JPH11345046A - マイクロコンピュータ - Google Patents
マイクロコンピュータInfo
- Publication number
- JPH11345046A JPH11345046A JP10149764A JP14976498A JPH11345046A JP H11345046 A JPH11345046 A JP H11345046A JP 10149764 A JP10149764 A JP 10149764A JP 14976498 A JP14976498 A JP 14976498A JP H11345046 A JPH11345046 A JP H11345046A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- microcomputer
- auto
- reset
- reset circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 オートリセット等の定電圧発生回路を搭載し
たマイクロコンピュータにおいて、温度要因、製造要因
のばらつきを補正し、オートリセット回路の特性に左右
されない、本来の処理能力を引き出すことを目的とす
る。 【解決手段】 オートリセット回路１において発生する
リセット電圧を決める定電圧発生部の発生定電圧を、電
圧検出回路３により検出し、その検出した結果に基づい
て、ＣＰＵ４がオートリセット回路内蔵の発生電圧補正
部２を制御し、リセット電圧を補正する。
たマイクロコンピュータにおいて、温度要因、製造要因
のばらつきを補正し、オートリセット回路の特性に左右
されない、本来の処理能力を引き出すことを目的とす
る。 【解決手段】 オートリセット回路１において発生する
リセット電圧を決める定電圧発生部の発生定電圧を、電
圧検出回路３により検出し、その検出した結果に基づい
て、ＣＰＵ４がオートリセット回路内蔵の発生電圧補正
部２を制御し、リセット電圧を補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電化製品等の制御
用に用いられる、オートリセット等の定電圧発生回路を
搭載したマイクロコンピュータに関する。
用に用いられる、オートリセット等の定電圧発生回路を
搭載したマイクロコンピュータに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、オートリセット回路は、種々の構
成のものが提案されているが、いずれも発生電圧の変動
が大きく、マイクロコンピュータに搭載する場合、製品
としての動作速度や動作電圧が、搭載するオートリセッ
ト回路の特性に左右されるという問題があった。
成のものが提案されているが、いずれも発生電圧の変動
が大きく、マイクロコンピュータに搭載する場合、製品
としての動作速度や動作電圧が、搭載するオートリセッ
ト回路の特性に左右されるという問題があった。
【０００３】図５に示したものは、従来の代表的なオー
トリセット回路であるが、定電圧発生部のＰ−ｃｈトラ
ンジスタ５２のしきい値電圧ＶＴで決まる定電圧によ
り、Ｐ−ｃｈトランジスタ５３のゲート・ソース間電圧
を一定に保つことで、Ｐ−ｃｈトランジスタ５３に流れ
る電流を制御し、インバータ５４の入力電圧を制御する
ものである。ところが、図中の５１で示す内部ノードの
電圧は、略Ｐ−ｃｈトランジスタ５２のＶＴ値で決まる
ため、製造要因や温度要因で変動し易い。
トリセット回路であるが、定電圧発生部のＰ−ｃｈトラ
ンジスタ５２のしきい値電圧ＶＴで決まる定電圧によ
り、Ｐ−ｃｈトランジスタ５３のゲート・ソース間電圧
を一定に保つことで、Ｐ−ｃｈトランジスタ５３に流れ
る電流を制御し、インバータ５４の入力電圧を制御する
ものである。ところが、図中の５１で示す内部ノードの
電圧は、略Ｐ−ｃｈトランジスタ５２のＶＴ値で決まる
ため、製造要因や温度要因で変動し易い。
【０００４】図６に、代表的なオートリセット回路のリ
セット電圧の温度特性、およびサンプルのばらつきを示
す。図のように、デバイスのオートリセット電圧には、
製造要因による個体差があり、また温度特性も大きいた
め、製品に要求されるリセット電圧を全温度範囲で得る
ことは困難であった。
セット電圧の温度特性、およびサンプルのばらつきを示
す。図のように、デバイスのオートリセット電圧には、
製造要因による個体差があり、また温度特性も大きいた
め、製品に要求されるリセット電圧を全温度範囲で得る
ことは困難であった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】近年マイクロコンピュ
ータにおいては、使用する電圧において、最大限の処理
能力が要求される一方、部品点数の削減のため、電源の
立ち上げ時にマイクロコンピュータを初期化するための
オートリセット回路を内蔵することへの要望も多い。と
ころが、オートリセット回路の主要部分である定電圧発
生回路においては、その発生電圧のばらつきを抑える方
法が確立されておらず、オートリセット回路が確実に作
動する電源電圧より低い電圧で、製品が安定して動作す
る必要があるため、これを内蔵することで本来の製品の
持つ性能よりも、オートリセット回路の精度によって製
