JPH1140654A - 基板保持構造 - Google Patents
基板保持構造Info
- Publication number
- JPH1140654A JPH1140654A JP19275397A JP19275397A JPH1140654A JP H1140654 A JPH1140654 A JP H1140654A JP 19275397 A JP19275397 A JP 19275397A JP 19275397 A JP19275397 A JP 19275397A JP H1140654 A JPH1140654 A JP H1140654A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- film
- substrate holding
- holding structure
- present
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 膜が形成された基板を基板保持部から外す場
合、膜の分断によるパーティクルの発生を防止すること
ができるようにする。 【解決手段】 基板載置台21の上面には、基板22が
載置される基板載置部211と、この基板載置部211
に基板22を案内するための基板案内部212と、基板
22に蓄積された熱を放射するための放熱部213と、
基板載置部211に載置された基板22の端部に接触す
るような部分が存在しないようにするための接触防止部
214とが設けられている。
合、膜の分断によるパーティクルの発生を防止すること
ができるようにする。 【解決手段】 基板載置台21の上面には、基板22が
載置される基板載置部211と、この基板載置部211
に基板22を案内するための基板案内部212と、基板
22に蓄積された熱を放射するための放熱部213と、
基板載置部211に載置された基板22の端部に接触す
るような部分が存在しないようにするための接触防止部
214とが設けられている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板の表面に所定
の膜を形成するための成膜装置において、成膜時に、基
板を保持する基板保持構造に関する。
の膜を形成するための成膜装置において、成膜時に、基
板を保持する基板保持構造に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体装置や液晶表示装置など
の電気的固体装置を製造する場合は、基板に所定の膜を
形成する必要がある。この成膜処理は、例えば、プラズ
マCVD(Chemical Vapor Despo
sition)装置や熱CVD装置等の成膜装置によっ
て行われる。
の電気的固体装置を製造する場合は、基板に所定の膜を
形成する必要がある。この成膜処理は、例えば、プラズ
マCVD(Chemical Vapor Despo
sition)装置や熱CVD装置等の成膜装置によっ
て行われる。
【0003】図5は、プラズマCVD装置の成膜容器の
内部、すなわち、成膜室の構成の一例を示す側断面図で
ある。
内部、すなわち、成膜室の構成の一例を示す側断面図で
ある。
【0004】図5において、11は成膜容器を示す。こ
の成膜容器11の内部、すなわち、成膜室111には、
基板17が載置される基板載置台12と、基板17を基
板載置台12に載置したり、基板載置台12から取り上
げるための複数の昇降ピン13,14と、プラズマを発
生させるための一対の放電電極15,16とが設けられ
ている。
の成膜容器11の内部、すなわち、成膜室111には、
基板17が載置される基板載置台12と、基板17を基
板載置台12に載置したり、基板載置台12から取り上
げるための複数の昇降ピン13,14と、プラズマを発
生させるための一対の放電電極15,16とが設けられ
ている。
【0005】このような構成において、成膜処理を行う
場合は、まず、成膜室111の外部から成膜室111に
図示しない搬送機構により基板17が搬送される。次
に、昇降ピン13,14が上昇駆動される。これによ
り、基板17が昇降ピン13,14に支持される。次
に、昇降ピン13,14が下降駆動される。これによ
り、基板17が基板載置台12に載置される。
場合は、まず、成膜室111の外部から成膜室111に
図示しない搬送機構により基板17が搬送される。次
に、昇降ピン13,14が上昇駆動される。これによ
り、基板17が昇降ピン13,14に支持される。次
に、昇降ピン13,14が下降駆動される。これによ
り、基板17が基板載置台12に載置される。
【0006】次に、放電電極15,16間に反応ガスが
供給される。また、この放電電極15,16間に高周波
電力が印加される。これにより、放電電極15,16間
にプラズマが発生する。その結果、反応ガスが活性化さ
れ、基板17の表面に所定の膜18が形成される。
供給される。また、この放電電極15,16間に高周波
電力が印加される。これにより、放電電極15,16間
にプラズマが発生する。その結果、反応ガスが活性化さ
れ、基板17の表面に所定の膜18が形成される。
【0007】膜18の形成が終了すると、昇降ピン1
3,14が上昇駆動される。これにより、基板17が基
板載置台12から持ち上げられる。次に、昇降ピン1
3,14に支持された基板17が図示しない搬送機構に
より成膜室111の外部に搬送される。以上により、成
膜処理が終了する。
3,14が上昇駆動される。これにより、基板17が基
板載置台12から持ち上げられる。次に、昇降ピン1
3,14に支持された基板17が図示しない搬送機構に
より成膜室111の外部に搬送される。以上により、成
膜処理が終了する。
【0008】図6は、従来の基板載置台12の構成を示
す側面図である。この基板載置台12の上面、すなわ
ち、基板17が載置される面の面積は、基板17の面積
より大きくなるように設定されている。これは、基板1
7に蓄積されている熱を効率的に放射するためと、基板
