各試験室内に試験片を収容し、前記試験
室ごとに異なる環境条件下で当該試験片に前記人工光を
照射し、当該照射により各試験片に生じた変化の違いに
基づいて劣化要因を判定することを特徴とする耐候性試
験方法を提供する。上記第２の観点による耐候性試験方
法では、試験室ごとに異なる環境条件を設定するので、
当該環境条件に応じた変化が各試験片に生じる。したが
って、各試験片に生じた変化の違いを解析することによ
り、環境条件の差異が劣化の進行に与えた影響を評価す
ることができ、劣化要因を容易に判定することが出来
る。
候性試験装置の各試験室内に試験片を収容し、前記試験
室ごとに異なる環境条件下で当該試験片に前記人工光を
照射し、当該照射により各試験片に生じた変化の違いに
基づいて劣化要因を判定することを特徴とする耐候性試
験方法を提供する。上記第２の観点による耐候性試験方
法では、試験室ごとに異なる環境条件を設定するので、
当該環境条件に応じた変化が各試験片に生じる。したが
って、各試験片に生じた変化の違いを解析することによ
り、環境条件の差異が劣化の進行に与えた影響を評価す
ることができ、劣化要因を容易に判定することが出来
る。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施の形態により
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発
明が限定されるものではない。
【００１１】−第１の実施形態− 図１は、本発明の第１の実施形態にかかる耐候性試験装
置を示す断面図である。この耐候性試験装置１００にお
いて、紫外線照射部１０の略中央には、紫外線を放射す
るランプ１が設置され、そのランプ１の外周には、地表
に到達する太陽光に含まれない２９５ｎｍ以下の波長の
紫外線を遮断する紫外線カットフィルタ２が取り付けら
れている。前記ランプ１は、例えば、メタルハライドラ
ンプやキセノンアークランプである。前記紫外線カット
フィルタ２の材料は、例えば、酸化銅を含んだ燐酸系ガ
ラスや，低融点軟質ガラスである。また、前記紫外線カ
ットフィルタ２の種類として、前記材料製フィルタと水
フィルタとの組合わせ品や多層膜干渉フィルタ等を用い
てもよい。なお、前記ランプ１および前記紫外線カット
フィルタ２は、外部へ引き出しスライド可能であり、メ
ンテナンス作業を容易に行うことが出来る。前記ランプ
１の両サイドには、当該ランプを焦点とする放物線状の
反射面を有し、当該反射面で反射した平行光線を人工光
Ｒとして出射する反射板３−１，３−２が設けられてい
る。
置を示す断面図である。この耐候性試験装置１００にお
いて、紫外線照射部１０の略中央には、紫外線を放射す
るランプ１が設置され、そのランプ１の外周には、地表
に到達する太陽光に含まれない２９５ｎｍ以下の波長の
紫外線を遮断する紫外線カットフィルタ２が取り付けら
れている。前記ランプ１は、例えば、メタルハライドラ
ンプやキセノンアークランプである。前記紫外線カット
フィルタ２の材料は、例えば、酸化銅を含んだ燐酸系ガ
ラスや，低融点軟質ガラスである。また、前記紫外線カ
ットフィルタ２の種類として、前記材料製フィルタと水
フィルタとの組合わせ品や多層膜干渉フィルタ等を用い
てもよい。なお、前記ランプ１および前記紫外線カット
フィルタ２は、外部へ引き出しスライド可能であり、メ
ンテナンス作業を容易に行うことが出来る。前記ランプ
１の両サイドには、当該ランプを焦点とする放物線状の
反射面を有し、当該反射面で反射した平行光線を人工光
Ｒとして出射する反射板３−１，３−２が設けられてい
る。
【００１２】図２は、前記紫外線照射部１０の内部を拡
大して示す説明図である。反射板３−１，３−２は、反
射面の曲率を調整する多数の曲率調整ネジ３１により外
側から圧接されている。曲率調整は、例えば、前記反射
板３−１，３−２から出射された紫外線の強度分布を紫
外線強度計（例えばウシオ電機製，ユニメータＵＩＴ−
１０１）により実測し、紫外線が規定強度（例えば４５
ｍＷ／平方センチメートル ）で均等に照射されるように、曲率
調整ネジ３１を回すことにより行う。
大して示す説明図である。反射板３−１，３−２は、反
射面の曲率を調整する多数の曲率調整ネジ３１により外
側から圧接されている。曲率調整は、例えば、前記反射