品の仕様が制限されたり（図７）、または製造工程にお
ける歩留まり低下の原因になることがあった（図６）。
ータにおいては、使用する電圧において、最大限の処理
能力が要求される一方、部品点数の削減のため、電源の
立ち上げ時にマイクロコンピュータを初期化するための
オートリセット回路を内蔵することへの要望も多い。と
ころが、オートリセット回路の主要部分である定電圧発
生回路においては、その発生電圧のばらつきを抑える方
法が確立されておらず、オートリセット回路が確実に作
動する電源電圧より低い電圧で、製品が安定して動作す
る必要があるため、これを内蔵することで本来の製品の
持つ性能よりも、オートリセット回路の精度によって製
品の仕様が制限されたり（図７）、または製造工程にお
ける歩留まり低下の原因になることがあった（図６）。
【０００６】図６において、不良Ａは高温時にリセット
電圧が規格値を超えるという不良であり、動作電圧が下
がった場合に、オートリセット回路が作動し、リセット
がかかり易くなるという現象となる。また、不良Ｂは低
温時にリセット電圧が規格を割り込むという不良であ
り、電源電圧が低下し、マイクロコンピュータが正常動
作を保証できない電圧になってもオートリセットが機能
せず、マイクロコンピュータが暴走するという現象に結
びつくものである。
電圧が規格値を超えるという不良であり、動作電圧が下
がった場合に、オートリセット回路が作動し、リセット
がかかり易くなるという現象となる。また、不良Ｂは低
温時にリセット電圧が規格を割り込むという不良であ
り、電源電圧が低下し、マイクロコンピュータが正常動
作を保証できない電圧になってもオートリセットが機能
せず、マイクロコンピュータが暴走するという現象に結
びつくものである。
【０００７】本発明は、製品本来の性能を損なうことな
く、オートリセット回路に代表される定電圧回路を搭載
したマイクロコンピュータを提供することを目的とす
る。
く、オートリセット回路に代表される定電圧回路を搭載
したマイクロコンピュータを提供することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、内蔵するオートリセット回路の発生電圧
を検出する手段と、その発生電圧を補正する手段をマイ
クロコンピュータが備え、マイクロコンピュータの動作
の中で、精度の高いリセット電圧を得ることを可能にす
るものである。
に、本発明は、内蔵するオートリセット回路の発生電圧
を検出する手段と、その発生電圧を補正する手段をマイ
クロコンピュータが備え、マイクロコンピュータの動作
の中で、精度の高いリセット電圧を得ることを可能にす
るものである。
【０００９】これにより、製品の持つ本来の性能を損な
うことなく、オートリセット回路を内蔵したマイクロコ
ンピュータを実現することができる。
うことなく、オートリセット回路を内蔵したマイクロコ
ンピュータを実現することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、定常状態（通常動作電源電圧）での、オートリセッ
ト回路内部の定電圧発生部の電圧を検出する電圧検出回
路を有し、検出した結果に基づいて、オートリセット回
路のリセット電圧を補正するようにしたものであり、初
期化動作の中でリセット電圧を補正することで、マイク
ロコンピュータの本来の処理速度を損なうことなく、オ
ートリセット回路を内蔵することが可能になる。
は、定常状態（通常動作電源電圧）での、オートリセッ
ト回路内部の定電圧発生部の電圧を検出する電圧検出回
路を有し、検出した結果に基づいて、オートリセット回
路のリセット電圧を補正するようにしたものであり、初
期化動作の中でリセット電圧を補正することで、マイク
ロコンピュータの本来の処理速度を損なうことなく、オ
ートリセット回路を内蔵することが可能になる。
【００１１】請求項２に記載の発明は、オートリセット
回路内部の定電圧発生部の電圧を検出する電圧検出回路
を有し、かつ検出電圧を記憶する不揮発性の記憶手段を
設けたものであり、製品の出荷までのいずれかの工程に
おいて電圧補正の処理を行い、その結果を不揮発性メモ
リに格納し、その記憶したデータにより、電源の立ち上
がり時のオートリセット電圧の補正を可能にし、製造要
因によるオートリセット電圧のばらつきを完全に補償す
るという作用を有する。
回路内部の定電圧発生部の電圧を検出する電圧検出回路
を有し、かつ検出電圧を記憶する不揮発性の記憶手段を
設けたものであり、製品の出荷までのいずれかの工程に
おいて電圧補正の処理を行い、その結果を不揮発性メモ
リに格納し、その記憶したデータにより、電源の立ち上
がり時のオートリセット電圧の補正を可能にし、製造要
因によるオートリセット電圧のばらつきを完全に補償す
るという作用を有する。
【００１２】以下、本発明の実施の形態について、図１
〜図４を参照して詳細に説明する。
〜図４を参照して詳細に説明する。
【００１３】（実施の形態１）図１は、本発明の実施の
形態１におけるマイクロコンピュータの要部の構成を示
したもので、１はオートリセット回路、２はオートリセ
ット回路１に含まれる発生電圧補正部、３はオートリセ
ット回路１の出力電圧を検出する電圧検出回路で、ここ
ではＡ／Ｄコンバータから構成されている。４はＣＰＵ