17が基板載置台12から脱落するのを防止するためで
ある。
す側面図である。この基板載置台12の上面、すなわ
ち、基板17が載置される面の面積は、基板17の面積
より大きくなるように設定されている。これは、基板1
7に蓄積されている熱を効率的に放射するためと、基板
17が基板載置台12から脱落するのを防止するためで
ある。
【0009】基板載置台12の上面の中央部には、基板
17が載置される基板載置部121が設けられている。
この基板載置部121の周辺には、基板17を基板載置
部121に案内するための基板案内部122が設けられ
ている。この基板案内部122の周辺には、基板17に
蓄積されている熱を放射するための放熱部123が設け
られている。この放熱部123は、また、基板17が基
板載置部121から脱落するのを防止する機能も有す
る。
17が載置される基板載置部121が設けられている。
この基板載置部121の周辺には、基板17を基板載置
部121に案内するための基板案内部122が設けられ
ている。この基板案内部122の周辺には、基板17に
蓄積されている熱を放射するための放熱部123が設け
られている。この放熱部123は、また、基板17が基
板載置部121から脱落するのを防止する機能も有す
る。
【0010】上記構成においては、基板17は、基板案
内部122に案内されて基板載置部121に導かれる。
これにより、昇降ピン13,14に支持された基板17
の水平方向の位置が基板載置部121の水平方向の位置
とずれている場合であっても、基板17は、確実に基板
載置部121に載置される。
内部122に案内されて基板載置部121に導かれる。
これにより、昇降ピン13,14に支持された基板17
の水平方向の位置が基板載置部121の水平方向の位置
とずれている場合であっても、基板17は、確実に基板
載置部121に載置される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成においては、膜18が形成された基板17を基板載置
台12から持ち上げる場合、膜18の分断によってパー
ティクルが発生するという問題があった。これを図7を
参照しながら説明する。図7は、図6において、丸Aで
囲んだ部分を拡大して示すものである。
成においては、膜18が形成された基板17を基板載置
台12から持ち上げる場合、膜18の分断によってパー
ティクルが発生するという問題があった。これを図7を
参照しながら説明する。図7は、図6において、丸Aで
囲んだ部分を拡大して示すものである。
【0012】成膜処理を行うと、膜18は、図7に示す
ように、基板17の表面だけでなく、基板17の周辺部
(案内部122と放熱部123)の表面にも形成され
る。この場合、基板17の端部が基板載置台12に接し
ているため、基板17の表面に形成される膜18と周辺
部(121,123)の表面に形成される膜18とが一
連の膜として形成される。
ように、基板17の表面だけでなく、基板17の周辺部
(案内部122と放熱部123)の表面にも形成され
る。この場合、基板17の端部が基板載置台12に接し
ているため、基板17の表面に形成される膜18と周辺
部(121,123)の表面に形成される膜18とが一
連の膜として形成される。
【0013】これにより、膜18が形成された基板17
を基板載置台12から持ち上げると、膜18は、基板1
7と周辺部(121,123)との境で分断される。そ
の結果、膜18の断片がパーティクルとして飛散する。
を基板載置台12から持ち上げると、膜18は、基板1
7と周辺部(121,123)との境で分断される。そ
の結果、膜18の断片がパーティクルとして飛散する。
【0014】このようなパーティクルが発生すると、基
板17が汚染され、歩留まりが低下する。したがって、
この問題は早急に解決する必要がある。
板17が汚染され、歩留まりが低下する。したがって、
この問題は早急に解決する必要がある。
【0015】そこで、本発明は、膜が形成された基板を
基板保持部から外す場合、膜の分断によるパーティクル
の発生を防止可能な基板保持構造を提供することを目的
とする。
基板保持部から外す場合、膜の分断によるパーティクル
の発生を防止可能な基板保持構造を提供することを目的
とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1記載の基板保持構造は、基板の表面に所定の
膜を形成するための成膜装置の成膜室に設けられ、基板
に膜を形成する場合に、基板を保持する基板保持構造に
おいて、基板に膜を形成する場合に、基板を保持する基
板保持部と、この基板保持部に保持された基板の端部に
接触するような部分が存在しないようにするための接触
防止部とを設けるようにしたものである。
に請求項1記載の基板保持構造は、基板の表面に所定の
膜を形成するための成膜装置の成膜室に設けられ、基板
に膜を形成する場合に、基板を保持する基板保持構造に
おいて、基板に膜を形成する場合に、基板を保持する基
板保持部と、この基板保持部に保持された基板の端部に
接触するような部分が存在しないようにするための接触
防止部とを設けるようにしたものである。
【0017】この請求項1記載の基板保持構造では、基
板を基板保持部で保持した場合、この基板の端部は、接
触防止部の作用により、他のどの部分にも接触しない。
これにより、基板の表面に形成された膜は、基板の端部
で途切れる。その結果、膜の形成が終了した基板を基板
保持部から外す場合、膜の分断によるパーティクルが発
生することはない。
板を基板保持部で保持した場合、この基板の端部は、接
触防止部の作用により、他のどの部分にも接触しない。
これにより、基板の表面に形成された膜は、基板の端部
で途切れる。その結果、膜の形成が終了した基板を基板
保持部から外す場合、膜の分断によるパーティクルが発
生することはない。
【0018】請求項2記載の基板保持構造は、請求項1
記載の基板保持構造において、基板保持部に保持された