板３−１，３−２から出射された紫外線の強度分布を紫
外線強度計（例えばウシオ電機製，ユニメータＵＩＴ−
１０１）により実測し、紫外線が規定強度（例えば４５
ｍＷ／平方センチメートル ）で均等に照射されるように、曲率
調整ネジ３１を回すことにより行う。
【００１３】図１に戻り、前記紫外線照射部１０の両サ
イドには、試験室４−１と，４−２とが配置されてい
る。前記試験室４−１の光入射側には、前記人工光Ｒを
透過する光導入窓５−１が取り付けられている。前記光
導入窓５−１の材料は、例えば、石英ガラスである。前
記試験室４−１の奥側には、試験片Ｓ１を支持する試験
片支持板６−１が設置されている。前記試験片支持板６
−１は、外部へ引き出しスライド可能であり、前記試験
片Ｓ１の載置や取出しを容易に行うことが出来る。前記
試験室４−１の光入射側には、前記試験片Ｓ１の表面に
水を吹き付け、劣化層に表面更新作用や水分の影響を与
える表面スプレー７−１が取り付けられている。前記試
験片支持板６−１の背面には、前記試験片Ｓ１の裏面に
水をスプレーして冷却し、前記試験片Ｓ１に結露を生じ
させる裏面スプレー８−１が取り付けられている。前記
裏面スプレー８−１の代りに、電子冷却や水ジャケット
冷却の機構を採用してもよい。なお、前記試験室４−１
内の温度は、インバータ方式外気導入またはクローズド
システム（図示せず）により調整される。前記試験室４
−２は、前記試験室４−１と同じ構成である。
イドには、試験室４−１と，４−２とが配置されてい
る。前記試験室４−１の光入射側には、前記人工光Ｒを
透過する光導入窓５−１が取り付けられている。前記光
導入窓５−１の材料は、例えば、石英ガラスである。前
記試験室４−１の奥側には、試験片Ｓ１を支持する試験
片支持板６−１が設置されている。前記試験片支持板６
−１は、外部へ引き出しスライド可能であり、前記試験
片Ｓ１の載置や取出しを容易に行うことが出来る。前記
試験室４−１の光入射側には、前記試験片Ｓ１の表面に
水を吹き付け、劣化層に表面更新作用や水分の影響を与
える表面スプレー７−１が取り付けられている。前記試
験片支持板６−１の背面には、前記試験片Ｓ１の裏面に
水をスプレーして冷却し、前記試験片Ｓ１に結露を生じ
させる裏面スプレー８−１が取り付けられている。前記
裏面スプレー８−１の代りに、電子冷却や水ジャケット
冷却の機構を採用してもよい。なお、前記試験室４−１
内の温度は、インバータ方式外気導入またはクローズド
システム（図示せず）により調整される。前記試験室４
−２は、前記試験室４−１と同じ構成である。
【００１４】次に、この耐候性試験装置１００を用いた
耐候性試験の手順について説明する。まず、試験片支持
板６−１を外部へ引き出して試験片Ｓ１を載置し、試験
室４−１内に収容する。また、試験片支持板６−２を外
部へ引き出して試験片Ｓ２を載置し、試験室４−２内に
収容する。
耐候性試験の手順について説明する。まず、試験片支持
板６−１を外部へ引き出して試験片Ｓ１を載置し、試験
室４−１内に収容する。また、試験片支持板６−２を外
部へ引き出して試験片Ｓ２を載置し、試験室４−２内に
収容する。
【００１５】次に、耐候性試験装置１００を規定の運転
サイクルで運転する。運転サイクルは、例えば、次の
（１）〜（４）のいずれかである。 （１）図３に示すように、試験室４−１および試験室４
−２内に、運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを連続
して照射する。すなわち、全時間が照射（Ｌight）の運
転サイクルである。運転開始から運転終了までの運転時
間Ｔａは、例えば２００時間である。そして、前記試験
室４−２においては、規定の光照射時間ｔ１（例えば１
時間）が経過するごとに、表面スプレー７−２により、
試験片Ｓ２の表面に規定の表面スプレー時間ｔ２（例え
ば３０秒）だけ水を吹き付ける。なお、運転時間中、前
記試験室４−１および試験室４−２内は、等しい温度
（例えばブラックパネル温度；６３℃）および湿度（例
えば５０％ＲＨ）に維持されている。 （２）図４に示すように、試験室４−１および試験室４
−２内に、運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを連続
して照射する。そして、前記試験室４−１においては、
