JP2019086318A - 光暴露方法及び光暴露装置 - Google Patents
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
Description
(1)材料の評価を行う光暴露装置であって、前記材料の所定の表面位置に少なくとも1つの所定の波長領域の光を照射することができる光源と、前記材料を保持することができる試料台と、前記材料を加熱することができるヒーターと、前記材料の温度を検知することができる温度センサと、前記材料を収容し、前記材料が照射される雰囲気をコントロールできる容器と、前記容器内に所定の雰囲気を供給することができる雰囲気調整装置と、前記温度センサからの出力に基づき、前記光源、前記ヒーター、及び前記雰囲気調整装置の少なくとも1つをコントロールするコントローラと、を含む光暴露装置。
ここで、第1、第2、及び第3の単色光源は、互いに置換可能に配置されてもよい。これら単色光源の発光原理が互いに同じであってもよく、異なっていてもよい。
図1から5は、本発明の実施例に関する光暴露装置の模式図を示す。図1は、シンプルな構成からなる基本的な光暴露装置1を示し、図2は、雰囲気を変えることができる試料室8を備える光暴露装置1aを示す。
図2の光暴露装置において、試料として、ブルースケール(JIS L 0841)を用いた。使用したLEDのピーク波長は、それぞれ、310nm、325nm、340nmであり、各LEDの照射エネルギーは、9mW/cm2であった。このときの照射面積は、何れも、約1cm2であった。また評価した温度は、試料温度で、23℃、43℃、63℃であった。試験は、24時間行い、試験後の試料と未暴露試料とを比較して、それぞれ、色差ΔE*(ab)を求めた。数値が大きい方が、色差が大きく、色の変化が大きかったことを示す。その結果を表1にまとめる。
2 LED取り付け架台
2a 照射部
4、4a LED
5 試料台
5a 熱溜(Cu)
5b 58 ヒーター
6、6a、7 試料
8 試料室
9a、9b 温度センサ
12 筐体
14 LED1
16 LED2
18 LED3
20 LED4
22 LED5
24 LED6
26 光源保持部
30 光学系アタッチメント1
32 ハーフミラー(光源側)
34 ハーフミラー(対象側)
40 サンプル(材料)
42 照射スポット1
44 照射スポット2
46 照射スポット3
48 照射スポット4
50 照射スポット5
52 照射スポット6
54 照射スポット7
56 冷却装置
60 光学系アタッチメント2
70 光学系アタッチメント3
72 ハーフミラー
Claims (13)
- 材料の評価を行う光暴露装置であって、
前記材料の所定の表面位置に少なくとも1つの所定の波長領域の光を照射することができる光源と、
前記材料を保持することができる試料台と、
前記材料を加熱することができるヒーターと、
前記材料の温度を検知することができる温度センサと、
前記材料を収容し、前記材料が照射される雰囲気をコントロールできる容器と、
前記容器内に所定の雰囲気を供給することができる雰囲気調整装置と、
前記温度センサからの出力に基づき、前記光源、前記ヒーター、及び前記雰囲気調整装置の少なくとも1つをコントロールするコントローラと、
を含む光暴露装置。 - 前記光源は、第1の単色光源及び第2の単色光源を含み、
それぞれの単色光源は、それぞれ異なる第1のピーク波長及び第2のピーク波長を備えることを特徴とする請求項1に記載の光暴露装置。 - 前記光源は、更に、第3のピーク波長を備える第3の単色光源を含み、前記第3のピーク波長は、前記第1及び第2のピーク波長いずれとも異なることを特徴とする請求項2に記載の光暴露装置。
- 前記第1の単色光源及び第2の単色光源は、それぞれ第1のLED及び第2のLEDを含むことを特徴とする請求項2に記載の光暴露装置。
- 光照射中において、前記光源と前記材料の間に、熱線遮断ガラスを配置することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の光暴露装置。
- 前記材料の前記所定の表面位置は、第1の表面位置及び第2の表面位置を含み、
それぞれの位置において、所定の半径を持つ円相当の面積において照射することができ、
前記第1の表面位置及び第2の表面位置が、そのような照射を受けて温度の変化があった場合であっても、かかる温度変化が相互干渉しないほど離れて前記第1の表面位置及び第2の表面位置が備えられていることを特徴とする請求項1に記載の光暴露装置。 - 前記光源は、第1の単色光源及び第2の単色光源を含み、
それぞれの単色光源は、それぞれ異なる第1のピーク波長及び第2のピーク波長を備え、
前第1の表面位置及び第2の表面位置に、それぞれ前記第1の単色光源及び第2の単色光源のみがそれぞれの単色光を照射することを特徴とする請求項6に記載の光暴露装置。 - 前記所定の表面位置は、更に第3の表面位置を含み、
前記光源は、更に、第1及び第2のピーク波長の何れにも異なる第3のピーク波長を備える第3の単色光源を含み、
前記第3の表面位置がそのような照射を受けて温度の変化があった場合であっても、前記第1から第3の位置のそれぞれの温度変化が相互干渉しないほど離れて、前記第3の位置が備えられていることを特徴とする請求項7に記載の光暴露装置。 - 前記第1の単色光源及び第2の単色光源は、それぞれ第1のLED及び第2のLEDを含むことを特徴とする請求項7に記載の光暴露装置。