基板の周辺に設けられ、少なくとも基板に蓄積された熱
を放射する機能を有する周辺部をさらに設けるようにし
たものである。
記載の基板保持構造において、基板保持部に保持された
基板の周辺に設けられ、少なくとも基板に蓄積された熱
を放射する機能を有する周辺部をさらに設けるようにし
たものである。
【0019】この請求項2記載の基板保持構造では、基
板に蓄積されている熱は周辺部により効率的に放射され
る。また、この周辺部によって、基板保持部からの基板
の脱落が防止される。
板に蓄積されている熱は周辺部により効率的に放射され
る。また、この周辺部によって、基板保持部からの基板
の脱落が防止される。
【0020】請求項3記載の基板保持構造は、請求項2
記載の基板保持構造において、周辺部を、基板保持部に
保持された基板の周辺に設けられ、基板保持部に基板を
案内する基板案内部と、この基板案内部の周辺に設けら
れ、基板に蓄積されている熱を放射するための放熱部と
を有するように構成したものである。
記載の基板保持構造において、周辺部を、基板保持部に
保持された基板の周辺に設けられ、基板保持部に基板を
案内する基板案内部と、この基板案内部の周辺に設けら
れ、基板に蓄積されている熱を放射するための放熱部と
を有するように構成したものである。
【0021】この請求項3記載の基板保持構造では、周
辺部に放熱部だけでなく基板案内部も設けるようにした
ので、基板の放熱効果が高めることができるだけでな
く、基板を基板保持部に保持する場合、基板保持部に対
する基板の位置がずれている場合であって、基板を確実
に基板保持部に案内することができる。
辺部に放熱部だけでなく基板案内部も設けるようにした
ので、基板の放熱効果が高めることができるだけでな
く、基板を基板保持部に保持する場合、基板保持部に対
する基板の位置がずれている場合であって、基板を確実
に基板保持部に案内することができる。
【0022】請求項4記載の基板保持構造は、請求項1
記載の基板保持構造において、接触防止部を、基板保持
部に保持された基板の周囲に沿って形成された溝によっ
て、基板の端部に接触する部分が存在しないように構成
したものである。
記載の基板保持構造において、接触防止部を、基板保持
部に保持された基板の周囲に沿って形成された溝によっ
て、基板の端部に接触する部分が存在しないように構成
したものである。
【0023】この請求項4記載の基板保持構造では、溝
を形成するだけの簡単な構成により、基板の端部に接触
する部分が存在しないようにたすることができる。
を形成するだけの簡単な構成により、基板の端部に接触
する部分が存在しないようにたすることができる。
【0024】
【実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
施の形態を詳細に説明する。
【0025】まず、本発明の第1の実施の形態を説明す
る。図1は、本発明の第1の実施の形態の構成を示す側
断面図である。なお、図1には、先の図5のように、基
板を台の上に載置する方式の基板保持構造を代表として
示す。
る。図1は、本発明の第1の実施の形態の構成を示す側
断面図である。なお、図1には、先の図5のように、基
板を台の上に載置する方式の基板保持構造を代表として
示す。
【0026】図において、21は、基板載置台を示す。
この基板載置台21は、肉厚の板体によって形成されて
いる。また、この基板載置台21は、図示しない成膜室
に水平に配設されている。
この基板載置台21は、肉厚の板体によって形成されて
いる。また、この基板載置台21は、図示しない成膜室
に水平に配設されている。
【0027】この基板載置台21の上面には、基板22
が載置される。この上面の面積は、基板22の面積より
広くなるように設定されている。これは、基板22に蓄
積された熱を放射するためと、基板22が基板載置台2
1から脱落しないようにするためである。
が載置される。この上面の面積は、基板22の面積より
広くなるように設定されている。これは、基板22に蓄
積された熱を放射するためと、基板22が基板載置台2
1から脱落しないようにするためである。
【0028】基板載置台21の上面には、基板22が載
置される基板載置部(基板保持部)211と、この基板
載置部211に基板22を案内するための基板案内部2
12と、基板22に蓄積された熱を放射するための放熱
部213と、基板載置部211に載置された基板22の
端部に接触するような部分が存在しないようにするため
の接触防止部214と、昇降ピン24,25を通すため
のピン挿入孔215,216とが設けられている。これ
らは、例えば、上述した肉厚の板体を適宜切り欠くこと
により形成されている。なお、放熱部213は、基板2
2に蓄積された熱を放射する機能のほかに、基板22が
基板載置部211から脱落するのを防止する機能を有す
る。
置される基板載置部(基板保持部)211と、この基板
載置部211に基板22を案内するための基板案内部2
12と、基板22に蓄積された熱を放射するための放熱
部213と、基板載置部211に載置された基板22の
端部に接触するような部分が存在しないようにするため
の接触防止部214と、昇降ピン24,25を通すため
のピン挿入孔215,216とが設けられている。これ
らは、例えば、上述した肉厚の板体を適宜切り欠くこと
により形成されている。なお、放熱部213は、基板2
2に蓄積された熱を放射する機能のほかに、基板22が
基板載置部211から脱落するのを防止する機能を有す
る。
【0029】基板載置部211は、基板載置台21の上
面の中央部に設けられている。基板案内部212は、こ
の基板載置部211の周辺に設けられている。これら
は、例えば、基板載置台21の上面にすり鉢状の凹状部
を形成することにより形成されている。この場合、基板
載置部211は、この凹状部の底部に設定される。ま
た、基板案内部212は、この凹状部の側部に設定され
る。
面の中央部に設けられている。基板案内部212は、こ