前記光照射時間ｔ１が経過するごとに、表面スプレー７
−１により、試験片Ｓ１の表面に前記表面スプレー時間
ｔ２だけ所定のｐＨ値ａ１（例えばｐＨ値＝１）に調製
した水を吹き付ける。また、前記試験室４−２において
は、表面スプレー７−２により、前記試験室４−１と同
じタイミングで、試験片Ｓ２の表面に所定のｐＨ値ａ２
（≠ａ１，例えばｐＨ値＝４）に調製した水を吹き付け
る。なお、運転時間中、前記試験室４−１および試験室
４−２内は、等しい温度および湿度に維持されている。 （３）図５に示すように、試験室４−１および試験室４
−２内に、運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを連続
して照射する。運転時間中、前記試験室４−１内は、所
定の温度ｂ１（例えば４０℃）に維持され、前記試験室
４−２内は所定の温度ｂ２（≠ｂ１，例えば６０℃）に
維持されている。 （４）運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを規定の光
照射時間ｔ３（例えば８時間）だけ照射した後、規定の
光照射休止時間ｔ４（例えば４時間）だけ休止するサイ
クルを繰り返す。この場合、運転開始から運転終了まで
の運転時間Ｔａは、例えば２４０時間（＝１２時間×２
０サイクル）である。これにより、図６に示すように、
試験室４−１の運転サイクルは、Ｌight（照射）− Ｄa
rk（暗黒）の繰り返しとなる。また、試験室４−２にお
いては、前記光照射休止時間ｔ４の間、試験片Ｓ２の裏
面に水をスプレーして冷却し、試験片Ｓ２に結露を生じ
させる。したがって、試験室４−２の運転サイクルは、
Ｌight（照射）−Ｄew（結露）の繰り返しとなる。な
お、運転時間中（照射時間中）、前記試験室４−１およ
び試験室４−２内は、等しい温度（例えばブラックパネ
ル温度；６３℃）および湿度（例えば５０％ＲＨ）に維
持されている。
サイクルで運転する。運転サイクルは、例えば、次の
（１）〜（４）のいずれかである。 （１）図３に示すように、試験室４−１および試験室４
−２内に、運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを連続
して照射する。すなわち、全時間が照射（Ｌight）の運
転サイクルである。運転開始から運転終了までの運転時
間Ｔａは、例えば２００時間である。そして、前記試験
室４−２においては、規定の光照射時間ｔ１（例えば１
時間）が経過するごとに、表面スプレー７−２により、
試験片Ｓ２の表面に規定の表面スプレー時間ｔ２（例え
ば３０秒）だけ水を吹き付ける。なお、運転時間中、前
記試験室４−１および試験室４−２内は、等しい温度
（例えばブラックパネル温度；６３℃）および湿度（例
えば５０％ＲＨ）に維持されている。 （２）図４に示すように、試験室４−１および試験室４
−２内に、運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを連続
して照射する。そして、前記試験室４−１においては、
前記光照射時間ｔ１が経過するごとに、表面スプレー７
−１により、試験片Ｓ１の表面に前記表面スプレー時間
ｔ２だけ所定のｐＨ値ａ１（例えばｐＨ値＝１）に調製
した水を吹き付ける。また、前記試験室４−２において
は、表面スプレー７−２により、前記試験室４−１と同
じタイミングで、試験片Ｓ２の表面に所定のｐＨ値ａ２
（≠ａ１，例えばｐＨ値＝４）に調製した水を吹き付け
る。なお、運転時間中、前記試験室４−１および試験室
４−２内は、等しい温度および湿度に維持されている。 （３）図５に示すように、試験室４−１および試験室４
−２内に、運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを連続
して照射する。運転時間中、前記試験室４−１内は、所
定の温度ｂ１（例えば４０℃）に維持され、前記試験室
４−２内は所定の温度ｂ２（≠ｂ１，例えば６０℃）に
維持されている。 （４）運転開始から運転終了まで、人工光Ｒを規定の光
照射時間ｔ３（例えば８時間）だけ照射した後、規定の
光照射休止時間ｔ４（例えば４時間）だけ休止するサイ
クルを繰り返す。この場合、運転開始から運転終了まで
の運転時間Ｔａは、例えば２４０時間（＝１２時間×２
