JP6028601B2 - 耐光性試験装置 - Google Patents
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従来から、材料の耐光性を試験する方法として、高出力の光源を用い、通常使用される数十倍の照射エネルギーを持つ光を試験片に当てて、短期間で試験片の劣化状態を調べる促進試験が行われている(例えば特許文献1)。
しかしながら、LED光源は従来光源(蛍光灯、白熱灯、ナトリウムランプ、キセノンランプ等)とは異なる波長特性を有すること、また、従来光源よりも長寿命である為、照明装置を構成する材料に対してより長い性能保証期間が求められることから、前記従来光源を用いた耐光性試験では、LED光源に対する試験材料の評価が十分にできていなかった。
一方、促進試験に使用できるほどの高出力のLED光源は、実用化されていないのが現状である。
前記集光部材は、2つ以上の開口部を有し、
前記試験材料保持部材は、前記集光部材の2つ以上の開口部のうち、1つの開口部に配置され、
前記LED光源は、前記集光部材の前記試験材料保持部材が配置されていない開口部に配置され、
前記LED光源から出射した光を前記前記LED光源が配置された開口部から入射し、前記集光部材の筒状の内部で反射、集光し、前記試験材料保持部材が配置された開口部から前記光を出射して、前記試験材料保持部材上に保持された試験材料へ集光した光を照射することを特徴とする耐光性試験装置。
(3)前記集光部材が冷却機能を備える(1)〜(2)のいずれかに記載の耐光性試験装置。
(4)前記筒状の集光部材の内部および/または開口部に特定波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターを備える(1)〜(3)のいずれかに記載の耐光性試験装置。
(5)前記光学フィルターが赤外線領域波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターである(4)に記載の耐光性試験装置。
(6)前記光学フィルターが紫外線領域波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターである(4)または(5)のいずれかに記載の耐光性試験装置。
(7)(1)〜(6)のいずれかに記載の耐光性試験装置を用いた材料の耐光性試験方法。
LED光源から生ずる熱を集光部材(1)の表面積の広い筒状の外側の面から放射することによって冷却機能を有する。更に集光部材(1)の外側の面に放熱フィンや放熱パイプを有すると高効率の冷却機能が得られるため好ましい。
集光部材(1)を冷媒によって冷却する方法としては、集光部材(1)の外側の面に沿って冷媒が循環するパイプを巡らせる方法、集光部材(1)の筒を、内部空間を有する二重構造とし、内部空間に冷媒を通す方法などが挙げられる。尚、冷媒は集光部材(1)と冷却装置の間で循環され冷却を行う。冷却装置は、各種公知の冷却手段を用いることができる。
集光部材(1)のLED光源(2)側の開口部から試験材料保持部材(3)側の開口部までの長さは、特に限定されないが、30mm以上であることが好ましく、50mm以上であることがより好ましい。集光部材(1)のLED光源(2)側の開口部から試験材料保持部材(3)側の開口部までの長さが10mm未満の場合、LED光源(2)から発生する熱が試験材料に伝導しやすく、耐光性試験として実際の長期使用の再現性に劣る場合がある。
赤外線領域波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターは、波長780nm以上の電磁波の透過率が60%以下であるものが好ましく、30%以下のものがより好ましい。
上記光学フィルターは2枚以上を重ねて使用しても良い。
紫外線領域波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターは、波長350nm以下の電磁波の透過率が60%以下であるものが好ましく、30%以下のものがより好ましい。
上記光学フィルターは2枚以上を重ねて使用しても良い。
赤外線領域波長と紫外線領域波長の透過を同時に制限する光学フィルターは、波長780nm以上の電磁波の透過率が60%以下かつ波長350nm以下の電磁波の透過率が60%以下であるものが好ましく、波長780nm以上の電磁波の透過率が30%以下かつ波長350nm以下の電磁波の透過率が30%以下であるものがより好ましい
上記光学フィルターは2枚以上を重ねて使用しても良い。
本発明の他の実施形態(図3)は、互いに径の異なる筒型形状が同心円状に入れ子になった集光部材を採用している。図3の実施形態では、3つの筒型形状を組み合わせた形状により4つの開口部を有し、3つの開口部に複数のLEDユニット(2a)から成るLED光源を複数有し、複数のLED光源から一つの集光部材(1)へ入射することによって、より高い照射エネルギーを持つ光を試験材料(S)に照射することができ、短期間で効率の良い耐光性試験の実施が可能となる、或いは、集光部材(1)を大型化することができ、照度が均一で広い照射面積を確保し、一度により多くの試験材料の耐光性試験の実施が可能となる。本実施形態では、図3に示すように集光部材(1)の内側の筒型形状が反射壁となり、より照度が均一で広い照射面積を確保することができる。
また、図5のように、図3の実施形態と図4の実施形態を組み合わせることにより、さらに高い照射エネルギーを持つ光を試験材料(S)に照射することができる。
本発明の耐光性試験方法は、上述した本発明の耐光性試験装置の試験材料保持部材に試験材料を保持し、LED光源の光を任意の時間照射して材料の変化を調査する。LED光源は、試験する目的に合わせて適宜選択される。例えば、製品に使用するLED光源と同じものを耐光性試験装置の光源に用い、製品の光拡散部材として使用を検討している材料を試験材料とすることもできる。
また、試験目的によってはLED光源から照射される光を特定波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターを通して試験材料に照射する。例えば、集光された光束付近では、通常使用環境にはない濃度のオゾンが発生する影響で、材料の実際の長期使用による変化とは異なる試験結果がでてしまうことがある。このような場合は、LED光源から照射される光を紫外線波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターを通して試験材料に照射することにより、試験結果を実際の長期使用の再現に近づけることができる。
2 LED光源
2aLEDユニット
3 試験材料保持部材
4 光学フィルター
5 温度センサ
6 冷却装置
7 冷媒管
8 冷却ジャケット
9 反射筒
S 試験材料
Claims (7)
- 筒型形状または筒型形状を2つ以上組み合わせた形状を有する集光部材と、試験材料保持部材と、LED光源と、を備えた耐光性試験装置であって、
前記試験材料保持部材の表裏から光を照射するように前記LED光源と前記集光部材の組み合わせが複数配置されており、
前記集光部材は、2つ以上の開口部を有し、且つ、内面が鏡面加工されており、
前記試験材料保持部材は、前記集光部材の2つ以上の開口部のうち、1つの開口部に配置され、
前記LED光源は、前記集光部材の前記試験材料保持部材が配置されていない開口部に配置され、
前記集光部材の前記LED光源配置側の開口部から前記試験材料保持部材配置側の開口部までの長さが30mm以上であり、
前記LED光源から出射した光を前記前記LED光源が配置された開口部から入射し、前記集光部材の筒状の内部で反射、集光し、前記試験材料保持部材が配置された開口部から前記光を出射して、前記試験材料保持部材上に保持された試験材料へ集光した光を照射する
ことを特徴とする耐光性試験装置。 - 前記LED光源が複数のLEDユニットから構成されている請求項1に記載の耐光性試験装置。
- 前記集光部材が冷却機能を備える請求項1または2のいずれかに記載の耐光性試験装置。
- 前記筒状の集光部材の内部および/または開口部に特定波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターを備える請求項1〜3のいずれかに記載の耐光性試験装置。
- 前記光学フィルターが赤外線領域波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターである請求項4に記載の耐光性試験装置。
- 前記光学フィルターが紫外線領域波長の電磁波の透過を制限する光学フィルターである請求項4または5のいずれかに記載の耐光性試験装置。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の耐光性試験装置を用いた材料の耐光性試験方法。
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