の基板載置部211の周辺に設けられている。これら
は、例えば、基板載置台21の上面にすり鉢状の凹状部
を形成することにより形成されている。この場合、基板
載置部211は、この凹状部の底部に設定される。ま
た、基板案内部212は、この凹状部の側部に設定され
る。
【0030】なお、凹状部の深さは、基板22の厚みと
ほぼ同じ値になるように設定されている。これにより、
基板載置部211に載置された基板22の上面は、放熱
部213の上面とほぼ同じ高さになる。
ほぼ同じ値になるように設定されている。これにより、
基板載置部211に載置された基板22の上面は、放熱
部213の上面とほぼ同じ高さになる。
【0031】接触防止部214は、基板載置部211と
基板案内部212との境界部に設けられている。この接
触防止部214は、例えば、基板載置部211に載置さ
れた基板22の周囲に沿って形成された溝aによって、
基板22の端部に接触するような部分が存在しないよう
にしている。言い換えれば、基板22の端部が基板載置
台21に接触しないようにしている。
基板案内部212との境界部に設けられている。この接
触防止部214は、例えば、基板載置部211に載置さ
れた基板22の周囲に沿って形成された溝aによって、
基板22の端部に接触するような部分が存在しないよう
にしている。言い換えれば、基板22の端部が基板載置
台21に接触しないようにしている。
【0032】この様子を図2に示す。図2は、図1にお
いて、丸Bで囲む部分を拡大して示す図である。図示の
ごとく、溝aの外径は、基板22の外径より一回り大き
くなるように設定され、内径は、一回り小さくなるよう
に設定されている。これにより、基板載置部211に載
置された基板22の端部は、基板載置部221からはみ
出し、基板載置台21に接触しないようになる。なお、
溝aの深さは、例えば、0.2〜0.5mm程度に設定
されている。
いて、丸Bで囲む部分を拡大して示す図である。図示の
ごとく、溝aの外径は、基板22の外径より一回り大き
くなるように設定され、内径は、一回り小さくなるよう
に設定されている。これにより、基板載置部211に載
置された基板22の端部は、基板載置部221からはみ
出し、基板載置台21に接触しないようになる。なお、
溝aの深さは、例えば、0.2〜0.5mm程度に設定
されている。
【0033】このような構成においては、昇降ピン2
4,25に支持された基板22は、基板案内部212に
よって基板載置部211に案内される。基板載置部21
1に案内された基板22は、この基板載置部211に載
置される。このとき、基板22は、その端部が基板載置
部211からはみ出すように位置決めされる。
4,25に支持された基板22は、基板案内部212に
よって基板載置部211に案内される。基板載置部21
1に案内された基板22は、この基板載置部211に載
置される。このとき、基板22は、その端部が基板載置
部211からはみ出すように位置決めされる。
【0034】これにより、基板22の端部が基板載置台
21に接触することがないので、基板22の表面に形成
される膜23と周辺部(基板案内部212と放熱部21
3)の表面に形成される膜23とが一連の膜として形成
されることがない。すなわち、基板22の表面に形成さ
れた膜23がその端部で途切れる。その結果、膜23が
形成された基板22を基板載置部21から持ち上げる場
合に、これら2つの膜23の分断が発生することがない
ので、膜23の分断によるパーティクルも発生しない。
21に接触することがないので、基板22の表面に形成
される膜23と周辺部(基板案内部212と放熱部21
3)の表面に形成される膜23とが一連の膜として形成
されることがない。すなわち、基板22の表面に形成さ
れた膜23がその端部で途切れる。その結果、膜23が
形成された基板22を基板載置部21から持ち上げる場
合に、これら2つの膜23の分断が発生することがない
ので、膜23の分断によるパーティクルも発生しない。
【0035】以上詳述したように本実施の形態によれ
ば、基板載置部211に載置された基板22の端部に接
触するような部分が存在しないようにするための接触防
止部214を設けるようにしたので、成膜時、基板22
の表面に形成される膜23と周辺部(212,213)
の表面に形成される膜23とが一連の膜として形成され
ることを防止することができる。
ば、基板載置部211に載置された基板22の端部に接
触するような部分が存在しないようにするための接触防
止部214を設けるようにしたので、成膜時、基板22
の表面に形成される膜23と周辺部(212,213)
の表面に形成される膜23とが一連の膜として形成され
ることを防止することができる。
【0036】これにより、膜23が形成された基板22
を基板載置台21から持ち上げる場合、基板22の表面
に形成された膜23と周辺部(212,213)の表面
に形成された膜23との分断によるパーティクルの発生
を防止することができる。その結果、パーティクルの発
生による基板22の歩留まりの低下を防止することがで
きる。
を基板載置台21から持ち上げる場合、基板22の表面
に形成された膜23と周辺部(212,213)の表面
に形成された膜23との分断によるパーティクルの発生
を防止することができる。その結果、パーティクルの発
生による基板22の歩留まりの低下を防止することがで
きる。
【0037】また、本実施の形態によれば、基板案内部
212と放熱部213とからなる周辺部を設けるように
したので、基板22を基板載置部211に載置する場合
の基板22の位置決め精度を緩和することができるとと
もに、基板22に蓄積された熱を効率的に放射すること
ができ、さらには、基板22が基板載置部211から脱
落することを防止することができる。
212と放熱部213とからなる周辺部を設けるように
したので、基板22を基板載置部211に載置する場合
の基板22の位置決め精度を緩和することができるとと