０サイクル）である。これにより、図６に示すように、
試験室４−１の運転サイクルは、Ｌight（照射）− Ｄa
rk（暗黒）の繰り返しとなる。また、試験室４−２にお
いては、前記光照射休止時間ｔ４の間、試験片Ｓ２の裏
面に水をスプレーして冷却し、試験片Ｓ２に結露を生じ
させる。したがって、試験室４−２の運転サイクルは、
Ｌight（照射）−Ｄew（結露）の繰り返しとなる。な
お、運転時間中（照射時間中）、前記試験室４−１およ
び試験室４−２内は、等しい温度（例えばブラックパネ
ル温度；６３℃）および湿度（例えば５０％ＲＨ）に維
持されている。
【００１６】上記（１）〜（４）の運転時間が経過した
ら、試験片支持板６−１を外部へ引き出して試験片Ｓ１
を取り出す。また、試験片支持板６−２を外部へ引き出
して試験片Ｓ２を取り出す。次に、試験片Ｓ１と，試験
片Ｓ２の状態を解析し、両者に生じた変化の違いに基づ
いて劣化要因を判定する。前記解析には、例えば、表面
−界面物性解析装置（商品名サイカス，ダイプラ・ウィ
ンテス株式会社製）を用いる。すなわち、上記（１）の
場合、試験室４−１と，試験室４−２の環境条件の差異
は、表面スプレーの有無のみなので、水分が劣化に与え
る影響を容易に評価できる。上記（２）の場合、試験室
４−１と，試験室４−２の環境条件の差異は、表面スプ
レー水のｐＨ値のみなので、水分のｐＨ値の違いが劣化
に与える影響を容易に評価できる。上記（３）の場合、
試験室４−１と，試験室４−２の環境条件の差異は、試
験室内温度のみなので、温度の違いが劣化に与える影響
を容易に評価できる。上記（４）の場合、試験室４−１
と，試験室４−２の環境条件の差異は、裏面スプレーに
よる結露の有無のみなので、結露が劣化に与える影響を
容易に評価できる。
ら、試験片支持板６−１を外部へ引き出して試験片Ｓ１
を取り出す。また、試験片支持板６−２を外部へ引き出
して試験片Ｓ２を取り出す。次に、試験片Ｓ１と，試験
片Ｓ２の状態を解析し、両者に生じた変化の違いに基づ
いて劣化要因を判定する。前記解析には、例えば、表面
−界面物性解析装置（商品名サイカス，ダイプラ・ウィ
ンテス株式会社製）を用いる。すなわち、上記（１）の
場合、試験室４−１と，試験室４−２の環境条件の差異
は、表面スプレーの有無のみなので、水分が劣化に与え
る影響を容易に評価できる。上記（２）の場合、試験室
４−１と，試験室４−２の環境条件の差異は、表面スプ
レー水のｐＨ値のみなので、水分のｐＨ値の違いが劣化
に与える影響を容易に評価できる。上記（３）の場合、
試験室４−１と，試験室４−２の環境条件の差異は、試
験室内温度のみなので、温度の違いが劣化に与える影響
を容易に評価できる。上記（４）の場合、試験室４−１
と，試験室４−２の環境条件の差異は、裏面スプレーに
よる結露の有無のみなので、結露が劣化に与える影響を
容易に評価できる。
【００１７】なお、上記（１）〜（４）に代えて、試験
室４−１と，試験室４−２の湿度に差異をつけ、湿度の
違いが劣化に与える影響を評価してもよい。また、試験
室４−１と，試験室４−２の一方の光導入窓５−１（ま
たは５−２）に紫外線減衰フィルムを貼付することで、
照射強度の違いが劣化に与える影響を評価してもよい。
室４−１と，試験室４−２の湿度に差異をつけ、湿度の
違いが劣化に与える影響を評価してもよい。また、試験
室４−１と，試験室４−２の一方の光導入窓５−１（ま
たは５−２）に紫外線減衰フィルムを貼付することで、
照射強度の違いが劣化に与える影響を評価してもよい。
【００１８】以上の耐候性試験装置１００によれば、ラ
ンプ１を挟んで試験室４−１，４−２を配置したので、
試験室４−１内の試験片Ｓ１と，試験室４−２内の試験
片Ｓ２に対し、同等の（または照射強度に差異を付け
た）人工光Ｒを同時に照射できる。また、試験室４−１
と，試験室４−２とに異なる環境条件を設定するので、
環境条件の差異が劣化の進行に与えた影響を評価するこ
とができ、劣化要因を容易に判定することが出来る。
ンプ１を挟んで試験室４−１，４−２を配置したので、
試験室４−１内の試験片Ｓ１と，試験室４−２内の試験
片Ｓ２に対し、同等の（または照射強度に差異を付け
た）人工光Ｒを同時に照射できる。また、試験室４−１
と，試験室４−２とに異なる環境条件を設定するので、