- 光照射中において、前記光源と前記材料の間に、熱線遮断ガラスを配置することを特徴とする請求項6から9のいずれかに記載の光暴露装置。
- 材料の評価を行う光暴露方法であって、
前記材料の少なくとも1つの位置に、光源が少なくとも1つの所定の波長領域の光を、所定の半径を持つ円相当の面積において照射するステップと、
センサが前記少なくとも1つの位置の温度を測定するステップと、
コントローラが測定した温度を基準値と比較し前記材料の前記少なくとも1つの位置を加熱又は冷却する指令を送るステップと、
前記指令を受けてヒーター又は冷却装置がそれぞれ機能するステップと、を含む、光暴露方法。 - 前記材料の前記少なくとも1つの位置が、第1及び第2の位置を含み、
前記少なくとも1つの所定の波長領域の光が、第1及び第2の波長領域の光を含み、
前記照射するステップにおいて、前記第1及び第2の位置にそれぞれ前記第1及び第2の波長領域の光が照射されることを特徴とする請求項11に記載の光暴露方法。 - 試料温度一定で、異なる波長の光を同一試料の所定距離隔てた異なる場所に、照射することにより、異なる波長の光による暴露試験を同時に行うことができる試験方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021085749A (ja) * | 2019-11-27 | 2021-06-03 | ダイプラ・ウィンテス株式会社 | 光照射試験装置 |
US11474054B2 (en) * | 2018-10-22 | 2022-10-18 | Equistar Chemicals, Lp | Temperature control apparatuses and methods |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1164209A (ja) * | 1997-08-27 | 1999-03-05 | Daipura Uintesu Kk | 耐候性試験装置および耐候性試験方法 |
US20070051906A1 (en) * | 2003-09-24 | 2007-03-08 | Brennan Patrick J | Method and apparatus for determining the resistance of materials to light and corrosives |
JP2014235151A (ja) * | 2013-06-05 | 2014-12-15 | スガ試験機株式会社 | 耐候性試験機および耐候性試験方法 |
US20150027242A1 (en) * | 2013-07-26 | 2015-01-29 | Suga Test Instruments Co., Ltd. | Weathering test instrument and solid-state light-emitting device system |
-
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1164209A (ja) * | 1997-08-27 | 1999-03-05 | Daipura Uintesu Kk | 耐候性試験装置および耐候性試験方法 |
US20070051906A1 (en) * | 2003-09-24 | 2007-03-08 | Brennan Patrick J | Method and apparatus for determining the resistance of materials to light and corrosives |
JP2007506969A (ja) * | 2003-09-24 | 2007-03-22 | キュー ラブ コーポレイション | 光及び腐食物質に対する材料の耐性を判断するための方法及び装置 |
JP2014235151A (ja) * | 2013-06-05 | 2014-12-15 | スガ試験機株式会社 | 耐候性試験機および耐候性試験方法 |
US20150027242A1 (en) * | 2013-07-26 | 2015-01-29 | Suga Test Instruments Co., Ltd. | Weathering test instrument and solid-state light-emitting device system |
JP2015025752A (ja) * | 2013-07-26 | 2015-02-05 | スガ試験機株式会社 | 耐候性試験機および固体発光素子システム |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11474054B2 (en) * | 2018-10-22 | 2022-10-18 | Equistar Chemicals, Lp | Temperature control apparatuses and methods |
JP2021085749A (ja) * | 2019-11-27 | 2021-06-03 | ダイプラ・ウィンテス株式会社 | 光照射試験装置 |
JP7377686B2 (ja) | 2019-11-27 | 2023-11-10 | ダイプラ・ウィンテス株式会社 | 光照射試験装置 |
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