もに、基板22に蓄積された熱を効率的に放射すること
ができ、さらには、基板22が基板載置部211から脱
落することを防止することができる。
【0038】また、本実施の形態によれば、基板載置部
211に載置された基板22の周囲に沿って溝aを形成
するだけの簡単な構成により、基板載置部211に載置
された基板22の端部に接触する部分が存在しないよう
にすることができる。
211に載置された基板22の周囲に沿って溝aを形成
するだけの簡単な構成により、基板載置部211に載置
された基板22の端部に接触する部分が存在しないよう
にすることができる。
【0039】次に、本発明の第2の実施の形態を説明す
る。先の実施の形態では、基板を水平に配設された基板
載置台に載置する場合を説明した。これに対し、本実施
の形態は、基板を垂直に配設された基板保持体で保持す
るようにしたものである。
る。先の実施の形態では、基板を水平に配設された基板
載置台に載置する場合を説明した。これに対し、本実施
の形態は、基板を垂直に配設された基板保持体で保持す
るようにしたものである。
【0040】図3は、本実施の形態の構成を示す側断面
図である。図において、41は、両面で基板42
(1),42(2)を保持する基板保持体を示し、43
(1),43(2)は、この基板42(1),42
(2)の表面等に形成された膜を示す。基板保持体41
は、図示しない成膜室に垂直に配設される。
図である。図において、41は、両面で基板42
(1),42(2)を保持する基板保持体を示し、43
(1),43(2)は、この基板42(1),42
(2)の表面等に形成された膜を示す。基板保持体41
は、図示しない成膜室に垂直に配設される。
【0041】この基板保持体41は、例えば、肉厚の板
体の両面を適宜切り欠くことにより、両面に、基板保持
部411(1),411(2)と、基板案内部412
(1),412(2)と、放熱部413(1),413
(2)と、接触防止部414(1),414(2)とを
有するように形成されている。
体の両面を適宜切り欠くことにより、両面に、基板保持
部411(1),411(2)と、基板案内部412
(1),412(2)と、放熱部413(1),413
(2)と、接触防止部414(1),414(2)とを
有するように形成されている。
【0042】基板保持部411(1),411(2)
は、例えば、図示しない静電吸着機構を使って基板42
を保持するようになっている。また、接触防止部414
(1),414(2)は、溝c(1),c(2)を使っ
て、基板42(1),42(2)の端部に接触するよう
な部分が存在しないようにしている。
は、例えば、図示しない静電吸着機構を使って基板42
を保持するようになっている。また、接触防止部414
(1),414(2)は、溝c(1),c(2)を使っ
て、基板42(1),42(2)の端部に接触するよう
な部分が存在しないようにしている。
【0043】このような構成においても、基板保持部4
11(1),411(2)に保持された基板42
(1),42(2)の端部が基板保持体41に接触しな
いようにすることができるので、先の実施の形態と同様
の効果を得ることができる。
11(1),411(2)に保持された基板42
(1),42(2)の端部が基板保持体41に接触しな
いようにすることができるので、先の実施の形態と同様
の効果を得ることができる。
【0044】次に、本発明の第3の実施の形態を説明す
る。先の実施の形態では、溝を使って、基板の端部に接
触するような部分が存在しないようにする場合を説明し
た。これに対し、本実施の形態は、間隔子(スペーサ)
を使って、これを実現するようにしたものである。
る。先の実施の形態では、溝を使って、基板の端部に接
触するような部分が存在しないようにする場合を説明し
た。これに対し、本実施の形態は、間隔子(スペーサ)
を使って、これを実現するようにしたものである。
【0045】図4は、本実施の形態の構成を示す図であ
る。なお、図には、本発明を、水平に配設される基板保
持構造に適用する場合を代表として示す。
る。なお、図には、本発明を、水平に配設される基板保
持構造に適用する場合を代表として示す。
【0046】図において、51は、基板載置台を示し、
52は、この基板載置台51に載置された基板52を示
し、53は、この基板52等に形成された膜を示す。基
板載置台51は、基板載置部511と、基板案内部51
2と、放熱部513と、接触防止部514とを有する。
基板載置部511には、昇降ピン54,55を通すため
の基板挿入孔515,516が形成されている。
52は、この基板載置台51に載置された基板52を示
し、53は、この基板52等に形成された膜を示す。基
板載置台51は、基板載置部511と、基板案内部51
2と、放熱部513と、接触防止部514とを有する。
基板載置部511には、昇降ピン54,55を通すため
の基板挿入孔515,516が形成されている。
【0047】接触防止部513は、間隔子dを使って、
基板載置部511に載置された基板53の端部に接触す
るような部分が存在しないようにしている。すなわち、
この間隔子dは、基板載置部511の上面に形成されて
いる。これにより、基板載置部511に載置される基板
52は、実際には、この間隔子dの上に載置される。そ
の結果、基板載置部511に載置された基板52の端部
が基板載置台51に接触しないようにすることができ
る。
基板載置部511に載置された基板53の端部に接触す
るような部分が存在しないようにしている。すなわち、
この間隔子dは、基板載置部511の上面に形成されて
いる。これにより、基板載置部511に載置される基板
52は、実際には、この間隔子dの上に載置される。そ
の結果、基板載置部511に載置された基板52の端部
が基板載置台51に接触しないようにすることができ
る。
【0048】なお、間隔子dは、例えば、連続する環状
に形成されている。これは、基板52の裏面に反応ガス
が回りこんで、この裏面に膜53が形成されてしまうこ