環境条件の差異が劣化の進行に与えた影響を評価するこ
とができ、劣化要因を容易に判定することが出来る。
【００１９】−第２の実施形態− 図７は、本発明の第２の実施形態にかかる耐候性試験装
置を示す断面図である。この耐候性試験装置２００は、
試験室４−１および試験片支持板６−１と，試験室４−
２および試験片支持板６−２を、鉛直方向に対して傾斜
角θだけ傾けると共に、反射板３−１，３−２の反射面
の放物線中心軸を水平方向に対して前記傾斜角θだけ傾
けた構成である。これにより、前記試験片Ｓ１，試験片
Ｓ２に人工光Ｒが垂直に照射される。以上の耐候性試験
装置２００によれば、試験室４−１，４−２を鉛直方向
に対して傾けるので装置全体の横幅を低減でき、設置ス
ペースを低減できる。また、試験片支持板６−１，６−
２から試験片Ｓ１，Ｓ２が外れ落ちにくくなる。
置を示す断面図である。この耐候性試験装置２００は、
試験室４−１および試験片支持板６−１と，試験室４−
２および試験片支持板６−２を、鉛直方向に対して傾斜
角θだけ傾けると共に、反射板３−１，３−２の反射面
の放物線中心軸を水平方向に対して前記傾斜角θだけ傾
けた構成である。これにより、前記試験片Ｓ１，試験片
Ｓ２に人工光Ｒが垂直に照射される。以上の耐候性試験
装置２００によれば、試験室４−１，４−２を鉛直方向
に対して傾けるので装置全体の横幅を低減でき、設置ス
ペースを低減できる。また、試験片支持板６−１，６−
２から試験片Ｓ１，Ｓ２が外れ落ちにくくなる。
【００２０】なお、上記第１，第２の実施形態では、ラ
ンプ１を挟んで２つの試験室４−１，４−２を配置した
が、ランプ１を取り囲む態様で３以上の試験室を配置し
てもよい。
ンプ１を挟んで２つの試験室４−１，４−２を配置した
が、ランプ１を取り囲む態様で３以上の試験室を配置し
てもよい。
【００２１】
【発明の効果】本発明の耐候性試験装置によれば、固定
光源を挟むか又は取り囲む態様で配置された２以上の試
験室内に同等の人工光を同時に照射可能なので、多彩な
環境条件下での紫外線照射を１度に行うことができ、試
験効率を向上できる。また、本発明の耐候性試験方法に
よれば、試験室ごとに異なる環境条件下で試験片に人工
光を照射するので、各試験片に生じた変化の違いに基づ
いて、劣化の要因となった環境条件を判定することが出
来る。
光源を挟むか又は取り囲む態様で配置された２以上の試
験室内に同等の人工光を同時に照射可能なので、多彩な
環境条件下での紫外線照射を１度に行うことができ、試
験効率を向上できる。また、本発明の耐候性試験方法に
よれば、試験室ごとに異なる環境条件下で試験片に人工
光を照射するので、各試験片に生じた変化の違いに基づ
いて、劣化の要因となった環境条件を判定することが出
来る。
【図１】本発明の第１の実施形態にかかる耐候性試験装
置を示す断面図である。
置を示す断面図である。
【図２】図１の耐候性試験装置の紫外線照射部の内部を
拡大して示す説明図である。
拡大して示す説明図である。
【図３】図１の耐候性試験装置の運転サイクルの一例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図４】図１の耐候性試験装置の運転サイクルの別の例
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図５】図１の耐候性試験装置の運転サイクルのさらに
別の例を示す説明図である。
別の例を示す説明図である。
【図６】図１の耐候性試験装置の運転サイクルのさらに
また別の例を示す説明図である。
また別の例を示す説明図である。
【図７】本発明の第２の実施形態にかかる耐候性試験装
置を示す断面図である。
置を示す断面図である。
【図８】従来の耐候性試験装置の一例を示す断面図であ
る。
る。
【図９】従来の耐候性試験装置の他例を示す断面図であ
る。
る。
１００，２００ 耐候性試験装置 １ ランプ ２ 紫外線カットフィルタ ３−１，３−２ 反射板 ４−１，４−２ 試験室 ５−１，５−２ 光導入窓 ６−１，６−２ 試験片支持板 ７−１，７−２ 表面スプレー ８−１，８−２ 裏面スプレー ３１ 曲率調整ネジ θ 傾斜角 Ｒ 人工光 Ｓ１，Ｓ２ 試験片
Claims (2)
- 【請求項１】 紫外線を含む人工光を放射し且つ位置お
よび光放射方向が不変の固定光源と、その固定光源を挟