であり、発生電圧補正部２を制御する。
形態１におけるマイクロコンピュータの要部の構成を示
したもので、１はオートリセット回路、２はオートリセ
ット回路１に含まれる発生電圧補正部、３はオートリセ
ット回路１の出力電圧を検出する電圧検出回路で、ここ
ではＡ／Ｄコンバータから構成されている。４はＣＰＵ
であり、発生電圧補正部２を制御する。
【００１４】次に、本実施の形態１の動作を説明する。
マイクロコンピュータの最小動作電圧に対してリセット
電圧１２が予め十分高い電圧になるように設定されたオ
ートリセット回路１内の定電圧発生部の出力１１は、定
常状態（通常動作電源電圧）でマイクロコンピュータの
初期化処理により、Ａ／Ｄコンバータ３によりデジタル
変換される。マイクロコンピュータでは、前記Ａ／Ｄ変
換結果を基に、ＣＰＵ４の処理によりオートリセット回
路１内の発生電圧補正部２へ補正データを設定し、定電
圧出力の補正を行う。
マイクロコンピュータの最小動作電圧に対してリセット
電圧１２が予め十分高い電圧になるように設定されたオ
ートリセット回路１内の定電圧発生部の出力１１は、定
常状態（通常動作電源電圧）でマイクロコンピュータの
初期化処理により、Ａ／Ｄコンバータ３によりデジタル
変換される。マイクロコンピュータでは、前記Ａ／Ｄ変
換結果を基に、ＣＰＵ４の処理によりオートリセット回
路１内の発生電圧補正部２へ補正データを設定し、定電
圧出力の補正を行う。
【００１５】図４は、発生電圧の補正機能を持たせたオ
ートリセット回路を示したものであり、図中のハッチ部
は定電圧発生部である。初期状態でフリップフロップ４
１の出力ＮＱは“Ｈ”であり、トランスファーゲート４
２はＯＦＦ状態である。このときＰ−ｃｈトランジスタ
４３のゲート・ソース間電圧はＰ−ｃｈトランジスタ４
４とＰ−ｃｈトランジスタ４５のしきい値ＶＴＰにより
決るため、Ｐ−ｃｈトランジスタ４３に流れる電流は、
図５に示した従来の回路に比べて多くなり、結果として
インバータ４６がスイッチングを起こす電源電圧（オー
トリセット出力）は従来例より高めに設定される。
ートリセット回路を示したものであり、図中のハッチ部
は定電圧発生部である。初期状態でフリップフロップ４
１の出力ＮＱは“Ｈ”であり、トランスファーゲート４
２はＯＦＦ状態である。このときＰ−ｃｈトランジスタ
４３のゲート・ソース間電圧はＰ−ｃｈトランジスタ４
４とＰ−ｃｈトランジスタ４５のしきい値ＶＴＰにより
決るため、Ｐ−ｃｈトランジスタ４３に流れる電流は、
図５に示した従来の回路に比べて多くなり、結果として
インバータ４６がスイッチングを起こす電源電圧（オー
トリセット出力）は従来例より高めに設定される。
【００１６】このようにして、十分正常動作が可能な高
めのオートリセット解除電圧により初期化された後に動
作を開始したマイクロコンピュータは、処理の中で、内
蔵するＡ／Ｄコンバータを用いて図４の定電圧発生部の
アナログ出力１１をデジタル変換し、その結果所望の電
圧が得られない場合は、フリップフロップ４１のＮＱ出
力を“Ｌ”にすることで、Ｐ−ｃｈトランジスタ４３の
ゲート・ソース間電圧を下げ、その結果、オートリセッ
ト電圧を下げるような補正を行うことが可能になる。
めのオートリセット解除電圧により初期化された後に動
作を開始したマイクロコンピュータは、処理の中で、内
蔵するＡ／Ｄコンバータを用いて図４の定電圧発生部の
アナログ出力１１をデジタル変換し、その結果所望の電
圧が得られない場合は、フリップフロップ４１のＮＱ出
力を“Ｌ”にすることで、Ｐ−ｃｈトランジスタ４３の
ゲート・ソース間電圧を下げ、その結果、オートリセッ
ト電圧を下げるような補正を行うことが可能になる。
【００１７】（実施の形態２）図２は、本発明の実施の
形態２におけるマイクロコンピュータの要部の構成を示
したもので、図１と同一構成要素には同一符号を付して
あり、また、５は不揮発性メモリである。
形態２におけるマイクロコンピュータの要部の構成を示
したもので、図１と同一構成要素には同一符号を付して
あり、また、５は不揮発性メモリである。
【００１８】図２において、オートリセット回路１内の
定電圧発生部の出力１１は、Ａ／Ｄコンバータ３により
デジタル変換され、ＣＰＵ４の処理により内蔵する不揮
発性メモリ５に格納する。発生電圧補正部２では不揮発
性メモリ５の所定の領域に設定されたデータにより定電
圧出力の補正を行う。これは、図４のフリップフロップ
４１の代りに不揮発性メモリを用いたものであるが、こ
の一連の操作を、製品の出荷までのいずれかの工程にお
いて実施することにより、見掛け上、製造要因のばらつ
きを、製品出荷までの間に完全に排除し、高い精度のオ
ートリセット回路を搭載したマイクロコンピュータを提
供することが可能になる。
定電圧発生部の出力１１は、Ａ／Ｄコンバータ３により
デジタル変換され、ＣＰＵ４の処理により内蔵する不揮
発性メモリ５に格納する。発生電圧補正部２では不揮発
性メモリ５の所定の領域に設定されたデータにより定電
圧出力の補正を行う。これは、図４のフリップフロップ
４１の代りに不揮発性メモリを用いたものであるが、こ
の一連の操作を、製品の出荷までのいずれかの工程にお
いて実施することにより、見掛け上、製造要因のばらつ
きを、製品出荷までの間に完全に排除し、高い精度のオ