とを防止するためである。
に形成されている。これは、基板52の裏面に反応ガス
が回りこんで、この裏面に膜53が形成されてしまうこ
とを防止するためである。
【0049】このような構成においても、基板載置部5
11に載置された基板52の端部が基板載置台51に接
触しないようにすることができるので、先の実施の形態
と同様の効果を得ることができる。
11に載置された基板52の端部が基板載置台51に接
触しないようにすることができるので、先の実施の形態
と同様の効果を得ることができる。
【0050】以上、本発明の3つの実施の形態を詳細に
説明したが、本発明は、上述した実施の形態に限定され
るものではない。
説明したが、本発明は、上述した実施の形態に限定され
るものではない。
【0051】例えば、先の実施の形態では、本発明を、
基板案内部を有する基板保持構造に適用する場合を説明
した。しかしながら、本発明は、基板案内部を有しない
基板保持構造にも適用することができる。これは、基板
を基板保持部で保持する場合、基板保持部に対する基板
の位置精度として高い精度を得ることができる場合は、
基板案内部を必要としないからである。
基板案内部を有する基板保持構造に適用する場合を説明
した。しかしながら、本発明は、基板案内部を有しない
基板保持構造にも適用することができる。これは、基板
を基板保持部で保持する場合、基板保持部に対する基板
の位置精度として高い精度を得ることができる場合は、
基板案内部を必要としないからである。
【0052】また、先の実施の形態では、溝や間隔子を
使って、基板保持部に保持された基板の端部に接触する
ような部分が存在しないようにする場合を説明した。し
かしながら、本発明は、例えば、基板保持部と周辺部と
を分割し、この分割によって形成される空隙を使って、
基板保持部に保持された基板の端部に接触するような部
分が存在しないようにしてもよい。
使って、基板保持部に保持された基板の端部に接触する
ような部分が存在しないようにする場合を説明した。し
かしながら、本発明は、例えば、基板保持部と周辺部と
を分割し、この分割によって形成される空隙を使って、
基板保持部に保持された基板の端部に接触するような部
分が存在しないようにしてもよい。
【0053】また、先の実施の形態では、本発明を、放
熱部を有する基板保持構造に適用する場合を説明した。
しかしながら、本発明は、放熱部を有しない基板保持構
造にも適用することができる。これは、例えば、基板に
蓄積された熱を基板保持部で十分に放射することがで
き、かつ、基板保持部からの基板の脱落が問題にならな
い場合は、放熱部を必要としないからである。
熱部を有する基板保持構造に適用する場合を説明した。
しかしながら、本発明は、放熱部を有しない基板保持構
造にも適用することができる。これは、例えば、基板に
蓄積された熱を基板保持部で十分に放射することがで
き、かつ、基板保持部からの基板の脱落が問題にならな
い場合は、放熱部を必要としないからである。
【0054】また、先の実施の形態では、本発明をプラ
ズマCVD装置の基板保持構造に適用する場合を説明し
た。しかしながら、本発明は、プラズマCVD装置以外
の成膜装置の基板保持構造にも適用することができる。
ズマCVD装置の基板保持構造に適用する場合を説明し
た。しかしながら、本発明は、プラズマCVD装置以外
の成膜装置の基板保持構造にも適用することができる。
【0055】このほかにも、本発明は、その要旨を逸脱
しない範囲で種々様々変形実施可能なことは勿論であ
る。
しない範囲で種々様々変形実施可能なことは勿論であ
る。
【0056】
【発明の効果】以上詳述したように請求項1記載の基板
保持構造によれば、基板を基板保持部で保持する場合、
基板の端部に接触するような部分が存在しないようにす
るための接触防止部を設けるようにしたので、成膜時、
基板の表面に形成される膜が基板の端部で途切れるよう
にすることができる。これにより、膜が形成された基板
を基板保持部から外す場合に、膜の分断によるパーティ
クルの発生を防止することができる。その結果、このよ
うなパーティクルの発生による基板の歩留まりの低下を
防止することができる。
保持構造によれば、基板を基板保持部で保持する場合、
基板の端部に接触するような部分が存在しないようにす
るための接触防止部を設けるようにしたので、成膜時、
基板の表面に形成される膜が基板の端部で途切れるよう
にすることができる。これにより、膜が形成された基板
を基板保持部から外す場合に、膜の分断によるパーティ
クルの発生を防止することができる。その結果、このよ
うなパーティクルの発生による基板の歩留まりの低下を
防止することができる。
【0057】また、請求項2記載の基板保持構造によれ
ば、少なくとも放熱機能を有する周辺部を設けるように
したので、基板に蓄積された熱を効率的に放射すること
ができるとともに、基板保持部からの基板の脱落を防止
することができる。
ば、少なくとも放熱機能を有する周辺部を設けるように
したので、基板に蓄積された熱を効率的に放射すること
ができるとともに、基板保持部からの基板の脱落を防止
することができる。
【0058】また、請求項3記載の基板保持構造によれ
ば、周辺部に放熱機能だけでなく、基板案内機能も設け
るようにしたので、基板を基板保持部で保持する場合、
基板保持部に対する基板の位置がずれている場合であっ
ても、基板を確実に基板保持部に案内することができ
る。
ば、周辺部に放熱機能だけでなく、基板案内機能も設け
るようにしたので、基板を基板保持部で保持する場合、
基板保持部に対する基板の位置がずれている場合であっ
ても、基板を確実に基板保持部に案内することができ
る。
【0059】また、請求項4記載の基板保持構造によれ
ば、基板保持部に保持された基板の周囲に沿って溝を形
成することにより、基板保持部に保持された基板の端部
に接触するような部分が存在しないようにしたので、簡
単な構成により、基板保持部に保持された基板の端部に