むか又は取り囲む態様で配置され且つ独立した環境条件
を設定可能な２以上の試験室と、前記人工光を各試験室
内に導く反射板とを具備したことを特徴とする耐候性試
験装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の耐候性試験装置の各試
験室内に試験片を収容し、前記試験室ごとに異なる環境
条件下で当該試験片に前記人工光を照射し、当該照射に
より各試験片に生じた変化の違いに基づいて劣化要因を
判定することを特徴とする耐候性試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23080797A JPH1164209A (ja) | 1997-08-27 | 1997-08-27 | 耐候性試験装置および耐候性試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23080797A JPH1164209A (ja) | 1997-08-27 | 1997-08-27 | 耐候性試験装置および耐候性試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1164209A true JPH1164209A (ja) | 1999-03-05 |
Family
ID=16913592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23080797A Pending JPH1164209A (ja) | 1997-08-27 | 1997-08-27 | 耐候性試験装置および耐候性試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1164209A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003028785A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Nisshinbo Ind Inc | 擬似太陽光照射装置 |
| JP2007178570A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Ricoh Co Ltd | 感光体及びその製造方法 |
| CN100405041C (zh) * | 2005-07-27 | 2008-07-23 | 中国水产科学研究院东海水产研究所 | 渔用乙纶单丝加速老化测试方法 |
| JP2018096734A (ja) * | 2016-12-09 | 2018-06-21 | 日本電信電話株式会社 | 促進耐候性試験方法及び促進耐候性試験装置 |
| JP2019086318A (ja) * | 2017-11-02 | 2019-06-06 | 株式会社テクノアーク | 光暴露方法及び光暴露装置 |
-
1997
- 1997-08-27 JP JP23080797A patent/JPH1164209A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003028785A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Nisshinbo Ind Inc | 擬似太陽光照射装置 |
| CN100405041C (zh) * | 2005-07-27 | 2008-07-23 | 中国水产科学研究院东海水产研究所 | 渔用乙纶单丝加速老化测试方法 |
| JP2007178570A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Ricoh Co Ltd | 感光体及びその製造方法 |
| JP2018096734A (ja) * | 2016-12-09 | 2018-06-21 | 日本電信電話株式会社 | 促進耐候性試験方法及び促進耐候性試験装置 |
| JP2019086318A (ja) * | 2017-11-02 | 2019-06-06 | 株式会社テクノアーク | 光暴露方法及び光暴露装置 |
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