ートリセット回路を搭載したマイクロコンピュータを提
供することが可能になる。
【００１９】なお、以上の説明では、定電圧発生部の発
生電圧の補正を１段階で実施する場合について説明した
が、これをさらに細分化し、細かな補正を実施すること
で、より高い精度のオートリセット回路を実現できるこ
とは言うまでもない。
生電圧の補正を１段階で実施する場合について説明した
が、これをさらに細分化し、細かな補正を実施すること
で、より高い精度のオートリセット回路を実現できるこ
とは言うまでもない。
【００２０】また、以上の説明では、定電圧出力を検出
する電圧検出回路をＡ／Ｄコンバータで構成した例を説
明したが、Ａ／Ｄコンバータの代りにＤ／Ａコンバータ
とアナログコンパレータを用いても同様に実施可能であ
る。
する電圧検出回路をＡ／Ｄコンバータで構成した例を説
明したが、Ａ／Ｄコンバータの代りにＤ／Ａコンバータ
とアナログコンパレータを用いても同様に実施可能であ
る。
【００２１】さらに、以上の説明では、定電圧発生回路
として、オートリセット回路を用いて説明したが、他の
定電圧発生回路に対する発生電圧の補正を行う回路も同
様に実現できる。
として、オートリセット回路を用いて説明したが、他の
定電圧発生回路に対する発生電圧の補正を行う回路も同
様に実現できる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
製造要因あるいは温度要因によるばらつきが大きい定電
圧発生部の出力を補正することで、マイクロコンピュー
タの本来の処理能力を損なうことなくオートリセット回
路を内蔵することができる（図３）。
製造要因あるいは温度要因によるばらつきが大きい定電
圧発生部の出力を補正することで、マイクロコンピュー
タの本来の処理能力を損なうことなくオートリセット回
路を内蔵することができる（図３）。
【００２３】また、実施の形態２に示したような、内蔵
する不揮発性メモリにデータを設定するまでの一連の操
作を製品の検査工程の中で実施することにより、製造要
因でのばらつきを補正し、歩留まりの低下を防ぐという
有利な効果が得られる。
する不揮発性メモリにデータを設定するまでの一連の操
作を製品の検査工程の中で実施することにより、製造要
因でのばらつきを補正し、歩留まりの低下を防ぐという
有利な効果が得られる。
【００２４】さらには、マイクロコンピュータの動作中
に周期的に補正処理を実施することにより、温度変化等
によりオートリセット電圧が変動した場合でも、随時変
動量を補正することも可能となる。
に周期的に補正処理を実施することにより、温度変化等
によりオートリセット電圧が変動した場合でも、随時変
動量を補正することも可能となる。
【図１】本発明の実施の形態１における定電圧発生回路
を内蔵したマイクロコンピュータの要部構成を示すブロ
ック図
を内蔵したマイクロコンピュータの要部構成を示すブロ
ック図
【図２】本発明の実施の形態２における定電圧発生回路
を内蔵したマイクロコンピュータの要部構成を示すブロ
ック図
を内蔵したマイクロコンピュータの要部構成を示すブロ
ック図
【図３】本発明による、オートリセット回路を内蔵した
場合の処理速度（保証値）を示す図
場合の処理速度（保証値）を示す図
【図４】本発明の実施の形態１における発生電圧の補正
機能を持つオートリセット回路図
機能を持つオートリセット回路図
【図５】従来の代表的なオートリセット回路図
【図６】従来のオートリセット回路内蔵による製造歩留
まりへの影響を示す図
まりへの影響を示す図
【図７】従来のオートリセット回路内蔵による保証可能
処理速度を示す図
処理速度を示す図
１ オートリセット回路（定電圧発生回路等） ２ 発生電圧補正部 ３ 電圧検出回路（Ａ／Ｄコンバータ） ４ ＣＰＵ ５ 不揮発性メモリ
Claims (2)
- 【請求項１】 リセット電圧の補正手段を有するオート
リセット回路と、前記オートリセット回路において発生
するリセット電圧を決める定電圧発生部の発生定電圧を
検出する電圧検出回路とを有し、検出した結果に基づい
て、オートリセット回路のリセット電圧を補正すること
を特徴とするマイクロコンピュータ。 - 【請求項２】 発生電圧が可変のオートリセット回路
と、前記オートリセット回路より発生する電圧を検出す
る電圧検出回路と、検出電圧を記憶する不揮発性の記憶
手段とを有し、前記不揮発性の記憶手段に記憶したデー
タに基づいてオートリセット回路のリセット電圧を補正
することを特徴とするマイクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10149764A JPH11345046A (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | マイクロコンピュータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10149764A JPH11345046A (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | マイクロコンピュータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11345046A true JPH11345046A (ja) | 1999-12-14 |