接触するような部分が存在しないようにすることができ
る。
ば、基板保持部に保持された基板の周囲に沿って溝を形
成することにより、基板保持部に保持された基板の端部
に接触するような部分が存在しないようにしたので、簡
単な構成により、基板保持部に保持された基板の端部に
接触するような部分が存在しないようにすることができ
る。
【図1】本発明の第1の実施の形態の構成を示す側断面
図である。
図である。
【図2】第1の実施の形態の構成を示す図で、特に、第
1の実施の形態の要部を拡大して示す側断面図である。
1の実施の形態の要部を拡大して示す側断面図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態の構成を示す側断面
図である。
図である。
【図4】本発明の第3の実施の形態の構成を示す側断面
図である。
図である。
【図5】プラズマCVD装置の一例の構成を示す側断面
図である。
図である。
【図6】基板保持構造の一例である基板載置台の従来構
成を示す側断面図である。
成を示す側断面図である。
【図7】従来の基板載置台の問題を説明するための側断
面図である。
面図である。
21,31,51…基板載置台、211,311,51
1…基板載置部、212,312,412(1),41
2(2),512…基板案内部、213,313,41
3(1),413(2),513…放熱部、214,3
14,414(1),414(2),514…接触防止
部、215,216,315,316,515,516
…ピン挿入孔、41…基板保持体、411(1),41
1(2)…基板保持部、a,b,c(1),c(2)…
溝、d…間隔子。
1…基板載置部、212,312,412(1),41
2(2),512…基板案内部、213,313,41
3(1),413(2),513…放熱部、214,3
14,414(1),414(2),514…接触防止
部、215,216,315,316,515,516
…ピン挿入孔、41…基板保持体、411(1),41
1(2)…基板保持部、a,b,c(1),c(2)…
溝、d…間隔子。
Claims (4)
- 【請求項1】 基板の表面に所定の膜を形成するための
成膜装置の成膜室に設けられ、前記基板に前記膜を形成
する場合に、前記基板を保持する基板保持構造におい
て、 前記基板に前記膜を形成する場合に、前記基板を保持す
る基板保持部と、 この基板保持部に保持された前記基板の端部に接触する
ような部分が存在しないようにするための接触防止部と
を備えたことを特徴とする基板保持構造。 - 【請求項2】 前記基板保持部に保持された前記基板の
周辺に設けられ、少なくとも前記基板に蓄積された熱を
放射する機能を有する周辺部をさらに有することを特徴
とする基板保持構造。 - 【請求項3】 前記周辺部は、 前記基板保持部に保持された基板の周辺に設けられ、前
記基板保持部に前記基板を案内する基板案内部と、 この基板案内部の周辺に設けられ、前記基板に蓄積され
ている熱を放射するための放熱部とを有することを特徴
とする請求項2記載の基板保持構造。 - 【請求項4】 前記接触防止部は、前記基板保持部に保
持された前記基板の周囲に沿って形成された溝によっ
て、前記基板の端部に接触する部分が存在しないように
することを特徴とする請求項1記載の基板保持構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19275397A JPH1140654A (ja) | 1997-07-17 | 1997-07-17 | 基板保持構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19275397A JPH1140654A (ja) | 1997-07-17 | 1997-07-17 | 基板保持構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1140654A true JPH1140654A (ja) | 1999-02-12 |
Family
ID=16296485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19275397A Pending JPH1140654A (ja) | 1997-07-17 | 1997-07-17 | 基板保持構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1140654A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002190511A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-07-05 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体装置のアッシング設備のチャックプレート及びこれを用いたチャック組立体 |
WO2008096717A1 (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | Tokyo Electron Limited | 載置台構造、これを用いた処理装置及びこの装置の使用方法 |
JP2012099825A (ja) * | 2003-06-30 | 2012-05-24 | Lam Research Corporation | 動的な温度制御を有する基板支持体 |
-
1997
- 1997-07-17 JP JP19275397A patent/JPH1140654A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002190511A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-07-05 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体装置のアッシング設備のチャックプレート及びこれを用いたチャック組立体 |
JP2012099825A (ja) * | 2003-06-30 | 2012-05-24 | Lam Research Corporation | 動的な温度制御を有する基板支持体 |
US8747559B2 (en) | 2003-06-30 | 2014-06-10 | Lam Research Corporation | Substrate support having dynamic temperature control |
WO2008096717A1 (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | Tokyo Electron Limited | 載置台構造、これを用いた処理装置及びこの装置の使用方法 |
JP2008198739A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Tokyo Electron Ltd | 載置台構造、これを用いた処理装置及びこの装置の使用方法 |
KR101054481B1 (ko) * | 2007-02-09 | 2011-08-04 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 재치대 구조, 이를 이용한 처리 장치, 이 장치의 사용 방법, 및 이를 실행시키는 프로그램을 격납한 컴퓨터 판독가능 기록매체 |
US9177846B2 (en) | 2007-02-09 | 2015-11-03 | Tokyo Electron Limited | Placing bed structure, treating apparatus using the structure, and method for using the apparatus |
US10388557B2 (en) | 2007-02-09 | 2019-08-20 | Tokyo Electron Limited | Placing bed structure, treating apparatus using the structure, and method for using the apparatus |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101989324B1 (ko) | 포커스 링 및 이 포커스 링을 구비하는 기판 처리 장치 | |
KR100406692B1 (ko) | 기판유지 방법 및 기판유지 장치 | |
TWI379019B (en) | Gas distributor and apparatus using the same | |
KR100636487B1 (ko) | 기판 지지 장치 및 기판 디처킹 방법 | |
KR100883285B1 (ko) | 열 분산 플레이트 및 에지 지지대를 구비하는 어셈블리 | |
JP2012248741A (ja) | プラズマ処理装置、搬送キャリア、及びプラズマ処理方法 | |
CN113981416B (zh) | 多功能晶圆预处理腔及化学气相沉积设备 | |
KR20130058312A (ko) | 서셉터와 섀도우 프레임 간의 아크 발생 방지 장치 | |
JP2007067353A (ja) | プラズマ処理用環状部品、プラズマ処理装置、及び外側環状部材 | |
JPH1140654A (ja) | 基板保持構造 | |
TWI753580B (zh) | 基板處理設備及基板處理方法 | |
US8824875B2 (en) | Method for heating part in processing chamber of semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing apparatus | |
TW442838B (en) | Method and apparatus for fabricating a wafer spacing mask on a substrate support chuck | |
JP2008218995A (ja) | 大面積基板処理システムのサセプタ・ヒータアセンブリ | |
JP4515171B2 (ja) | 真空処理方法 | |
JP3888120B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
TW515024B (en) | Wafer sucking device | |
JPH06302551A (ja) | 減圧処理装置 | |
JP2000049138A (ja) | 平行平板型プラズマ処理装置及びこれに用いられる電極板 | |
JP5316393B2 (ja) | プラズマ処理装置用電極板 | |
KR20040040240A (ko) | 건식 식각 챔버의 리프트 핀 구조 | |
JPS63285928A (ja) | 半導体製造装置 | |
JPH0459960A (ja) | 基板冷却装置 | |
JP2011204754A (ja) | プラズマ処理装置用電極板及びプラズマ処理装置 | |
KR20030065217A (ko) | 웨이퍼 척 및 이를 포함하는 웨이퍼 가공 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040622 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040622 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060627 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061020 |