Family
ID=15482234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10149764A Pending JPH11345046A (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | マイクロコンピュータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11345046A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008004999A (ja) * | 2006-06-20 | 2008-01-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 低電圧検知回路 |
-
1998
- 1998-05-29 JP JP10149764A patent/JPH11345046A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008004999A (ja) * | 2006-06-20 | 2008-01-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 低電圧検知回路 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6642757B2 (en) | Semiconductor memory device having a power-on reset circuit | |
| JP5263791B2 (ja) | 半導体装置 | |
| US6469551B2 (en) | Starting circuit for integrated circuit device | |
| US6903589B2 (en) | Output driver circuit with automatic slew rate control and slew rate control method using the same | |
| JP2797761B2 (ja) | パワーオン回路 | |
| JPH1188071A (ja) | オフセット電圧補正回路 | |
| US6160392A (en) | Start-up circuit for voltage reference generator | |
| US6281667B1 (en) | Voltage regulator | |
| US5699312A (en) | Programmable voltage supply circuitry | |
| KR100534157B1 (ko) | 반도체 집적 장치 및 집적 회로의 전압 강하 검출 방법 및그 전압 강하 보정 방법 | |
| US20200076421A1 (en) | Power-on reset signal generator and associated electronic device | |
| JP2009008625A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2002055130A (ja) | 周波数判定回路、データ処理装置 | |
| JPH11345046A (ja) | マイクロコンピュータ | |
| US20230015113A1 (en) | Impedance calibration circuit, impedance calibration method, and memory | |
| US7091630B2 (en) | Device and method for inhibiting power fluctuation | |
| US6456129B1 (en) | Internal clock signal generator | |
| US6870353B2 (en) | Power supply control circuit and LSI using the same | |
| JP2016063697A (ja) | スイッチング素子の故障検出回路 | |
| JP2000040394A (ja) | 半導体装置 | |
| US6337598B1 (en) | Reference voltage generating device and generating method of the same | |
| US7276941B2 (en) | Power up circuit of semiconductor memory device and compensating method thereof | |
| KR100338928B1 (ko) | 입력 버퍼 회로 | |
| JP2001044759A (ja) | 基準クロック周波数温度制御回路 | |
| US7548098B2 (en) | Output buffer circuit and method with self-adaptive driving capability |